Полосы структура

За нормали I класса принимают такие точно измеренные на дифракционном спектрометре линии испускания или отдельные полосы поглощения, которые являются одиночными, симметричными и достаточно узкими. Первому требованию удовлетворяют те линии и полосы, структура которых не может быть выявлена призменным прибором из-за его ограниченной разрешающей способности. Последнее требование означает, что максимум линии или полосы должен быть настолько острым, чтобы определение его положения не вносило дополнительной ошибки. [c.146]

Качественный анализ по спектрам поглощения более широко используется в инфракрасной области, где лежат колебательно-вращательные спектры поглощения, которые состоят из сравнительно узких полос. Структура колебательных спектров более устойчива, а главное, характерна и поэтому удобна для целей качественного молекулярного анализа. [c.633]

Если выделить одно из изображений, то поверхность второй решетки будет видна покрытой интерференционными полосами. Структура и число наблюдаемых полос зависят от номера выбранной группы, от взаимного наклона решеток относительно друг друга и от соотношения постоянных решеток. Если решетки параллельны друг другу, а постоянные й равны, то вторая решетка будем равномерно освещена. Интенсивность освещения зависит от амплитуды и фазы результирующей волны, распространяющейся в направлении к-Ъ. группы, которые в свою очередь зависят от амплитуд и фаз составляющих ее компонентов. [c.144]

Данное значение относится, конечно, к среднему расстоянию между ядрами в самом низком колебательном состоянии. Оно прекрасно согласуется со значением длины связи 1,0936-10 см, полученным при изучении спектра (см. стр. 467). Последнее значение, вероятно, более точно, так как оно определено из полос, структура которых не искажена кориолисовым взаимодействием. [c.484]

Горячие полосы изогнуто-линейных переходов. При комнатной температуре, а тем более при повышенных температурах, часто происходит возбуждение одного, двух или даже большего числа квантов деформационных колебаний линейных молекул. Переходы с таких уровней приводят к полосам поглощения (горячим полосам), структура которых несколько отличается от структуры рассмотренных выше полос. На фиг. 79 (в середине и справа) показано, как возникают различные подполосы (Й -структура), но уровни с различными / не показаны (заметим, что />ЛГ в верхнем состоянии и / > / в нижнем). [c.201]

Параллельные полосы. Структура параллельных полос слегка асимметричных волчков совершенно аналогична структуре параллельных полос симметричных волчков. Различие заключается лишь в том, что во всех подполосах с К О имеется удвоение линий во всех трех ветвях, обусловленное асимметрией. Ыа фиг. 104 дается схема переходов между энергетическими уровнями для подполосы 1 — 1, из которой можно видеть, как образуются ветви. Чтобы понять, почему расщепление приводит к появлению только двух линий (а не четырех), следует обратиться к правилу отбора (И,97) для вытянутого волчка или к правилу (11,99) для сплюснутого волчка. Типы симметрии уровней асимметричного волчка в двух предельных случаях приведены справа и слева на схеме фиг. 104. В обоих случаях результат один и тот же [c.248]

Полосы указанной выше линейчатой структуры за счет высоких давлений, развивающихся в адиабатической установке, могут быть сильно уширены и перекрыты. Но, как показывает оценка доплеров-ского и лоренцевского уширений, полуширины линий не должны превышать 1 А, тогда как расстояние между полосами структуры, исследованной в работе [3], в среднем составляет 5 А. [c.176]

Прокаливаемость по ГОСТ 5657—69 приведена в виде таблиц полос прокаливаемости (минимальное и максимальное значения твердости в зависимости от расстояния от охлаждаемого участка). Кроме того, приведены критические диаметры при закалке в масле и в воде при определенном количестве мартенсита в структуре. [c.11]

Дело в том, что матрица коэффициентов системы линейных алгебраических уравнений, к которой приводит МКЭ,— сильно разреженная матрица ленточной структуры. Ненулевые элементы такой матрицы располагаются параллельно главной диагонали (рис. 1.4). Целое число/., представляющее собой наибольшую разность между номерами ненулевых элементов в строке, называется шириной полосы. Чем меньше ширина полосы, тем меньший объем ОП требуется для хранения матрицы при реализации МКЭ в САПР и тем меньше затраты машинного времени на решение результирующей системы уравнений. Ширина полосы зависит, в свою очередь, от числа степеней свободы узлов и способа нумерации последних. [c.18]

Исследование экспериментальной кривой видимости для желтого дублета натрия, подобной расчетной кривой (рис. 5.45,6), показало, что между двумя максимумами этой кривой возникает 490 интерференционных полос, а каждая из компонент дублета имеет сложную структуру. В опытах Майкельсона также было обнаружено расщепление на две компоненты красной линии водорода (Нц). Более поздние измерения подтвердили их положение [c.231]

Существует метод муаровых полос, при использовании которого на исследуемую поверхность наносят каким-либо способом систему периодически повторяющихся линий, точек или иных элементов, расположенных в одной плоскости (такие структуры называют растрами). Растр, нанесенный на исследуемую поверхность детали или образца, деформируется вместе с поверхностью в процессе нагружения. При наложении деформированного и эталонного растров светлые промежутки одного растра перекрываются темными линиями другого, что приводит к изменениям интенсивности отраженного или проходящего через совмещенные растры света и образованию черных и белых [c.142]

Таким образом, очевидно, что структура панциря напоминает сетку, но в зависимости от метода наблюдения может казаться гладкой или снабженной продольными или поперечными полосами. Между тем раньше ботаники полагали, что они имеют дело с различными разновидностями диатомовой водоросли. [c.357]

Спектр поглощения определяется составом и структурой поглощающего центра и зависит от влияния окружающей среды (растворителя). Он является индивидуальной характеристикой сложной молекулы и состоит обычно из нескольких широких полос, частично перекрывающихся друг с другом. В качестве примера на рис. 34.3 приведен спектр поглощения молекулы акридинового оранжевого, относящегося к классу красителей. Разные полосы поглощения относятся к различным электронным переходам внутри молекулы. [c.251]

В данной задаче градуировка прибора проводится по эталонным спектрам, для которых положение максимумов определено с большой точностью на дифракционных спектрометрах. Из-за сложности структуры ИК-спектров положения их максимумов, записанных на дифракционных и призменных приборах, могут заметно различаться. Так, если группу близко расположенных полос поглощения удается разрешить дифракционным прибором, то на призменном спектрометре (с меньшим разрешением) можно получить только огибающую контуров полос. При этом для несимметричных полос положение максимума поглощения огибающей не будет совпадать с максимумом наиболее интенсивной полосы разрешенной структуры. Поэтому для градуировки можно использовать спектры, полученные на дифракционных приборах с разрешающей способностью, равной разрешающей способности градуируемого призменного спектрометра. [c.146]

Форма истинного контура полос /)(v) может быть описана с помощью дисперсионной, или гауссовой, функции (рис. 65,6). Для изолированных полос поглощения в конденсированном состоянии вещества, где отсутствует вращательная структура, можно предположить дисперсионное распределение [c.165]

При понижении температуры до азотных температур П. П. Феофилов и Б. Н. Гречушников [2] с длинноволнового края широкой полосы обнаружили колебательную структуру широкой полосы поглощения, объясняемую комбинацией чисто-электронного перехода с колебаниями кристаллической решетки корунда. Разность частот между соседними полосами структуры равна частоте, найденной Кришнаном [97] в инфракрасном спектре иоглощения рубина. Позднее рубин был исследован в поляризованном свете при температуре жидкого гелия [68], и колебательная структура была найдена не только в обыкновенной, но и в необыкновенной волне. О необходимости учета сдвига максимума широкой полосы относительно частоты чисто-электронного перехода (при расчете Вд из спектра) см. [40, 88, 94]. Изменение узких полос с температурой было описано выше. [c.176]

Кроме данных линий в спектре рубина и ряда других кристаллов, наблюдается колебательная структура широкой полосы поглощения [2,68], причем для рубина расстояния между полосами структуры составляют 200 см . Эта частота проявляется в инфракрасной области, где она обусловлена колебаниями кристаллической решетки корунда [2] в видимой области спектра она проявляется в результате комбинащхи электронного перехода с колебаниями решетки [96]. [c.198]

При чтении обозначений материалов необходимо знать отступления от приведенной типовой структуры обозачения. Эти отступления обусловлены неоднородностью содержания стандартов на материалы. Так, некоторые стандарты охватывают как классификацию материала, так и технические условия на его поставку, другие регламентируют сортамент (листы, полосы, прутки, трубы и т. д.) и технические условия, третьи — только сортамент. [c.118]

Принцип действия интерферометров основан на использовании явле+1ия интерференции света, отраженного от образцовой и исследуемой поверхностей. Форма образующихся интерференционных полос зависит от вида и высоты (до 1 мкм) неровностей контролируемой поверхности. Принцип действия растровых микроскопов основан на явлении образования муаровых полос при наложении ]130бражений элементов двух периодических структур (направленных следов обработки и д.чфракцнонной решетки). При наличии неровностей муаровые полосы искривляются. Высоту микронеровностей определяют по степени искривления муаровых полсс. [c.201]

На пластинке Люммера— Герке наблюдаются интерференционные полосы очень высокого (десятка тысяч) порядка. Это позволяет использовать ее в сочеташш с другим спектральным прибором в основном для исследования тонкой структуры спектральных линий. [c.117]

При традиционном описании процесса пластической деформации исходят из того, что существующие в кристаллах системы скольжения позволяют обеспечить его формирование без разрушения сплошности. В.Е. Паниным и др. [11] было доказано, что пластическое течение происходит одновременно на нескольких уровнях, причем трансляция на одном уровне обязательно сопровождается поворотом на более высоком уровне, и наоборот. Принципиально важным в этом подходе является то, что любое нарушение структуры кристалла при подводе к нему внешней энергии рассматривается с позиции самоорганизации локальных структур, обусловленной энтропийными эффектами. Вторичные структуры, формирующиеся в деформируемом кристалле при достижении необходимого уровня возбуждения, представляют совокупность локальных структур - от дефектов типа точечных или линейных до аморфного состояния, возникающего при высокой плотности дефектов. Таким образом, при анализе пластической деформации кристаллов необходимо учитывать кооперативное взаимодействие трансляции, ответственной за изменение формы (дисторсии), и ротации, ответственной за изменение объема (дилатации). При этом важную роль в распространении скольжения играют границы зерен. Эволюция скольжения включает образование полос скольжения на начальных этапах пластической деформации, которые потом трансформируются в полосы микроскопического сдвига, что приводит к возникновению зоны локализованной макропластической деформации, проходящей через весь объем. Переход от одного масштабного уровня (микрополосы) к другому (макротюлосы) являет собой неустойчивость пластической деформации, предопределяющую шейко-образование. Он характеризуется тем, что шменяются элементарные носители деформации - дислокации сменяются дисклинациями. Дисклинации являются более энергоемкими дефектами, чем дислокации, что позволяет системе про- [c.241]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

При 52 > 5 кр в жидкости возникает стационарное конвективное движение, периодическое в плоскосги ху. Все пространство между плоскостями разделяется на прилегающие друг к другу одинаковые ячейки, в каждой из которых жидкость движется по замкнутым траекториям, не переходя из одной ячейки в другую. Контуры этих ячеек на граничных плоскостях образуют в них некоторую решетку. Значение ккр определяет периодичность, но не симметрию этой решетки линеаризованные уравнения движения допускают в (57,14) любую функцию ф(х, г/), удовлетворяьэ-щую уравнению (Лг — )ф = 0. Устранение этой неоднозначности в рамках линейной теории невозможно. По-види.мому, должна осуществляться двухмерная структура движения, в которой на плоскости ху имеется лишь одномерная периодичность— система параллельных полос ). [c.317]

Так, Вуд, освещая пары йода, состоящие из молекул J.2, монохроматическим излучением рт утной лампы, обнаружил, что испускается крайне сложный спектр, состоящий из очень большого числа отдельных линий, точнее, пар линий, длины волн которых отличались приблизительно на 2 А. Эти пары представляют правильную совокупность, и расстояния между ними соответствуют разности длин волн в несколько десятков ангстрем. Полученная таким образом структура имеет большое сходство с системой полос, характерных для полосатого спектра, причем каждая полоса представлена двумя линиями. Замечательно, что освещение монохроматическим светом другой длины волны привело к возбуждению сходного сложного спектра, все длины волн которого были несколько изменены. Если же освещение производилось не только монохроматическим излучением, а более широким участком спектра (в несколько десятых ангстрема), то спектр испускания становился гораздо сложнее. [c.750]

В этих условиях наблюдалось формирование поверхностных периодических структур но кроях незатронутых лазерной гравировкой участков металлических пленок. ППС располагались вдоль траектории движения фокального пятно лазерного излучения. Зона распространения ППС в радиальном по отношению к фокальному пятну направлении в большинстве случаев не превышало 10—15 мкм, однако наблюдались и структуры, захватывавшие полосы необработанного покрытия до 250 мкм. При этом ППС группировались в полосы с уменьшающейся контрастностью в поле зрения микроскопа. ППС дальней зоны качественно отличаются от ППС ближней зоны. Изморенные в дальней зоне периоды ППС составляли величины 3— 3,5 мкм. В ближней зоне величина периода была приблизительно такая же, но строгая периодичность норушолась, в ряде случаев элементы структур располагались как лучи, радиально расходящиеся от дефектов лазерной гравировки. [c.96]

Если на место одного из точечных источников излучения (см. рис. 1) поместить предмет, размеры которого настолько малы, что в первом приближении он может считат1>ся точечным, то, очевидно, структура интерференционных поверхностей не изменится, изменится лишь контрастность интерференционной картины. Действительно, точечный объект рассеивает свет равномерно во всех направлениях, так, что е1 о можно рассматривать как вторичный источник сферической волны. Если рассматривать голограмму точечного объекта под микроскопом, то можно обнаружить, что она состоит из множества параллельных полос. При замене точечного объекта предметом более сложной формы. эти полосы претерпевают изменения, которые тем значительнее, чем сложнее форма предмета. [c.16]

Поверхность любого изделия имеет только для нее одной характерную микроструктуру, при освещении которой когерентным светом наблюдается спекл-структура. Если зарегистрировать голографическую интерферограмму деформации поверхности методом двух жспозиций, причем между двумя. экспозициями повредить часть поверхности, т. е. нарушить ее микроструктуру, то при восстановлении интерферограммы в поврежденных местах будут отсутствовать интерференционные полосы. Это происходит из-за того, что интерферировать между собой способны только сходственные точки, точки поверхности, которые отражали свет во время пепвой и второй экспозиций. [c.111]

Спектром испускания (флуоресценции) называется распределение интенсивности испускаемой веществом энергии по частотам (или длинам волн). Вид спектра флуоресценции определяется составом и строением флуоресцентного центра, а также влиянием растворителя. Как и длинноволновая полоса поглощения, спектр флуоресценции сложных молекул не имеет колебательной структуры и представляет собой одну довольно широкую бесструктурную полосу (рис. 34.4). Такое строение полос поглощения и флуоресценции свидетельствует о том, что колебательные уровни 1[ижнего и верхнего электронных состояний не дискретны, а образуют непрерывную последовательность. [c.251]

Используемые в лазерах молекулы органических красителей (полиметиновых, ксантеновых, кумариновых и др.) относятся к классу сложных молекул, т. е. их спектры поглощения и люминесценции представляют собой широкие полосы (см. 34.3). Известно, что большая ширина полос сложных молекул связана с колебательной структурой электронных уровней. Колебательные уровни расположены очень густо, образуя сплошные зоны (рис. 35.19). Они объединяются в две системы одна [c.292]

Смотреть страницы где упоминается термин Полосы структура : [c.31] [c.22] [c.690] [c.323] [c.101] [c.435] [c.111] [c.113] [c.116] [c.357] [c.749] [c.818] [c.158] [c.218] [c.246] [c.192] [c.23] [c.37] [c.49] [c.259] [c.157] [c.163]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...