Метод относительных интенсивностей

Для пересчета аппаратов с орошаемой насадкой на формулы метода относительной интенсивности тепло- и массообмена воспользуемся обобщенными для ряда регулярных насадок данными, опубликованными в книге О. Я- Кокорина [26]. [c.100]

Существует несколько методов расчета форсуночных камер кондиционеров воздуха (см., например, работы [24, 40]). С помощью этих методов расчета, которые должны давать одинаковые результаты, сопоставим данные по тепломассообмену в камерах орошения с упомянутыми зависимостями метода относительной интенсивности тепло- и массообмена. [c.111]

Метод относительных интенсивностей спектральных линий [c.420]

Для осуществления метода относительных интенсивностей создана специальная аппаратура, которая в сочетании с электронной решающей схемой находит логарифм отношения интенсивностей выбранных спектральных линий и решает уравнение (12.6) непосредственно относительно Т. [c.420]

Наиболее благоприятно применение метода относительных интенсивностей для исследования пламен с температурами выше 3000 К- [c.420]

Температуры пламен, имеющих в спектре полосы излучения, можно измерить по энергии вращательного движения молекул. Этот метод аналогичен методу относительных интенсивностей. Для его осуществления выбираются две или несколько линий тонкой вращательной структуры полос. Интенсивность каждой такой линии характеризуется выражением [c.421]

Измерения температуры по методу относительных интенсивностей спектральных линий проводились на выходе струи из патрубка камеры раскрутки в 5 мм от среза сопла пр давлениях от 0.1 до 1 МПа [c.140]

Метод относительных интенсивностей применялся во многих работах для видимой области спектра [52—54]. Так, например, по отнощению яркостей линий Ре X и Ре XIV была определена электронная температура солнечной короны [52] ). В работах 53, 54] по абсолютным и относительным яркостям линий С V и [c.358]

В книге Грима [1] подробно рассмотрен ряд примеров применения метода относительных интенсивностей для определения электронной температуры. В частности, приводится расчетная кривая для отношения интенсивностей линий О V и О VI, пользуясь которой можно определять температуры от 10 до 40 эв (рис. 9.10). [c.360]

Были проведены детальные спектроскопические исследования плазменной струи, образующейся при лазерном воздействии на медную пластинку. Измерение температуры производилось по методу относительных интенсивностей с использованием двух пар линий меди 5105,5 и 5153,2 5105,5 и 4530,8 А [7, 8] как вдоль струи, так и по ее радиусу. Погрешность измерения температуры в среднем 10% - [c.268]

Температура плазменной струи оценивалась при помощи спектрального метода относительных интенсивностей. Суть метода состоит в том, что из отнощения интенсивностей двух спектральных линий атомов [c.73]

Широко используется также при решении задач теории - переноса излучения метод сферических гармоник, т. е. метод разложения интенсивности излучения по полиномам Лежандра. При этом уравнение переноса сводится к системе обыкновенных дифференциальных уравнений относительно весовых функций разложения. [c.143]

Для того чтобы измерить относительную интенсивность / = — х/Ь двух линий аналитической пары достаточно определить отношение любых пропорциональных их величин. С этой целью можно воспользоваться характеристической кривой фотопластинки, дающей однозначную связь между почернением фотографической эмульсии и интенсивностью падающего на нее света (см. введение). Измерив почернения и линий на спектрограмме, по характеристической кривой, построенной для той же пластинки, можно найти соответствующие значения lg/l и lg/2, разность между которыми дает искомое значение Ig/l//2 = Ig . Этот способ нахождения относительных интенсивностей получил название метода фотографической фотометрии. [c.44]

Упражнение 3. Изотопный анализ лития. Определите процентное содержание изотопов Ы и Ьх в пробе лития по относительным интенсивностям компонент изотопов в линии 670,78 нм, измеряемым методом фотографической фотометрии (см. главу 1 4). Для анализа используйте две крайних компоненты линии. Интенсивности этих компонент сильно отличаются друг от друга. Поэтому, чтобы получить их одновременно в области нормальных почернений, рекомендуется фотографировать интерференционную картину через ступенчатый ослабитель, устанавливаемый на щели спектрографа. При этом сильную компоненту изотопа проектируют на ступеньку с минимальным пропусканием, а слабую компоненту Ы — на соседнюю ступеньку с максимальным пропусканием. Для нанесения марок почернений спектр полого катода фотографируют через ступенчатый ослабитель в отсутствие интерферометра (см. упр. 2). При фотометрическом определении интенсивности слабой компоненты необходимо учитывать фон,, интенсивность которого следует вычитать из измеренной интенсивности компоненты. [c.86]

