Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Почернение фотопластинки

В фотографическом методе исходят из того, что степень почернения фотопластинки пропорциональна количеству падающей на нее световой энергии.  [c.20]

Но кроме учета потерь света на поглощение, отражение или рассеяние нужно помнить о том, что те или иные приемники радиации регистрируют разные фотометрические характеристики излучения. Почернение фотопластинки пропорционально освещенности в фокальной плоскости кам( рного объектива спектрографа, а фотоумножитель, термопара и другие измеряют световой поток на выходе монохроматора. Поэтому, обсуждая светосилу спектрального прибора, нужно строго оговорить условия эксперимента. В частности, важно знать, исследуется ли источник, испускающий сплошной или линейчатый спектр, измеряется ли световой поток или освещенность и т.д. В качестве примера ограничимся кратким разбором светосилы спектрографа при исследовании монохроматического излучения.  [c.326]


В методе трех эталонов, когда проба и эталоны фотографируются одновременно и градуировочный график строят для каждой фотопластинки, определение ошибки анализа удобно проводить с помощью того же графика. Работая в области нормальных почернений фотопластинки, можно использовать уравнение градуировочного графика  [c.48]

Используя данные о линейной дисперсии спектрографа или измерив дисперсию по полученным фотографиям, определяют, какая ширина его входной щели необходима для получения заданной величины спектральной ширины щели (4, 8, 12 или 16 см ). Фотографируют спектр угольной дуги с выбранной щелью при разных выдержках. При этом следует учитывать, что концентрация молекул СЫ в разряде с уменьшением температуры быстро падает (см. рис. 93) и интенсивность полос СЫ уменьшается. Поэтому при введении в дугу примесей, понижающих температуру разряда, нужно увеличить время выдержки. Однако при изменении выдержки более чем в 3—4 раза можно ожидать изменения наклона кривой почернения фотопластинки.  [c.250]

Во втором случае при использовании фотопластинки (фотопленки) в процессе измерения необходимо произвести несколько снимков с различной экспозицией. Выдержки времени выбираются здесь в зависимости от плотности исследуемой среды и длины просвечиваемого объема таким образом, чтобы выйти на прямолинейный участок характеристической кривой почернения фотопластинки (фотопленки).  [c.225]

Степень почернения фотопластинки для различных углов рассеяния W( 3) определяется с помощью микрофотометра. На основании этих данных, пренебрегая паразитным рассеянием, можно определить относительное угловое распределение интенсивности рассеянного света из соотношения  [c.225]

Ф — степень почернения, соответствующая интенсивности рассеянного света иод некоторым углом а — контрастность фотоэмульсии (тангенс угла наклона прямолинейного участка характеристической кривой почернения фотопластинки).  [c.404]

Применение масс-спектрометров и масс-спектрографов для определения остаточных давлений в области глубокого вакуума основано на принципе отклонения частиц в электрическом и магнитном полях. Различие заключается только в методе регистрации отклоненных частиц в масс-спектрометрах число ионов определяют по создаваемому ими току, а в масс-спектрографах — по степени почернения фотопластинки.  [c.261]

Напомним, что в электромагнитной волне колеблются напряженности и электрического, и магнитного полей. По своему действию они не эквивалентны. Например, почернение фотопластинки вызывается действием электрического поля. Поэтому в дальнейшем для определенности будем иметь в виду колебания именно электрического поля.  [c.60]


Итак, на практике мы можем измерить (хотя бы по степени почернения фотопластинки) только интенсивность волны. Но есть еще одна тонкость. Частота колебаний электромагнитной волны огромна. Ее легко оценить. Она обратно пропорциональна периоду колебаний, т. е. времени, за которое волна пробегает одну свою длину  [c.61]

Одно из весьма существенных свойств голографического изображения заключается в том, что оно может воспроизводить градации яркостей объекта в очень широком динамическом диапазоне, т. е. такое изображение передает одновременно без искажений как очень яркие, так и достаточно тусклые детали объекта. В обычной фотографии динамический диапазон воспроизведения яркости объекта ограничен так называемой широтой фотографического материала. На рис. 37, а представлена характеристическая кривая фотоматериала — зависимость оптической плотности почернения фотопластинки D от логарифма экспозиции Е. Распределение яркости фотографического изображения оказывается искаженным по сравнению с оригиналом уже в силу самого логарифмического характера зависимости коэффициента пропускания от экспозиции. Однако особенно сильно ограничения широты фото-96  [c.96]

Пока электрон находится на орбите, он не излучает энергии. Теперь представим себе, что электрон перескочил на соседнюю орбиту, расположенную несколько дальше от ядра, т. е. на другой, меньший энергетический уровень. Куда исчезла разность энергии Она выделилась в виде фотона электромагнитной энергии. И теперь электрон движется по новой орбите, не излучая энергии. Если зарегистрировать фотон с помощью фотопластинки или фильтров, то можно определить его частоту. По формуле Планка можно вычислить и энергию фотона. Она равна разнице энергий электрона на старой и на новой орбитах в атоме. Степень почернения фотопластинки говорит о числе упавших на нее фотонов.  [c.22]

График плотности почернения фотопластинки, построенный в зависимости от логарифма экспозиции, называемый характеристической кривой фотоматериала, имеет вид кривой с двумя изгибами и почти прямолинейным участком между ними. Этот график хорошо знаком даже начинающему фотолюбителю. На прямолинейном участке коэффициент пропускания света негативом пропорционален экспозиции, возведенной в степень Г. Для негатива можно записать  [c.46]

Масс-спектрограф в радиохимии. Если не говорить о связанных с масс-спектрографом возможностях получения отдельных изотопов, то основное его значение в радиохимии и ядерной химии—аналитическое (см. [130]). Он применяется для четкого определения природы активности. Активный элемент обнаруживается на коллекторе либо с помощью счетчика Гейгера, либо по почернению фотопластинки при контактном отпечатке [65, 106]. Очевидно, в исследованиях такого типа существенны большие значения выхода ионов из источника и высокая эффективность собирания их на коллектор [57].  [c.124]

Фотохимический процесс в светочувствительном слое при поглощении кванта света ионом галоида, от которого отщепляется электрон, переходящий затем к иону серебра, описывается обычно уравнением Ag -Br +/гv Ag+Br. В результате образуются атом серебра и атом брома. Металлическое серебро, остающееся в слое желатина после проявления и фиксирования, образует сравнительно плотный слой, который обнаруживается глазом в виде почернения фотопластинки в тех местах, на которые действовал свет.  [c.289]

Почернение. В фотографической фотометрии почернение фотопластинки является мерой величины интенсивности света, вызвавшего данное почернение. Величина почернения зависит от многих факторов. Помимо интенсивности действовавшего света, почернение зависит от времени освещения фотопластинки, спектрального состава действовавшего света, сорта эмульсии и, наконец,  [c.289]

Почернение фотопластинки зависит и от времени освещения. В этом отношении фото-  [c.293]

Исследование спектров поглощения по порогу почернения фотопластинок требует наличия стабильно работающего источника света с непрерывным спектром. В качестве такого источника лучше всего использовать для ультрафиолетовой части снектра водородную или криптоновую лампу СВД, а для видимой и бли-  [c.388]

Для иллюстрации возникающих логических трудностей и того, как они преодолеваются квантовой теорией, рассмотрим простой интерференционный опыт. Свет от точечного источника 5 падает на непрозрачный экран А, в котором прорезаны две узкие параллельные щели С к О (рис. 9.18). Расстояние между экранами Л и В велико по сравнению с расстоянием й между щелями, которое, в свою очередь, много больше длины световой волны. На экране В возникают интерференционные полосы. Каждый фотон, попадая на экран В, ведет себя как частица, вызывая в определенной точке почернение фотопластинки при фотографической записи или вырывание фотоэлектрона при фотоэлектрической регистрации. Но распределение большого числа таких точек регистрации фотонов описывается классической картиной интерференции волн, приходящих от двух щелей.  [c.473]


Почернение фотопластинки зависит от количества восстановленного серебра. Следовательно, измеряя количество серебра на данном участке, можно определить значения почернения на этом участке. В противоположность измерению почернения через прозрачность (фотометрическое измерение почернения) такой метод дает значительное преимущество при высоких плотностях 0>2), при которых слой становится непрозрачным.  [c.159]

При использовании спектрографа связь между почернением фотопластинки и концентрацией определяемого элемента устанавливается также экспериментально при помощи эталонов в виде градуировочно кривой. Если по осям графика откладывать с одной стороны разность почернений аналитической линии и линии сравнения (Д5), а с другой — логарифм концентрации (log С), то, как правило, градуировочный график является прямым (фнг. 4), что позволяет строить его при помощи всего двух эталонов. Практически с целью контроля прямолинейности графика и стабильности условий проведе-  [c.51]

Кристалл может вращаться вокруг оси, перпендикулярной к падающему лучу, или совершать вращательные колебания вокруг этой оси. Дифрагированный пучок попадает на фотопластинку РР или в ионизационную камеру. Таким образом, направления падающего и дифрагированного пучков, а с ними и величина угла скольжения б фиксированы. Если падающий пучок монохроматичен или состоит из отдельных монохроматических линий, то при произвольном положении кристалла условие Брэгга — Вульфа, вообще говоря, не будет выполняться. Однако при повороте кристалл может занять такое положение, при котором это условие выполняется. Тогда возникнет отраженный максимум, регистрируемый по почернению фотопластинки или по току  [c.393]

Подчеркнем, что здесь отнюдь не утверждается принципиальная невозможность распознать с помощью спектрального прибора наличие Б анализируемом свете двух составляющих, разделенных интервалом меньшим, чем I Ак д. Если достаточно точно промерить зависимость почернения -фотопластинки от 6, можно заметить, даже если — Агд < ДА r, отклонение от кривой, соответствующей монохроматическому свету. То, что считается в оптике границей разрешения, соответствует приблизительно возможностям непосредственного визуального наблюдения. (Аналогично, разумеется, обстоит дело с разрешающей силой осциллятора.)  [c.522]

Рис. 9.17. Зависимость степени почернения фотопластинки от экспозиции Рис. 9.17. <a href="/info/147289">Зависимость степени</a> почернения фотопластинки от экспозиции
При различных приложениях полезен переход от фотографической регистрации интерференционной картины к фотоэлектрической записи. В этом случае исключается трудоемкая и чреватая дополнительными ошибками операция перехода от почернений фотопластинки к ее освещенности. Это важно тогда, когда исследователя интересует не только положение, но и относительная интенсивность компонент изучаемой структуры. Основы фотоэлектрического метода были разработаны в 50-х годах нашего столетия группой французских физиков (Жакино, Дюфур, Шабаль и др.). За последние годы фотоэлектрический метод получил широкое распространение, особенно в связи с исследованиями в области лазеров.  [c.250]

Таким образом, вторичные химические процессы, происходящие в фотопластинке, позволяют получать негатив после времени экспонирования, составляющего малые доли секунды. Зависимость плотности почернения фотопластинки от количества падающего на нее света (аккумулирующая способность фотоматериалов) делает в принципе фотографическую систему весьма светочувствительной, т. е., регулируя время экспозиции, можно зарегистрировать очень малые яркости. По ширине спектральной области фотографические материалы не сравнимы ни с какими другими приемниками излучения фотографически можно зарегистрировать очень широкий диапазон электромагнитных излучений — от коротковолновых гамма-лучей до длинноволновых инфракрасных лучей.  [c.193]

Методы фотографического фо-тометрирования с учётом свойств пластинки. Плотность 5 почернения фотопластинки в зависимости от интенсивности / спектральной линии и времени экспозиции I определяется по формуле  [c.121]

На практике часто строят дифрактограмму, т. е. график угловой зависимости интенсивности лучей, отраженных от данной системы плоскостей. Для этого достаточно определить степень почернения фотопластинки при съемке под разными углами, но сущ,е-ствуют и другие методы. Закон Вульфа—Брэгга Позволяет сразу определить качественный вид ди-фрактограммы (рис. 31).  [c.76]

Следует заметить, что по своему действию электрическое поле волны неэквивалентно магнитному полю. Например, известно, что почернение фотопластинки под влиянием света лро-исходит в результате действия электрического поля волны. Однако учитывая, что объемхП>1е плотности энергии электрических и магнитных полей волны равны, всегда можно действие волны характеризовать энергетическими величинами.  [c.44]

При фотографической регистрации спектра интенсивность линий определяется по. почернению фотопластинки в месте их изображения. Почернение измеряется либо визуально, с помощью. ступенчатого ослабителя —метод. фотометрического иитерполирования, либо с помощью специального прибора. микрофотометра (фнг. 5)—метод объективного фотометрироваиия.  [c.52]

При использовании спектрографа связь между почернением фотопласт ш и  [c.53]

Рис. 1.14. Зависимость плотности почернения фотопластинки ) от длины волны для ке-онового континуума. / — неконденсированный разряд, 2 — конденсированный разряд. Рис. 1.14. <a href="/info/531280">Зависимость плотности</a> почернения фотопластинки ) от <a href="/info/12500">длины волны</a> для ке-онового континуума. / — неконденсированный разряд, 2 — конденсированный разряд.

Иначе обстоит дело, когда прибор доли еи позволять фотографировать полученное объективом оптическое изображение. В этом случае освещенность изображения на фотопластинке, установленной в фокаль-но11 плоскости объектива телескопа, непосредственно будет определять собой ту энергию, которая вызывает почернение фотопластинки. Если же вместо глаза установить фотоаппарат, с помощью которого желают получить фотоснимок, то снова необходимо иметь в виду ограничения световых нучков теперь унсе апертурной диафрагмой фотообъектива. Оптимальные условия, очев1щно, будут и здесь соответствовать равенству апертур зрительной трубы и фотоаппарата. При большей апертуре зрительной трубы часть нучков будет диафрагмироваться апертурной диафрагмой фотоаппарата.  [c.49]

Проверка на выполнение закона взаимозаменяемости экспериментально осуществляется, если построить две характеристические кривые почернений фотопластинки один раз по маркам изменения интенсивности экспозиции, другой раз по маркам изменения времени экспозиции. При сиектрофотометрпческих исследованиях проверка осуществляется проще всего применением  [c.357]

Фотографические методы спектрометрии, применяемые для исследования спектров поглощения, основываются либо на использовании порога почернения фотопластинок,-либо на сравнении иочерпеиий.  [c.388]

Таким образом, в случае широкой входной щели освещенность, а следовательно, и степень почернения фотопластинки определяются, как и при электрических методах снектрофотометрии,интегральной яркостью К.  [c.430]

Рис. 339. Серия характеристических кривых почернения фотопластинок, покрытых лю-мпнесцирующим слоем. Рис. 339. Серия <a href="/info/237655">характеристических кривых почернения</a> фотопластинок, покрытых лю-мпнесцирующим слоем.
Почернение фотопластинки 289—294 Правила отбора для инфракрасных спектров молекул 758—761 Правило Беера 383  [c.815]

В метеорологий, астрофизике, теплотехнике и других областях важно знать коэффициенты рассеяния света в газах. Используя фотометрическую методику, основанную на изменении почернения фотопластинки от интенсивности рассеиваюш,ей среды, Кабани еще в 1921 г. провел измерения рассеяния аргона, воздуха и других газов.  [c.238]

Апертурная диафрагма 11 с отверстием 0,01—0,07 мм отсекает сильно рассеянные электроны, вследствие чего изображение (более плотных или более толстых участков -объекта формируется меньшим числом электронов, что соответствует менее яркому свечению экрана (или меньшему почернению фотопластинки). Так возникают контрасты на электронном изображении. Пропуская лишь электроны, мало отклонившиеся от оптической оси объектива, где меньше сказывается сферическая аберрация линзы, апертурная диафрагма обеспечивает и большую резкость изображения. Кроме того, с помощью агтертурной диафрагмы можно получать темнопольное изображение, если, смещая диафрагму или освещающий электронный пучок, пропускать в ее отверстие только отклоненные электроны. Тогда участкам объекта, силь- нее других рассеивающим электроны, будут соответствовать более светлые участки на изображении. Чем больше диаметр апертурной диафрагмы, тем больше яркость изображения, но меньше его контрастность и резкость.  [c.166]

Частотный спектр звезды, испускающей видимый свет, может быть получен с помощью дифракционной решетки, за которой на соответствующем расстоянии располо кена фотопластинка. На ней сразу получается весь спектр, так как волны, в завкспмости от длины, дифрагируют в разных направлениях и попадают на разные части фотопластинкп. Почернение фотопластинки при данном угле дифракции определяет интеистшность компоненты с дайной длиной волны.  [c.296]

Хроматизм увеличения вытягивает изображения звезд, находящихся на краю поля зрения, в спектрик. Распределение энергии в нем, а значит, и полой,ение области максимального почернения фотопластинки, зависит от распределения энергии в излучении  [c.200]


Смотреть страницы где упоминается термин Почернение фотопластинки : [c.79]    [c.671]    [c.292]    [c.447]    [c.443]    [c.533]    [c.474]   
Прикладная физическая оптика (1961) -- [ c.289 , c.294 ]



ПОИСК



Фотопластинки



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте