Анализ отражателей

Основными элементами резонатора, определяющими его свойства, являются отражатели ПАВ. Для анализа отражателя воспользуемся эквивалентной схемой, приведенной на рнс. 7.32 и описанной в разд. 7.11.2. Вначале не будем учитывать возбуждения объемных волн и рассмотрим схему, изображенную на рис. 7.32, в, одна секция которой представлена на рис. 8.18. Здесь буквами пир обозначены величины, относящиеся соответственно к необработанной и обработанной поверхностям (металлические полоски, канавки, диэлектрический слой) — характеристические [c.390]

Кроме участия в процессе деления нейтроны претерпевают также упругое и неупругое рассеяние на ядрах, содержащихся в активной зоне, и радиационный захват. Нейтроны замедляются и диффундируют, часть из них утекает в отражатель, часть переходит обратно в активную зону. В результате конкуренции различных процессов устанавливается определенное пространственно-энергетическое распределение нейтронов в активной зоне, которое необходимо знать при проведении детального анализа зашиты. [c.10]

Для анализа пространственного распределения нейтронов в активной зоне широко пользуются односкоростной теорией. Для простоты рассмотрим вначале реакторы без отражателя. Это позволяет не только определить качественные особенности распределения потока, но и получить довольно простые формулы, которые можно использовать в ряде случаев для практических расчетов. Общее односкоростное стационарное уравнение диффузии нейтронов в гомогенной размножающей среде имеет вид [26] [c.35]

При теоретическом анализе используют модели дефектов в виде отражателей правильной геометрической формы (сфера, диск, цилиндр). В экспериментах точно воспроизвести расчетные модели в натуральном образце удается далеко не всегда. Например, практически невозможно выполнить модель дефекта в виде гонкого диска в толще образца. Поэтому при измерениях используют искусственные дефекты в виде полостей правильной геометрической формы с выходом на поверхность образца. Широко применяют также жидкостное моделирование, основанное на подобии процессов распространения продольных звуковых волн в твердом теле и в жидкости (коэффициент подобия где , Сда — скорости ультразвука в металле и жидкости). Основное преимущество этого способа анализа в том, что исследование можно проводить на искусственных дефектах, идентичных расчетной модели. [c.104]

Перейдем к анализу поля рассеяния конкретных отражателей, используемых в качестве моделей дефектов. [c.107]

Локализация контролируемого объема, т. е. уменьшение области, из которой получают информацию (заштрихованная область на рис. 5.47). Поясним это положение. Из анализа данных табл. 5.13 следует, что, если дефект находится в дальней зоне, для повышения отношения сигнал—помеха целесообразно увеличить площадь преобразователя улучшив тем самым его направленность (рис. 5,47, а, б). Физический смысл этого эффекта состоит в том, что выявляемость дефекта на фоне структурных помех повышается с увеличением отношения площади отражающей поверхности дефекта к площади облучаемых ультразвуком кристаллитов металла, участвующих в образовании помех. Это остается справедливым не только для точечных, но и для протяженных дефектов и даже для отражающей плоскости. Дело в том, что эффективно отражающая часть плоскости или протяженного дефекта очень невелика, значительно меньше поверхности озвучиваемых кристаллитов. Поэтому улучшение направленности излучения дает тот же эффект, что и для точечного отражателя. [c.292]

Полученные результаты показали, что все клистроны выдержали облучение без изменения рабочих характеристик. Силоксановая изоляция анодных выводов стала хрупкой и растрескалась, но это не повлияло на работу клистронов. В результате анализа данных установлено, что экранирование кадмием не оказывает сильного воздействия на напряжение отражателя. Однако ток пучка экранированных клистронов остался неизменным, тогда как в неэкранированных лампах он возрос на 18%. Частоты клистронов почти не изменились, хотя в неэкранированных пампах наблюдалось небольшое изменение частоты. Эффективность неэкранированных клистронов возросла приблизительно на 100% во время и после облучения, тогда как эффективность экранированных клистронов увеличилась только на 20%. Сущность этих изменений сейчас трудно объяснить, но тот факт, что клистроны сохранили работоспособность после облучения, свидетельствует о том, что для этого типа ламп порог существенных повреждений не был достигнут. Сведения о влиянии облучения НЭ высокочастотные лампы даны в табл. 7.5. [c.344]

Основными показателями эксплуатационных качеств дефектоскопа являются чувствительность, т. е. минимальная площадь отражателя, расположенного на заданном расстоянии от точки ввода ультразвуковых колебаний и четко регистрируемого прибором дальность действия, т. е. максимальное расстояние, на котором может быть четко обнаружен донный эхо-сигнал разрешающая способность, т. е. минимальное расстояние между двумя дефектами или расстояние между дефектом и донной гранью изделия, при котором эхо-сигналы от них могут быть отмечены индикатором раздельно размер мертвой зоны , т. е. минимальная глубина залегания дефекта, при которой он может быть отмечен индикатором точность определения координат обнаруживаемого дефекта. Перед проведением ультразвуковой дефектоскопии должны быть подготовлены основные данные о контролируемом объекте и предъявляемые требования, затем разработана основная методика контроля и выбраны] параметры дефектоскопа. Настройка проводится по образцам, имеющим искусственные дефекты. Качество контролируемого материала оценивается в результате анализа осциллограмм. [c.214]

В постановке теоретической задачи модель процесса упрощается до плоского потока. Используется также гипотеза об изотер-мичности процесса. В такой постановке задачи справедливы те же расчетные уравнения, что и для несимметричного вальцевания. По кинематическим граничным условиям анализ течения материала в зазоре между ротором и стенкой корпуса аналогичен анализу течения в зазоре между клином — отражателем и валком. [c.140]

Уже из анализа влияния щероховатости поверхности на отражение понятно, что вопрос глубины проникновения излучения в отражатель представляет большой интерес. Оценка толщины слоя, формирующего отражение в рентгеновской области, весьма важна также для целого ряда прикладных задач, о которых пойдет речь в п. 1.6. [c.34]

Преимуществом кристаллов по сравнению с другими отражателями мягкого рентгеновского излучения, как показал проведенный анализ, являются большие углы дифракции и узкие дифракционные пики, что позволяет применить их для построения рентгенооптических схем с большими апертурами и высоким разрешением. [c.313]

Использование ошибки слежения для стабилизации угловой скорости КА. Метод основан jia зависимости ошибки слежения, возникающей при движении вектора So, от угловой скорости КА и на зависимости момента сил солнечного давления относительно оси 0Z от ошибки слежения. Таким образом, момент зависит от j2. В результате анализа [87] положения равновесия показано, что требуемыми зависимостями обладает система поглощающе-диффузно отражающих лопастей в комбинации с системой уголковых отражателей или поглощающе-зеркально-отражаю-щих лопастей. [c.142]

Акустическим трактом называют путь ультразвука от излучателя до отражателя в материале и от отражателя до приемника. Анализ акустического тракта сводится к расчету волновых полей излучателя, отражателя и приемника. [c.68]

Предположим, что отражатели имеют квадратную форму со стороной 2А (рис. 3.8), которая мала по сравнению с расстоянием D = R, гд,е R — радиус кривизны. Величины А н R намного больше длины волны. Из соображений симметрии можно выбрать вектор электрического поля в направлении либо х, либо у. В дальнейшем соответствующий индекс х или у будем опускать. Действительно, если иметь дело со скалярным полем, то все существенные этапы математического анализа задачи можно проследить, используя принцип Гюйгенса. [c.69]

В главах 1 и 2 книги содержатся сведения о турбулентных флуктуациях показателя преломления и методах теории распространения электромагнитных волн оптического диапазона в случайно-неоднородных средах. Специальный раздел посвящен методам решения задач на локационных трассах. В главах 3—6 излагаются результаты экспериментальных и теоретических исследований статистических характеристик поля пучков оптического излучения, распространяющегося в турбулентной атмосфере на связных трассах. Анализируются средняя интенсивность, когерентность, пространственно-временная структура флуктуаций фазы и интенсивности излучения, случайная рефракция оптических пучков в зависимости от турбулентности на трассе и параметров приемной и передающей оптических систем. В главах 7 и 8 рассматриваются результаты исследований распространения лазерного излучения на локационных трассах. Дается последовательный теоретический анализ влияния интенсивности турбулентности, свойств отражающей поверхности и параметров лазерного источника, отражателя и приемника на эффекты, обусловленные корреляцией встречных волн. Систематизируются результаты экспериментальных исследований распространения лазерного излучения на трассах с отражением в турбулентной атмосфере. В главе 9 описаны методы и аппаратура лазерного зондирования атмосферной турбулентности. [c.6]

Рисунок 8.6 иллюстрирует поведение дисперсии смещений оптического изображения плоского зеркального диска в зависимости от положения плоскости наблюдения I за приемной линзой телескопа. Аналогичные результаты имеют место и в случае уголкового отражателя. Сильная зависимость от I связана с влиянием флуктуаций интенсивности. Механизм влияния этих флуктуаций на случайные смещения изображения рассмотрен в п. 6.2. Из анализа выражения для, соответствующего области [c.211]

Корреляционную фуикцию широко применяют при анализе характеристик акустических систем [3]. Рассмотрим активную акустическую систему, используемую для определения местонахождения удаленных подводных объектов. Подобная система в типичном случае генерирует ограниченный по длительности акустический сигнал, который излучается источником в воду. Объекты, подлежащие обнаружению, представляют собой разрыв непрерывности импеданса в воде, при этом часть падающей на объект акустической энергии отражается обратно к источнику. Если предположить, что отражающие объекты — это точечные отражатели и они неподвижны относительно источника излучения, то сигнал, принятый в месте нахождения источника излучаемого сигнала, будет представлять собой задержанный во времени отклик излученного сигнала с амплитудой, уменьшенной в результате потерь при распространении сигнала до объекта и обратно, а также вследствие потерь, учитывающих характеристики отражения объекта—цели. Огибающая типичного излученного сигнала вместе с сигналами, принятыми от двух точечных целей, показана на рис. 8.7, а. [c.196]

Ультразвуковой экспресс-анализ физико-химических процессов может проводиться на принципе измерения скорости распространения ультразвука и величины поглощения (затухания). Предположим, что в сосуде происходит физико-химический процесс. Если концентрация раствора достигнет необходимой величины, то скорость распространения ультразвука в среде будет определенной, то есть время прохождения импульса от излучателя к отражателю и обратно будет соответствовать определенной величине. Если заранее прокалибровать индикатор или составить специальные графики, то можно не только делать отдельные замеры, но и непрерывно следить за процессом и управлять им. [c.111]

Анализ выражения (2.2) показывает, что величина Р7 о может быть представлена как функция двух безразмерных параметров расстояния от преобразователя до отражателя, отнесенного к длине ближней зоны преобразователя, и отношения диаметра диска к диаметру преобразователя. Третий параметр (форма и длительность импульса), влияющий на величину Р7 о в ближней и переходной зонах, выражение (2.2) не учитывает. На основе этого для расчета амплитуды отражения от диска (плоскодонного отвер- [c.110]

Анализ выражения (9.1) показывает, что величина Р /Ро] может быть представлена как функция двух безразмерных параметров расстояния от преобразователя до отражателя, отнесенного к длине ближней зоны преобразователя, и отношения диаметра диска к диаметру преобразователя, Третий безразмерный параметр, [c.122]

Для анализа резонатора удобно ввести понятие эффективного центра отражателя, находящегося на расстоянии 1г от первого (входного) ребра отражателя (рис. 8.20). Это позволяет действительный пространственный отражатель заменить условным плоскостным отражателем с коэффициентом отражения Г/г, расположенным в эффективном центре. [c.393]

Для полного теоретического анализа резонаторов необходимо знать точные значения некоторых параметров ПАВ, например скорости в отражателе, на свободной поверхности, в ВШП, которые, как правило, ие известны. Возможности их экспериментального определения описаны, например, в работе [252]. [c.397]

Количественное описание дисперсионного фильтра с отражателями ПАВ (рис. 9.6) является относительно сложным, поэтому представим основные параметры реализованных фильтров [271] в виде табл. 9.1. Достичь максимальных значений всех параметров одновременно невозможно. Из анализа данных таблицы очевидно, что фильтры с дисперсионными отражателями ПАВ стыкуются с фильтрами с дисперсионными преобразователями ПАВ. [c.430]

Описанный выше способ контроля реакторов называется также поисковым контролем, поскольку он применяется для выявления отражателей (дефектов). Вопрос локализации отражателей при поисковом контроле описан в работе [1392]. Еслн какое-либо показание, обнаруженное при поисковом контроле, ввиду своей амплитуды или длины регистрации должно быть исследовано более подробно, то для его анализа используют другую систему, например фокусирующие искатели (см. главу 19) или установку для акустической голографии ([397, 459] см. также главу 13). Такой метод анализа был уже описан [1362]. Понятие классификации отражателей включает в себя определение гипа отражателя, например плоский он или объемный, как составную часть анализа [1297, 1397, 1423]. Определение глубины отражателей описано в главе 19 и в работах [579, 397] метод ALOK для атомных электростанций описан в работах [100, 102, 391] анализ отражателей освещается и в работе [225]. [c.589]

Состав карбидной фазы стали можно определять по данным измерений радиоактивности осадка. Для этого, например, в хромистую сталь вводится изотоп Сг=1. Изме )яя удельную активность сплава и выделенных фаз, а также зная концентрацию элемента в сплаве, можно определить концентрацию элемента в выделенной фазе. Развирается метод экспрессного химического анализа металлов и сплавов, основанный на том, что степень отражения р-излучепия определяется не только его энергией, но и свойствами отражателя, причем максимальная энергия отраженного излучения растет с ростом атомного номера отраягателя. [c.6]

РАДИОЭХО (радиоотклик) — радиосигнал, отражённый от одного или группы предметов или от области пространства, заполненной средой, способной рассеивать радиоволны, и принятый в том же пункте, где располо-жеио радиопередающее устройство. Отражающими объектами служат как скопления насекомых, птиц и др., так и воздушные слоистые образования, а также вызванные турбулентностью среды неоднородности атмосферы. Анализ Р. входит в задачи радиолокации — определение расстояний до отражателя, его свойств, движений и изменений. Широкое развитие получили методы анализа Р. в физике атмосферы, геофизике и в метеорологии. [c.237]

Ниже рассматривается задача теплообмена излучением в условиях радиационного равновесия в плоском слое поглощающей, излучающей и рассеивающей среды толщиной L граничные поверхности у = О VI у = L поддерживаются при температурах Ti и Ti соответственно. Предполагается, что границы непрозрачные, являются диффузными отражателями и диффузными излучателями и имеют степени черноты ei и ег, и отражательные способности pf и р . В данной задаче требуется определить распределение температуры и плотность потока результирующего излучения в среде. Рассмотрим вначале серую среду, а затем распространим наш анализ на случай несерой среды. [c.305]

И. Н. Ермоловым, А. 3. Райхманом и В. С. Гребенником [21] выполнен теоретический анализ отражения ультразвука от моделей дефектов в виде угловых отражателей и показано, что отраженное от зарубки поле в основном формируется, в результате двукратного отражения ультразвука от дефекта и поверхности изделия (угловой эффект). Непосредственно отраженные от поверхности вертикальной грани зарубки сигналы пренебрежимо малы. Если ширина 6з и высота йз зарубки больше длины поперечной ультразвуковой волны, а отношение 4 ift /ba 0,5 то, как и плоскодонное отверстие, она обладает крутой и линейной зависимостью амплитуды эхо-сигнала от ее площади. При меньших размерах зарубки эхо-сигнал от нее осциллирует по амплитуде. Перерасчет предельной чувствительности плоскодонного отверстия на предельную чувствительность зарубки выполняется по соотношению [c.86]

Если конфокальный резонатор составлен из зеркал одинаковой кривизны (Rx= R2=L), но разных поперечных размеров С1ФС2), то для анализа приходится использовать уравнения несимметричного резонатора (3.16) или (3.18). В этом случае, как известно из [21], собственные волны, оставаясь гауссовыми, деформируются. Размер перетяжки уменьшается, а плоскость перетяжки смещается из центра резонатора в сторону отражателя меньших размеров. Для расчета собственных волн можно пользоваться выражениями (3.29), если вместо действительной длины резонатора Ь ввести эффективную длину [c.65]

Рассматриваются общие свойства распространения электромагаитного излучения и его взаимодействие с веществом, представлены асимптотические методы решения волнового уравнения. Большое внимание уделено анализу распространения света в слоистых периодических структурах (многослойных пленках, металлических и диэлектрических отражателях и интерференционных фильтрах). Изучаются дифракция при распространении света, а также рассеяние света на различных предметах, резонаторы и распространение света в оптических волокнах. [c.4]

Если говорить только о главных приложениях многослойных систем (мультислоев), то следует отметить отражатели сбета, лазерные зеркала, светоделители, оптические фильтры. Современная технология позволяет без особых трудностей получать мультислои для рентгеновского излучения, и уже в нескольких лабораториях были получены зеркала с отражательной способностью порядка 60%. В будущем эти исследования должны оказать влияние на развитие астрономии, источников синхротронного излучения и рентгеновской микроскопии. Хотя наша книга и посвящена оптическому диапазону частот, анализ многослойных систем без больших изменений можно приложить и к рентгеновскому диапазону. [c.7]

В последние годы обработка результатов лазерной локации Луны, полученных при помощи лазерных уголковых отражателей, установленных на лунной поверхности экипажами космических кораблей серии Аполлон (США), привела к необходимости уточнения ряда параметров фигуры и вращательного движения, т. е. физической либрации Луны. Некоторые из этих параметров, а также коэффициенты гармоник третьего и четвертого порядков разложения гравитационного поля Луны, определенные на основе анализа траекторных измерений искусственных спутников Луны типа Lunar Orbiter, приведены в табл. 39 [67]. Коэффициенты разложений компонент физической либрации Луны и аргументы, соответствующие указанным значениям и у и учету влияния вторых гармоник в фигуре Луны, заданы табл. 40 [67]. [c.206]

Анализ больпюго числа конкретных ситуаций позволил получить довольно полное и содержательное представление о роли отдельных факторов при формировании акустических свойств решеток из упругих оболочек. Несмотря на большое различие между рассмотренными расчетны.ми случаями в отдельных деталях, в целом описанные выше результаты позволяют установить однозначную связь между акустическими свойствами решетки и объемной податливостью ее элемента на резонансной частоте Если частота падающей звуковой волны близка к некоторой собственной частоте упругого элемента и соответствующая этой частоте собственная форма колебаний такова, что в процессе колебаний происходит изменение объема элемента, то решетка является эф( )ективным отражателем звука на этой частоте Если же соответствующая собственная форма пе связана с изменением объема упругого элемента решетки, то решетка практически беспрепятственно пропускает звук. [c.219]

Практические применения интерферометров не ограничиваются областью спектрального анализа. Например, для контроля качества изготовления оптических элементов служит интерферометр Тваймана—Грина (рис. 6.11, а), собранный на базе той же схемы. В его измерительное плечо помещается проверяемый оптический элемент. В случае проверки призмы второе плечо просто разворачивают, оставляя в нем плоский отражатель. Для контроля линз или многолинзовых объективов зеркало делают сферическим. [c.109]

Основным способом отображения допплеровского сигнала (весьма разнородного по амплитудному и частотному составу) является допплеровский спектр, получаемый как результат вьщеления интенсивности колебаний в зависимости от их частоты посредством быстрого преобразования Фурье (рис. 3.15). Упрощенно процесс выглядит как бьютрый подсчет колебаний с различными частотами в каждый момент времени, что в дальнейшем служит основой для превращения отдельных фрагментов получаемой кривой в светящиеся с различной интенсивностью (или окрашенные разными цветами) точки на экране, при временной развертке формирующие допплеровский спектр (рис. 3.16). Таким образом, интенсивность (яркость) свечения точек в спектре соответствует количеству частиц (или, точнее, их групп, являющихся элементарными отражателями), движущихся с определенной скоростью (или дающих определенный допплеровский сдвиг частоты) [9, 17, 38, 39]. То же относится к окрашиванию светящихся точек дисплея (пикселей) (рис. 3.17). Следует отметить, что процесс спектрального анализа более сложен, нежели его схема, приведенная выше. Прежде всего это связано с тем, что как излучаемый, так и принимаемый импульсы имеют довольно сложную конфигурацию и в самом простом случае (рис. 3.18, А) в ней выделяется центральный фрагмент (или основной лепесток) и боковые фрагменты (боковые лепестки). При этом совершенно необязательно (рис. 3.18, Б), чтобы импульс был симметричным относительно некой центральной оси. Получение информации в любом случае сопряжено с анализом основного лепестка (его амплитуды, а в некоторых случаях и фазы), боковые же как правило отсекаются . [c.50]

Масштаб (величина шкалы), устанавливаемый в спектральном допплеровском режиме, должен включать все значения скоростей частиц, проходящих через метку контрольного объема (окно опроса). При чрезмерно вьюоком уровне шкалы получаемый допплеровский спектр представляется корректно, однако его анализ затруднен, в связи с чем желательно использовать такие значения, при которых спектр занимает большую часть поля (рис. 3.76). Установление масштаба на уровне ниже максимальных значений анализируемых скоростей движения отражателей приводит к превышению предела Найквиста и возникновению спектрального аПаз1пд-эффекта (единичного при незначительном превышении и множественного при существенном) (рис. 3.77). [c.75]

Естественные дефекты могут иметь самую различную форму, ориентацию и акустические свойства, которые заранее неизвестны, поэтому при анализе эхометода формулы акустического тракта выводят для моделей дефектов в виде полых отражателей простой формы тонкого диска, сферы, цилиндра, тонкой полосы, плоскости и т. д. Физическая реализация некоторых моделей дефектов представляет большие технологические трудности (например, трудно выполнить тонкий диск, не нарушая целостности окружающего твердого материала), поэтому при экспериментах и производственном контроле модели дефектов заменяют [c.107]

НО использовать для изучения любой системы электродов, в частности при исследовании искусственно образованных неоднородностей вблизи поверхности, которые влияют на распространение ПАВ. В следующих разделах этой главы ВШП будут применены, например, для анализа полоскового элемента связи и различных модификаш1й отражателя ПАВ. [c.349]

Метод представления с помощью классического L -фильтра рассмотрим на примере резонансного фильтра, содержащего четыре резонансные полости с отражательной связью и внещними преобразователями (рис. 8.26, а). Из анализа каскадной матрицы отражателя, полученной, например, методом, приведенным в разд. 8.7, следует, что вблизи резонансной частоты /о отражатель, схематически изображенный на рис. 8.27, а, можно заменить резонансным контуром, приведенным на рнс. 8.27,6 [255]. Эквивалентная схема содержит гиратор J (см. разд. 7.7.2) с постоянной [255] [c.401]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...