Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Объектив проекционный

Устройства отображения первого типа снабжаются комплексной электроннолучевой трубной, имеющей три впаянные вакуумные трубки. Первая представляет собой электроннолучевую трубку, на отклоняющие пластины которой подаются управляющие сигналы от вычислителя. В результате на экране высвечивается подготовленное вычислителем изображение. Вторая трубка, называемая характроном, формирует на экране буквенно-цифровое изображение благодаря тому, что электронный луч, проходя через отклоняющие пластины, попадает в определенное место трафаретной пластины, а затем а вторые отклоняющие пластины. Роль этих пластин заключается -в том, что они направляют алфавитно-цифровое изображение, полученное с трафарета, в определенное место экрана ЭЛТ. Характрон, таким образом, обеспечивает простановку размеров и различных обозначений на полученном с помощью ЭЦВМ изображении. Третья трубка представляет собой обычную вакуумную трубку, в плоский торец которой направлен объектив проекционного аппарата, с помощью которого на экране ЭЛТ могут высвечиваться изображения микрофильмов.  [c.298]


Сущность метода контроля чистоты поверхности двойным микроскопом заключается в следующем. Пучок лучей направляется через узкую щель и объектив проекционного тубуса 3 на контролируемую поверхность. Но так как контролируемая поверхность имеет микронеровности, то световая щель будет искривляться по форме самой поверхности. Полученное изображение световой щели, отраженной от контролируемой поверхности, рассматривается в окуляр визуального тубуса 1 микроскопа, расположенного под углом 90° к проекционному тубусу.  [c.343]

В проекционных системах входящие гомоцентрические расходящиеся пучки лучей на выходе преобразуются в сходящиеся пучки. Проекционной оптической системой является обычно проекционный объектив. Проекционная и осветительная оптические системы должны быть согласованы между собой с целью получения требуемой освещенности экрана и ее распределения при заданном масштабе изображения (проекции).  [c.397]

Чертеж изделия обязательно сопровождается параметризацией и нанесением размеров, по которым изготавливают изделие. При этом система отсчета, которую будем называть натуральной системой координат, не совпадает с проекционной системой, но обычно выбирается так, чтобы её оси были соответственно параллельны осям проекций (рис.44). Натуральная система Охуг вместе с объектом (точка А) проецируется на плоскости проекций. При этом координатные плоскости параллельны плоскостям проекций и их поля перспективно соответственны. Для задания такой модели на эпюре достаточно задать начало (О.ОгО ) натуральной системы 0 уг (рис.45).  [c.46]

Первая группа включает в себя действия, объединенные проекционным принципом отображения объекта на плоскость листа. Сюда входят такие геометрические действия построения изображения, как создание структурного эквивалента пространства, построение базового объема, основных формообразующих частей изображения и деталей формы.  [c.93]

Как и всякая другая наука, начертательная геометрия возникла из практической деятельности человечества. Задачи строительства различных сооружений, крепостных укреплений, жилья, храмов требовали предварительного построения изображений этих сооружений. Зародившись в глубокой древности, различные способы построения изображений по мере развития материальной жизни общества претерпевали глубокие изменения. От примитивных изображений, передававших геометрические формы изображаемых на них объектов лишь весьма приближенно, постепенно совершился переход к составлению проекционных чертежей, отражающих геометрические свойства изображаемых на них объектов.  [c.5]


Известна роль начертательной геометрии в архитектуре, строительстве, изобразительном искусстве. Проекционные способы, разработанные в начертательной геометрии, дают возможность получать наглядные изображения проектируемых объектов и целых комплексов.  [c.7]

Любая оптическая система — глаз вооруженный и невооруженный, фотографический аппарат, проекционный аппарат — в конечном счете рисует изображение практически на плоскости (экран, фотопластинка, сетчатка глаза) объекты же в большинстве случаев трехмерны. Однако даже идеальная система, не будучи ограниченной, не давала бы изображений трехмерного объекта на плоскости. Действительно, отдельные точки трехмерного объекта находятся на различных расстояниях от оптической системы, и  [c.319]

