Анализ эмиссионный

Спектральный анализ, основанный на использовании оптических спектров испускания атомов и ионов, называют эмиссионным спектральным анализом. Эмиссионные линейчатые спектры, излучаемые атомами и ионами, не зависят от вида химических соединений, из которых состоит исследуемое вещество. Поэтому эти спектры применяются для определения элементов, входящих в состав анализируемого образца, и их процентного содержания (атомный или элементный анализ). [c.5]

Изменение геометрии катода, повторяющееся циклически, вряд ли возможно (анализ эмиссионных картин показывает, что геометрия поверхности в течение эксперимента неизменна), поэтому наиболее вероятны первый и третий механизмы. При этом следует заметить, что, согласно описанной выше модели происходящих адсорбционно-десорбционных процессов, нельзя рассматривать эти два механизма в отрыве друг от друга, т. к. прозрачность потенциального барьера из-за явлений адсорбции изменяется не столько на микровыступах, сколько в порах, впадинах, капиллярах, т. е. на тех участках поверхности, с которой до этого эмиссия могла не происходить. Поэтому од- [c.125]

Анализ эмиссионных спектров [c.396]

Рис. 1.7. Траекторный анализ эмиссионной системы типовых сварочных пушек при Uy = 60 кВ, = 5,2 мм

Анализ эмиссионных сигналов с исключительно высоким разрешением может быть выполнен путем смешивания при фотоэлектрическом приеме (см. разд. В 1.31, В 1.4). Фототок фотоэлектрического приемника зависит от напряженности поля на катоде по квадратичному закону, причем следует провести временное усреднение по времени срабатывания приемника. Частотный анализ фототока, изменяющегося во времени, дает информацию о спектральном распределении излучения с очень высоким разрешением. Таким способом могут быть определены ширины линий оптического излучения порядка нескольких герц. При этом минимальная измеримая разностная частота определяется продолжительностью времени измерения, в течение которого может быть обеспечена достаточная стабильность всех частей аппаратуры. Доступная обработке область частот ограничена наивысшей частотой приемника и регистрирующей электронной аппаратуры. Описанный метод измерений особенно применим для исследования стабильности частот и спектральных свойств стабилизированных лазеров, причем могут сравниваться между собой. также выходные сигналы двух независимых лазеров. Кроме того, исследуются линии рассеяния, расположенные близко к возбуждающей линии, в частности их контуры. [c.53]

В тех случаях, когда возбуждение импульсом накачки сопровождается излучением света тех же или других длин волн, за кинетикой процесса можно следить также посредством анализа эмиссионного сигнала. Эмиссионный сигнал может быть зарегистрирован при помощи аппаратуры, схематически представленной на фиг. 52 и 53. В приборе, показанном на фиг. 53, оптический затвор Керра открывается световым импульсом вспомогательного лазера который на определенное время замедлен по отношению к возбуждающему им- [c.405]

Оптико-спектральные методы физико-химического анализа. Оптико-спектральные методы исследования жидкости наиболее эффективны при изучении молекулярного и элементного состава их компонентов. К этому классу методов относится абсорбционный и люминесцентный спектральные анализы (абсорбционная спектрофотометр ия), о которых уже говорилось выше. Рассмотрим подробнее два других вида оптического спектрального анализа — эмиссионный спектральный анализ и анализ спектров комбинационного рассеяния света. [c.123]

Эмиссионный спектральный анализ. Эмиссионный спектральный анализ основан на изучении характеристических линейчатых спектров излучения светящихся паров вещества. Спектр излучения является однозначной характеристикой элемента, как и его атомный номер. Если поместить вещество в пламя, то оно окрасится в соответствии с введенным веществом. Свет окрашенного пламени можно разложить с помощью призмы и получить линейчатый оптический спектр — своеобразный паспорт вещества. Этот спектр состоит из отдельных ярких линий, расположенных в различных участках спектра. Изменяя температуру пламени, можно усилить яркость одних линий и ослабить другие, но нельзя изменить длину волны линии. Если в пламя введена многокомпонентная проба, то оптический спектр излучения пламени содержит характерные линии всех элементарных компонентов. Чтобы получить представление о составе исследуемого вещества, анализируют структуру этих линий. [c.123]

В зависимости от характера получаемых спектров различают следующие виды анализа эмиссионный (по спектрам излучения), абсорбционный (по спектрам поглощения), люминесцентный (по спектрам люминесценции) и комбинационный (по спектрам комбинационного рассеяния). [c.331]

Анализ эмиссионных спектров — о д [c.396]

Данное пособие создано преподавателями кафедры оптики физического факультета МГУ и обобщает многолетний опыт работы специального оптического практикума и лаборатории по специальности. В нем описаны 19 задач в области эмиссионного спектрального анализа, атомной спектроскопии, колебательных спектров (комбинационного рассеяния, ИК-спектроскопии), люминесценции и электронных спектров поглощения, оптических методов диагностики плазмы и оптических квантовых генераторов. Все шесть глав содержат сведения, представляющие краткий обзор основных понятий и теоретических сведений по соответствующему разделу спектроскопии, необходимых студенту для выполнения задач практикума. Каждая задача в свою очередь состоит из теоретической части и описания нескольких упражнений, на выполнение которых требуется от 9 до 36 часов. Конкретная программа работы студента определяется преподавателем. Пособие завершается приложением, где приведены основные табличные данные, используемые при обработке полученных экспериментальных результатов. [c.4]

Глава 1. Эмиссионный спектральный анализ — канд. физ.-ма-тем. наук асе. А. И. Акимов-, [c.4]

ГЛАВА 1. эмиссионный СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ [c.5]

Применение того или иного источника возбуждения спектра (или, как его часто называют, источника света) определяется конкретными целями работы и возможностями источника образовывать интересующий нас спектр. Источники света в эмиссионном спектральном анализе, как правило, одновременно выполняют две функции переводят вещество пробы в парообразное состояние и возбуждают спектры излучения этих паров. Наибольшее распространение для аналитических целей получили следующие источники света. [c.6]

Для эмиссионного спектрального анализа применяются различные спектральные приборы. [c.8]

Наиболее распространенными приборами, применяющимися для эмиссионного спектрального анализа, являются спектрографы. [c.8]

Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и призменных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа — из стекла. [c.8]

Переходя к пассивным акустическим методам контроля, отметим акустико-эмиссионный метод, при котором используют бегущие волны (рис. 2.5, г). Этот метод основан на анализе параметров упругих волн акустической эмиссии, возникающих в результате динамической локальной перестройки объекта контроля. Такие явления, как возникновение и рост трещин, аллотропические превращения, движение скоплений дислокаций — наиболее характерные источники волн акустической эмиссии. Контактирующие с изделием пьезопреобразователи, принимающие упругие волны, позволяют установить наличие источника эмиссии, а при обработке сигналов от нескольких преобразователей — и расположение источника. [c.99]

Испытания эффективности и качества протекторов ограничиваются в основном аналитическим контролем химического состава сплава, проверкой качества и наличия покрытия на держателе, определением достаточности сцепления между держателем (креплением) и протекторным материалом и контролем соблюдения заданной массы и размеров протектора. Испытания магниевых и цинковых протекторов регламентируются нормативными документами [6, 7, 22, 28]. Аналогичных нормативов но алюминиевым протекторам не имеется. Кроме того, указываются и минимальные значения стационарного потенциала [il6]. Нормативы по химическому составу обычно представляют собой минимальные требования, которые обычно превышаются у всех сплавов, имеющихся на рынке. К тому же регламентированные в этих документах способы мокрого химического анализа в техническом отношении за прошедшее время устарели. Протекторные сплавы в настоящее время более целесообразно исследовать методами эмиссионного спектрального анализа или атомной абсорбционной спектрометрии (по спектрам поглощения). [c.196]

В ходе дальнейших исследований водные вытяжки из ингибированного и неингибированного лаков были выпарены, и полученные сухие остатки подвергнуты эмиссионному анализу. В результате анализа в водной вытяжке из ингибированного лака было найдено большое количество кальция в водной вытяжке из лака без ингибитора кальций не обнаружен. [c.186]

В основу многих методов положен принцип измерения физико-химических свойств. К ним относятся эмиссионный спект-ральный анализ, масс-спектрометрия, полярография в органических растворителях и в расплавленных солях, кулонометрия, эллипсометрия, термический анализ, электронно-спиновой и ядер-ный резонансы и много других. О характеристиках этих методов имеются многочисленные сведения в литературе (59—71, 88]. [c.289]

Для исследования флуктуаций эмиссионного тока были использованы две основные методики — непосредственное изучение и фотографирование осциллограмм и анализ амплитуд эмиссионных токов в различных частотных диапазонах с помощью ЭВМ. [c.90]