Для практического ознакомления с методом измерения температуры по относительным интенсивностям спектральных линий [c.237]

Проводят фотометрирование спектров и необходимые расчеты. При фотометрировании линий рекомендуется вести запись результатов в таблице, в которой в дальнейшем следует поместить и результаты расчетов. Если каждый спектр сфотографирован со ступенчатым ослабителем и возможно фотометрирование линий на нескольких ступеньках спектра, для нахождения относительных интенсивностей линий рекомендуется метод сдвига кривых почернения (см. задачу 3). При этом несколько сглаживаются случайные ошибки фотометрирования. [c.241]

Следует отметить, что коэффициент А довольно легко определять, например, только из данных масс-спектрометрического или только хроматографического метода анализа. При этом достаточно провести измерение относительных интенсивностей пиков, отвечающих СдН, (Л), Нд (/а). В, (/з), Вз (Л). Тогда [c.224]

Метод снятия слоев можно применить для исследования наклепа стали при дробеструйной обработке. В этом случае измеряют относительную интенсивность и ширину линии на рентгенограммах, снятых с поверхности образца после обдувки дробью и последовательного стравливания слоев. [c.37]

Можно было бы в рамках теории относительной интенсивности тепло- и массообмена применить другую методику для расчета процессов в аппаратах с орошаемой насадкой, основанную не на определении Km, а на определении Nu. Действительно, согласно уравнению интенсивности тепломассообмена, если известна поверхность контакта то, казалось бы, нет необходимости определять комплекс, включающий произведение аРт, а достаточно вычислить значение сг, которое определится через Nu —/(Re, Рг). Однако слой стекающей л идкости уменьшает поверхность контакта, причем существенно при большой плотности и коэффициенте орошения каналы могут быть сплошь заполнены жидкостью, что соответствует представлению о поверхности контакта, равной нулю. Одновременно и диаметр канала мол ет изменяться от максимального до нуля. Следовательно, методику, основанную на определении Nu, применять в данном случае нецелесообразно, так как это потребует введения поправок, дающих возможность от поверхности и диаметра канала сухой насадки перейти к их значениям в орошаемой насадке. А это усложнит методику расчета. Если в поверхностных теплообменниках методика, основанная на определении Nu, оправданна, так как в них четко задана поверхность контакта и диаметр канала, то в контактных аппаратах эту методику применять нецелесообразно даже в том случае, если поверхность контакта образована твердым материалом, по указанным выше причинам. Поэтому будем пользоваться методом, основанным на определении Km. [c.100]

Отличительная черта нового направления в теории подобия (разрабатываемого А. А. Гухманом) заключается в том, что она последовательно развивается как учение о методах построения характерных переменных. В основе такого понимания теории подобия лежит идея, что любой процесс должен рассматриваться в специфических для него переменных. Эти переменные объединяют в себе величины, играющие роль параметров исследуемой задачи (т. е. заданные по условию величины, определяющие размеры системы, ее физические свойства, длительности циклов, начальные и граничные значения переменных), и, следовательно, представляют собой параметры комплексного типа. Множественность факторов, влияющих на процесс, в сильнейшей степени осложняет его исследование, так как представляющие их величины (геометрические, физические и режимные параметры) должны входить в качестве аргументов в уравнения, определяющие искомые величины в функции независимых переменных. Возможность объединения всего множества этих величин в параметры комплексного типа обусловлена тем, что влияние их на развитие процесса проявляется не разрозненно, а в виде эффектов сложной физической природы, являющихся результатом взаимодействия определенных совокупностей различных факторов. Реальный ход процесса определяется относительной интенсивностью этих эффектов. Поэтому целесообразно исследовать процесс в переменных, представляющих собой количественную меру отношения интенсивностей эффектов и построенных в виде комплексов величин, существенных для процесса. Законы построения комплексов определяются непосредственно из рассмотрения основных уравнений задачи, в структуре которых отражен физический механизм процесса. [c.17]

Раздутие струйки пара на горячей стенке обусловливает появление в ней составляющей скорости перпендикулярной к стенке. В связи с этим можно считать, что процесс теплообмена у стенки аналогичен случаю, когда в основной поток производится вдув относительно небольшого количества газа через пористую поверхность. Метод расчета интенсивности теплообмена при слабом вдуве через стенку известен. [c.74]

