Структуры фокусирующие

Хотя в каждом из описанных типов резонансных Л. у. принципиально можно ускорять любые заряж. частицы, обычно на бегущих волнах ускоряются лишь электроны, а для всех тяжёлых частиц, включая протоны, используются, как правило, Л. у. на стоячих волнах. Ускорение протонов и ионов на стоячей волне вызвано рядом причин, главная из к-рых связана с малой скоростью этих частиц из-за их большой массы) на нач. участке ускорения (р= 0,03—0,4). Реализация ускоряющей структуры, обеспечивающей сильное замедление синхронной с частицей волны, равномерное распределение ускоряющего поля по сечению апертуры и размещение фокусирующих линз, становится возможной лишь при использовании резонаторов, работающих в метровом диапазоне волн (для протонных Л, у. Х=1,5—2 м, для тяжёлых ионов Я до 12 м). Поскольку в процессе ускорения fi увеличивается, то на последующих участках ускорения рабочую частоту, как правило, повышают (напр., при р>0,4). [c.588]

Структура периода фокусирующей системы. . , Бетатронная частота......................... [c.531]

До недавнего времени считалось, что когерентность излучения не важна для термической лазерной технологии. В настоящее время эта точка зрения коренным образом меняется. Во-первых, взаимодействие когерентного лазерного излучения с поверхностью может сопровождаться образованием различных поверхностных электромагнитных волн, которые уже сейчас можно использовать для создания периодических поверхностных структур. Во-вторых, в последнее время среди технологических лазеров все более широкое распространение получают так называемые многолучевые или многоканальные лазерные системы, представляющие из себя набор большого ( 10...10 ) числа пространственно разнесенных лазеров, параллельные пучки которых собираются на обрабатываемом изделии в одно пятно с помощью фокусирующей системы. При сложении двух гармонических колебаний, в том числе и электромагнитных, с одинаковой частотой и разными амплитудами i и 2 и фазами ф1 и ф2 образуются гармонические колебания той же частоты с амплитудой [c.59]

В заключение коснемся кратко возможностей изготовления рассмотренных объективов. Методика расчета структуры ДЛ с заданными фокусирующими и аберрационными свойствами изложена в гл. 7. Там же дана формула (7.22), позволяющая оценить минимальные размеры элементов этой структуры, которые определяют возможности изготовления ДЛ и их дифракционную эффективность. Результаты применения формулы показывают, что при большом увеличении объектива линза, ближайшая к предметной плоскости, имеет наибольшую частоту структуры, минимальный период ее примерно равен рэлеевскому разрешению объектива или больше него. Частота второй линзы примерно в три раза меньше. При изготовлении высокочастотной линзы можно рассчитывать, как правило, на эффективность 40%, а при изготовлении низкочастотной — на эффективность 70—80 %, что для объектива дает светопропускание около 30 %. В симметричной системе обе линзы высокочастотные и можно рассчитывать только на 16 % пропускания. Указанная эффективность во многих случаях приемлема, однако наличие света, дифрагированного в нерабочие порядки линз, приводит к снижению контраста изображения (см. п. 7.4). [c.122]

Строгий анализ самофокусировки гауссовского пучка обнаруживает качественное отличие от картины приосевого приближения пучок не фокусируется в точку как целое, периферийные лучи пересекают ось пучка на больших расстояниях, чем приосевые. В поперечном сечении пучка аберрации проявляются в виде кольцевой структуры распределения интенсивности. [c.87]

Если главная плоскость линзового растра 4, с которой совпадают главные плоскости отдельных линз, и плоскость отражающей поверхности экрана 3 пересекаются по линии, проходящей через центр системы 2, фокусирующие центры 5 экрана располагаются в плоскости 6, которая также проходит через центр 2. Если в одном из фокусирующих центров экрана расположить проекционный объектив 7, остальные фокусирующие центры станут центрами зрительных зон, число которых определяется фокусным расстоянием линз растра и их шагом, т. е. расстоянием между смежными линзами. Поперечные размеры линз должны быть настолько малы, чтобы их угловые размеры по отношению к зрителю были в пределах разрешающей способности глаза, что делает незаметной растровую структуру экрана. [c.141]

Гибридные лазеры на растворах красителей. Важным классом гибридных лазеров с обращающими зеркалами стали непрерывные лазеры на красителях [9]. С этой работы мы и начнем их рассмотрение. Динамические решетки записывались в парах натрия — среде с резонансной нелинейностью (п. 2.3.4). Накачка производилась двумя встречными пучками линейно поляризованного излучения непрерывного перестраиваемого лазера 1 на родамине-6С, которые линзой JIi с фокусным расстоянием F = I м фокусировались в ячейку с парами натрия длиной 1 см при давлении 10 мм рт.ст. (рис. 6.3). Лазер 2 — аргоновый лазер. Высокое значение Лрс 150 % достигалось только вблизи одной из шести линий сверхтонкой структуры >2-линии (X = 589,0 нм) - при одночастотной генерации лазера накачки мощностью 1,2 Вт. Основу гибридного лазера составлял струйный лазер на красителях 3 с независимым Аг-лазером накачки 4. Резонатор с обращающим зеркалом длиной L = 190 см бьш образован резонатором лазера на красителях, у которого выходное зеркало бьшо заменено поворотным зеркалом З3 с R = 98 % и обращающим зеркалом на парах Na. Линза Л , в резонаторе с F = 25 см согласовывала малые области [c.195]

При изменении соотношения между длиной волны и размерами помещения, структурой и формой отражающих поверхностей характер звукового поля помещения изменяется. Если помещение не содержит фокусирующих сводов и геометрически симметричных сечений, а размеры помещения значительно больше, чем средняя длина волны, и если стены не сильно поглощают звуковую энергию, то через произвольный элемент объема помещения при непрерывном действии источника звука в каждый момент времени будет проходить большое число отдельных волн. В результате этого звуковое поле будет иметь следующие свойства во-первых, все направления потоков энергии этих волн равновероятны во-вторых, плотность акустической энергии такого поля по всему объему помещения постоянна. Назовем первое свойство изотропией, —однородностью. Звуковое поле, изот- [c.347]

Однако в связи с развитием в последние годы промышленности синтетических пьезоматериалов — пьезоэлектрических керамик, позволяющих получать пластины любой формы, с произвольным направлением поляризации, кварц вообще перестал применяться для изготовления промышленных фокусирующих излучателей. Но керамические излучатели с радиальной поляризацией тоже не дают равномерного поля. Неоднородность их излучения вызывается не только случайной неоднородностью их свойств и доменной структуры, но и возникающими в них паразитными колебаниями, которые рассматривались в работе [29]. При помощи установки для экспериментального исследования тонкой структуры звукового поля, описанной в работе [30], была исследована фокальная область цилиндрического излучателя из керамики титаната бария с углом раскрытия = 90° и фокусным расстоянием F=i,B> см на резонансной частоте 815 кгц. На рис. 30 приведено распределение давления в фокальной плоскости (кривая 2) по сравнению с расчетной (кривая <3) обращает внимание большая величина вторичных максимумов. [c.185]

И. Н. Каневский. Исследование структуры поля фокусирующего концентратора ультразвука. Акуст. ж., 7, 1, 40, 1961. [c.205]

Анализ рентгенограммы, полученной в работе [4] при съемке с порошка 2х А з (образец отжигали при температуре 850° С), показывает, что это соединение имеет гексагональную решетку а = 5,430 А, с = 5,389 А по данным работы [8], в которой исследовали структуру этого соединения с помощью фокусирующей камеры, а = 5,433 0,002 А, с = 5,390 0,002 А. [c.90]

Раскрывают апертурную диафрагму (ирисовую диафрагму конденсора), уменьшают силу света источника и фокусируют оптическую систему микроскопа (объектив до 10х, окуляр 7—10Х) на препарат, хорошо рассеивающий свет. Такой препарат можно заменить пластинкой матового стекла с мелкой структурой. [c.70]

Прежде чем переходить к собственно резонатору, коснемся коротко требований, которые предъявляются к поперечной структуре излучения в большинстве технологических задач, решаемых с помощью лазера. Они вытекают из необходимости фокусировать лазерное излучение в фокальное пятно заданного размера и сводятся к обеспечению так называемого качества поперечной структуры пучка [135], определяемого выражением [c.247]

Удачное использование как геометрической, так и электрической асимметрий, естественно, приводит к идее использовать их одновременно. Таким способом достигается наибольшее усложнение трехэлектродных фокусирующих структур асимметричные иммерсионные линзы. Такие линзы характеризуются весьма большим числом параметров. Напомним, что полное исследование их свойств возможно только на основе распределений потенциалов. Параметры, выведенные в начале разд. 7.4, должны адекватно описывать свойства этих линз. [c.455]

В заключение этой главы хотелось бы обратить внимание читателей на очень важную проблему. Мы видели, что отклонение можно осуществить множеством различных способов, используя различные виды симметрии. В гл. 10 было показано, что осесимметричные системы можно заменить системами с мультипольной симметрией. В разд. 3.1.1Л мы обсудили плоские поля. Мы видели, что разложение в степенной ряд [уравнение (3 36)] распределения потенциала симметричного плоского поля имеет ту же структуру, что и распределение осесимметричного потенциала [уравнение (3 20)]. Соответственно возможна фокусировка симметричными плоскими полями с тем только различием, что точка объекта будет изображаться прямой линией Интересные фокусирующие и отклоняющие свойства мож- [c.596]

Требуемые величины ам - ам, дм дм, <Рнь (фо)кс могут быть получены при более сложной структуре разрыва. В точке Л могут фокусироваться (рис. 3.18) волны сжатия аНк, а кк, й2кк2,... и ударные волны qh,q h,... так, что две соседние волны сжатия обязательно [c.106]

Для объяснения экспериментальной зависимости радиационного )оста от кристаллографического направления удлинение вдоль 010], сокраш,ения с такой же скоростью в направлении [100] необходимо, чтобы суш,ествовала асимметрия в распределении петель различного знака. Наличие такой асимметрии объясняется анизотропной структурой решетки а-урана. Так, по мнению Бакли, которое разделяют и другие исследователи [4], вакансионные петли с вектором Бюргерса [100] образуются в результате захлопывания центральной вакансионной зоны, чему способствуют напряжения, обусловленные анизотропией коэффициента термического расширения, и направления из-за анизотропного характера фокусирующих столкновений. [c.203]

Элементы акустоэлектроники. Всякое акустоэлект-ронное устройство состоит из простейших элементов — электроакустических преобразователей И звукопрово-дов. Кроме того, применяются отражатели, резонаторы, многополосковые электродные структуры, акустич. волноводы, концентраторы энергии и фокусирующие устройства, а также активные, нелинейные п управляющие элементы. [c.53]

Ведутся разработки сильноточных протонных и ионных источников непрерывного режима с повышенной фазовой плотностью пучков под фазовой плотностью понимается отношение тока пучка к эмиттансу). Исследуются вопросы резонансного ускорения сильноточных пучков при пониженных энергиях инжекции (ус-коряюще-фокусирующие структуры с квадрупольными [c.589]

НАЯ фокусировка — фокусировка пучков заряж. частиц в линейных ускорителях или каналах транспортировки, обусловленная чередованием во времени направления квадрупольно-симметричного элек-трич. поля. Практич. разработка структур с П.-о. к, ф. началась в СССР в 1970 (за рубежом широко развернулась с 1979). До 70-х гг. в линейных ускорителях и каналах транспортировки была известна фокусировка частиц со знакопеременной пространственно-периодич. структурой, состоящей из статич. квадрупольных линз. Один из возможных пространственных периодов такой структуры показан на рис, 1 (и — пост, напряжение на электродах). В отличие от пространственно-периодич. фокусирующих структур, кавал с П.-о. к. ф. [c.154]

В линейных ускорителях с П.-о. к. ф. сила фокусировки не зависит от анергии частиц н от их фазы относительно ВЧ-поля. Все частицы фокусируются примерна одинаково. Это позволяет спец, образом использовать эффект автофааировки. В непрерывном пучке иа входе ускорителя сгустки частиц следуют вплотную друг за другом, но по мере роста скорости частиц они раздвигаются, сохраняя приблизительно неизменные гео-иетрич. размеры и, следовательно, пост, плотность про-етраяственного заряда. Захват частиц в режим ускоре-ивя может достигать 95—97%,что вдвое выше лучших значений этого параметра в др. известных структурах. Линейные ускорители с П.-о. к. ф. могут работать при весьма вязких нач. скоростях частиц. Но при малых нач. скоростях сохраняется высокое предельное значение тока пучка. [c.155]

Пропускающие дифракц. решётки (ПДР) изготовляются методами микролитографии и представляют собой тонкоплёночные структуры, обычно из Аи, толщиной в неск. ыкм. Макс, эффективность дифракции зависит от Лив 1-м порядке может достигать 5—10% при плотности штрихов от неск. сотен до неск. тысяч на 1 мм. Вследствие конечной толщины структуры суп ствует КВ-предел применения ПДР ( 0,1 нм), ниже к-рого решётка становится практически прозрачной. ПДР могут устанавливаться в сходящемся или расходящемся пучке совм. с фокусирующей Р. о., при этом для коррекции возникающих аберраций шаг структуры делают переменным. [c.349]

Брэгг — френелевская оптика. Использование объёмной дифракции на многослойной или кристаллич. структуре с определ. формой поверхности или изменением периода отражающих плоскостей позволяет создать оптич. элементы, совмещающие высокое пространственное разрешение ЗПФ и высокое спектральное разрешение и механич. стабильность многослойных и кристаллич. структур. Идеальная брэгг-френелевская линза (ВФЛ) — трёхмерная голограмма точки, представляющая собой систему эллипсоидов или параболоидов вращения границ трёхмерных зон Френеля (рис. 7). БФЛ обладает хроматич. аберрациями, фокусирует все длины волн, отражаемые решёткой, в одну точку. Однако такая система весьма трудна в реализации, т. к, требует создания очень точной формы поверхности кристалла или зеркала. Синтезированные БФЛ, обладая всеми свойствами объёмных БФЛ, позволяют использовать плоские кристаллы или многослойные зеркала. Совмещая объёмные зоны Френеля с идеальной объёмной решёткой, периодической или апериодической, выделяя области, в к-рых положение границ системы объёмных зон Френеля и плоскостей решётки совпадают или отличаются не больше чем на четверть межшюскостного расстояния, получают структуру синтезированной БФЛ (рис. 7). Изменяя [c.350]

Определим точнее предмет исследования предлагаемой книги. Как всякий оптический элемент (призма, зеркало, линза, объектив и т. п.), голографический оптический элемент преобразует волновой фронт падающей на него световой волны фокусирует, отклоняет, расщепляет его и т. п. Однако, и в этом первая особенность голографических элементов, в основе данного преобразования лежит дифракция света на периодической или квази-периодической структуре, а не преломление или отражение, как в классических аналогах. В этом смысле голографические элементы можно назвать дифракционными оптическими элементами. Вторая особенность заключается в методе получения здесь, как правило не используют традиционной оптической технологии. Дифракционную структуру элемента формируют, фиксируя в высокоразрещающей фоточувствительной среде картину, возникающую при интерференции двух или нескольких когерентных световых волн. [c.3]

Предлагаемая читателю книга посвящена группе элементов, значительно менее известных широкому кругу оптиков, чем асферические поверхности,— дифракционным оптическим элементам (ДОЭ), которые преобразуют падающий на них волновой фронт (в частности, формируют изображение) за счет дифракции света на их структуре. Можно выделить три основные вида ДОЭ светоделительные (дифракционные решетки), фокусирующие (дифракционные линзы) и корректирующие (дифрак ционные асферики) элементы. К первому виду относятся, например, спектральные решетки [35] или решетки е порядками одинаковой интенсивности [25, 49], которые не меняют кривизну [c.5]

Все изложенное представляет собой основные положения волнового подхода к теории. ДОЭ. Аналогичный, но несколько отличающийся анализ содержится в работе [15]. Волновой подход, как будет ясно из дальнейшего, очень удобен при описании фокусирующих и аберрационных свойств ДОЭ, а также незаменим для расчета структуры элементов (см. гл. 7), однако необходимо отметить и некоторые присущие ему ограничения. В силу того что амплитуда всех волновых полей предполагалась одинаковой (по модулю) в пределах ДОЭ, развитый формализм не вполне точно описывает такие объекты, как голографические оптические элементы, поскольку при их записи амплитуды интерферирующих волн обязательно меняются по поверхности элемента. Совершенно не укладьщаются в рамки формализма голограммы сложных реальных объектов, где записываются и восстанавливаются волновые поля с большими перепадами амплитуды. Ниже, однако, рассматриваются простейшие дифракционные структуры, для которых волновой подход является вполне приемлемым приближением. [c.14]

Рассмотрим подобные общие соотношения для оптических систем с аксиальной симметрией, состоящих из ряда бесконечно тонких элементов (или просто поверхностей, как принято говорить в оптике) с известными фокусирующими и аберрационными свойствами. Допустим, аксиально-симметричная система состоит из k сферических (или плоских) поверхностей, разделяющих однородные среды с известными показателями преломления. Эти поверхности могут быть преломляющими элементами, если разделяют среды с различными показателями преломления, а могут быть дифракционными элементами, если несут на себе соответствующую структуру (показатель преломления равен 1 по обе стороны поверхности). В первом случае исчерпываюш,ий характеристикой элемента будет радиус поверхности, во втором кроме радиуса необходимо знать эйконал записи ДОЭ. [c.52]

Широкое распространение получили рентгенооптические схемы с изогнутыми фокусирующими кристаллами. Как уже отмечалось в п. 8.1, многослойные молекулярные структуры могут быть изготовлены непосредственно нанесением на подложки необходимой формы [34]. Монокристаллы изгибаются и приклеиваются к соответствующим подложкам. Феноменологическое полуколиче-ственное описание дифракции в изогнутом кристалле [16, 48] проведено давно, однако строгая математическая теория для совершенной структуры сформировалась лишь в последнее время [2, 11]. Точные количественные расчеты дифракционных параметров цилиндрически изогнутых кристаллов возможны численным методом с помощью ЭВМ. [c.308]

Рис, 23. К способности голограммы отображать оптические свойства объекта. Голограмму можно рассматривать ие только как некое устройство, воспроизводящее волновые поля, но и как своеобразную копню объекта — его оптпческий эквивалент. В частности, голограмма вогнутого зеркала обладает способностью фокусировать излучение так же, как и зеркало-оригинал. На рис. а приведена схема получения такой голограммы на вогнутое зеркало Z падает волна монохроматического излучения W. Отраженное зеркалом излучение, складываясь с падающим, образует в пространстве над зеркалом систему стоячих воли d, йг, d , которая впечатывается в эмульсионный слой фотоиластники е. Если на полученную таким способом голограмму Н направить излучение источника S, то она сфокусирует это излучение в изображение источника S аналогично тому, как фокусирует пзлучение вогнутое зеркало-оригинал (рис. Ь). Исходя из таких представлений, первичное явление, которое лежит в основе голографии, можно определить как свойство возникающей вокруг объекта объемной картины стоячих воли копировать элементы структуры этого объекта [c.65]

С увеличением размеров блокирующего низкие частоты, зкрана, чго соответствует уменьшению зффективной апертуры и, следовательно, связано с необходимостью увеличения времени зкспонирования, плотность световой энергии в реконструированном поле остается практически постоянной. Об зтом свидетельствуют результаты измерения дифракционной эффективности [132] спеклограмм (рис. 44). Такой, на первый взгляд, неожиданный результат связан с тем обстоятельством, чго контраст регистрируемой совокупности пространственных несущих (спекл-структуры) не зависит от размеров апертуры фокусирующей системы. Это обусловлено тем, что степень пространственной когерентности излучения, формирующего сфокусированную спеклограмму, остается постоянной и близкой к единице, независимо от размеров диффузно рассеивающего объекта и апертуры изображающей системы. [c.81]

Одну из ортогональных компонент обращаемого излучения пространственно отделяют от другой при помощи поляризационного расщепителя, поворачивают взаимным вращателем на 90°, затем обе компоненты излучения фокусируют в один и тот же объем нелинейной среды. Обе эти волны, обладающие в нелинейной среде одной и той же поляризацией, фактически образуют единое поле со своей (более сложной) пространственной структурой и создают единую гиперзвуковую решетку, рассеиваясь на ней с обращением волнового фронта. После обратного прохода через оптический тракт будет воспроизводиться не только волновой фронт падающего на термически деформированный элемент излучения, но и его поляризация и для развязки выхода такого двухпроходового усилителя с ОВФ компенсацией от его входа приходится использовать вращатель Фарадея, что делает эту схему на практике менее удобной. [c.144]

В конце 1964 г. [27] они доказали, что голограмма Фурье дает гораздо более высокую разрешающую способность, чем обычная голограмма Френеля (разд. 3). Однако первоначально считалось (разд. 7 гл. 5), что голограмму Фурье можно получить только в фокальной плоскости системы фокусирующих линз или зеркал. В такой системе волна, рассеянная предметом, подвергалась преобразованию Фурье, а уже затем интерферировала с опорной волной. Поэтому необходимость фокусирующих элементов при получении голограммы Фурье превращалась в непреодолимое препятствие при использовании этой схемы голографии Фурье в рентгеновском диапазоне, пока, наконец, в начале 1965 г. автор [29] не предложил способ получения безлин-зовой голограммы Фурье. Необходимость введения фокусирующих элементов между предметом и голограммой полностью отпала (разд. 3) Для рентгеновских лучей при длинах волн 1А голограмма Фурье позволяет в 1000 раз повысить разрешающую способность по сравнению с голограммой Френеля, Однако даже и это преимущество, казалось, ничего не может дать, так как для его реализации требовалось создание точечных опорных пучков с размером, равным желаемой разрешающей способности, т. е. 1 А. Наконец, в 1965 г. автор и его сотрудники [30] доказали, что размытые изображения, получаемые от протяженного источника, можно восстановить с высоким разрешением по схеме корреляционной компенсации, если использовать для этого источник определенной пространственной структуры, воз-рождаюи ий разрешение в процессе восстановления [31] (разд. 3). [c.129]

Рис. 3.19. Схема экспериментальной установки для переключения с помощью импульсов лазера на красителе с синхронной накачкой (по [3.29]), см. гл. 6. 1 — ВЧ-генератор 2 — акустооптический синхронизатор мод 3 — Кг+-лазер 4 —лазер на красителе 5 — стробирующая головка 5 —фотодиод 7 —оптоэлектронный ключ 8 — блок питания 9 — стробоскопический осциллограф. К волноводной структуре прикладывалось постоянное напряжение порядка 100 В. Индуцированный в щели электрический сигнал подавался с помощью короткого коаксиального кабеля на вход В стробоскопической головки (HP 1430 С) с временем нарастания 20 пс. Для управления стробоскопической головкой на его вход А поступал сигцал с лавинного фотодиода, возникавший под действием ответвленной части излучения лазера накачки (криптоновый лазер), также работавшего в режиме синхронизации мод с частотой следования импульсов 76 МГц. Импульсы излучения лазера на красителе (пиковая мощность 100—500 Вт, длительность — 5—10 пс, частота следования 76 МГц) фокусировались линзой (/=40 мм) на активную поверхность детектора (0,45x0,03 мм ). В этом устройстве оптоэлектронный ключ может быть использован и как быстродействующий фотоприемник. Его чувствительность имеет порядок 1 мВ на 1 мВт средней мощности излучения лазера.

Для расчета усиления ультразвука в фокусе собирательной линзы необходимо учитывать, кроме волновых сопротивлений, такие факторы, как зависимость коэффициента прохождения волны через линзу от угла падения, от поглощения ультразвука в материале линзы, влияние нелинейных эффектов иа фокусирование ультразвука. С детальным расчетом ультразвуковых фокусирующих устройств можно познакомиться по недавно изданной книге И. И. Каг.езского [60]. ]-1а рис. 42 приведена теневая фотография ультразвукового пучка, сфокусированного акустической линзой. (1 (мне-вой метод ви 5уализации ультразвуковых полей сводится к просветлению участков среды с измененным о1 тнческим показателем преломления [12]. Поско.1ьку последний меняется в фазе с плотностью, т. е. с давлением, то теневая фотография, экспонируемая в течение времени, значительно превышающего период ультразвуковых колебаний, регистрирует общее просветление области среды, занятой ультразвуковым пучком, позволяя изучить его структуру и геометрию). [c.156]

Под режимами лазерной обработки понимают энергию излучения IV и длительность импульса т, плотность энергии излучения, фокусное расстояние фокусирующей системы /, смещение поверхности детали относительно фокальной плотности А/, количество импульсов п излучения. Для выбора оптимальных режимов лазерной обработки микроотверстий применяют номограммы. Лазерная обработка сопровождается структурными изменениями металла в поверхностных слоях. Величина зоны с изменяемой структурой зависит от многих факторов она растет с увеличением ИЛ Для углеродистых сталей, содержащих от 0,2 до 1,2 С, она равна 0,06...0,07 мм (при Ж=2,1 Дж г =1,5 мс, /=43 мм). Шероховатость обработанной поверхности также зависит от режимов лазерной обработки = При обработке титановых пластин [c.227]

Особенности технологической задачи определяют размер пятна, характеризуемый величинами 6 и сго, в который необходимо фокусировать лазерное излучение. Папример, при лазерной резке листовых материалов — это требуемая толш ипа 2сго и глубина 26 реза. Соотношения (4.118) и (4.119) показывают, что требуемый размер фокального пятна однозначно определяет как параметры используемого объектива, т.е. отношение фокусного расстояния к анертуре объектива //(Т/, так и требуемое качество поперечной структуры лазерного излучения Г]. Из соотношения (4.118) видно также, что при данном объективе, возможность фокусировки излучения лазера целиком определяется качеством пучка. [c.248]

Широко известны различные примеры проявления этих специфических свойств лазерного излучения. Так, например, в различных прозрачных средах возникает его самофокусировка, т. е. нарушается один из основных законов оптики — закон прямолинейного распространения света. Самофокусировка обусловлена большой интенсивностью лазерного излучения, под действием которого изменяется коэффициент преломления среды. Другой хорошо известный пример — возможность разделения изотопов ла-эерным излучением за счет высокой монохроматичности излучения и его селективного воздействия па состояния сверхтонкой структуры атомных спектров. Когерентность лазерного излучения и, в частности, его экстремально малая расходимость позволяют фокусировать излучение в кружок, диаигетр которого порядка длины волны излучения, т. е. порядка 1 мкм. При длительности лазерного импульса порядка фемтосекунд длина цуга, т. е. той области пространства, где локализовано электромагнитное поле вдоль направления его распространения, составляет величину порядка 10 см, т. е. величину порядка длины волны излучения Можно привести и другие примеры, столь же принципиально противоречащие привычным представлениям, сложившимся в до-лазерную эпоху, когда существовали лишь некогерентные источники излучения. [c.6]

Голографический, или голограммный оптический, элемент преобразует волновой фронт как и оптическая деталь, т. е. фокусирует, отклоняет, расщепляет лучи. Однако в основе этих явлений лежит дифракция света на периодической или квази-периодической структурах. Эта структура формируется на основе тех принципов, которые уже были рассмотрены. Дифракционная структура голографического элемента получается в результате образования на высокоотражающем светочувствительном материале интерференционной картины от двух или большего числа когерентных волн. Голографические (дифракционные) элементы могут быть использованы как линзы, решетки, мультипликаторы и др. Они также применяются для фильтрации изображений и коррекции волнового фронта. [c.410]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...