Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Методы измерения абсолютных и относительных интенсивностей

Методы измерения абсолютных и относительных интенсивностей  [c.238]

Основой количественного анализа является определение относительных или абсолютных значений интенсивности полос поглощения. Более надежные результаты получаются методом сравнения, так как, несмотря на многие усовершенствования конструкции приборов и тщательность выполнения всех операций, воспроизводимость результатов измерения абсолютных значений интенсивностей поглощения на различных приборах остается неудовлетворительной.  [c.57]


I. Измерение абсолютной интенсивности излучения. С помощью формулы (8) можно определять Т, измеряя абсолютную интенсивность излучения из одной какой-либо части столба. Метод этот применим, лишь когда точно известна Атп, что имеет место лишь в ограниченном числе случаев. Но если известна, то этот метод может дать большую точность. Необходимо знать и И, поэтому (например, в случае атомарного газа) должна быть известна степень ионизации. Если допустить наличие локального термического равновесия, то легко вычислить степень ионизации при относительно низких темшературах ее влияние на N часто пренебрежимо мало.  [c.24]

Эталоном можно также пользоваться как фотоэлектрическим спектрометром, если в центре кольцевой картины поместить точечную диафрагму, с тем чтобы через нее проходил свет только в узком интервале длин волн 5А.. Тогда при любых изменениях оптической длины эталона, таких, о которых говорилось в 3, п. 1, в, будет изменяться длина волны света, проходящего через диафрагму. Регистрируя выходной световой поток при помощи фотоумножителя, можно развернуть во времени распределение интенсивности в пределах интерференционных колец. При больших временах усреднения для измерения стабильности можно медленно линейно изменять расстояние между пластинами и получать многократные записи длин волн лазера и образцового источника на ленте самописца. При меньших временах усреднения зависимость относительной длины волны лазера от времени получают, заставляя вибрировать элемент, задающий расстояние между пластинами, и развертывая сигнал фотоумножителя на экране осциллографа синхронно с вибрацией. Оба метода применялись [7] при определении абсолютной стабильности длины волны газовых лазеров путем прямого сравнения с эталонной ртутной лампой на изотопе  [c.431]

Эффективность спектрометрической установки может быть найдена. и по измерению относительных яркостей мультиплетов азота [43] . Пользуясь методом пар линий с общим верхним уровнем, можно получить источник не только с известными относительными, но и абсолютными интенсивностями спектральных линий.  [c.246]

В случае рентгеновских лучей периоды осцилляции интенсивности порядка сотен микрометров. Измерения можно проводить на малоугловых клиньях, вырезанных из почти совершенных кристаллов, с помощью метода рентгеновской топографии, проиллюстрированного на фиг. 9.8 [249]. Однако в случае рентгеновских лучей большую точность, надежность и удобство обеспечивает секционная топография (гл. 9). Обзор экспериментов такого типа дал Като [252]. Он установил, что точность определения абсолютных значений структурных амплитуд, полученных таким путем, может быть - 1%, а относительные значения можно получать с точностью Еще большая точность достигается при измерениях с помощью рентгеновских интерферометров. Так Харт и Милн [177 ] оценили точность своих измерений структурного фактора для отражения (220) кремния по интерференционным полосам (которые возникают, когда небольшой нерассеивающий зазор разделяет две толстые совершенные параллельные области монокристалла) примерно в 0,2%.  [c.340]


Этот метод сводится к использованию обычного оптического пирометра, измеряющего яркостную температуру жидкостей или твердых тел. Температура раскаленного газа не может быть определена, если неизвестна его лучеиспускательная способность она требует, кроме того, специальной калибровки пирометра. Однако, если лучеиспускательная способность газа изменяется с температурой не слишком быстро, этот метод благодаря экспоненциальной зависимости излучаемой энергии от температуры можно использовать для относительных измерений. Температура определяется из уравнения (И) или (12) после градуировки пирометра по источнику с известными температурой и лучеиспускательной способностью. Для определения температуры выхлопных газов реактивного двигателя [68, 69] использовалось абсолютное значение интенсивности в центре натриевых D-линий, излучаемых раскаленными газами, насыщенными парами натрия.  [c.359]

Недостатком относительного метода является необходимость исследования образцов при комнатной температуре. При это.м они должны обладать высокой однородностью при достаточно большой массе (/ 40 мм). Поскольку обеспечить последнее не всегда возможно, была предпринята попытка осуществления не относительных, а абсолютных измерений с использованием уравнения (1). Опыты проводили на установке Параболоид-3 конструкции ЦНИИТМАШ. Перед их началом определяли температурную зависимость интенсивности исходного пучка гамма-квантов (/о). Оказалось, что при повышении температуры от 20 до 1800°С /о меняется в среднем на 3,0%. Кроме того, значения /о, полученные в режиме нагрева и охлаждения, различаются более чем на 1,0%. Этот гистерезис удалось снизить до 0,3% поддерживая в камере постоянное давление гелия (v= атм) и осуществляя строго одинако-  [c.103]

Экспериментальное определение затухания звука, распространяющегося в среде жидкость — газовые пузырьки, в принципе требует лишь относительных измерений интенсивности звука. Если расстояние между излучателем и приемником не меняется, а выходная мощность излучателя и чувствительность приемника остаются постоянными, то абсолютное значение ни одной из этих трех величин интереса не представляет, если только сохраняется условие малости амплитуд колебаний поверхности пузырьков. Затухание звука определяется просто как разность уровней на выходе приемника при отсутствии и при наличии в жидкости свободного газа. Однако чувствительность такого метода невысока, а использование больших расстояний между излучателем и приемником не всегда возможно.  [c.402]

Регистрация квантов и измерение абсолютных и относительных интенсивностей света с помощью фотохимических реакций — один из наиболее доступных методов фотометрии. При регистрации вакуумного ультрафиолета находит применение ряд первичных фотохимических реакций образование озона [119—121], >азложение углекислого газа [121 —124], разложение аммиака 121, 122, 125], разложение закиси азота с образованием МгОг я N0 [126—129], разложение этилена с образованием Нг и С2Н2 [130—132] ряд других.  [c.206]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д.  [c.282]

Неизменность экспериментальных условий из-за большого числа влияющих на интенсивность линий факторов обеспечить очень трудно. Поэтому в основе современных методов эмиссионного анализа помимо использования эталонов лежит прием, сводящий к мннийуму действие неизбежных вариаций условий возбуждения и связанных с ними вариаций интенсивностей спектральных линий. Этот прием заключается в измерении не абсолютных интенсивностей линий данного элемента или пропорциональных им величин, а относительных интенсивностей линий анализируемого элемента и элемента сравнения как функции концентрации. Так как при малых концентрациях примесей количество атомов основного элемента в разряде остается практически неизменным, элементом сравнения или внутренним стандартом обычно служит основной элемент пробы. Иногда элементом сравнения служит вводимый в анализируемые образцы и эталоны в одних и тех же количествах дополнительный элемент. Интенсивность линии внутреннего стандарта является, таким образом, той мерой интенсивности, сравнением с которой устанавливается интенсивность линии определяемого элемента.  [c.42]


Приняв, />2, за постоянные величины, мо кно на основании приведенного соотношения рассчитать относительные интенсивности всех других линий. Для того чтобы получить абсолютные значения энергетических яркостей или силы света этих спектральных линий, необходимо знать это значенне хотя бы для одной какой-то линии, что можно получить, например, с помощью калиброванного термостолбика на том же спектральном приборе. Чтобы учесть потери на отражение и поглощение в приборе, это измерение проводится также по методу спектров срав-пения с эталонным источником.  [c.441]

Количественные методы спектрального анализа получили твердые основания с тех пор, когда Герлах в 1926 г. показал возможность использования относительных интенсивностей спектральных линий анализируемой примеси, измеренных по отношению интенсивности спектральных линий основного материала электродов. Правда, попытки разработать методику анализа по абсолютной интенсивности не оставлены и в настоящее время.  [c.597]

Измерение интенсивностей представляет собою по существу задачу фотометрическую и разрешается одним из способов, употребляемых в фотометрии. Измерениеабсолютныхинтенсив-ностей сводится к измерению энергии данного луча по его тепловому действию. Относительные интенсивности определяются по степени почернения, вызванного на фотографич. пластинке при этом, в виду того что не существует простой пропорциональности между степенью почернения и интенсивностью, на пластинку наносятся марки почернения с помощью ступенчатого светофильтра. Этот метод, разработанный Доргело и Орнштейном, пригоден для определения относительныхинтенсивпостей близких спектральных линий. В тех случаях, когда длины волн линий значительно отличаются друг от друга, следует принимать во внимание сильную зависимость чувствительности пластинок от цвета лучей. Эта зависимость м. б. выяснена, если воспользоваться спектром абсолютно черного тела, в котором распределение интенсивности по длинам волн дается формулой Планка.  [c.311]

Гамма-резонансный (ГР) спектр представляет собой зависимость интенсивности у-кван-тов, излученных источником и прошедших через поглотитель или рассеянных им, от относительной скорости источника или поглотителя. Основное достоинство получающегося спектра — чрезвычайно узкая линия поглощения (рассеяния). Отношение ширины линии к энергии излучаемого у-кванта, т. е. разрешающая способность, обычно составляет 10 — что в абсолютных величинах соответствует точности определения энергии 10 — 10 эВ. Возможность измерения столь малых энергетических сдвигов оказалась весьма полезной для изучения различных сверхтонких взаимодействий в твердых телах. Благодаря этому применение эффекта Мессбауэра положило начало развитию метода исследования твердых тел —ядерной гамма-резонансной (иногда просто гамма-резонансной) спектроскопии, метода ЯГРС или ГРС [3, 4].  [c.161]

Таким образом, ДИКМ преобразует изменение в высоте поверхности h в изменение интенсивности А/ в плоскости изображения. Заметим, что наблюдаемый контраст будет зависеть не только от шероховатости поверхности, но и от ее отражающей способности. Это является препятствием, не позволяющим использовать метод ДИКМ для абсолютных количественных измерений. Однако в последние годы появились работы, в которых изучается возможность использования микроскопии Номарского для количественных оценок шероховатости сверхгладких поверхностей. В работах [38, 39] было получено соотношение, связывающее относительное изменение интенсивности А/// в плоскости изображения с изменением высоты шероховатости h  [c.235]

Л е — электронная плотность, —концентрация данного иона, X — коэффициент возбуждения (слг -сек ), Лр, — вероятность спонтанного перехода (сек ), L — геометрический фактор, зависящий от размеров плазмы и апертуры спектрометра. Измерения велись на установке Зита . Произведение МеП Ь определялось из измерений континуума в видимой области спектра, г+ — общее число положительных ионов. Континуум связан с рекомбинационным и тормозным излучениями, возникающими при взаимодействии электронов с положительными нонами водорода, которые являются основой плазмы. Отношение 4/% было определено из известного процентного содержания азота (0,25%), прибавленного к водороду, и из решения уравнения ионизации для азота Те определялось по рассечению лазерного излучения. Линии КУ измерялись с помощью двух монохроматоров скользящего и нормального падения. Они градуировались с помощью монохроматора Эберта, регистрирующего видимую часть спектра. Для градуировки использовался метод двух пар линий. Ошибка в определении интенсивностей линий составляла коло 30%, но основная ошибка была обусловлена трудностью определения роли примесей, попадающих со стенок. Примеси искажают абсолютную величину сечения, но не его относительную величину. Яркость линий ЫУ возрастает по мере горения разряда в два раза. При вычислениях вводилась соответствующая поправка. Сечения возбуждения, найденные экспериментально, довольно хорошо согласуются с теоретическими расчетами для 7е=2,Ы0 °К (табл. 9.1). Наблюдаются отклонения от теоретических результатов в пределах 20—30%  [c.361]


Смотреть страницы где упоминается термин Методы измерения абсолютных и относительных интенсивностей : [c.589]    [c.308]    [c.178]    [c.125]    [c.177]   
Смотреть главы в:

Вакуумная спектроскопия и ее применение  -> Методы измерения абсолютных и относительных интенсивностей



ПОИСК



Абсолютная и относительная интенсивность

Абсолютный метод измерения

Измерение абсолютное

Измерение абсолютных интенсивностей

Измерение методы

Измерение относительное

Измерения интенсивности

Метод абсолютной интенсивности

Метод абсолютный

Метод абсолютных-относительных

Метод относительный

Метод относительных интенсивностей

Относительные измерения интенсивности

Относительный метод измерения



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте