Метод абсолютной интенсивности

В этой связи заслуживает внимания описанный в [Л. 11-13] метод оценки температуры поверхности без определения е, . В этом методе абсолютные интенсивности излучения регистрируются в широком интервале длин волн, Я = 0,4- 15 мкм. [c.334]

Метод абсолютной интенсивности спектральной линии [c.418]

Метод абсолютной интенсивности спектральных линий 418 [c.492]

Эффективность спектрометрической установки может быть найдена. и по измерению относительных яркостей мультиплетов азота [43] . Пользуясь методом пар линий с общим верхним уровнем, можно получить источник не только с известными относительными, но и абсолютными интенсивностями спектральных линий. [c.246]

Существенный недостаток стандартных источников, интенсивность которых определяется по методу пар линий, заключается в том, что градуировка спектральной, установки проводится для отдельных длин волн, а не для всей области спектра в целом. Этот недостаток может быть особенно ощутим, если градуируется прибор, коэффициент пропускания которого очень быстро (и особенно — немонотонно) изменяется с изменением длины волны. Этим, по-видимому, объясняется то, что этот метод, хотя н был предложен давно (в 1961 г.), мало применялся и его удавалось использовать только для определения абсолютных интенсивностей отдельных спектральных линий и для сопоставления с другими методами. [c.247]

Метод относительных интенсивностей применялся во многих работах для видимой области спектра [52—54]. Так, например, по отнощению яркостей линий Ре X и Ре XIV была определена электронная температура солнечной короны [52] ). В работах 53, 54] по абсолютным и относительным яркостям линий С V и [c.358]

Для исследования спектральных характеристик газов в настоящей работе был применен метод одновременной регистрации развернутых во времени спектрограмм и абсолютной интенсивности излучения для некоторого участка спектра. [c.309]

Недостатком метода радиоактивных изотопов по сравнению с микрометрическим методом исследования интенсивности размерного износа является то, что он не дает абсолютных величин относительного износа, знание которых требуется при проектировании и наладке оборудования и при расчете точности технологических процессов. [c.43]

I. Измерение абсолютной интенсивности излучения. С помощью формулы (8) можно определять Т, измеряя абсолютную интенсивность излучения из одной какой-либо части столба. Метод этот применим, лишь когда точно известна Атп, что имеет место лишь в ограниченном числе случаев. Но если известна, то этот метод может дать большую точность. Необходимо знать и И, поэтому (например, в случае атомарного газа) должна быть известна степень ионизации. Если допустить наличие локального термического равновесия, то легко вычислить степень ионизации при относительно низких темшературах ее влияние на N часто пренебрежимо мало. [c.24]

Метод Р. является одним из наиболее простых методов абсолютного измерения интенсивности УЗ в области средних и высоких частот. Чувствительность Р. не зависит от частоты, если величина Л не зависит от частоты и если для всех частот соблюдается условие й X (в противном случае необходимо вводить поправку на дифракцию УЗ на приёмном элементе). [c.291]

Сложной проблемой радиометрии являются абсолютные измерения в вакуумном ультрафиолете. Синхротронное излучение может быть использовано в этом случае в качестве стандарта, так как его абсолютная интенсивность может быть строго вычислена для различных длин волн. Развитие внеатмосферной астрономии и потребностей в этой связи в абсолютных измерениях в вакуумной ультрафиолетовой и рентгеновской областях спектра делают задачу разработки методов эталонирования с применением СИ еще более актуальной. [c.264]

Рис. 26. К теории метода измерения абсолютной интенсивности рассеянного света.

Метод светорассеяния в таких задачах становится особенно удобным, если сложные абсолютные измерения можно заменить сравнительно простыми относительными измерениями. Но в последнем случае нужно располагать эталоном, абсолютная интенсивность рассеяния света которым хорошо известна. В качестве таких эталонов применяются различные веш ества [43, 337], но особенно часто используется жидкий бензол. Именно поэтому он особенно много исследовался. [c.242]

Для перехода от измеренной интенсивности излучения к количественному содержанию элемента в рабочей жидкости применяют два метода абсолютный и метод эталонирования.. Второй метод обладает большей точностью и в ряде отраслей машиностроения нашел широкое применение. Он предусматривает одновременное облучение вместе с пробами рабочей жидкости проб с заранее известным содержанием в них определяемых элементов. [c.60]

Ввиду того что энергия, излучаемая реальными телами, меньше энергии излучения абсолютно черного тела, при измерении действительной температуры тела Тд пирометры, основанные на яркостном методе, покажут более низкую яркостную температуру (рис. 9.8). Под яркостной температурой Тд понимается такая условная температура, при которой абсолютно черное тело имеет такую же спектральную интенсивность излучения Д или яркость Вх , что и реальное тело при его действительной температуре Тд, т. е. [c.184]

Данные таблицы хорошо согласуются с результатами, полученными в двух других научных группах (см. [18]) при использовании иных методов анализа. Как следует из этих данных, при высокой интенсивности испарения скачки температуры и плотности пара у межфазной границы становятся соизмеримыми с абсолютными значениями температуры и плотности. При (5 = 1 (данные табл. 1.3 приводятся для этого значения коэффициента испарения-конденсации) степень пересыщения пара столь высока, что вблизи межфазной поверхности еще прежде достижения предельной интенсивности испарения неизбежна объемная конденсация пара (так называемые скачки конденсации). Степень пересыщения пара очень сильно зависит [c.74]

При измерениях абсолютным методом мерой толщины является абсолютное значение интенсивности потока излучения, прошедшего через измеряемую полосу. [c.389]

Главная трудность при количественной оценке структурных изменений и особенно при установлении их количественной связи с интенсивностью износа заключается в выборе методов исследо- вания. Число циклов до разрушения не зависит от метода исследования (толщины исследуемого слоя), а абсолютные значения таких параметров, как микротвердость или ширина дифракционных линий, являются их прямой функцией. Вопрос о слое, ответственном за разрушение в условиях фрикционно-контактного воздействия, [c.106]

Метод абсолютной интенсивности спектральных линий практически не имеет верхнего предела измеряемых температур. Со стороны очень высоких температур применимость метода ограничивается областью, в которой происходит ионизация основной массы атсмов излучающего металла. Для спектральных линий натрия такой границей будут, по-видимому, температуры 7000....8000 К. Использование излучающего элемента с более высоким потенциалом ионизации позволяет еще больше отодвинуть эту границу. [c.419]

Метод абсолютной интенсивности применим для измерения температур как несветящихся, так и светящихся пламен. Его инструментальная погрешность — около 1 % измеряемой температуры (для спектральной аппаратуры с дифракционной решеткой). При исследовании этим методом пламен с неоднородным температурным полем, так же как и в случае метода обращения, возникают дополнительные погрешности, связанные с самообращением спектральных линий. [c.419]

В отличие от метода абсолютной интенсивности, применимого а условиях достаточной для насыщения линии концентрации излучающих атомов, метод относительных иктсксизностен может быть использован только в условиях малых концентраций. Причина такого ограничения заключается в том, что абсолютные интенсивности разных спектральных линий различны, и, следовательно, степень приближения их к состоянию насыщения будет разной. Поэтому отншпение интенсивностей г, определяемое формулой (12.5), не является однозначной мерой только температуры пламени, а определяется также степенью, в какой одна и другая спектральные линии далеки от состояния насыщения, т. е. от той области, в которой нарушается прямая пропорциональность интенсивности линии и концентрации излучающего элемента. Логарифмируя (12.5), получаем [c.420]

Неизменность экспериментальных условий из-за большого числа влияющих на интенсивность линий факторов обеспечить очень трудно. Поэтому в основе современных методов эмиссионного анализа помимо использования эталонов лежит прием, сводящий к мннийуму действие неизбежных вариаций условий возбуждения и связанных с ними вариаций интенсивностей спектральных линий. Этот прием заключается в измерении не абсолютных интенсивностей линий данного элемента или пропорциональных им величин, а относительных интенсивностей линий анализируемого элемента и элемента сравнения как функции концентрации. Так как при малых концентрациях примесей количество атомов основного элемента в разряде остается практически неизменным, элементом сравнения или внутренним стандартом обычно служит основной элемент пробы. Иногда элементом сравнения служит вводимый в анализируемые образцы и эталоны в одних и тех же количествах дополнительный элемент. Интенсивность линии внутреннего стандарта является, таким образом, той мерой интенсивности, сравнением с которой устанавливается интенсивность линии определяемого элемента. [c.42]