При проведении экспериментов со свежеприготовленными образцами полиакрилонитрильных углеродных волокон было обнаружено [157, 158], что их вольт-амперные характеристики, построенные в координатах Фаулера—Нордгейма, имеют изломы (отклонения) в сторону меньших токов. Типичная характеристика дана на рис. 3.1, там же приведены снимки визуально наблюдаемых на экране авто-эмиссионных изображений углеродного волокна. Из анализа картин следует, что рабочая поверхность эмиттера имеет явно выраженный нерегулярный характер с хаотическим нагромождением эмиттирую-щих микровыступов [159]. [c.102]

Если рассматривать ток катода как непрерывный случайный процесс (стационарный или нестационарный), а совокупность последовательных измерений тока как некоторую выборку этого этого процесса, то при попытке вычислить среднее значение тока или его дисперсию может возникнуть случай, когда и /, и сг будут зависеть от количества точек выборки и (или) времени измерения. Еще сложнее обстоит дело в случае нестационарного процесса. Чтобы обойти подобные особенности случайных процессов, не увеличивая затрат машинного времени, все измерения флуктуаций эмиссионного тока производились с соблюдением подобия. Анализ флуктуаций эмиссионного тока производился при 5 частотных измерениях аналого-цифрового преобразователя — 10 кГц, 1 кГц, 100 Гц, 10 Гц, 1 Гц. При этом снимались последовательно по 125 показаний АЦП через 100 МКС—1 с, соответственно. По результатам измерений вычислялись следующие величины [c.224]

Измеренные таким образом частотно-временные характеристики флуктуаций эмиссионного тока можно условно называть спектрами нестабильности, хотя, строго говоря, методика их измерения отличается от традиционной методики спектрального анализа низкочастотных флуктуаций [2911. [c.224]

Анализу процесса излучения при неравномерном температурном поле посвящен целый ряд работ [Л. 197, 79, 193, 139, 62, 51, 52, 57, 97, 28, 87, 186, 187, 192 и др.]. Неравномерность температурного поля в поперечном сечении потока газов определяется рядом факторов, к числу которых можно отнести объемность излучения потока газов соотношение и уровень температур газов и твердых тел, ограничивающих газовый объем эмиссионные характеристики потока газов характер поля тепловыделения в факеле конфигурация факела и относительная его ориентация в топочном объеме аэродинамическая структура газового потока. Неравномерность температурного поля вдоль потока газов также определяется многими факторами, к числу которых можно отнести характер поля тепловыделения по длине факела темп изменения температуры нагреваемых изделий по длине печи соотношение температур газов и поверхности нагрева и др. Учет всех этих факторов представляется весьма сложной задачей. [c.354]

Неизменность экспериментальных условий из-за большого числа влияющих на интенсивность линий факторов обеспечить очень трудно. Поэтому в основе современных методов эмиссионного анализа помимо использования эталонов лежит прием, сводящий к мннийуму действие неизбежных вариаций условий возбуждения и связанных с ними вариаций интенсивностей спектральных линий. Этот прием заключается в измерении не абсолютных интенсивностей линий данного элемента или пропорциональных им величин, а относительных интенсивностей линий анализируемого элемента и элемента сравнения как функции концентрации. Так как при малых концентрациях примесей количество атомов основного элемента в разряде остается практически неизменным, элементом сравнения или внутренним стандартом обычно служит основной элемент пробы. Иногда элементом сравнения служит вводимый в анализируемые образцы и эталоны в одних и тех же количествах дополнительный элемент. Интенсивность линии внутреннего стандарта является, таким образом, той мерой интенсивности, сравнением с которой устанавливается интенсивность линии определяемого элемента. [c.42]

Перед широко известными и давно применяемыми методами анализов, такими, как масс-спектроекопичеекий, эмиссионный спектральный, лазерный, ЭОС, РСМА, ионный метод обладает рядом преимуществ [c.157]

В процессе трения в условиях ИП в поверхностных слоях идут одновременно два процесса формирование собственно слоя (пленки) со специфическими свойствами и формирование границы раздела между поверхностным слоем меди и подложкой. Результаты специально проведенного эмиссионного микроспектрального анализа показали, что межфазная граница представляет собой слой окислов атомов примесей и основного металла. [c.25]

Вальтер и Вернер Герлах, Спектральный эмиссионный анализ, пер. с нем., ОНТИ, Л. 1936. [c.124]

Все анализаторы имеют общую геометрию автоэлектронного проектора [96], то есть эмиссионная картина, которую дают про-туннелировавшие с острия электроны, проецируется на флюоресцентный экран. В экране делается небольшое отверстие, так называемое пробное отверстие, через которое проходят электроны, подвергающиеся дальнейшему анализу. Для выбора нужного для анализа участка поверхности перемещают эмиссионную картину так, чтобы изображение этого участка приходилось на пробное отверстие [115]. [c.83]

Интересующие характеристики процесса, усредненные на временном интервале реализации, получались также путем геометрической обработки графиков реализации. Для изучения флуктуаций авто-эмиссионного тока также использовался акустический метод, базирующийся на слуховом анализе низкочастотных составляющих тока катода. Одновременное наблюдение флуктуаций осциллографическим и акустическим способами показало, что различным состоянием эмит-тирующей поверхности катода соответствуют свои образцы их акустического восприятия, что позволяет впоследствии судить о характере флуктуаций и идентифицировать их формы, не прибегая к осцил-лографированию. Акустический метод позволяет экспрессно изучать характер нестационарностей и в ряде случаев дает информацию, практически не достижимую другими методами. [c.91]

Анализ флуктуаций автоэмиссионного тока дает возможность получить более точные количественные сведения о состоянии поверхности. Используя методики определения показателя (а) в выражении дисперсии флуктуаций эмиссионного тока а w 1// (см. гл. 6), а также связь дисперсии флуктуаций с количеством эмиттирующих центров [241], удалось сделать вывод о том, что наибольшим количеством эмиттирующих центров (при прочих равных условиях) обладает автокатод из пирографита толщиной 30 мкм и температурой термической обработки 2000 °С. Так как максимальный токоотбор, долговечность и равномерность автоэмиссии по поверхности катода непосредственным образом зависит от количества эмиттирующих центров, то пирографит с данными параметрами наиболее предпочтителен для использования в электронных приборах. [c.185]

Вопросы технологаи получения пленочных углеродных структур освещены в гл. 1. Однако во многих работах было показано, что незначительные изменения в режимах осаждения приводят к существенному изменению структуры получаемых пленок, что влияет на их эмиссионные свойства. Поэтому при описании эмиссионных свойств пленочных углеродных катодов в данной главе приводятся некоторые особенности технологии их изготовления. В описании ав-тоэмиссионных свойств нет строгого разделения по отдельным параграфам для алмазоподобных пленок, фуллеренов и нанотрубок, так как анализ во многих случаях показывает, что получаемая пленка содержит большой набор структурных составляющих. [c.197]

Дуговые л а б. II с т о ч н и к и и сери й-ные лампы высокого и сверхвысокого давлений позволяют вводить значит, уд. мощность (Уи>100 Л/см ) и дают излучение высокой яркости с широко варьируемым спектром. Свободно горящая дуга, используемая в эмиссионном спектральном анализе, имеет неустойчивый канал, в к-рый поступают испускающие линейчатый спектр пары материала электродов или спец. вставки в нём. В лаб. источниках, применяемых в спектроскопии плазмы, дуга стабилизируется устраняющей загрязнения вытяжкой газа через электроды или охлаждаемыми водой медными игайбами (при наблюдении канала длиной неск, см и S3 0,2—1 см вдоль оси). Такая стабилизированная- каскадная дуга используется и как эталонный источник (в континууме Аг при р = 0,1—1 МПа, Гд до 1,2-40 К в вакуумных УФ-ляниях Н Тц до 2,2-10 К). Мощная дуга с вихревой стабилизацией канала 0 0,2—1 см и длиной неск. см, обычно в Аг при до 7 МПа и Р до 150 кВт, даёт сплошное излучение с Тв 6000 К и применяется для имитации солнечного излучения, в фотохимии и установках радпац. нагрева. [c.223]

Эмиссионная М. с. В эмиссионной М. с. объектом исследования являются вещества, в к-рые введены радиоакт, ядра, образующие в результате ядерных превращений и последующего каскада у-переходов возбужденное ядро, испускающее резонансные у-кванты (рис. 9), Анализ энергетич. спектра испускаемых у-квантов проводится с помощью мёссбауэровского спектрометра, в к-ром ноглотитель содержит резонансные ядра в осп. состоянии и имеющие единичную линию поглощения (либо с помощью детектора конверсионных электронов). [c.106]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...