При больших увеличениях очень важной задачей является хорошее использование идущего от объекта светового потока, ибо он должен распределяться по большой поверхности увеличенного изображения. Так как размеры объекта значительны, то необходимо специальное осветительное устройство, позволяющее направить весь идущий от объекта свет в сравнительно небольшой проекционный объектив. Это достигается при помощи короткофокусного конденсора С значительного размера, расположенного, как показано на рис. 14.20, с таким расчетом, чтобы свет от него сходился на входном зрачке проекционного объектива О. Так как, с другой стороны, расстояние от объектива до предмета О должно соответствовать резкой наводке, то конденсор и объектив должны быть согласованы друг с другом.  [c.336]

Для проектирования микроскопических объектов применяют микроскоп, окуляр которого заменяют специальным проекционным устройством впрочем, можно получить действительное изображение на экране и с обычным окуляром, смещенным соответствуют,им образом, или даже совсем без окуляра.  [c.337]

Если мы имеем изображение предмета, выполненное в центральной или параллельной проекции, то совершенно очевидно, что только по одному такому изображению невозможно определить натуральный объект. Так, по проекции А В отрезка АВ на рис. 6 нельзя судить о размерах проектируемого отрезка. Длина этого отрезка может изменяться в зависимости от расположения точек А я В на проектирующих линиях. Таким образом, рассмотренные нами проекционные чертежи не позволяют определить натурального объекта, т. е. не обладают свойством обратимости .  [c.17]

Возникает вопрос о том, как следует дополнить проекционный чертеж, чтобы сделать его обратимым , т. е. чертежом, вполне определяющим проектируемый объект.  [c.17]

В системах бегущего луча в качестве источника света используют специальный проекционный кинескоп с высокой яркостью свечения. Отраженный от объекта сигнал воспринимается фотоумножителем, усиливается и подается на видеоконтрольное устройство. Иногда вместо проекционной трубки применяют лазер, луч которого сканирует объект с помощью оптикомеханической или электрооптической развертки.  [c.82]

Анализаторная часть А включает конденсорную линзу 8, анализатор 9, проекционный объектив 10, фотокамеру 13 или экран 15.  [c.243]

Конденсорные линзы 4 -а 8 служат для получения параллельного пучка света. Проекционный объектив используется для получения изображения модели на матовом стекле фотокамеры или на экране с наибольшим увеличением в 15 раз.  [c.244]

Проекционные системы 15, 20 и 22 отъюстированы так, что если изображение объекта сфокусировано в плоскость сетки окуляра, оно будет одно-  [c.100]

На рис. 2 показана схема стробоскопического микроскопа СМ-8 для осуществления импульсной голографической микроскопии непосредственно во время испытаний на усталость. Свет лазера 5 делится светоделителем 3 на предметный пучок 2 и референтный 6, после расширения которого фотопленка 8 фиксирует взаимодействие референтного волнового поля 7 с предметным полем 9, сформированным проекционным микроскопом 10. После обработки фотопленки голограмма восстанавливается посредством ее освещения референтным волновым полем 7 для получения изображения исследуемого объекта 1.  [c.304]

В качестве основных характеристик кодирования информации об ОД служат способ задания исходной информации (табличный, языковый или сметанный) вид описываемых геометрических объектов (пространственный, проекционный, плоский) класс описываемых геометрических объектов (плоские детали, сложные детали, представленные как поверхности 2-го и высшего порядка, тела вращения и т. д.).  [c.107]


Рис. 57. Микроинтерферометр МИИ а — общий вид б—оптическая схема (/ — лампа накаливания 2— конденсор 3 — ирисовая диафрагма 4 — проекционный объектив 5 — разделительная пластинка 6 — пластинка 7 — объектив 8 — фокальная плоскость объектива Рис. 57. Микроинтерферометр МИИ а — общий вид б—<a href="/info/4760">оптическая схема</a> (/ — <a href="/info/69101">лампа накаливания</a> 2— конденсор 3 — <a href="/info/237513">ирисовая диафрагма</a> 4 — проекционный объектив 5 — разделительная пластинка 6 — пластинка 7 — объектив 8 — <a href="/info/12774">фокальная плоскость</a> объектива
Плоская графика в качестве средств создания изображений применяет плоские графические объекты, сочетания которых дают более сложные объекты, минуя операцию проецирования. Проекционная машинная графика рассматривает автоматическое получение многовидового технического чертежа при заданном описании оригинала и с помощью проецирования неплоской фигуры на плоскость либо поверхность. Этот раздел машинной графики наиболее полно реализуется в автоматизированном проектировании, наделяя его всеми необходимыми средствами и возможностями.  [c.26]

В рассматриваемых измерительных оптических приборах воспринимающим элементом является объектив, показывающими элементами являются шкала в окуляре (оптико-механические приборы, например измерительные микроскопы), а также экран со шкалами или масштабным чертежом (проекционные измерительные приборы-проекторы). Наличие в оптико-механических приборах дополнительно проекционной насадки (например, у универсального микроскопа), превращает последние (как и проекторы) в оптико-механические проекционные измерительные приборы.  [c.377]

Оптическая схема микропроектора представлена на фиг. 5. Свет от источника / проходит через первую линзу конденсора 2 и, отразившись от зеркала 3, через ирисовую диафрагму проходит во вторую линзу конденсора 4 и освещает исследуемый объект, расположенный на предметном столике 5. Объектив 6, укрепленный в револьверной головке, передает изображение объекта с помощью призмы 7 в проекционный окуляр 8. Изображение, увеличенное после объектива, окуляром отражается от зеркала 9 и проектируется на экране 10. Для регулирования масштаба увеличения зеркало 9 перемещается с помощью вращающегося барашка 11 установочного винта. Длп перехода от проекционного наблюдения на визуальное через окуляр 12 призма 7 поворачивается посредством рукоятки на 90° в сторону. Для наведения на резкость изображения имеется микрометрический винт, один оборот которого соответствует подъему или опусканию объектива на 0,1 мм.  [c.386]

Двойной проектор (см. фиг. 1, г) состоит из двух идентичных проекторов, имеющих осветители 1 и конденсоры 2, диапозитивы стереопары 3 с цветными фильтрами и проекционные объективы 4. При рассматривании через очки, разделяющие два изображения, на экране 6 наблюдается объемная, пространственная картина измеряемого объекта. Измерение производится с помощью специального столика, устанавливаемого на экран.  [c.391]

Проекционный метод измерений среднего диаметра наружной резьбы осуществляется на универсальном или инструментальном микроскопах с помощью особых ножей или шарового наконечника контролируемый объект устанавливают на предметном столике прибора в центрах или призмах.  [c.523]

Принцип действия фотоэлектронного копирования заключается в следующем. Специальная читающая головка непрерывно получает информацию о положении линии чертежа в системе координат YY. Эта информация преобразуется в электронной схеме автомата в электрические сигналы определенного знака, а амплитуды передаются на приводы, перемещающие головку вдоль линии чертежа. Чувствительным элементом головки является фотоэлемент, изменяющий свое омическое сопротивление в зависимости от силы подающего на него света. Проекционные фонари проектируют световое пятно на чертеж — сила отраженного от чертежа света, который попадает в объектив головки, будет меняться в зависимости от того, освещено ли белое или черное пятно (т. е. чертежи или линия). В качестве рабочей точки выбрана такая точка, в которой световое пятно от проекционных фонарей делится линией чертежа на две равные части — на черное и белое попадает одинаковый световой поток. Если линия чертежа не будет делить световое пятно пополам, то изменится сила отраженного света и значение сопротивления. Если через фотосопротивление пропускать ток, то при изменении силы света будет меняться падение напряжения — получен электрический сигнал, информирующий об относительном расположении светового пятна проекционных фонарей и линии чертежа.  [c.568]

Микропроцессоры (G 06 F использование в устройствах управления подачей горючей смеси в ДВС F 02 D 41/26) Микроскопы [G 02 В <21/00-21/36 бинокулярные устройства 21/20-21/22 корпуса 21/24-21/30 объективы 21/02-21/04 предметные столики 21/26 приспособления для освещения ультрафиолетовыми лучами 21/16 средства для освещения объектов наблюдения 21/06-21/14 для фотографических или проекционных целей 21/36) G 21 К (гамма-микроскопы 7/00 рентгеновские 7/00) (использование для исследования или анализа материалов N 21/01-21/91 измерительные В 9/04) G 01 электронные (или ионные Н 01 J 31126-211295, использование при анализе материалов G 01 N 23/225)]  [c.113]

Светотень выявляет обьемную форму пространственных объектов. Проекционные изображения - чертежи, выполняемые в процессе архитектурного проектирования, помимо удобоизме-римости и метрической определенности должны быть и наглядными. Они должны давать возможно более полное представление о композиции и внешнем облике здания, о его пластическом решении и деталях (см. прил. 2 и 3). Это достигается, в частности, показом на ортогонально-проекционном чертеже светотени с помощью построения теней Придание архитектурному чер-  [c.141]


КОНДЕНСОР (проекционный), линза или система линз, собирающая лучи от источника света и направляющая их, если возможно, полностью через объектив проекционной установки. Обычно конденсор К дает изображение источника света Ь (фиг.) на отверстии объектива О.В качестве конденсора применяют простые короткофокусные линзы с большим отверстием для уменьшения сферич. аберрации К. составляют из нескольких стекол особенно часто применяются две плосковы-пуклые линзы, обращенные выпуклой стороной друг к другу. Для более совершенно коррекции К. на сферическ. аберрацию мон -но пользоваться линзами, отшлифованными с одной стороны в форме гиперболоида. Описание конденсоров, к-рые применяются в микроскопах и ультрамикроскопах, см. Микроскоп.  [c.404]

Первые электронные микроскопы, сконструированные по принципу просвечивающего оптического микроскопа, состояли из двух групп линз. Увеличение таких приборов можно было регулировать только с помощью проекционной линзы (при использовании для этой цели объективной линзы промежуточное изображение может выйти за пределы плоскости объекта проекционной линзы), т. е. в довольно узких пределах. Дело в том, что для каждой проекционной линзы существуют только одно оптимальное увеличение. В обмотке проекционной линзы выгодно иметь максимальное количество ампер-вИткон (не достигая при этом предела насыщения полюсного наконечника и максимально допустимого тока), поскольку максимальное возбуждение магнитных линз соответствует наименьшей сферической аберрации. Эго обусловлено тем, что при уменьшении фокусного расстояния  [c.16]

В принципе можно проецировать объект на любые плоскости проекций в пределах работы проекционного аппарата. Наиболее эффективным является метод Г. Монжа, который использует ортогональное проецирование на взаимно перпендикулярные плоскости проекций. Возьмё объект - точку А и две перпендикулярные плоскости проекций (рис.28).  [c.32]

Тогда изображения А , кг, к , объекта А можно строить по координатам А(хуг) натуральной системы. Это обстоятельство очень важно, т.к. в практических чертежах проекционная связь между изображениями часто разрывается, даже каждое изображение может строиться на отдепьном фор.мате. Но каждое изображение строится с обязательным соблюдением проекционной связи, которая вьфажается не в виде пря.мой, связывающей две проекции точки, а в относительном расположении точек в каждой проекции, т е. формой и содержанием каждого изображения (картины).  [c.47]

Выберем новую плоскость проекций ГЦ 1 П] и сохраним за ней название фронтальной плоскости проекций. Условимся называть проекционную систему х = П1ЛП2 старой, а проекционную систему Х1 = П1ЛП4 новой системой, Х - новая ось проекций. Построим ортогональные проекции этой же точки А(А]А4) в новой системе и укажем её координаты (уь г ). Заметим, что (АА11 = 2 = Х1, т.е. при такой замене фронтальной плоскости проекций Пг на новую фронтальную плоскость проекций П4 высота точки не меняется. Это естественно, т.к. плоскость П и объект А не изменили своего относительного поло-  [c.107]

Внешний вид и оптическая схема оптиметров со шкалой, проецируемой на экран, приведены на рнс. 5,8. Луч Beia от источника 1 через конденсор 2, теплофильтр 3, линзу 4 и призму 5 освещает нанесенную на пластине 6 шкалу с 200-.мн ( 100) делениями. Через зеркало 7, объектив 8 и зеркало 9 шкала проецируется на поворотное зеркало W, связанное с измерительным наконечником ИН. Отразившись от зеркала 10, изображение шкалы снова проецируется на другую половину пластины 6 с нанесенным неподвижным штрихом-указателем. С помощью объектива 13 и зеркал 12, 11 14 изображение шкалы с указателем проецируется на экран 15. Даже при больших передаточных отношениях прибор весьма компактный. Согласно ГОСТ 5405—75 выпускают оптиметры с окулярол (тип ОВО) или проекционным (тип ОВЭ) экраном для вертикальных или горизонтальных измерений. Диапазон показаний шкал трубок оптиметров 0,1 или 0,025 мм, пределы измерений О—180 мм (у горизонтальных О—350 мм), измерительное усилие 0,5—2,0 Н, погрешность измерений от 0,07 до +0,3 мкм. Малые диапазоны показаний по шкалам позволяют применять оптиметры в основном для сравнительных измерений с использованием концевых мер длины (см. рис. 5.1).  [c.121]

Поперечное увеличение важно для характеристики систем, проектирующих изображение на экран или ( ютопластинку (проекционные и (фотографические объективы). Угловое увеличение важно при рассматривании удаленных объектов, когда стремятся увеличить угловые размеры рассматриваемых объектов (телескопические системы, см. 92). Продольное увеличение характеризует резкость изображения пространственного объекта на экран (так называемую глубину оптической системы ). Оно всегда положительно, т. е. Ах и Ах2 совпадают по направлению.  [c.300]

Назначение проекционной системы — давать увеличенное действительное изображение светящегося или освешенного предмета. Для этого его располагают около главной фокальной плоскости проекционного объектива, могущего перемещаться для резкой наводки. Наиболее распространена проекция диапозитива или чертежа, размеры которых обычно больше размеров проекционного объектива. Последний должен быть исправлен на сферическую и хроматическую аберрации, на астигматизм и кривизну поля. Хороший проекционный объектив приближается по своим данным к фотографическому.  [c.336]

Метод проектирования позволяет строить изображение или проекцию по заданному объекту, т. е. решать прямую задачу начертательной геометрии. Однаконаряду с этим возникаети обратная задача, заключающаяся в определении натурального объекта по его проекционному изображению.  [c.17]

Использование когерентного излучения позволило создать принципиально новый метод проекционной микроскопии, основанный на применении квантовых усилителей света. Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Отраженный от объекта свет проходит активную среду, усилн-вается и проектируется на экран. Когерентные микроскопы обеспечивают высокое пространственное разрешение (1 мкм при увеличении порядка 1000— 1500 при яркости изображения, недоступного обычным световым микроскопам). Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию (напрн-  [c.96]

Проекционная система работает, когда поворотная головка установлена для измерения отпечатка, то есть когда ось объектива совмещена с осью подъемного винта. При повороте головки в положение измерения рычажный переключатель автоматически включает лампочку осветителя. При этом луч света падает на осветительное зеркало, от зеркала отражается через объектив на участок поверхности образца с полученным при испытании отпечатком. Изображение освещенного отпечатка проектируется через объектив 6, оветоделительное зеркало, призму Довэ, ахроматическую линзу, окуляр-микрометр, малое и большое зеркала на матовую поверхность экрана 17. Вместе с отпечатком на экран проектируются также измерительная шкала и подвижные штрихи окуляр-микрометра. Головки винтов, с помощью которых производится перемещение штрихов окуляр-микрометра, а также рукоятки для управления призмой Довэ и поворотной головкой расположены на боковых стенках корпуса станины.  [c.45]

Объектив О2, ось которого наклонена к исследуемой поверхности (так же, как и ось проекционного микроскопа) на 45°, создает в плоскости сетки М окулярного винтового микрометра К изображения Si и S2 щели, отраженные от исследуемой поверхности. В поле зрения окуляра эти изображения наблюдают в виде двух узких участков поверхности участка Р , на котором располагается изображение S щели, и участка Ра, на котором располагается изображение S2. Расстояние Ь между этими изображениягущ измеряют с помощью винтового окулярного микрометра..  [c.105]


Оптическая схема прибора представлена на рис. 33, а. Микроскоп ОРИМ-1 выполнен по схеме однообъективного прибора, в котором роль объективов проекционного и наблюдательного тубусов выполняет один объектив. Нить лампы накаливания 23 расположена в фокусе коллектора 22. Параллельный пучок света, отразившись от зеркала 2], поступает через светофильтр /7  [c.116]

Следовательно, процедуру ОИКГ можно заменить процедурой ОИП при условии, что грани G,- объекта, имеющие очерки, разделены на простые отсеки Gi" для которых построены проекции. В работе [26] приведен алгоритм разделения граней на простые отсеки и распознавания проекций простых отсеков на проекционном чертеже объекта. При этом используются только очерки и проекции ребер, которые уже были получены при проецировании объекта. Формирование простых отсеков и их проекций показано на рис. 56.  [c.118]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает  [c.498]

Микроскопы, например, после того как в 1872—1873 гг. Э. Аббе разработал теорию образования изображения несамосветящихся объектов 130], получили особенно широкое распространение и в научных исследованиях, и в промышленности. Наряду с биологическими были созданы поляризационные микроскоиы (для исследований в области минералогии, кристаллографии и химии), металлографические (для исследований структуры металлов по их шлифам), универсальные измерительные микроскопы с микрометрами, микроскопы сравнения, проекционные микроскопы.  [c.362]

Для исследования микроструктуры непрозрачных для видимого света объектов миниатюрного приборостроения и машиностроения при контроле конструктивных элементов и сборки деталей малых размеров в последнее время нашли широкое применение рентгеновские микроскопы. В ИМАШ АН СССР при сотрудничестве с ЛНПО Буревестник разработан новый тип рентгеновского микроскопа МИР-3 с разрешением 2 мкм и увеличением 200 крат, который обеспечивает возможность работы как в режиме проекционного рентгеновского микроскопа, так и в режиме рентгеновского микроденситометра, что дает возможность автоматизировать обработку результатов эксперимента (рис. 10).  [c.31]

Фиг. 23. Схема поляризационной установки БПУ 1 — источник света (ртутная лампа СВДШ-250 или лампа накаливания с короткой нитью) 2—коллектор 120/180 J — светофильтр Х=54б,1. илл 4 У — поворотные поляроиды с лимбами, свободный 0 130 мм Su 7 — поворотные, откидные слюдяные пластинки четверть волны , свободный 0 130 мм 5 — модель в нагрузочном устройстве на координатнике 9телецентрический проекционный объектив /= 400, совместно с коллектором изображающий источник света на ирисовой диафрагме 10 (перемещается вместе с объективом) с увеличением 2,2 и модель — на фотопластинке 11 в масштабе от —1 до —1,5 или на настенном экране в масштабе от —1 до —5 /2 — устройство с поворотным зеркалом для наблюдения со стороны модели. Фиг. 23. <a href="/info/75316">Схема поляризационной установки</a> БПУ 1 — <a href="/info/10172">источник света</a> (<a href="/info/176012">ртутная лампа</a> СВДШ-250 или <a href="/info/69101">лампа накаливания</a> с короткой нитью) 2—коллектор 120/180 J — светофильтр Х=54б,1. илл 4 У — поворотные поляроиды с лимбами, свободный 0 130 мм Su 7 — поворотные, откидные слюдяные <a href="/info/25447">пластинки четверть волны</a> , свободный 0 130 мм 5 — модель в <a href="/info/89398">нагрузочном устройстве</a> на координатнике 9телецентрический проекционный объектив /= 400, совместно с коллектором изображающий <a href="/info/10172">источник света</a> на <a href="/info/237513">ирисовой диафрагме</a> 10 (перемещается вместе с объективом) с увеличением 2,2 и модель — на фотопластинке 11 в масштабе от —1 до —1,5 или на настенном экране в масштабе от —1 до —5 /2 — устройство с поворотным зеркалом для наблюдения со стороны модели.

Смотреть страницы где упоминается термин Объектив проекционный : [c.717]    [c.424]    [c.41]    [c.378]   
Теория оптических систем (1992) -- [ c.286 ]



ПОИСК





© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте