Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Призменные приборы

В данной задаче градуировка прибора проводится по эталонным спектрам, для которых положение максимумов определено с большой точностью на дифракционных спектрометрах. Из-за сложности структуры ИК-спектров положения их максимумов, записанных на дифракционных и призменных приборах, могут заметно различаться. Так, если группу близко расположенных полос поглощения удается разрешить дифракционным прибором, то на призменном спектрометре (с меньшим разрешением) можно получить только огибающую контуров полос. При этом для несимметричных полос положение максимума поглощения огибающей не будет совпадать с максимумом наиболее интенсивной полосы разрешенной структуры. Поэтому для градуировки можно использовать спектры, полученные на дифракционных приборах с разрешающей способностью, равной разрешающей способности градуируемого призменного спектрометра.  [c.146]


За нормали I класса принимают такие точно измеренные на дифракционном спектрометре линии испускания или отдельные полосы поглощения, которые являются одиночными, симметричными и достаточно узкими. Первому требованию удовлетворяют те линии и полосы, структура которых не может быть выявлена призменным прибором из-за его ограниченной разрешающей способности. Последнее требование означает, что максимум линии или полосы должен быть настолько острым, чтобы определение его положения не вносило дополнительной ошибки.  [c.146]

Основным элементом любого прибора для измерения шины волны является элемент, осуществляющий спектральное разложение света. Все остальные части прибора служат лишь для обеспечения наилучших условий работы этого элемента. Приборы можно классифицировать по типам элементов, осуществляющих спектральное разложение. В призменных приборах используются дисперсионные свойства материала, такие, например,  [c.330]

Критерий Рэлея одинаково применим для призменных, дифракционных и интерферометрических приборов, хотя для каждого из них имеются специфические особенности, зависящие от характера прибора. Теоретическая разрешающая способность некоторых приборов рассматривается в гл. 8. Здесь же мы отметим лишь, что для призменных приборов  [c.331]

Большие призменные приборы и дифракционные решетки 10—1А 10 —5-1№  [c.33]

Увеличения отношения Е- Ец можно также достигнуть использованием прибора, обладающего большей угловой дисперсией, напрпмер заменой призменного прибора иа дифракционный.  [c.68]

ОСНОВНЫЕ ТИПЫ ПРИЗМЕННЫХ ПРИБОРОВ  [c.199]

Дифракционные спектральные приборы, в которых используется зависимость угла дифракции света от длины волны. Дифракционная решетка представляет собой стеклянную подложку, покрытую зеркальным слоем алюминия, на которо.м выдавлено большое число узких и строго параллельных штрихов (на 1 мм поверхности от 50 до 2400). Приборы с дифракционными решетками все больше вытесняют призменные приборы. Дифракционные решетки охватывают большой спектральный диапазон — от мягкого рентгеновского излучения ( 10 нм) до дальней ИК-области спектра (1м.м). Большое разрешение (до 1000000), очень малое изменение дисперсии с длиной волны и достаточно большой коэффициент отражения в заданной области спектра (до 70%)—вот их основные достоинства. Основной недостаток — перекрывание спектров различных порядков.  [c.128]

Размеры флюоритовых спектрографов раньше ограничивались дороговизной, и редкостью природных кристаллов оптического флюорита сколько-нибудь значительных размеров. Сейчас, в связи с тем, что научились выращивать искусственные кристаллы фтористого кальция и фтористого лития, положение облегчилось. Поэтому, несмотря на то, что для исследований вакуумного ультрафиолета дифракционные решетки практически вытеснили призменные приборы, последние иногда конструируются и сейчас, по-видимому, потому, что обладают в некоторых случаях определенными преимуществами, к числу которых относится в первую очередь отсутствие астигматизма и помех со стороны спектров соседних порядков [91—94].  [c.150]


В интерферометре Фабри — Перо (см. 5.7) распределение интенсивности при освещении монохроматическим светом описывается формулой Эйри (5.72). При высоком коэффициенте отражения R зеркал отдельные максимумы имеют лоренцевскую форму (5.75). Такую же форму будет иметь и аппаратная функция, т. е. регистрируемый в монохроматическом свете контур отдельной полосы равного наклона или сигнал фотоприемника при сканировании с использованием круглой диафрагмы очень малого диаметра (что соответствует бесконечно узкой щели в дифракционном или призменном приборе). Если ее рассматривать как функцию от Л6 = 6—2лт, т. е. отклонения разности фаз 6 от ее значения в соответствующем максимуме, то в соответствии с (5.75)  [c.318]

