Фазовые параметры отражений

Фазовые параметры отражений [c.10]

Рассмотрим область частот, в которой над периодической структурой существует лишь одна распространяющаяся отраженная волна — нулевая гармоника рассеянного поля. Так как в одноволновом диапазоне отражение происходит в зеркальном направлении и с единичной мощностью, то с точки зрения наблюдателя, находящегося в дальней зоне, отражательную периодическую решетку можно заменить некоторой эквивалентной идеально проводящей плоскостью. Положение этой плоскости в пространстве будет определяться arg (Ло) и существенно зависеть от всех параметров. В многоволновом диапазоне (и > (1 + sin ф i ) ), когда над решеткой существует несколько однородных плоских волн, на первый план, естественно, выдвигается изучение энергетических, а не фазовых характеристик отраженного поля. Рассмотрим некоторые наиболее характерные особенности поведения фазы отраженной волны для трех типов отражательных дифракционных решеток гребенки с ламелями прямоугольного сечения (рис. 77, г), эшелетта (рис. 77, а) и решетки из полуцилиндров (рис. 77, д). Для единообразия плоскость 2=0 координатной системы совмещена с плоскостью, касающейся элементов структуры. Прежде всего отметим ряд общих положений. Для длин волн, гораздо больших периода структуры, профиль отдельного элемента решетки практически не сказывается на фазе отраженного сигнала, и отражение происходит практически от плоскости 2=0. При этом Е-поляризованная волна отражается с фазой, близкой к 180°, а Я-поляризованная — с фазой, близкой к нулю. С продвижением в область частот, где длина волны соизмерима с характерными размерами элемента решетки, на фазе отраженного поля начинает сказываться профиль структуры. Как показано ниже, это влияние более существенно в случае [c.136]

Таким образом, величины параметров отраженной и проходящей волн существенным образом зависят от соотношения между удельными волновыми сопротивлениями граничащих сред, причем для коэффициентов отражения н прохождения эта зависимость имеет различный характер. Прежде всего замечаем, что коэффициенты отражения и при любом соотношении между Zj и имеют разный знак. Это означает, что давление или скорость при отражении меняют знак на обратный. Поскольку в формулы (VII.8) и (VII.9) входят переменные (во времени) значения р и v, то изменение их знака прп отражении соответствует изменению фазы на 180°. В проходящей же волне согласно соотношениям (VI 1.9) давление и скорость всегда совпадают по фазе с давлением и скоростью в падающей волне, т. е. и друг с другом. Отвлекаясь пока от фазовых соотношений и учитывая, что формулы (VII.8) справедливы для любых мгновенных значений давления и скорости, в том числе и для их амплитуд, можно ввести обобщенный амплитудный коэффициент отражения [c.144]

Параметры отраженного поля, его энергетические, фазовые и поляризационные характеристики определяются многими факторами [3-5] размерами, конфигурацией, электрическими характеристиками (диэлектрической проницаемостью, затуханием) объекта или его элементов, расположением относительно нанравления облучения, а также параметрами РЛС - длиной волны, излучаемой мощностью, поляризацией передающей антенны и т.д. [c.22]

Было исследовано искажающее влияние нескольких способов деконволюции, широко применяемых на практике нуль-фа-зовая, минимально-фазовая и предсказывающая. Исследованию теоретических и практических вопросов возможностей деконволюции посвящено много работ. Нас же интересовала одна из проблем — как деконволюция изменяет динамические параметры отражений в области аномалий, связанных с залежами углеводородов. Для этой цели использовались синтетические профили с известными параметрами волн и реальные профили, проходящие через месторождения. Сопоставлялись форма и значения аномалий динамических параметров, связанных с известным месторождением, положение аномалий в плане и по глубине до и после применения способов деконволюции. В этих экспериментах принимали участие геофизики стран — членов СЭВ. Ниже [c.50]

Для оценки плотности материала часто используют фазовый проходной метод в диапазоне радиоволн СВЧ. Этот метод базируется на взаимосвязи между контролируемым физическим параметром среды и ее диэлектрической проницаемостью. Если волна распространяется через изделие конечных размеров, то имеет место явление интерференции волн, претерпевших многократное отражение на границах раздела изделие — воздух. Вследствие этого изменение фазы 6 является осциллирующей функцией (е, I), где I — путь. При нормальном падении волны на слой диэлектрика величина осцилляции будет равна [c.246]

Работа прибора основана на определении комплексного коэффициента отражения электромагнитной энергии от полупроводниковой структуры, находящегося в функциональной зависимости от параметров структуры. При контроле в волноводе изменяются фаза и амплитуда стоячей волны. Изменение фазы определяют с помощью специального устройства, имеющего на выходе электронно-лучевую трубку. Компенсация фазовых изменений, вносимых образцом, производится механическим фазовращателем, положение ручки которого при компенсированной фазе показывает реактивное сопротивление измеряемого образца. Стрелочным прибором измеряют амплитуду электромагнитных волн в минимуме и по этому показанию определяют активное сопротивление образца. Размеры щелевого излучателя 4 X X 0,2 мм в 8-миллиметровом диапазоне радиоволн. [c.251]

Зеркальное О. с. характеризуется связью положений падающего и отражённого лучей 1) отражённый, преломлённый и падающий лучи и нормаль к плоскости падения компланарны 2) угол падения равен углу отражения. Совместно с законом прямолинейного распространения света эти законы составляют основу геометрической оптики. Для понимания физ. особенностей, возникающих при о. с., таких, как изменение амплитуды, фазы, поляризации света, используется эл.-магн. теория света, в основе к-рой лежат ур-ния Максвелла. Они устанавливают связь параметров отражённого света с оптич. характеристиками вещества — оптич. постоянными пик, составляющими комплексного показателя преломления п = п — гх п— отношение скорости в вакууме к фазовой скорости волны в веществе, и — гл. безразмерный показатель поглощения. Параметры отражённого света могут быть получены из ур-ния волны, к-рое удовлетворяет решению ур-ний Максвелла [c.510]

В зависимости от выбора параметра радиосигнала, за которым наблюдают при измерении времени запаздывания, различают следующие методы измерения импульсный, частотный и фазовый. В табл. 7.5 показан принцип измерения дальности различными методами. Условные обозначения в таблице ПРД — передатчик ПРМ — приемник с — скорость света Е — энергия Ги — период между импульсами Хш — длительность импульса Д — дальность до цели (объекта) А/м — девиация частоты f — частота модуляции /прд—частота излучения /отр —частота отраженных колебаний ф — фаза. [c.358]

В работе исследовано распространение ударных волн в жидкости с твердыми частицами, температура которых превышает температуру насыщения пара несущей жидкости. Предложена модель для описания этого явления и выведены соотношения на поверхности сильного разрыва в течении рассматриваемой трехфазной среды с фазовыми превращениями. Решена задача об отражении ударной волны от твердой стенки и изучено влияние определяющих параметров задачи на коэффициент ее отражения. Получена и проанализирована структура парового взрыва вдали от места образования, причем основное внимание уделено влиянию тепло- и массообмена на процессы, протекающие в зоне релаксации. [c.720]

Получена замкнутая система соотношений на поверхности сильного разрыва в течении трехфазной дисперсной среды с фазовыми превращениями и расчетные формулы для параметров за скачком. Построены диаграммы критического давления. Получено выражение для изотермической скорости звука в среде. Решена задача об отражении ударной волны от твердой стенки. [c.740]