Понижение температуры Дебая 0 , связанное с уменьшением размера частиц, наблюдали многие исследователи (табл. 3.3). Относительную величину 0ц(г)/0ц определяли калориметрическим и дифракционными методами. Однако изучение малых частиц Аи и Fe ((i = 5—7 нм) с помощью эффекта Мессбауэра показало, что они имеют такую же температуру Дебая, как и массивные кристаллы [304, 305]. Сопоставление параметра решетки Малых частиц Аи и Fe с относительной интенсивностью рассеянного ими рентгеновского излучения [306] также показало, что Наблюдаемые эффекты нельзя объяснить только понижением дебаевской температуры. Согласно [И], отмеченная противоречивость экспериментальных данных по температуре Дебая малых частиц указывает на необходимость учета колебаний кластеров (метастабильных атомных группировок с повышенной локальной устойчивостью), образующих наночастицу и имеющих [c.89]

Известно [8], что при небольшой интенсивности скачков и при условии, что источниками возмущения являются только обтекаемая линия тока (в нашем случае — поверхность раздела между дозвуковым и сверхзвуковым потоками) и подходящие к ней из бесконечности скачки уплотнения, течение в сверхзвуковой области можно приближенно (с точностью до членов второго порядка относительно интенсивности скачков включительно) представить в виде простых волн (течений Прандтля-Майера), отделенных друг от друга скачками уплотнения. В [8] дается аналитический метод расчета таких течений, включающий и определение формы скачков. В течении Прандтля-Майера все характеристики потока — давление, плотность, величина скорости и угол ее наклона к некоторому фиксированному направлению — могут быть выражены через одну из них независимо от конкретного вида течения, если известны условия в какой-либо точке, например, в бесконечности. В частности, можно указать связь между давлением и углом наклона вектора скорости на той линии тока сверхзвукового течения, которая отделяет его от дозвукового слоя (в задаче 2 эта связь различна до и после падающего скачка). [c.57]

Имеется много методов расчета поправок для перевода относительных интенсивностей в концентрации по массе анализируемого элемента. Разные методы расчета отличаются степенью точности, границами применимости для разных приборов и продолжительностью операций введения поправок. Наиболее полные обзоры известных методов даны в работах [6, 12, 13]. Для приборов, снабженных ЭВМ, фирмы, как правило, прилагают несколько вариантов программ внесения поправок. В литературе приводятся также методики ускоренного расчета поправок при проведении количественного анализа [10, И]. [c.150]

Характеристика, определяющая качество используемого метода обнаружения (рабочая характеристика), зависит от соотношения между вероятностью обнаружения сигнала, вероятностью ложного обнаружения и относительной интенсивностью сигнала (отношение сигнал/шум). [c.68]

D2. где nii—атомный вес изотопа, излучающего г-й компонент линии расстояние между компонентами с. т. с. в долях интерференционного порядка 612 и их относительные интенсивности р1 и р2 известны. Задачу выделения однокомпонентного контура и определения Db и Lb удобно решать методом фурье-анализа. [c.112]

Чувствительность определения относительных интенсивностей, положений и полуширин компонентов рассмотренным методом можно оценить из графиков, приведенных на рис. 44. Из рис. 44, в видно, что наиболее чувствительной к изменению параметра рз является относительная ордината /р(7э)- Поскольку случайная ошибка регистрации ординаты /3(79) составляет [c.132]

Итак, если пользоваться изложенными выше методами и теорией, то возможно определять относительные интенсивности, положения и полуширины компонентов сложного контура спектральной линии с неразрешенными компонентами. [c.133]

Представляет интерес еще один метод ГНК, а именно голографическая корреляция. Большинство работ по ГНК было выполнено с использованием классической голографической интерферометрии, в которой интерференционные полосы формируются и интерпретируются как результат взаимодействия двух взаимно когерентных волновых фронтов. При таком подходе исследуются отдельные участки путем сравнения от точки к точке. Однако метод голографической корреляции позволяет проводить такое сравнение сразу по всей площади и получать относительную интенсивность, по которой судят о подобии двух обрабатываемых волновых фронтов. Интенсивность вычисляют интегрированием волнового фронта по большой площади, и она записывается в виде корреляционного интеграла. Волновые фронты исходят от испытуемого объекта, к которому прикладывается нагрузка способом, аналогичным другим методам ГНК. [c.342]

С помощью спектроскопического метода измерения температуры разряда (но относительным интенсивностям эмиссионных линий железа Fel и цинка 2п1) можно определить точные значения показателя преломления. Для этого измеряют распределение интенсивности вдоль спектральной линии, характеризующее температуру по зонам разряда вдоль секущей облака разряда. [c.183]

Метод относительных интенсивностей спектральных линий. Третий метод определения электронной температуры, который применим в вакуумной области спектра, основан на теоретических расчетах иптенсивпостй спектральных линий [1, 48—58]. Отношение интенсивностей двух линий можно рассчитать, сделав предположения о состоянии плазмы и о процессах возбуждения спектральных линий. [c.354]

При различных приложениях полезен переход от фотографической регистрации интерференционной картины к фотоэлектрической записи. В этом случае исключается трудоемкая и чреватая дополнительными ошибками операция перехода от почернений фотопластинки к ее освещенности. Это важно тогда, когда исследователя интересует не только положение, но и относительная интенсивность компонент изучаемой структуры. Основы фотоэлектрического метода были разработаны в 50-х годах нашего столетия группой французских физиков (Жакино, Дюфур, Шабаль и др.). За последние годы фотоэлектрический метод получил широкое распространение, особенно в связи с исследованиями в области лазеров. [c.250]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д. [c.282]

Неизменность экспериментальных условий из-за большого числа влияющих на интенсивность линий факторов обеспечить очень трудно. Поэтому в основе современных методов эмиссионного анализа помимо использования эталонов лежит прием, сводящий к мннийуму действие неизбежных вариаций условий возбуждения и связанных с ними вариаций интенсивностей спектральных линий. Этот прием заключается в измерении не абсолютных интенсивностей линий данного элемента или пропорциональных им величин, а относительных интенсивностей линий анализируемого элемента и элемента сравнения как функции концентрации. Так как при малых концентрациях примесей количество атомов основного элемента в разряде остается практически неизменным, элементом сравнения или внутренним стандартом обычно служит основной элемент пробы. Иногда элементом сравнения служит вводимый в анализируемые образцы и эталоны в одних и тех же количествах дополнительный элемент. Интенсивность линии внутреннего стандарта является, таким образом, той мерой интенсивности, сравнением с которой устанавливается интенсивность линии определяемого элемента. [c.42]

Методом фотографической фотометрии в спектре флуоресценции были измерены относительные интенсивности 12 лииий побочных серий натрия [c.463]

Пример 1. Смесь из п компонентов с приблизительно равными коэффициентами поглощения В этом случае относительная интенсивность линнн определяемого компонента также пропорциональна его содержанию в смеси. Рассмат )иваемый метод применим к смесям феррита и аустенита, различных аллотропических модификаций элементов н соединений и т. п. [c.15]

Наиболее известный для теплофизиков квадратурный метод решения интегро-дифференциального уравнения переноса излучения (3-18), предложенный в (Л. 329, 330], описан в [Л. 6]. Б математическом отношении этот метод заключается в аппроксимации интегро-дифференциального уравнения переноса излучения системой линейных дифференциальных уравнений. При этом подходе из бесконечного множества всевозможных направлений S в пределах сферического телесного угла 4л выбирается определенное число фиксированных направ-ле18ий S (i=l, 2,. .., я). Записывая уравнение переноса излучения для каждого фиксированного направления Si и заменяя в нем интеграл, учитывающий рассеяние, той или иной квадратурной формулой, приходят к системе линейных дифференциальных уравнений относительно интенсивности (s ) вдоль каждого из выбранных направлений Sj. Очевидно, что подобная аппроксимация будет тем точнее, чем большее число фиксированных направлений Si выбирается, но одновременно с этим усложняется н система дифференциальных уравнений, подлежащая математическому решению. Использование описанного квадратурного метода для исследования процессов переноса излучения при наличии рассеяния дало позитивные результаты (Л. 41, 42]. [c.112]

Группа методов расчета — с использованием произведения коэффициентов переноса на площадь поверхности контакта — отличается тем, что позволяет оперировать коэффициентами переноса и поверхностью контакта, не прибегая к непосредственному определению их численных значений, что дает возможность более широкого обобщения расчетных зависимостей. Этот принцип сохранен в настоящих разработках. Лежащие в их основе дифференциальные уравнения интенсивности тепло- и массообмена и их решения позволяют описать процесс минимумом обобщенных переменных, одним-двумя определяющими числами подобия, а также дают возмоншость получить аналитическую количественную зависимость уравнение относительной интенсивности тепло-и массообмена в виде равенства относительных движущих сил этих процессов. В нем в качестве переменных содержатся только начальные и конечные параметры газа и жидкости. Оно справедливо для любых аппаратов, процессов и условий их протекания. [c.4]

Относительная точность методов микроанализа и рентгеновского (по интенсивности линий) изменяется в зависимости от системы общего правила здесь нет. Ниже б1удет показано, что На относительную интенсивность линий на рентгенограммах различных фаз сплава влияют такие факторы, как поглощение, размер и форма зерна. До тех пор, пока их влияние не будет изучено на сплавах рассматриваемой системы, нельзя решить, какой метод оказывается точнее — микроанализ или рентгеновский, [c.250]

Брэдли [142J сделал попытку использовать этот метод для определения относительных количеств фаз по относительной интенсивности линий рентгенограммы, найденной фотометри-рованием. При таком способе работы нельзя просеивать частицы. Тейлор [143] и Бриндли [144] показали, что на интенсивность линий влияют размер и форма частиц и поэтому ценность метода сомнительна. [c.259]

Наличие в сульфонатах и ПИНС заряженных твердых частиц карбоната металла до определенного экстремального предела поляризует систему, о чем свидетельствует увеличение диэлектрической проницаемости, сдвиг полосы поглощения валентных симметричных колебаний в сторону низких частот на 20— 40 см с уменьшением ширины этой полосы на 15—17 м и увеличением ее относительной интенсивности (метод ИКС), а также увеличение числа долгоживущих свободных стабильных радикалов (метод ЭПР) и значительное изменение работы выхода электрона (показателя АКРП) [18—20, 34]. [c.163]

В отличие от метода абсолютной интенсивности, применимого а условиях достаточной для насыщения линии концентрации излучающих атомов, метод относительных иктсксизностен может быть использован только в условиях малых концентраций. Причина такого ограничения заключается в том, что абсолютные интенсивности разных спектральных линий различны, и, следовательно, степень приближения их к состоянию насыщения будет разной. Поэтому отншпение интенсивностей г, определяемое формулой (12.5), не является однозначной мерой только температуры пламени, а определяется также степенью, в какой одна и другая спектральные линии далеки от состояния насыщения, т. е. от той области, в которой нарушается прямая пропорциональность интенсивности линии и концентрации излучающего элемента. Логарифмируя (12.5), получаем [c.420]

Единственной из известных нам работ, в которой данным методом решается задача восстановления сложного СКСЛ, состоящего из нескольких компонентов, является статья [9]. В этой статье определение относительных интенсивностей и положения компонентов рассмотрено для двухкомпонентной структуры. Линии предполагались монохроматическими, а в качестве АКИУ была взята аппаратная функция идеального ИФП. Эксперимент проводился машинный. [c.106]

Чтобы убедиться, что именно клин является основным дефектом используемого реального ИФП, проведено измерение рельефа зеркал по методу, предложенному в работе [44]. Исследуемая линия состоит из двух компонентов, принадлежащих изотопам неона (с относительной интенсивностью, соответствующей концентрациям pi = 0,909, р2 = 0,091) и с изотопным сдвигом 6i2 = 0,45. Дисперсионная полуширина этой линии определяется, кроме естественной полуширины, резонансным ушире-нием, обусловленным большим сечением передачи возбуждения для уровня 3sPj. В этом случае имеем L = Leer где [c.114]

Рассмотрим определение неизвестных параметров СКСЛ прямым методом путем последовательного решения постепенно усложняющихся задач 1) определение полуширин компонентов СКСЛ при известных их положениях и относительных интенсивностях 2) одновременное определение полуширин и положения компонентов в случае известного отношения их интенсивностей [c.121]

В работе [73] был применен стробоскопический метод, обеспечивающий большую чувствительность. При таком методе высокое напряжение на фотоумножителе включают на короткое время с некоторой задержкой во времени относительно возбуждающего импульса подсветки. Повторяя подобные импульсы с частотой 40—80 гц, выходной сигнал фотоумножителя интегрируют и усиливают. Время задержки постепенно меняют и при этом сигнал, пропорциональный времени задержки, подают на вход отклонения по оси л координатного самописца, пользуясь спаренным потенциометром. Сигнал же фотоумножителя подают на вход отклонения по оси у. В результате на диаграммной бумаге записывается кривая затухания относительной интенсивности. Поскольку фотоумножитель работает в импульсном релсиме, на диноды можно подавать более высокое напряжение, вследствие чего возрастает сигнал, увеличивается отношение сигнала к шуму и повышается чувствительность. [c.292]

При исследовании линейчатых спектров фотографическим методом часто на фотографнп спектра вместе со спектральными линиями присутствует п непрерывный спектр. Если ннтенсивпость непрерывного спектра соизмерима с интенсивностью линий, то точность измерения относительной интенсивности спектральных линий уменьшается. Но поскольку зависимость освещенности линейчатого [c.67]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...