Эти экстремальные значения разрешающей способности достигаются экспериментально в приборах с фокусными расстояниями /а /е < 3 м, Т. е. при отношениях дифрагирующей поверхности к р не менее 1/100 (лишь тогда можно, например, пренебречь ошибками изображения). Приборы с решетками обладают преимуществами по сравнению с призменными приборами, поскольку они характеризуются более высокими значениями дисперсии и разрешающей способности. Однако они имеют тот недостаток, что для разделения различных порядков требуется предварительное спектральное разложение.  [c.48]

По дисперсии призменные приборы могут несколько превосходить равноценные им дифракционные приборы только в тех областях, где наступает область поглощения материала призмы. Так, для кварцевого спектрографа эта область распространяется до 0,25 мкм. Выше 0,25 мкм дисперсия призменного кварцевого прибора быстро падает, в то время как у дифракционного прибора она остается примерно постоянной.  [c.386]

По коэффициенту пропускания современные решетки могут превосходить призмы, так как их можно изготовить с таким расчетом, чтобы они концентрировали до 80% энергии в необходимую область спектра и порядок. Однако при небольшом числе призм коэффициент пропускания призменных приборов может в некого-  [c.386]

Призменные спектральные приборы. В них разложение исследуемого излучения в спектр по частотам колебаний (длинам волн) основано на явлении дисперсии в призме. Классические призменные приборы, в которых входным элементом является узкая спек-338  [c.338]

Направление лучей дифрагированных пучков зависит от угла у, в связи с чем в приборах с решетками, как и в призменных приборах, имеет место искривление спектральных линий прямая входная щель изображается в виде дуги, обращенной выпуклостью в сторону коротковолновой части спектра. Кривизна спектральных линий возрастает при увеличении длины волны света X и угла дифракции р. Мера борьбы с кривизной спектральных линий — применение искривленных щелей.  [c.368]

Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и призменных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа — из стекла.  [c.8]

Рассмотрим теперь зависимость освещенности вдоль изображения щели от способа ее освещения. Соответствие между распределением освещенности вдоль щели и по высоте изображения спектральной линии может искажаться влиянием эффекта виньетирования. Сущность этого эффекта состоит в следующем. Если щель велика по высоте, световые пучки, выходящие из нецентральных участков щели и источника, распространяясь внутри спектрографа под углом к оптической оси, не полностью используются оптической системой прибора. Часть света теряется на оправах объективов и на краях призменной системы (рис. 8, а).  [c.21]

В некоторых приборах призменную насадку можно наклонять с помощью механической тяги, расширяя этим тюле обзора эндоскопа.  [c.84]

В оптических приборах с большим числом отражающих поверхностей (более 10) потери света из-за отражения могут достигать нескольких десятков процентов в обычном призменном бинокле потери света на отражение около 25%. С увеличением показателя преломления стекла (среды) коэффициент отражения света возрастает (табл. 17).  [c.460]


Для повышения остроты бинокулярного зрении при рассматривании, напр., удалённых предметов," <нли стереопар, применяются оптич. приборы (призменные или зеркальные), искусственно увеличивающие глазной С. (см. Стереотруба, Стереоскоп). С увеличением С. уменьшается глубина резко воспринимаемого пространства, но увеличивается острота зрения, поэтому С. выбирается с учётом оптим. сечения этих критериев.  [c.684]

Следует заметить, что для самых точных исследований контуров эталон Фабри и Перо действительно является одним из наиболее удачных и удобных приборов, непосредственно разрешающих сверхтонкую структуру линии. На основе теоретических соображений можно внести поправки на инструментальное расширение контура и получить истинный контур линии. Как уже упоминалось, для работы с эталоном Фабри и Перо необходимо выделить достаточно узкую спектральную область. Поэтому его обычно применяют в соединении с призменным спектрографом или монохроматором, располагая при этом эталон между коллиматором и призменной системой. Щель спектрографа вырезает из всей картины колец вертикальную полосу. Правильную установку эталона по отношению к оптической оси спектрографа определяют по положению щели относительно центра картины, как это показано на рис. 21. Регистрировать интерференционную картину от эталона Фабри и 38  [c.38]

Хотя в призменных приборах разрешающая сила значительно меньше, чем в интерферометрах, прнзмеш1ые спектрографы не утратили своего значе н1я.  [c.195]

С отражательных дифракционных решеток [41—43] с такими приборами можно работать в диапазоне длин волн от 0,120 до 40 мк. В противоположность призменным приборам ди пep иv дифракционного монохроматора не зависит от Я. Самые важные параметры дифракционных приборов — разрешающая способность, дисперсия, область дисперсии, угол блеска и эффективность решетки. Теоретически разрешаюш.ая сила дифракционной решетки определяется выражением  [c.338]

Призменные спектральные приборы, в которых используется зависимость показателя прело.мления материала призмы от длины волны. Эти приборы до последнего времени составляли основную массу спектральных приборов, однако они вытесняются приборами с дифракционными рещетками. Основной недостаток призменных спектральных приборов заключается в довольно узком спектральном диапазоне работы отдельных призм, т. е. на каждую спектральную область требуется своя призма, причем призм на область ниже 120 н.м и выше 50. мкм не существует. Сильная зависимость дисперсии приз.мы от длины волны приводит к тому, что линейная дисперсия призменных приборов из.меняется больше, че.м на порядок при изменении длины волны (см., например, рис. П.4). К недостатка.м призменных приборов относится также их относительно невысокая разрешающая способность.  [c.128]

Вц[полнив фу рье-яреобразова-ние А 1), найдем, что отклик прибора описывается функцией 6 n Q +x f). Таким образом, отклонение луча происходит в сторону широкой части призмы. Угол отклонения не зависит в явном виде от длины волны падающего излучения и определяется зависимостью от X коэффициента преломления материала, из которого сделана призма. Достоинством призменного прибора по сравнению с дифракционным является единственность отклика.  [c.34]

Призменные приборы. Первый спектрограф, построенный Шуманном, имел флюоритовую призму с преломляющим углом 60° и две флюоритовые линзы диаметром 16 мм при среднем фокусном расстоянии 150 мм. Обратная дисперсия прибора в об-  [c.149]

Из нерегистрирующих спектральных устройств наибольшее распространение как спектроабсорбциометры получили призменные приборы типа СФ-4 (рис. 311). Они снабжены кварцевой призмой, что позволяет использовать их в широкой области спектра — от 210 до 1100 м 1. Так как дисперсия кварцевой призмы в видимой области мала, то выпускаются приборы СФ-5 такого же типа со стеклянной призмой для области 380—1100 Для аналогичных целей взамен указанных выпускают приборы типа  [c.403]

Градуировка шкалы длин волн в инфракрасной области снектра. Градуировка шкалы длин волн призменных приборов в инфракрасной области спектра представляет собой значительно более сложную задачу, чел1 в видимой и ультрафиолетовой областях спектра, по причине отсутствия источников с линейчатым спектром  [c.419]

Для компенсации кривизны спектральных линий, вносимой диспергирующим элементом, и аберрационного уширения щели конструктивные элементы оптики монохроматора выбирают так, чтобы для определенной длины волны дисперсионная и аберрационная кривизны были одинаковы по величине, но противоположны по знаку. Знаки обоих видов кривизны зависят от взаимного положения диспергирующего элемента и внеосевого зеркала. В призменных приборах эти знаки противоположны, если основание призмы ближе к оси параболоида, чем ее вершина. Такое расположение призмы принято в монохроматорах большинства инфракрасных спектрофотометров. В автоколлимацион-  [c.383]

Наряду с призменными приборами отечественная промышленность выпускает различные диффракционные спектрографы (ДФС-3, ДФС-8, ДФС-9, ДФС-10, ДФС-13), позволяющие вести исследования в видимой, ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях спектра. Спектрограф ДФС-10 имеет автоматическую фотоэлектрическую регистрацию спектра одновременно по десяти каналам. Для исследований излучения и поглощения вещества в инфракрасной области выпускаются инфракрасные спектрографы с автоматической записью спектра (ИКС-12, ИСК-13, ИКС-14), которые дают возмояшость работать в области спектра 0,75—50 мк.  [c.340]