Ход линий г Тх, Ту) = О на рис. 149, а и 150, а достаточно хорошо можно объяснить путем анализа приближенного условия (5.16). Параметры 2/г// и X для рис. 149 таковы, что при нормальном падении ширина лент меньше половины длины fi-волны в щелях решетки 2hj% g = 0,29), а для рис. 150 параметр 2h превышает Xg V2 на малое значение (2h/Kg — 0,55). При отклонении угла 0 от нормального в любой плоскости Ф, кро.ме ф = О, равенство (5.16) может быть достигнуто за счет изменения обоих слагаемых в левой части. Случай сканирования в плоскости Ф = О эквивалентен частотной зависимости при нормальном падении, когда f j-волна не возбуждается и режим полного отражения отсутствует. Сканирование поперек лент приводит к изменению только arg/ ii, величина которого в первом случае возрастает до значения, достаточного для выполнения условия резонанса (5.16), а следовательно, и получения точки г(Т , Ту) О (рис. 149, а). При переходе к плоскостям сканирования ф<90° величина oi и первое слагаемое в (5.16) уменьшаются поэтому потеря в фазовом набеге 5-волны должна компенсироваться большим значением arg/ n, что возможно при больших углах 0. Этим объясняется тот факт, что линия г(Тх, Ту) = 0, обусловленная эффектом полного отражения Я -составляющей поля падающей волны, для решетки с шириной лент < 0,5,0=0 начинается на коорди- [c.215]

В дальнейшем нам придется столкнуться также с ситуацией, когда углы а, напротив, столь велики, что границы геометрической тени оказываются на значительном удалении от краев экранов, а величины А о всего на один — два порядка превышают X. Отражение от края при этом хотя и оказывается весьма малым, но величина его продолжает оставаться важным параметром очевидно, среди причин, которые могут вызвать дополнительное его снижение, на первое место выходят эффекты фазового рассогласования. [c.98]

Значение дифракционной эффективности решетки, зарегистрированной на материале, существенным образом зависит от того, является ли регистрирующая среда амплитудной или фазовой, тонкой или толстой , осуществляется ли восстановление в проходящем свете или отраженном (табл. 4.1.1). Кроме того, дифракционная эффективность зависит от параметров регистрации средней экспозиции, соотношения интенсивностей интерферирующих волн, режимов и способов обработки материала и т. д. Изучение этих зависимостей для каждого материала является необходимым условием оптимизации голографической регистрации. [c.133]

Оптическая интерферометрия является одним из самых эффективных и широко применяемых методов. Это объясняется тем, что интерференционные методы обладают высокой точностью, возможностью количественной обработки результатов измерений, а также достаточной универсальностью, позволяющей определять такие параметры как толщИну пленки, коэффициент отражения и преломления, фазовый сдвиг, дисперсию показателя преломления и фазового сдвига и т. д. [87, 120, 157 J. [c.230]

В настоящее время уже сложились определенные методы, по которым идет развитие дефектоскопии с помощью полей СВЧ к ним можно отнести амплитудный, фазовый, поляризационный. Широкое распространение получил метод, основанный на измерении электрических параметров образца, помещенного внутрь волновода. Волноводный метод применим только для исследования образцов небольших размеров и только в лабораторных условиях [101]. Значительно большие возможности имеет метод, основанный на регистрации интенсивности прошедшей или отраженной радиоволны в свободном пространстве [115, 143, 145]. При этом просмотр всей поверхности изделия или конструкции осуществляется путем механического сканирования приемо-пере-дающего тракта прибора по его поверхности. Фиксация изображения производится на фотобумагу или фотопленку. [c.61]

В случае акустически ограниченной среды с постоянными физическими параметрами, находящейся в объеме с постоянными габаритами, величина входного сопротивления зависит от габаритов, так как реакция отраженных волн на излучатель, зависящая от их амплитуды и фазы, определяет значение Zbx- В зависимости от степени поглощения волн при отражении от границ объема, занимаемого средой, и в самой среде, а также от числа отражений и их фазовых сдвигов реакция на излучатель может быть различной. Так может оказаться, что, вследствие относительно малой (по сравнению с поверхностью стенок) площади излучателя и значительного поглощения всех отраженных волн, реакция их будет настолько мала, что входное сопротивление практически может быть определено как для акустически неограниченной среды. [c.211]

Характер искажений динамических параметров сигналов при наличии погрешностей коррекции статических поправок проявляется в основном потерей коррелируемости отражений во всем временном интервале и высокочастотных составляющих в спектре сигнала. Даже относительно малый разброс фазового годографа сигнала, менее десятой доли периода сигнала по среднеквадратической оценке разброса, вызывает потерю высокочастотных составляющих спектра и его сужение, а это сказывается на всех кинематических и динамических параметрах отражений. Без надежного контроля таких искажений при обработке данных на ЭВМ (как визуально с помощью разрезов ОГТ, опв, опп, так и на количественном уровне по характеристикам разрешенности и отношению сигнал/помеха) приступать к интерпретации динамических параметров отражений и специальной обработке с целью ПГР нельзя. В противном случае надежность прогнозирования геелогического разреза может быть за пределами доверия. [c.43]

Необходимость специальной обработки поинтервальных параметров отражений вызвана тем, что при оценке параметров отражений возможны погрешности измерений, связанные с влиянием как шумов, так и погрешностей численных методов расчета спектров. Наиболее распространенными погрешностями измерений являются шумы, вызванные недостаточной коррекцией статических поправок и проявляющиеся в локальном по профилю увеличении фазового разброса и уменьшеЕгии уровня энергии отражений. [c.62]

Исследуем отражение и преломление плоской квазимонохро-матической волны, падающей на поверхность пл 1стины толщиной I (рис. 5.26). Рассмотрение будет простым, так как надо лишь установить зависимость разности хода А от геометрических параметров (угол падения волны и толщина пластинки). Более подробное изложение (установление фазовых и амплитудных соотношений, а также поляризация волны) не требуется, хотя, используя формулы Френеля, задачу можно решить сколь угодно полно. Правда, следует помнить, что формулы (2.9)—(2,11) были получены для одной границы раздела между двумя беско- [c.210]

По первичному информативному параметру различают следующие СВЧ методы нераэрушающего контроля амплитудный, фазовый, амплитудно-фазовый, частотно-фазовый, поляризационный, геометрический, временной. Первые пять методов основаны на регистрации одного или двух параметров волн, взаимодействующих с контролируемым объектом амплитуды (интенсивности), модуля коэффициента отражения. или прохождения, фазы, амплитуды и фазы, частоты (длины волны) и фазы, поляризации. [c.217]

В последние годы в связи с широким использованием кольцевых резонаторов возникла острая необходимость в контроле параметров их элементов, таких, как параллельность граней и толщина четвертьволновых пластин, однородность фазовых невзаимных элементов, однородность коэффициента отражения зеркал и т. д. На рис. 126 приведена оптическая схема полуавтоматического эллипсометра для измерения поляризационных свойств (эллиптичности и поворота плоскости поляризации) фазовых невзаимных элементов, используемых в лазерных гироскопах. Свет от лазера ЛГ-126, отразившись от зеркал 10 и пройдя через поляризатор 2, линейно поляризуется. После прохождения через фазовый невзаимный элемент (ФНЭ) 3 происходит поворот плоскости поляризации и возникает эллиптичность излучения. При соответ- [c.205]

Для наклонно падающего света коэф. отражения и поглощения, а также фазовые сдвиги ф при отражении зависят от состояния поляризации света. Для s-поля-ризов. излучения величина коэф. отражения мово-тоЕно растёт с увеличением угла падения а зависимость ВР(а) для р-поляризов. излучения имеет вид кривой с минимумом при а ar os (1/х). При а = О и а = я/2 значения RP и Д соваадают. Вследствие отличия RP от й и фР от ф при отражении от металла наклонно падающей линейно поляризов. волны она становится эллиптически поляризованной. Это используется для определения оптич. параметров кии (см. Френеля формулы). [c.111]

Появление лазеров вызвало интенсивное развитие методов внутр. М, с., основанных на управлении когерентным излучением за счёт изменения параметров лазера. При этом мы. устройства, применяемые как внеш. модуляторы, номещаются внутри оптического резонатора лазера. Используя разл. способы внутр. модуляции, получают любой вид М. с. амплитудный, частотный, фазовый и поляризационный. Частотой излучения лазера управляют, изменяя добротность оптич. резонатора лазера, напр. менян оптич. длину резонатора. С этой целью одно из зеркал резонатора закрепляют либо на магнитострикционном стержне (см. Магнитострикционный преобразователь), либо на пьезоэлементе и изменяют длину резонатора синхронно с модулирующим напряжением. Тот же эффект достигается путём изменения показателя преломления среды, заполняющей резонатор, для чего используется электрооптич. кристалл. Частотную модуляцию излучения лазера можно получить также при наложении на активную среду магн. или электрич. полей (см. Зеемана эффект, Штарка эффект), под действием К-рых происходит расщепление и смещение рабочих уровней атомов, ответственных за генерацию когерентного излучения. Изменяя величину коэф. усиления, получают амплитудную модуляцию излучения лазера. Для этого воздействуют на разность населённостей активной среды, либо изменяя мощность её возбуждения, либо используя всцомогат. возбуждение, приводящее к-перераспределению населённостей. Амплитудная модуляция излучения может быть получена и при помощи модуляции тока разряда газовых или полупроводниковых лазеров, работающих в непрерывном режиме. Одним из методов управления когерентным излучением является модуляция величины обратной связи лазера, т. е. коэф. отражения зеркал резонатора. С этой целью используют резонатор, одно из зеркал к-рого вращается с большой скоростью, и потому условия генерации выполняются лить в короткие промежутки времени. Вместо зеркал часто используют вращающуюся призму полного внутр. отражения. Изменение величины обратной связи можно получить, заменяя одно из зеркал на систему зеркал, образующих интерферометр Фабри — Перо. Коэф. отражения такого резонатора зависит от расстояния между зеркалами, изменяя к-рое можно модулировать интенсивность излучения и получать т. н. гигантские импульсы, мощность излучения в к-рых существенно превосходит мощность непрерывной генерации. Наконец, излучение лазеров также модулируют, изменяя добротность оптич. резонатора путем введения потерь, величина к-рых управляется внеш. сигналом. Для этого используют модуляторы на основе элек- [c.184]

Анализ формул Френеля показывает, что фазовые характеристики отражённой световой волны чувствительнее к изменениям оптич. параметров, чем амплитудные, к тому же измерения фазовых характеристик могут быть проведены с большей точностью, чем амплитудных. Это обусловливает широкое применение Э. отражения. Для анизотропных сред необходимы измерения в неск. плоскостях падения. Для поглощающих кристаллов любых симметрий наиб, общий метод заключается в измерении на одном аншлифе параметров эллипсов при одном угле падения для трёх плоскостей падения и при другом для одной плоскости (5 ]. Более простые методы пригодны лищь для высоких симметрий без поглощения. [c.609]

При профилировании сопла необходимо, естественно, учитывать собственный спектр характеристик, показанный на рис. 8-10 тонкими линиями. За минимальным сечением образуется волна разрежения, в пределах которой и возникает конденсационный скачок. За конденсационным скачком в зависимости от его положения продолжается расширение потока в двух системах волн разрежения, индуцированных конденсационным скачком B tnN и BtriiNi) и стенками сопла ADL A и A DiLA). Как указывалось, профиль сопла на участках DL и DiL строится таким образом, чтобы отраженные характеристики были погашены. При расчете следует учитывать изменение термодинамических параметров паровой фазы в конденсационном скачке. С этой целью используются расчетные соотношения, выведенные в 6-3, или номограммы скачков конденсации. Если предположить, что фазовые переходы в конденсационных скачках не меняют физических свойств паровой фазы и ее последующее расширение происходит с полным переохлаждением, то и на этом участке можно применить метод характеристик для перегретого (переохлажденного) пара. Выходное сечение сопла в этом случае определяется по уравнению неразрывности [c.224]

В теории неравновесных фазовых переходов, сопровождающихся формированием диссипативных структур, центральное место занимает вопрос об условиях реализации стационарных сильно неравновесных состояний. При анализе степени упорядоченности неравновесных систем следует рассматривать не временную эволюцию, а последовательность стационарных неравновесных состояний при изменении управляющего параметра или усиление обратной связи. Степенью упорядоченности открытых систем может служить отношение энтропий при фиксированном значении средней кинетической энергии [19]. Однако при кинетических фазовых переходах условие постоянства средней энергии, как правило, не выполняется. Поэтому необходимо сравнивать знамения энтропии и производства энтропии, нормированные на одно и то же значение средней энергии системы. Это нашло отражение в Х-теореме Климонтовича [19]. [c.22]

Таким образом, микро- и мезоструктуры поликристаллов топологически неэквивалентны, что является отражением стадийности процесса квазиравновесной кристаллизации, кинетика которого в микро- и макромасштабах различна. Параметры, определяющие интенсивность диссипативных процессов при неравновесном фазовом переходе расплава в твердую фазу, зависят от факторов неравновесности, отражающих интенсивность внешних воздействий, например от скорости охлаждения R. [c.284]

Отражения описывают ряд конических поверхностей, которые пересекают цилиндрическую пленку и образуют кольца Дебая—Шеррера. Используется при определении параметров решетки и фазовом анализе. [c.157]

Дифракционная эффективность объемных фазовых ГОЭ наилучшим образом описывается теорией связанных волн, предложенной Котельником [5]. Эффективность может быть высокой как для отражательных, так и для пропускающих элементов. Отражательные элементы характеризуются высоким отражением в узком диапазоне длин волн, причем длина волны, на которой отражение максимально, зависит от угла падения света и изменения толщины регистрирующего материала между записью и использованием элемента. Параметр Q отражательных голограмм приблизительно равен числу интерференционных плоскостей, записанных в твлщине регистрирующего материала [c.639]

Ниже на основе работ [20, 61] проведен детальный "йнализ волновых процессов, протекающих в устройствах на СПЛ с неуравновешенной электромагнитной связью получены выражения для падающих и отраженных волн напряжений, токов, мощностей, распространяющихся по СПЛ. При этом преследуется цель выяснения и обоснования механизма управления параметрами, в частности фазовым сдвигом, в устройствах на СПЛ с неуравновешенной электромагнитной связью. В качестве основного допущения принято, что в СПЛ распространяются квази-Т волны. [c.42]

Показания акселерометров контролировались ультразвуковыми ви-броакустическими преобразователями, информативным параметром при этом являлся фазовый сдвиг между излученным и отраженным сигналами. Экспериментально исследовалось влияние газовых полостей на поглощение внешнего вибросигнала реологическим заполнителем. [c.74]

До сих пор мы сопоставляли кривые распределения давления в деформированной струе с частотными характеристиками эквивалентного излучателя, пытаясь качественно объяснить ход полученных частотных зависимостей. При этом было выяснено, что все изменения частоты генерации весьма удовлетворительно объясняются соответствующими изменениями расстояния между отражающей стенкой резонатора и скачком уплотнения (строго говоря, его средним положением). Поэтому можно считать гипотезу Мерха [24] об определяющем влиянии на частоту указанного расстояния (параметра В) подтвержденной (в том числе и для стержневого излучателя), причем, естественно, что при расчетах такой резонансной системы должны быть учтены фазовые соотношения между отраженной волной и колеблющимся скачком. Согласно представлениям Мерха, частота излучения определяется одинарным или двойным временем прохож- [c.85]

Различие между результатами для длительной и короткой экспозиции связано с множителем [1 — а(й/йо) ]- В случае длительной экспозиции мы имеем а = О, и этот член равен единице. В случае же короткой экспозиции ненулевое значение а приводит к возрастанию ОПФ, особенно когда й приближается к йо- В различных значениях параметра а, отвечающих случаям ближнего и дальнего поля, просто находит отражение то обстоятельство, что изменение фазы, связанное с наклонной компонентой волнового фронта, ие влияет на ОПФ, а сама фаза играет меньшую роль в случае дальнего поля, чем в случае ближнего поля. В ближнем поле вся нечеткость обусловлена фазовыми эффектами, тогда как в дальнем поле только половина нечеткости обусловлена фазовыми возмущениями, а другая половина — амплитрудными эффектами. [c.413]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...