Расчет частот и интерпретация колебательных спектров указанных молекул рассматривались в работе [ ]. Нормированная форма нормальных колебаний была вычислена па основе силового поля, найденного в [ ], на электронной счетной машине по методу итерации Маянца [ ]. Инфракрасные спектры транс- и цис-бутен-2 в газообразной фазе исследовались в работах ], однако абсолютные интенсивности инфракрасных полос не измерялись. [c.146]

Контуры линий измерялись фотоэлектрическим методом на спектрографе ИСП-51 с приставкой ФЭП-1. Спектр комбинационного рассеяния возбуждался в стандартном эллиптическом осветителе светом ртутной линии 4358 А от лампы ПРК-2 при силе тока 3 а. Для выделения из ртутного спектра возбуждающей линии использовался жидкостный фильтр из насыщенного водного раствора NaN02. Спектральная ширина щелей равнялась 5 см"" . Правильность работы установки контролировалась по спектру толуола [ ]. Измерение площадей, ограниченных наблюдаемыми контурами линий исследуемой и сравнения (линия 802 см циклогексана), производилось на одинаковом числе ширин — 66. Поправка на усечение поэтому была принята равной единице [ ]. Спектральная чувствительность фотоумножителя определялась по спектру флуоресценции сернокислого хинина [ ]. Каждая линия регистрировалась не менее 10 раз. Средняя ошибка измерения интенсивности составляла около 10%. Результаты измерений сведены в таблице. Используя вычисленное в работе значение абсолютной интенсивности линии 802 см циклогексана (56 - -13 )= 21.88 10 см /г, получаем экспериментальные абсолютные интенсивности комбинационных линий тетрахлорэтилена (см. таблицу). [c.297]

Мы рассмотрим как методы гомохромной, так и методы гетерохромной фотометрии. Методы гомохромной фотометрии сравнительно просты и не требуют предварительной градуировки всей регистрирующей системы — спектрального прибора и приемника излучения. Измерение абсолютных интенсивностей и задачи гетерохромной фотометрии значительно сложнее и могут быть решены двумя принципиально различными методами. [c.239]

По старой традиции многие авторы ищут способы нормировки по теоретическим работам. В лучшем случае это позволяет получить надежно только одну точку. И если 15 лет назад было правильно поступать таиим образом [64], то теперь надо изыскивать другие способы. Нам представляется, что некорректное измерение абсолютных интенсивностей — это основная причина больших расхождений между сечениями, найденными в различных работах. Как уже указывалось в 31, для абсолютных измерений интенсивности необходимо определить зависимость коэффициента пропускания спектрального прибора от длины волны и затем проводить измерения с помощью неселективного приемника, либо проградуировать всю систему в целом, например, с помощью метода, основанного на использовании линий с общим верхним уровнем ). В тех работах, где такие методы применяются, удается получить достаточную точность [84]. [c.340]

Как уже отмечалось выше, возможно и другое применение хЛ1етода относительных. интенсивностей. Независимым путем определяется Те, например, методом исследования контура линии томсоновского рассеяния лазерного излучеиия и, зная Тс, можно найти сечения различных процессов. Для этого следует определить относительные или абсолютные яркости линий, сечения возбуждения которых определяются. Этот метод применялся для определения сечений возбуждения линий ионов неона 62], линий изоэлектронного ряда лития (О VI, N V, Ne VIII) 63, 64, линий О VII [65] н линий N V [66]. Возбуждение линий N V происходит из основного состояния иона электронным ударом. Для плазмы достаточно низкой плотности распад возбужденных состояний ионов происходит только путем излучения и можно не учитывать вторичные процессы. Следовательно, общее число возбуждений равно общему числу испущенных фотонов. Это означает, что для определения сечения надо измерить абсолютную интенсивность спектральной линии, иайти Тс и N . [c.360]

Количественные методы спектрального анализа получили твердые основания с тех пор, когда Герлах в 1926 г. показал возможность использования относительных интенсивностей спектральных линий анализируемой примеси, измеренных по отношению интенсивности спектральных линий основного материала электродов. Правда, попытки разработать методику анализа по абсолютной интенсивности не оставлены и в настоящее время. [c.597]

Во втором случае по методу абсолютных определений можно измерять интенсивности световых потоков в обоих каналах. В этом случае время накопления заряда определяется реле времени экспозиции. При наличии высокостабильпого генератора этот метод, быть может, окажется возможным использовать в некоторых случаях для проведения анализов. [c.615]

Регистрация линейчатого излучения из плазмы позволяет определить концентрацию свободных электронов [3]. Столкновения нейтральных частиц (или ионов) с электронами приводят как к возбуждению нейтральных частиц (иоиов), так и к их девозбуждению, т. е. результативно оиределяют интенсивность липий излучения в линейчатом спектре. Дли ряда удобных для наблюдения линий в снектро излучения отдельных атомов хорошо известна зависимость иптенсивности излучения от кинетической энергии злектронов. Удобной и более простой модификацией этого метода явлиется измерение не абсолютной интенсивности излучения, а отношении интенсивностей излучения определенной пары линий. Со Стороны больших плотностей плазмы данный метод ограничен выполнением условия оптически тонкой плазмы, т. е. отсутствием поглощения на частоте излучения со стороны [c.253]

Определение температуры частиц по абсолютной интенсивности излучения их поверхности. В основе этого метода лежит сравнение интенсивностей излучения частицы и эталонного источника. Для регистрации интенсивностей излучения движущейся частицы может быть применен любой из методов фотокиносъемки. Наиболее 58 [c.58]

Отметим, что угловое распределение интенсивности рассеянного света измеряется легко, за исключением того случая, когда требуется разрешение корреляционных длин порядка микрона. Для определения корреляций на расстояниях порядка 1 мкм необходимо производить измерения при очень малых углах рассеяния. Для подобных измерений необходимы специальные оптические системы, в которых исключаются нежелательные дифракционные эффекты. К счастью, рассеяние в этих случаях всегда настолько велико, что можно использовать падающие пучки малой интенсивности. В тех работах, где приводятся абсолютные значения коэффициента рассеяния, которые сравниваются с теоретическими, особое внимание следует уделять условиям проведения опыта. Методы приготовления не содержащих загрязнений образцов обсуждались в нескольких работах, посвященных измерению абсолютной интенсивности света, рассеянного в простых жидкостях. Стейси [172] в своей фундаментальной монографии по рассеянию света довольно подробно рассматривает общие принципы создания фотометров для измерений рассеяния света и методы очистки жидкостей перед измерениями. Каждый исследователь обычно верит в свой любимый метод очистки. Однако методы центрифугирования, медленной дистилляции, фильтрации и электроосаждения, по-видимому, дают в равной степени хорошие результаты в руках терпеливого и аккуратного экспериментатора. В своих обзорах литературы по рассеянию света Кратовил [97, 98] обсуждает вопросы—усовершенствования экспериментального оборудования и методов химического приготовления исследуемых веществ. [c.107]

Рис. 27. Схема установки для измерения абсолютной интенсивности рассеянного света фотографическим методом (Вокулер [56]).

Рис. 28. Схема установки для измерения абсолютной интенсивности рассеянного света фотоэлектрическим методом (Карр и Цимм [198]).

В термометрии по абсолютным изотермам или в методе ГТПО, которые основаны на законе Бойля, необходимо знать в первом случае количество молей газа в газовой колбе, а во втором — значения второго, а возможно, и третьего вириаль-ного коэффициента. Выше отмечалось, что развитие газовой термометрии на основе зависимости температуры от какого-либо интенсивного свойства газа позволяет получить существенные преимущества. Такими свойствами газа могут быть скорость звука, коэффициент преломления и диэлектрическая проницаемость. Метод будет первичным (см. гл. 1), если для измеряемой величины и термодинамической температуры можно написать зависимость, в которую входят только То, R, к п другие постоянные. Эти постоянные не должны зависеть от термодинамической температуры. Из трех методов, которые основаны на измерении перечисленных интенсивных свойств, наиболее развита акустическая термометрия, поэтому рассмотрим ее прежде всего. [c.98]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д. [c.282]

Кристаллы невозможно очистить от случайных включений, поэтому число изученных объектов здесь невелико. Метод, который позволил отличить молекулярно-рассеянный свет от света, рассеянного случайными включениями, состояд в исследовании зависимости интенсивности от температуры интенсивность молекулярно-рассеянного света растет пропорционально абсолютной температуре, а интенсивность паразитного света от температуры не зависит. [c.588]

Приборами, работа которых основана на измерении ослабления интенсивности потока излучения, прошедшего через измеряемый материал, толщину материала можно определить 1) прямым измерением интенсивности потока излучения (абсолютный метод) 2) сравнением интенсивности двух потоков излучения с измерением разности или отношения интенсивностей 3) автома-тическнм непрерывным уравнением двух потоков излучения (метод компенсации). [c.389]

После охлаждения образцы по грани 8 х 35 мм шлифовали, исследовали их структуру на металлографическом микроскопе МИМ-8М и по методу Глаголева определяли объемное содержание связующего сплава по длине образцов. Распределение меди и кобальта по длине образцов исследовали методом локального рентгеноспектрального анализа на установке Микроскан-5 . Облучение образцов проводили электронным зондом длиной 1000 и шириной 2 мкм. Это позволило замерять усредненную интенсивность рентгеновского излучения исследуемых элементов и избежать влияния структуры сплава (зернистости) на измерение интенсивностей. Пять участков измерения интенсивностей располагались на грани 8 X 35 жж по линии, перпендикулярной продольной оси грани, расстояние между этими линиями составляло 0,5 мм. В образцах, контактировавших с расплавом кобальта, количественное содержание связуюш,его металла находили также путем сравнения отношений интенсивностей кобальта и вольфрама (/ o//w) с отношением интенсивностей этих элементов в эталонах. Абсолютная ошибка определения содержания кобальта составляла 0,5 об. %. Разность результатов определения содержания связующего металла по методике Глаголева и путем измерения отношений интенсивностей не превышала 0,8 об.%. [c.95]

Эти условия будут приблизительно соблюдены для стеклянной трубки, закрытой двумя пробками, из которых одна неподвижна, а другая, слабо подвижная, соединена с острием камертона или другим телом, которое. может сильно колебаться. Если это тело производит колебания, продолжительность которых приблизительно равна продолжительности колебаний собственного тона ограниченного столба возду.ха, то последний пр, ходит в колебания столь интенсивные, что мелкий порошок, насыпанный в трубку, приходит в движение, и положение узлов может быть с точностью определено. Причина того, что ни при каком значении п движение воздуха не возрастает безгранично, заключается в том, что стенки трубки ие, абсолютно тверды, подвижная трубка не вполне плотно пр.шнана и, главное, в трении воздуха. На описанно.м явлении основывается метод Кундта для измерения скорости распространения звука в различных газах. [c.271]

Исследования были проведены на аустенитной нержавеющей стали Х18Н10Т, склонной к интенсивному деформационному старению. Трубчатые образцы диаметром 21 мм и толщиной стенки 1,5 мм испытывали при растяжении-сжатии (частота нагружения приблизительно 1 цикл/мин) на установке типа УМЭ-10 т, снабженной вакуумной системой и средствами исследования микроструктуры на поверхности образца [1]. Указанная установка оборудована также системой управления силовозбудителем для получения двухчастотного режима нагружения (частота около 20 цикл/мин) и автоматическим устройством для программного нагружения с временными выдержками на экстремальных уровнях нагрузки в полуциклах нагружения. Испытания были проведены при моногар-моническом малоцикловом нагружении, при нагружении с выдержкой 5 мин при максимальной (по абсолютной величине) нагрузке в полуциклах, а также с наложением нагрузки второй частоты в процессе выдержки при температурах 450° С и 650° С [2]. При исследованиях структуры использованы методы световой (для определения числа, размера и характера расположения частиц), ионной и просвечивающей электронной микроскопии (для определения характера распределения карбидов и легирующих элементов), электронной микроскопии со снятием реплик с зон изломов, а также методы рентгеноструктурного (для определения степени искаженности кристаллической решетки в зависимости от уровня нагрузки) и рентгеноспектрального анализа. Образцы исследовались в зонах разрушения. [c.67]

В последние два-три десятилетия внимание исследователей в различных областях науки и техники обращено на использование методологии имитационного моделирования на ЭВМ [1]. В связи с этим интенсивное развитие получают методы планирования математических (машинных) экспериментов на ЭВМ [2]. Это обусловлено мнон еством причин, среди которых, по-видимому, главными являются следующие планирование эксперимента вносит определенную логическую упорядоченность в сам процесс исследования, что в свою очередь позволяет уже на предварительной стадии проектирования (исследовательской) получать наряду с высокими абсолютными результатами представления [c.12]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...