Спектральный прибор, диспергирующим элементом которого является призма, называется призменным спектроскопом (если картина наблюдается визуально) и и1 спектрографом (если спектр фотографируется или записывается при помощи специального устройства). Схема Рмс. 7.22 нризмешюго спектрографа такая же, как  [c.190]

В зависимости от величины линейной дисперсии спектральные приборы делится на приборы малой, средней, болыпой и высокой дисперсии. Интерференцпопные спектральные приборы обладают высокой (0,1 —0,01 А/мм), дифракционные—большой (10—1 А/мм), а призменные—малой и средней (100—10 А/м) дисперсией.  [c.193]


Схематическое устройство призменного спектрографа показано на рис. 14.21. Получение чистого спектра возможно, если аппарат обеспечивает изображение в спектральных пветах очень узкого светящегося объекта, так что даже близкие по длине волны изображения не налагаются друг на друга. Поэтому существенной частью прибора является щель 5, состоящая из двух ножей, которые  [c.337]

Она состоит из источника света / для освещения объекта, сменной призменной или зеркальной насадки 3, изменяющей направление и размеры поля зрения прибора, объектива 4, основной передающей оптической системы 5 и окулярэ 6.  [c.84]

Деятельность Э. Аббе на предприятии Цейса была исключительно плодотворна — разработанную им дифракционную теорию отражения несамосветящихся объектов, позволившую создать прекрасные микроскопы (в сочетании с компенсационным окуляром и осветительным устройством его же конструкции), он использовал и во многих других приборах. Ему принадлежат интересные оптико-механические конструкции апертометра, рефлектометра, рефрактометра, спектрометра, фотометра, дальномера и оптического компаратора. Сотрудничество с О. Шоттом позволило создать новые сорта стекол (с добавками лития, фосфора и бора), сконструировать и подготовить объективы-апохроматы, дающие прекрасное неокрашенное изображение во всем поле зрения. В 1894 г. Аббе сконструировал призменные бинокли, производство которых на предприятии впоследствии достигло миллионов экземпляров [84, с. 228].  [c.394]

В первом десятилетии XX в. значительное развитие получила военная оптика. Начавшаяся в 1904 г. война с Японией показала, что русская армия совершенно неудовлетворительно снабжена оптическими прицелами и дальномерами. Поэтому вопрос о создании оптико-механического предприятия для изготовления военной оптики, поднятый А. Н. Крыловым, А. Л. Гершуном и Я. Н. Перепелкиным, был быстро решен. В 1905 г. при Обуховском заводе открыли оптико-механическую мастерскую [86, с. 102—111], где стали разрабатывать и выпускать новые модели приборов. Наиболее важным из них был панорамический прицел, получивший в армии очень широкое применение. В мастерской изготовлялись также полевые призменные бинокли, стереотрубы, артиллерийские буссоли с оптическим визиром и другие инструменты.  [c.400]

Простая трёхгранная призма (рис. 1) используется как саыостоят. диспергирующий элемент в спектральных приборах, а также является оси. составной частью всех более сложных призменных систем. В спектральном приборе щ>изму устанавливают так, чтобы линиям пересечения её преломляющих граней (преломляющее ребро) была параллельна входной щели. Двутранцый угол а, образованный рабочими гранями призмы, нАэ. преломляющим углом.  [c.615]


Смотреть страницы где упоминается термин Призменные приборы : [c.19]    [c.194]    [c.253]    [c.257]    [c.257]    [c.16]    [c.77]    [c.429]    [c.266]    [c.205]    [c.175]    [c.193]    [c.233]   
Вакуумная спектроскопия и ее применение (1976) -- [ c.149 ]



ПОИСК



Линейная дисперсия призменных спектральных приборов

Линейная дисперсия призменных спектральных приборов — Теоретическая разрешающая способность спектральных приборов

Методы увеличения дисперсии призменных спектральных приборов

Призменные спектральные приборы

Установка базы глаз для призменных бинокулярных приборов

Характеристики призменного спектрального прибора



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте