Относительные измерения интенсивности

К счастью, в подавляющем большинстве случаев в практике фотометрии оказываются достаточными относительные измерения интенсивностей монохроматических потоков в некоторой произвольной шкале единиц. При гетерохромных измерениях относи- [c.319]

Т. е. множитель поглощения не зависит от угла отражения. Таким образом, при относительных измерениях интенсивности на ионизационной установке множитель поглощ( ния мол<но не учитывать. [c.399]

Экспериментальное определение затухания звука, распространяющегося в среде жидкость — газовые пузырьки, в принципе требует лишь относительных измерений интенсивности звука. Если расстояние между излучателем и приемником не меняется, а выходная мощность излучателя и чувствительность приемника остаются постоянными, то абсолютное значение ни одной из этих трех величин интереса не представляет, если только сохраняется условие малости амплитуд колебаний поверхности пузырьков. Затухание звука определяется просто как разность уровней на выходе приемника при отсутствии и при наличии в жидкости свободного газа. Однако чувствительность такого метода невысока, а использование больших расстояний между излучателем и приемником не всегда возможно. [c.402]

Относительные измерения интенсивности рассеянного [c.161]

Установки для относительных измерений интенсивности света, рассеянного объемом жидкости и поверхностью раздела [c.162]

Относительные измерения интенсивности [c.252]

Представляют несомненный интерес качественные наблюдения и относительные измерения интенсивности света, рассеянного в жидком гелии, в особенности учитывая историю вопроса. [c.252]

Кроме измерений в органических стеклах, описанных выше, Величкина [188, 189] произвела относительные измерения интенсивности света, рассеян- [c.329]

Индикатриса рассеяния. Из формулы (23.4) видно, что интенсивность света зависит от угла рассеяния Д. Измерение интенсивности рассеянного света по разным направлениям показывает, что изменение интенсивности симметрично относительно направления первичного пучка и линии, перпендикулярной к нему (рис. 23.5). Кривая, показывающая распределение интенсивности рассеянного света от угла рассеяния, носит название индикатрисы рассеяния. Индикатриса, изображенная на рис. 23.5, характерна для естественного падающего света. Пространственная индикатриса получается вращением кривой на рис. 23.5 около оси ВВ. [c.116]

Упражнение 3. Изотопный анализ лития. Определите процентное содержание изотопов Ы и Ьх в пробе лития по относительным интенсивностям компонент изотопов в линии 670,78 нм, измеряемым методом фотографической фотометрии (см. главу 1 4). Для анализа используйте две крайних компоненты линии. Интенсивности этих компонент сильно отличаются друг от друга. Поэтому, чтобы получить их одновременно в области нормальных почернений, рекомендуется фотографировать интерференционную картину через ступенчатый ослабитель, устанавливаемый на щели спектрографа. При этом сильную компоненту изотопа проектируют на ступеньку с минимальным пропусканием, а слабую компоненту Ы — на соседнюю ступеньку с максимальным пропусканием. Для нанесения марок почернений спектр полого катода фотографируют через ступенчатый ослабитель в отсутствие интерферометра (см. упр. 2). При фотометрическом определении интенсивности слабой компоненты необходимо учитывать фон,, интенсивность которого следует вычитать из измеренной интенсивности компоненты. [c.86]

Из сказанного следует, что для описания рассеянного излучения достаточно знать степень деполяризации Ago и абсолютный коэффициент рассеяния Rgo- Rm обычно находят при помощи относительных измерений, сравнивая интенсивность света, рассеиваемого исследуемой жидкостью, с интенсивностью света, рассеянного в тех же условиях эталонной жидкостью, значение абсолютного коэффициента рассеяния которой известно. В качестве эталона чаще всего используется бензол 2. В этом случае [c.109]

Радиационный метод основан на измерении интенсивности обратного рассеяния р-излучения в зависимости от толщины покрытия применим, когда атомные номера основного металла и покрытия отличаются не менее чем на 2. Относительная погрешность метода 5 %. [c.54]

Наличие, как правило, у оптических функций возбуждения одного максимума и их плавный ход объяснялись тем, что в условиях проведенных опытов отсутствовали каскадные переходы. В самом деле, возбуждение какого-либо более высокого уровня (7 > А) и спонтанный переход с него на /г-й уровень должны были бы повести к возрастанию интенсивности линии 7 , -, для которой k-Vi уровень является исходным. В результате, на кривой, изображающей оптическую функцию возбуждения линии должен был бы появиться добавочный максимум или, по крайней мере, излом. Из отсут- ствия таких вторичных максимумов был сделан вывод, что вид оптической функции возбуждения спектральной линии непосредственно воспроизводит вид функции возбуждения энергетического уровня атома, являющегося исходным при излучении данной спектральной линии. Другими словами, считалось, что по измерениям интенсивностей спектральной линии, возбуждаемой пучком электронов, можно непосредственно определить относительные значения [c.444]

На практике интенсивность или амплитуду УЗ колебаний измеряют не в абсолютных значениях, а используют более удобную логарифмическую шкалу относительного измерения величин в децибелах. Число децибел (дБ) [c.21]

При работе с препаратами большой толщины, отвечающей слою насыщения (участок СД), фактически определяется интенсивность излучения только верхних слоев препарата. Это обстоятельство может быть использовано для упрощения относительных измерений (например, коэффициента уноса), когда не нужно вводить поправки на самопоглощение. При этом важно обеспечить нанесение равномерных слоев осадков одинакового состава толщиной не менее величины максимального пробега бета-излучения в материале препарата. [c.106]

Во многих случаях необходимо знать относительное количество фаз в многофазном сплаве. В настоящее время твердо не установлено, можно ли методом микроанализа решать эту проблему со степенью точности, сравнимой со степенью точности, полученной при измерении интенсивностей линий на рентгенограммах. Если микрошлиф может быть приготовлен так, что он соответствует всему сплаву в целом, то определение отношения площадей, занятых различными фазами, является несложным, хотя и трудоемким процессом. Эти площади пропорциональны объему соответствующих фаз. Очень многие ошибаются, когда предполагают, что для того, чтобы получить отношение объемов фаз, нужно найденное опытным путем отношение площадей возвести в степень 7г. Легко показать, что это не так. Если рассматриваемое сечение действительно характеризует сплав и содержит а % фазы Л и й % фазы В, то и все такие сечения содержат а % фазы Л и % фазы В если мы представим себе ряд таких сечений на некоторую глубину /, то объемы фаз Л и Б будут относиться как al bl=a b. Точно таким же образом можно доказать, что, если через шлиф проведена прямая линия, то при достаточно большом количестве зерен отношение объемов фаз равно отношению длин отрезков прямой, расположенных на той и другой фазе. [c.249]

При измерениях поперечного распределения поля необходимо знать только относительные величины интенсивности света. Это упрощает задачу калибровки и повышает точность измерений. Предположим, что известно пропускание пленки Т в точках 1 и 2 и что определены соответствующие значения Xi и Х2 на оси ординат характеристической кривой fx — плотность по- [c.48]

Прежде чем применять этот метод, необходимо убедиться в отсутствии реабсорбции. Кроме того, следует указать, что в тех случаях, когда составляющие мультиплета имеют общий верхний уровень, результаты будут более надежны. Если же составляющие мультиплета имеют различные верхние уровни энергии, то метод применим только при наличии известного, в частности, больцмановского, распределения ато мов или ионов по этим уровням. Метод мультиплетов является вспомогательным. Он применим только после его предварительной проверки другими методами. Отношение интенсивностей в некоторых мультиплетах N I, А1 1П, 51 IV и других ионов проверялось в ряде работ [43—45] и оказалось в хорошем соответствии с теорией. Отношение интенсивностей компонент мультиплета может быть измерено с помощью приемника с известной, например, линейной, характеристикой. (В широком диапазоне такую характеристику имеет ФЭУ.) Измеренное (не теоретическое) отношение интенсивностей позволяет найти наклон характеристической кривой [46]. Вместо измерения интенсивностей линий мультиплета можно измерять относительные интенсивности линий вращательной структуры молекулярных полос, например, водорода [42]. [c.241]

Таким образом, методика исследования параметров поля дефекта основывается на искусственной имитации глубины залегания дефекта с помощью стальных накладок. Для того чтобы исключить погрешности, вносимые зазором между накладками, зоны магнитного контакта подгоняются шлифовкой до размеров порядка 0,05 мм на один зазор. При этом условии общая величина магнитного зазора при всех измерениях не превышает 2% общей толщины исследуемого объекта и остается постоянной. Следовательно, погрешность измерения поля дефекта на многослойных составных образцах характеризуется двумя составляющими методической погрешностью, определяемой величиной относительных флуктуаций интенсивности потока рассеяния, и аппаратурой, измеряющей погрешность регистрирующих устройств. Основную аппаратурную погрешность определяют магнитные воспроизводящие головки, регистрирующие не величину магнитного потока, а его производную. Чтобы свести эту погрешность к минимуму, все магнитные измерения выполняются ЛЛД. Поэтому с учетом высокой точности измерительной аппаратуры полная погрешность в основном сводится к методической погрешности, которая оценивается точностью измерения расстояний на фотоотпечатках, определяемой сокращением фотослоев при обработке (0,3—0,6%), и погрешностью, вносимой разбросом эталонных образцов (2—3%). Таким образом, полная методическая погрешность не превышает 5%. [c.156]

Определение блеска путем измерения коэффициента отражения. Измерение интенсивности зеркально отраженного света для характеристики степени блеска металлической поверхности применяется чаще других методов. Обычно качественную характеристику интенсивности отраженного света дает фотографическая бумага, количественную — фотоэлемент. Правда, отражение света зависит не только от гладкости поверхности, но и от коэффициента отражения, данного металла. Например, более блестящая поверхность никелевой пластины может отражать меньше света, чем менее блестящая поверхность серебряной пластины. Поэтому определение блеска при помощи измерения интенсивности отраженного света условно и характеризует лишь относительный блеск [c.212]

Энергетические характеристики излучения могут быть, как известно, довольно разнообразными, но все они связаны друг с другом через основное понятие фотометрии — величину энергетического потока. Выбор характеристики в каждом отдельном случае определяется как конкретной задачей фотометрии, так и, в известной мере, выбором приемника света. Фотопластинка, например, в каждый данный момент времени реагирует на освещенность светочувствительного слоя, а фотоэлемент — на величину энергетического потока, который падает на его светочувствительный слой. Глаз при заполнении его зрачка реагирует иа яркость и т. д. В дальнейшем, ввиду того что почти все фотометрические измерения, которые будут рассматриваться, представляют собой относительные измерения и, следовательно, безразлично, в каких единицах они проведены, будем условно говорить о некоторой безразмерной величине интенсивности измеряемого света I. [c.281]

Рис. 334. Схема люминесцентно-визуального способа измерения относительного распределения интенсивностей в спектре излучения.

В настоящее время проблему автоматического счета интерференционных полос во встречных направлениях можпо считать решенной благодаря построению счетчика по счетно-триггерной схеме, которая производит автоматически операции сложения и вычитания. Это осуществляется измерением интенсивности интерференционной картины в двух точках, смещенных друг относительно друга примерно на четверть ширины полосы. [c.696]

В пионерской работе Гинзбурга и Франка [45.1] был рассмотрен случай перпендикулярного пролета заряженной частицы через плоскую границу раздела двух однородных сред. Было показано, что при этом возникает излучение, названное авторами переходным, которое в основном сосредоточено в оптической области частот, если рассматривать ту его часть, которая испускается в заднюю полусферу (назад) относительно направления движения частицы. Спектральная интенсивность излучения в этом случае с увеличением лоренц-фактора частицы (отношения полной энергии к энергии покоя) растет по логарифмическому закону. Следовательно, измерение интенсивности переходного излучения в принципе дает новый способ определения лоренц-фактора частицы высоких энергий. [c.11]

РПИ-детектором принято называть устройство, предназначенное для идентификации заряженных частиц разных масс, имеющих одинаковую энергию, а возможно и для определения лоренц-фактора частицы путем измерения интенсивности (или числа квантов) РПИ, образуемого частицей в радиаторе. При этом следует иметь в виду, что РПИ испускается под очень малыми углами относительно направления движения частицы (см. п. 1.6). Поэтому необходимо при регистрации отделить кванты РПИ от самой частицы. [c.264]

Конечно, возможны дополнительные эксперименты, чтобы выделить процесс прямой ионизации (например, путем измерения энергии фотоэлектронов), или проверить корректное значение степени К в зависимости выхода ионов от интенсивности излучения. Наиболее надежные эксперименты проводятся при умеренных значениях Кж при относительно небольшой интенсивности, так что как надпороговая ионизация, так и динамический штарковский сдвиг оказываются пренебрежимо малыми. [c.139]

В табл. 7 приводятся результаты относительных измерений интенсивности рассеянного света в некоторых газах и парах, полученные Кабанном [75, 315]. [c.222]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д. [c.282]

Ионизационная камера обычно работает в режиме тока насыщения, где нет газового усиления. В этом случае число пар ионов, возникающих под действием попадающей в ионизационную камеру заряженной частицы, относительно невелико и регистрация отдельных. частиц с помощью ионизационной камеры при отсутствии газбвого усиления связана с большими трудностями. В режиме газового усиления ионизационная камера может работать в качестве счетчика отдельных заряженных частиц. Поэтому ионизационные камеры обычно подразделяются на два вида счетно-ионизационные камеры, предназначенные для регистрации прохождения через камеру одной какой-либо заряженной частицы, и интегрирующие ионизационные камеры, применяемые для измерения интенсивности потока частиц. В зависимости от условий задачи ионизационные камеры по форме электродов имеют вид плоского, сферического или цилиндрического конденсатора. Размеры их могут быть весьма различными — от долей кубических миллиметров до сотен литров, в зависимости от их назначения. [c.39]

Если заданы плотности и коэффициенты ослабления всех сред, через которые проходит излучение, то из уравнений (12.24) и (12.25) определяется величина ф. Однако такой способ определения концентрации фаз в потоке по результатам прямых измерений ослабления излучения не всегда возможен. Например, в справочной литературе могут отсутствовать сведения о коэффициентах ослабления для заданной энергии излучения или в опытах используется не моноэнергетический источник излучения. В таких случаях концентрацию фаз в потоке можно определить по результатам относительных измерений, не привлекая данные по плотности, и коэффициенту ослабления веществ. Для этого при /о= =сопз1 производят последовательные измерения интенсивности излучения, прошедшего через опытный участок, заполненный только первой фазой /ь только второй фазой /2 и исследуемой средой /дф. По результатам измерений концентрацию определяют из уравнения [c.246]

Вывод о пропорциональности интенсивностей составляющих узкого сериального дублета статистическим весам расщепленного уровня был обобщен Доргело и Бюргером 42] случай перехода между простым и расщепленным уровнями, относящимися к любой мультиплетности. При этом, если расщепленным -является верхний уровень, правило оправдывается лишь при выполнимости закона Больцмана (при статистическом равновесии). Указанное обобщение подтверждается измерениями интенсивностей составляющих главных и вторых побочных серий SP и PS. Как мы указывали ( 39), линии главной и 2-й побочной серий для всех мультиплетностей, начиная с трех, образуют группы по три линии, которые отличаются друг от друга интервалами и относительными интенсивностями. Теперь мы можем вычислить эти интенсивности. Для Р-терма (L= 1), характеризуемого суммарным спиновым квантовым числом S, квантовое число J принимает три следующих значения = 1 J2 = S] = S— 1. Соответственно интенсивности трех составляющих мультиплета PS должны относиться как Д 12 - S ё2 - ёъ- [c.409]

РСМА основан на регистрации рентгеновскими спектрометрами эмиссионного рентгеновского излучения, возбужденного пучком электронов с энергиями 1—50 кэВ, сфокусированных на образце в пятно диаметром 1 мкм. Измеряя длину волны и интенсивность характеристического рентгеновского излучения, отнесенную к интенсивности эталона, определяют, какие элементы присутствзпот в выбранном мнкрообъеме и каковы их концентрации. Относительная интенсивность ё-того элемента ki=Ii I У определяется измерением интенсивностей (за вычетом интенсивностей фона) Л-для образца и для эталона, содержащего 100 % -того элемента (при использовании в качестве эталона химического соединения с известным содержанием -того элемента ki = = , где —расчетная интенсивность [c.144]

Таким образом, ДИКМ преобразует изменение в высоте поверхности h в изменение интенсивности А/ в плоскости изображения. Заметим, что наблюдаемый контраст будет зависеть не только от шероховатости поверхности, но и от ее отражающей способности. Это является препятствием, не позволяющим использовать метод ДИКМ для абсолютных количественных измерений. Однако в последние годы появились работы, в которых изучается возможность использования микроскопии Номарского для количественных оценок шероховатости сверхгладких поверхностей. В работах [38, 39] было получено соотношение, связывающее относительное изменение интенсивности А/// в плоскости изображения с изменением высоты шероховатости h [c.235]

Для абсолютных измерений Хвь<. необходимо знать точное значение коэффшшента С в формуле (98). Соответствующие выражения можно найти в [1, 137—139]. Для относительных измерений x b значениям компонент этого тензора эталонного образца это часто не обязательно. Достаточно измерить длину когерентности и мощность излучения второй гармоники в максимумах интерференционной картины, регистрируемой для образца и эталона, при одном и том же модовом составе и интенсивности основного излучения. Затем относительное значение Хаьс определяется по формуле [c.87]

Таким образом, при известных параметрах интерферометра ft, р, длине волны >. и постоянной Гладстона—Дейла л можно по измерению относительного изменения интенсивности в полосах определить плотность, [c.125]

Высокая чувствительность измерения достигается за счет ра-боты только в одном максимуме пропускания интерферометра. Эгот прием, предложенный в работах [62, 69], заключается в том, что выбирается некоторая рабочая точка на кривой интерференционного контура. При изменении разности фаз, вызванной исследуемым объектом, меняется интенсивность прошедшего через интерферометр света. Регистрируя относительное изменение интенсивности МИ, п (при фотографической регистрации) или абсолютное Д/ (при фотоэлектрической), можно определить значение показателя преломления излучаемой неоднородности (плазмы, газового потока и т. д.). В работах [52—54] подобный прием использовался для определения электронной концентрации импульсной плазмы. При этом связь между электронной концентрацией и смещением контура интерференции выражается зависимостью [c.177]

ПС. Типовые лазеры на стекле с неодимом излучают импульсы длительностью от 2 до 20 пс при энергии максимального импульса от 1 до 10 мДж и полуширине цуга импульсов от 50 до 200 НС. Сравнение экспериментальных результатов для лазеров на стекле с неодимом с теоретическими результатами расчета длительности импульса, полученными в разд. 7.2, показывает хорошее совпадение лишь в начале цуга импульсов. Длительность импульсов в максимуме цуга существенно превосходит рассчитанную теоретически, а форма импульсов сложна. Интенсивные исследования временной и спектральной структур выходного излучения лазера на стекле с неодимом с синхронизацией мод [7.14—7.18, 7.25—7.30] позволили по существу дать следующее объяснение сложности этой структуры. В начале цуга длительность импульсов составляет от 2 до 5 пс, а полуширина их спектра соответствует обратной величине длительности [7.16, 7.18] (AvbTb 0,5). Измерения методом двухфотонной люминесценции показывают, что отношение пьедестала к пику составляет 1 3, что соответствует случаю хорошей синхронизации мод (см. гл. 3). По этой причине селекция импульсов (см. п. 7.3.3) осуществляется таким образом, чтобы для дальнейшего усиления и применения в последующем эксперименте выбирался импульс из передней части цуга. Спектральная ширина импульсов, соответствующих дальнейшему развитию цуга, сильно нарастает, и четко обнаруживается образование подструктур как в спектре импульсов, так и во временной зависимости интенсивности. Причиной расширения спектра является неоднородное по спектру снятие усиления и автомодуляция фазы излучения, возникающая в результате нелинейного взаимодействия интенсивного излучения со стеклянной матрицей (см. п. 7,2.4). При относительно высоких интенсивностях излучения лазера проявляется изменение показателя преломления стеклянного стержня, зависящее от интенсивности 1ь импульса [c.260]

При измерении интенсивностей в спектрах следует всегда учитывать характер спектра и особенности спектрального прибора. Если по методу спектров сравнения с эталонной вольфрамовой лампой исследуется распреде.ление относительной интепсивности по спектру, который имеет характер непрерывного или диффузно-полосатого, то после сравнения интенсивностей в отдельных участках спектра следует полученные отношения исправить только на распределение энергии (интенсивности) в эталонной ламие. [c.437]

На спектрофотометре ФЭС-1 можно проводить относительные и абсолютные измерения интенсивностей спектральных линий. В первом случае показания прибора по окончании экспозиции будут про-порцпональпы отношению интенсивности спектральной линии анализируемого элемента к интенсивности неразложенного света дуги. [c.615]

Измерения интенсивности пульсаций скорости на оси струи согласуются с данными [11], где приведены результаты соответствующих измерений в струе, исследовавшейся в [3]. В опытах наблюдалось различие в значениях ео, измерявшихся на оси вблизи среза форсунки при эазных закрутках. Так, го = 0.25 при шо = 1.1 и го = 0.1 при шо = 2.5, т.е. с увеличением интенсивности закрутки происходит уменьшение относительной интенсивности пульсаций на оси струи. Это связано с тем, что с ростом закрутки возрастает продольный градиент давления (рис. 1), ускоряющий движение в обратном токе, и относительная интенсивность возмущений падает из-за роста абсолютного значения скорости. [c.285]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...