Плоскость предметная

Механизм подъема 13 при помощи маховика 14 перемещает корпус тубуса в вертикальном направлении. Рукоятка 15 фиксирует нужное положение тубуса. Для точной фокусировки микроскопа на поверхность испытуемого объекта служит микрометрический механизм с барабаном 1 с ценой деления шкалы 0,003 мм. В основании вмонтирован механизм, с помощью которого можно изменять наклон плоскости предметного столика вокруг горизонтальной оси. Для этой цели с левой стороны основания имеется диск. Столик имеет также механизмы 18 перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, которые позволяют перемещать исследуемый образец вместе со столиком в пределах й 25 мм в каждом направлении. Столик может быть повернут вокруг вертикальной оси на угол 55°. Фиксация столика в определенном положении осуществляется рукояткой 17. [c.118]

В 1952 г. отечественной промышленностью был выпущен проектор ЧП для часовой и приборостроительной промышленности. Оптическая ось объектива и конденсора расположены вертикально к плоскости предметного стола. Прозрачный экран, слегка наклоненный относительно горизонта, имеет размер 500 X 460 мм. Объективы проектора вмонтированы в ползушку, а конденсоры — в револьверную головку. Объективы имеют увеличение 10 , 20 , 50 , 100 и соответствующие к ним конденсоры. Дисторсия на участке экрана 300 мм не превышает 0,2 мм. Проектор может работать как в проходящем, так и отраженном свете. Источником света в обоих случаях служит лампа накаливания СЦ-62, напряжением 12 б и мош,ностью 100 вт. [c.379]

Приспособление с изломом помещают в камеру микроскопа и добиваются параллельности исследуемой плоскости и плоскости предметного столика камеры объектов микроскопа. [c.303]

Одновременно проверяют параллельность рабочей поверхности стола и предметного стекла плоскости движения салазок. Наконечник микромера приводят в этом случае в контакт непосредственно с поверхностью стола, а затем стекла в их крайних положениях. Стойка с микромером устанавливается на плите, стоящей рядом с прибором, либо прибор и стойку помещают на одну плиту. Отклонение от параллельности допускается в пределах 0,02 мм для плоскости стола на всей длине его перемещения и 0,03 мм для плоскости предметного стекла по его диаметру. [c.183]

Исследуемый образец 5 (микрошлиф) (рис. 65, а) следует закрепить на пластинке со штифтами пластилином. Строго параллельное положение поверхности шлифа по отношению к плоскости предметного столика достигается вдавливанием образца в пластилин ручным прессом. [c.104]

Держатель с противовесом 2 совместно с автоколлиматором / может поворачиваться в плоскости, перпендикулярной чертежу, вокруг центров 3 на 90°. Угол наклона оси трубы ориентировочно отсчитывают по металлическому лимбу 5. Отсчетный барабанчик микрометрического устройства 7 дает возможность более точно фиксировать угол наклона автоколлиматора 1. Неподвижное положение автоколлиматора 1 на центрах 3 обеспечивает закрепительный винт 6. Оптическая ось автоколлиматора при центральном положении трубы направлена вертикально вниз и перпендикулярна плоскости предметного столика 10. Оси вращения автоколлиматора вокруг центров 3 и предметного столика 10 находятся в одной вертикальной плоскости и взаимно перпендикулярны. Устройство предметного столика 10 описано в гл. П1, параграф 4. [c.118]

В остальных случаях диафрагмирование производится на глаз. При правильно выбранной диафрагме изображение должно казаться резким, а поле зрения достаточно освещенным. Свет от осветителя проходит в нижнюю часть станины, через прозрачную верхнюю плоскость предметного стола и попадает в объектив. [c.97]

Построим перспективу точки Л, лежащей в предметной плоскости (рис. 564). На рис. 540 была рассмотрена такая задача с применением плоскостей, проходящих через произвольно взятые проецирующие прямые ММ и ТЯ. Однако построение точек М, М, Я и Т трудоемко, поэтому воспользуемся такими проецирующими плоскостями, предметные и картинные следы которых могут быть легко найдены. [c.388]

Проведем через точку А вертикальную проецирующую плоскость (см. рис. 544) и проецирующую плоскость, перпендикулярную картинной (см, рис. 550) плоскости. Предметные следы этих плоскостей проходят через точку А, картинные пересекаются в точке Л . Предметные следы обеих плоскостей показаны на рис. 565, где точка А задана своей горизонтальной проекцией А . [c.389]

ПЛОСКОСТЬ ПРЕДМЕТНАЯ. В теории линейной перспективы горизонтальная плоскость П, на которой располагаются изображаемые предметы (см. аппарат перспективы). [c.84]

Световые лучи, идущие к цилиндру, образуют две лучевые плоскости 5Ла и 8ВЬ, касательные к поверхности цилиндра. Горизонтальные проекции лучевых плоскостей (предметные следы) изобразятся в виде прямых за и зЬ. Таким образом, чтобы определить границу собственной тени на цилиндре, надо из точки провести две касательные к цилиндру за и зЬ, а через точки а и Ь — образующие аА и ЬВ, которые определят границу собственной тени на цилиндрической поверхности. [c.285]

Из сказанного ранее известно, что с абсолютной резкостью могут быть переданы предметы, находящиеся только в одной плоскости предметного пространства. Приведенное положение иллюстрируется рис. 31. Точка А передается резко в положении А, точка В— в положении В, точка С — в положении С. При смещении плоскостей на расстояние б резкость сбивается и эти точки будут переданы в виде кружков, называемых кружками рассеивания, или кружками нерезкости. Если диаметр кружка нерезкости (3 не превышает 0,1 мм, то при рассмотрении изображения на нормальном для глаза удалении кружок будет восприниматься в виде точки. Таким образом, глубина резкости связана с разрешающей способностью глаза, и плоскость абсолютно резкого изображения может быть смещена на некоторое расстояние без заметного ухудшения качества изображения, т. е, до тех пор. [c.35]

Чертежом детали определяют положение обрабатываемого контура ИЛИ группы контуров относительно базовых плоскостей. Предметный столик или технологическую пластину устанавливают на большой инструментальный микроскоп, фиксируют положение их базовых плоскостей в координатной системе микроскопа и при помощи отсчетных винтов п оптики устанавливают и закрепляют пуансоны в местах, определенных размерами чертежа. [c.431]

Фиг. 24-2. а — контроль резьбового калибра на большом проекторе б — пример работы в проходящем свете I — точечная лампа 12 в, 100 вт 2 — конденсор 3 — стол для образцового чертежа, шаблона и т. д. 4 — оптическая система для получения изображения образца в плоскости предметного стола 5 [c.407]

Параллельность измерительных поверхностей, например параллельность измерительной поверхности плоского наконечника оптиметра опорной плоскости предметного стола, можно проверить, снимая показания по шкале оптиметра при установке одной и той же плитки в 4 положениях относительно измерительной поверхности плоского наконечника (фиг. 29). При неизменных показаниях проверяемые поверхности Параллельны. По результатам такой проверки, выполненной в крайних положениях кронштейна стойки оптиметра, можно оценить перпендикулярность его перемещения к поверхности предметного столика. [c.651]

Если при рассмотрении мелких фракций под микроскопом и не устанавливается заметной разницы но форме между более и менее крупными зернами, то это относится только к двум измерениям, параллельным плоскости предметного стекла, на котором лежат зерна. Третье же измерение, которое может определять собой пластинчатую форму зерен, под микроскопом не усматривается. [c.108]

Плоскость изображения П совмещается с картинной плоскостью Пз, а вторая вспомогательная плоскость проекций П , называемая предметной, выбирается перпендикулярной картинной плоскости П2. Обычно картинная плоскость располагается вертикально. Первый вспомогательный центр проецирования расположен в бесконечности в перпендикулярном направлении к предметной плоскости П,. Второй вспомогательный центр 2 совпадает с основным центром проецирования 5 и называется точкой зрения. [c.23]

Аппарат центрального проецирования (5, ГГ) дополняется горизонтальной плоскостью П] (или Н), которая называется предметной плоскостью, причем П 1П (рис.26). [c.30]

В дальнейшем, при построении перспективных изображений предметов, часто придется строить перспективы параллельных прямых, лежащих в предметной плоскости П,. Их точка схода располагается на линии горизонта (черт. 348). [c.163]

Переход от ортогональных проекций (черт. 360) к перспективному изображению (черт. 361) имеет здесь одну особенность, заключающуюся в том, что вторичная проекция предмета создана не на предметной плоскости, которая в данном примере совпадает с плоскостью горизонта, а на некоторой вспомогательной горизонтальной плоскости, смещенной книзу от плоскости горизонта на произвольное расстояние Н. [c.168]

Для построения перспективы точки воспользуемся вертикальной плоскостью а, которая е картиной и предметной плоскостью пересекается соответственно по прямым (апП ) и о ,. Чтобы площадь листа, отведенную для перспективы, освободить от вспомогательной сетки прямых, плоскость а располагают в стороне o i главной точки, как показано на черт. 363. Естественно, что из двух плоскостей, изображенных на рисунке, для практических целей [c.170]

Окружность, расположенная в предметной плоскости, изображена на черт. 370. [c.172]

Задача 3. Построить перспективу квадрата, лежащего на предметной плоскости П,, если перспектива одной стороны (А В ) задана (черт. 382). [c.178]

Даны перспектива и вторичная проекция одной из диагоналей прямоугольного параллелепипеда, основание которого расположено па предметной плоскости, а передняя грань параллельна плоскости картины. Построить перспективу параллелепипеда и определить истинные длины его ребер и диагонали. [c.179]

Точка зрения S и оригинал А ортогонально проецируются на предметную плоскость [c.35]

Возьмем предметную Hi и картинную П плоскость с основанием 0=П1Г)П. Спроецируем ортогонально плоскость о. аГ Ь) общего положения на предметную плоскость П , получим ее проекцию а а Г Ь ). Или соответственно А A B i является ортогональной проекцией Д ЛВС. [c.41]

Векторы p. , ро, PO задают положение оснований перпендикуляров s, /"о. (1. направленных из плоскости голограммы в центры предметной, опорной и просвечивающей волн соответственно (рис. 11.9). Волновые числа k = 2л/7. и k = 2л/Х, вообще говоря, не равны друг другу. [c.248]

Для некогерентной оптической системы интенсивность входного сигнала / р (j , у) задается распределением яркости в предметной плоскости I (х, у). [c.51]

Среди анализаторов микрообъектов со сканирующими фотоэлектрическими преобразователями можно выделить несколько вариантов оптико-электрических измерительных преобразователей (рис. 31). Сканирование в плоскости препарата (рис. 31, а) осуществляется путем механического перемещения предметного стекла с препаратом в плоскости предметного столика микроскопа. Этот метод используется в микроспектрофотометрах (например, в МУФ-8, 5МР-03 фирмы Оптон и др.). [c.262]

Воздушная прослойка имеется также между верхней линзой конденсора и нияшей плоскостью предметного Ьгекла. Здесь тоже могут образоваться потери света при выходе световых лучей из ксжденсора в воздух. [c.98]

Через точку S параллельно П° проходит предельная плоскость. Она делит пространство на две части — изображаемую и неизображаемую. Изображаемая часть пространства может быть расположена как по одну, так и по другую сторону предельной плоскости. Предметная и предельная плоскости пересекаются между собой по прямой, параллельной основанию картины и называемой предметным следом предельной плоскости. [c.200]

Точка зрения 8 и оригинал А ортогонально проепир тотся на предметную плоскость [c.30]

Возьмем предметную П] и картинн то П плоскость с основание.м 0=П ПП. Спроецируем ортогонально плоскость а(аГ Ь) общего положения на предметную плоскость П), получим ее проекцию а 01061)- Или соответственно А1В1С1 является ортогональной проекцией Д АВС. [c.39]

В предметной плоскости через ючку провести прямую, составляющую угол 60 с прямой А В, лежащей также в предмешо й плоскости. [c.179]

На указанных рисунках построены тени точек и гени вертикальных отрезков. Чтобы найти в перспективе те]ц> /(щ точки /1 на предметную плоскость П,, нужно через данную точку А и точку схода лучей S пронести мерспективу. туча (прямую S /(), а через ее вторичную проекцию. 4, — вторичную проекцию луча (прямую S"A,). Пересечение перспективы луча с его вторичной проекцией определит тень Ащ точки А [c.218]

I. Тень от вертикального ребра 5Й, на предметную плоскость и на горизонтальную Hjm KO Tb ступени параллельна вторичной про- [c.219]

Для построения тени зтого ребра на паклоп-но.м скате плоскости а через световой луч проведена вспомогательная вертикальная п к)с-кость /Д след которой на предметной плоскос i и [c.223]

Применение лазерных измерительных систем в геодезии сталкивается с проблемой нестабильности лазерного пучка в пространстве, относительно которого определяются поперечные отклонения контролируемых точек. В работе [51] предложен метод решения указанной задачи путем сопоставления результатов измерении поперечных отклонений с отношением расстояний между предметной и картинной плоскостями. Лазерная измерительная система для контроля подкрановых путей, реализующая этот метод, содержит светодиоидный источник излучения, координатно-чувствительный фотоприемник на базе ПЗС, аналогово-цифровой преобразователь, накопитель, мини-ЭВМ и клавиатуру для управления процесеом обработки результатов измерений. [c.146]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...