Оптическая ось зеркальная

Дает зеркальное изображение. Смещает оптическую ось в поперечном направлении на D. Применяется в оборачивающих системах призменных биноклей [c.235]

Отклоняет ось на 180°. вается в параллельных и сходящихся пучках. Смещает оптическую ось на величину а. Дает зеркальное изображение предмета в плоскости чертежа [c.49]

Сканирующее устройство перемещает с постоянной скоростью оптическую ось системы по одной или двум взаимно перпендикулярным координатам. В зависимости от конструкции оптико-механического сканирующего устройства траектория сканирования может быть спиральной, розеточной, прямоугольной и др. Можно использовать сканирующие устройства на основе колеблющихся плоских зеркал, вращающихся зеркальных [c.542]

Сферическое зеркало представляет собой тщательно отполированную поверхность тела, имеющую форму сферического сегмента (рис. УЛ.9). Такое зеркало зеркально отражает свет (У.1.2.5°). Центр С сферической поверхности, нз которой вырезан сегмент, называется оптическим центром зеркала, вершина О сферического сегмента — полюсом зеркала. Любая прямая, проходящая через оптический центр зеркала С, называется оптической осью зеркала. Оптическая ось СО, проходящая через оптический центр зеркала и его полюс, называется главной оптической осью. [c.350]

Взаимодействие фотонов с возбужденными атомами дает лавинообразные потоки фотонов в различных направлениях. Наличие торцовых зеркальных [юверхностей рубинового стержня приводит к тому что при многократном отражении усиливаются свободные световые колебания в направлении оси стержня рубина вследствие стимулирования возбужденными атомами. Спустя 0,5 мс более половины атомов хрома приходит в возбужденное состояние, и система становится неустойчивой. Вся запасенная энергия в стержне рубина одновременно высвобождается, и кристалл испускает ослепительный яркий красный свет. Лучи света имеют высокую направленность. Расходимость луча обычно не превышает О, Г. Системой оптических линз луч фокусируется на поверхности обрабатываемой заготовки (рис. 7.15). [c.414]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

Из всего сказанного видно, что как строгое выполнение правила зеркальной симметрии спектров, так и отступления от него дают ценную информацию об оптических свойствах сложных молекул. Эти данные позволяют судить о строении колебательных уровней невозбужденного и возбужденного состояний молекул, делать заключение о их относительной заселенности и относительных значениях вероятностей поглощательных и излучательных переходов, а также определить значения частот электронных переходов в молекулах. Вместе с тем установление правила зеркальной симметрии и изучение условий его выполнимости заложили основы для создания общей теории связи между спектрами поглощения и люминесценции в молекулярных системах. [c.202]

Рис. I. Схема оптического диска (о) и устройства записи (считывания) информации (б) 1 — стеклянная подложка 2 — отражающий зеркальный с.ипй 3 — прозрачный диэлектрик с низкой теплопроводностью 4 — информационный носитель 5 — прозрачный защитный слой Л — поляризационный оптический светоделитель Д — детектор.

В заключение обратим внимание на таблицы приложения II, содержащие экспериментальные данные о значениях оптических постоянных для ряда материалов, наиболее часто используемых в качестве покрытий для рентгеновской зеркальной оптики. [c.25]

Формула (4.68) аналогична формуле (4.58) для идеального волновода о той разницей, что параметр заменен на эфф> который помимо оптических констант вещества стенок волновода зависит от величин, характеризующих шероховатость поверхности — и а. Иначе говоря, уменьшение мощности зеркальной компоненты происходит теперь не только из-за поглощения в веществе стенок, но и из-за рассеяния на шероховатостях. В частности, при больших высотах шероховатостей из (4.68) получаем [c.153]

Голограммы диффузных объектов более устойчивы к ограничению и квантованию, так как они (см. рис. 5.2) гораздо более однородны, чем голограммы зеркальных объектов (см. рис. 4.10). Информация об объекте на них распределяется по всей площ ади, как и в оптических голограммах с диффузным освеш ением объекта. В результате этого динамический диапазон голограммы сужается и эффекты квантования и ограничения сказываются только на появлении шума диффузности. На рис. 5.3 показано изображение, восстановленное с такой голограммы объекта, фаза коэффициента отражения которого задавалась как псевдослучайная величина, принимавшая с равными вероятностями значения О и зт, чем имитировалась диффузная подсветка объекта. Если бы голограмма записывалась и восстанавливалась без искажений, шума диффузности не должно было бы быть, поскольку при восстановлении случайная фаза, заданная на объекте, никак не фиксируется, а восстанавливается только его яркость, т. е. квадрат модуля амплитуды световой волны . [c.107]

Оптический метод исследования напряжений применяется для решения задач о деформациях в пределах упругости. Однако имеются возможности расширения метода на упруго-пластические деформации, и такая работа сейчас ведется. Основная возможность состоит в том, что зависимости (8.13) между главными показателями преломления и главными удлинениями сохраняют силу и в некотором диапазоне пластических деформаций. Кроме того, имеются косвенные пути, один из которых — метод наклеенных пластинок. На исследуемую модель из металла в виде плоской пластинки с одной отшлифованной поверхностью наклеивается тонкая пластинка из оптически активного материала, предел упругих деформаций которого выше предельной упругой деформации испытуемого материала. Оптическая картина наблюдается в отраженном от зеркальной поверхности образца свете, дважды прошедшем слой оптически активного материала. При этом пластическим деформациям в металле до некоторого предела будут соответствовать упругие деформации в оптически активном слое. Этот метод также находится в стадии разработки. [c.360]

Поскольку изображающая геометрия ГОЭ сравнительно произвольна, то для ее описания удобнее пользоваться векторными обозначениями. Любая точка поверхностной решетки описывается четырьмя лучами. Это входящий луч С, выходящий луч I и два луча О и R, которые определяют структуру, или схему, ГОЭ. Направления этих лучей задаются соответствующими единичными векторами. Модель зеркальных интерференционных полос особенно подходит для лучей О и R, формирующих ГОЭ. Объектный и опорный лучи О и R используются при оптической записи голо-графических элементов. Рассмотренные четыре единичных вектора и единичный вектор S, нормальный к поверхности в рассматриваемой точке, связаны уравнением решетки. Это уравнение можно записать в двух видах, которые удобно использовать на практике, а именно [c.636]

Статистические особенности регистрируемого оптического изображения существенным образом зависят от того, какому световому полю (пространственно когерентному или некогерентному) оно соответствует. Это позволяет, зарегистрировав оптическое изображение, сделать надлежащий вывод, непосредственно о самом световом поле. Такая информация оказывается часто необходимой как для того, чтобы правильно обработать зарегистрированное оптическое изображение, так и для выбора оптимальной обработки самого светового поля. Последнее непосредственно следует из того, что функционалы плотностей вероятностей (см. разд. 1.3) для пространственно когерентных и некогерентных полей имеют различный вид. Источником пространственно когерентного поля являются цели с зеркальной поверхностью, а пространственно некогерентное поле создается объектами с шероховатой поверхностью. Поэтому обсуждаемая задача эквивалентна фактически задаче выявления типа поверхности наблюдаемой цели. [c.98]

Дает зеркальное изобра жение. Смещает оптическую ось в поперечно) -направле )нп на О. Применяется в оборачинаю-щих системах призменных биноклей [c.324]

С целью уменьшения габаритных размеров приборов системы освешения используются смешанные светооптические схемы с раз-дельны.ми режимами освещения (четырехфарные), в которых режим ближнего света реализуется при максимальном КПД системы, — фары с бифокальным отражателем (рис. 6.29) ближнего света. Особенностью конструкции такого отражателя является выполнение отражателя из двух частей с положением фокальных точек по разные стороны от тела накала источника и границей раздела между частями отражателя, зеркально соответствующей форме, создаваемой светотеневой границей светораспределения. При этом отраженный пучок верхней частью (рис. 6.30) отражателя пересекает оптическую ось прибора в результате положительной расфокусировки тела накала, отраженный от нижней части отражателя пучок также будет направлен вниз в результате отрицательной расфокусировки тела накала. Асимметрия светораспределения в данном случае обеспечивается благодаря границе раздела между частями отражателя. Рассеиватели приборов систем освещения с разделенными режимами имеют относительно простую преломляющую структуру. [c.182]

Тщательное исследование индикатрисы отражения металлических поверхностей было проведено Б. Мюнхом, исходя из гипотезы о зеркально-ди узном отражении [102]. Сечение индикатрисы отражения плоскостью падения волны приведено на рис. 60. Для углов ф О наблюдаются симметричные относительно плоскости падения объемные фигуры. В них можно выделить основную часть, приближенно соответствующую закону Ламберта, и пик, определяющий зеркальное отражение лучистой энергии. С увеличением угла падения отражательная способность зер увеличивается. Соотношение между диффузной и зеркальной составляющими излучения зависит от оптической шероховатости поверхности, т. е. от отношения величины микрошероховатости к к длине волны К. [c.250]

ОЧКИ, оптич. прибор, служащий для корригирования (исправления) аномалий рефракции (см.), аккомодации и аномалий мышечного аппарата глаза (см.), улучшающий тем самым зрегше (см.), повышая его остроту. Специальный тип О.—защитные— служат для защиты глаз от возможных повреждений (см. Защитные приспособления). О., служащие для корригирования аномалий глаза, состоят из очковых стекол и очковой оправы. Очковые стекла изготовляют из оптического или зеркального стекла с показателем преломления п=1,523. Очковые стекла не должны иметь свилей, пузырей оптич. натяжения и заметной окраски. [c.272]

Перфл1 к а йетр Л Й1ца показан на фи . 21-20 и 24-27. Оптика ннжнего микроскопа проектирует перекрестие на измерительную плоскость. Над нижним микроскопом , помещен точно такой же микроскоп, имеющий ту же оптическую ось. В пространство между обоими микроскопами медленно подводится <я1 е зга поверхность измеряемой детали, располагаемая параллельно оптической оси микроскопов. При этом в поле зрения верхнего микроскопа наблюдается зеркальное изображение перекрестия нижнего микроскопа, отраженное от поверхности измеряемой детали и точно соответствующее ее форме. Изображения совпадают, если указанная поверхность точно касается оптической оси микроскопов. Величина смещения зеркального изображения перекрестия, отраженного от поверхности, будет вдвое больше смещения самой поверхности точность установки составляет 0.1 мк. Параллельность поверхности относительно оси микроскопов контролируют путем [c.423]

В полостях, в которых отношение размера отверстия к размеру самой полости очень мало. В этих условиях подробности угловых характеристик отражения и излучения стенок не являются критическими, так как общий эффект влияния отверстия мал. В пирометрии по излучению применяют полости удобной формы, и поэтому подробные данные об угловых зависимостях оптических характеристик поверхностей не нужны. Если не учитывать полости, имеющие очень необычную геометрию, то предположение о диффузном, или ламбертовском, характере излучения, как правило, приводит к весьма малым ошибкам, так как только при очень больших углах к нормали это предположение перестает быть верным. Предположение о том, что все материалы диффузно отражают тепловое излучение, значительно менее оправданно. В действительности все металлы и большинство других поверхностей, если они отполированы, являются зеркальными отражателями излучения, и это необходимо учитывать. Методы огрубления поверхности позволяют [c.328]

Схема оптического квантового генератора с вихревым охлаждением активного элемента — излучателя показана на рис. 6.10. Активный элемент I размещен в оправках на оси камеры энергоразделения 2, изготовленной из прозрачного материала — кварцевого стекла. Сжатый газ подается в полость камеры энер-горазделения через тангенциальное сопло в виде интенсивно закрученного потока. На удаленном от соплового ввода конце камеры энергоразделения установлен щелевой диффузор 3. Ось вихревой трубы совмещена с одной из фокальных осей эллиптического отражателя 4. В другой его фокальной плоскости под камерой энергоразделения 2 размешена лампа накачки 5. Эллиптический отражатель 4 имеет зеркальную внутреннюю поверхность. Регулирование интенсивности охлаждения излучателя осуществляется сменой работы вихревой трубы путем изменения щелевого зазора при перемещении подвижной щеки диффузора. Время выхода оптического генератора на установившийся режим определяется теплогенерационными свойствами охлаждаемого активного элемента-излучателя. [c.296]

В оптиметрах используется принцип автоколлимации и оптического рычага (рис, 5.7). Если в фокальной плоскости объектива ОБ (рис. 5.7, а) расположить светящийся объект, например, шкалу, изображение каждого штриха А этой шкалы, расположенного на расстоянии п от оптической оси О, пройдя объектив и отразившись от зеркальной плоскости 377, расположенной под углом 90° к оптической оси, и снова пройдя объектив ОБ, спроецируется также на фокальную плоскость симметрично точке О на расстоянии п = п. Если зеркальную плоскость ЗП повернуть на угол ср к оптической оси, каждое изображе 1ие штриха, например точка О, сместится на расстояние t, определяемое двойным углом отражения 2<р t = F-2 tg rp, где F — фокусное расстояние объектива, В оптиметрах (рис. 5.7, б) перемещение h измерительного наконечника ИН приводит к повороту зеркала ЗП на плече а, поэтому передаточное отношенне оптического рычага (при малых угла ср) [c.120]

В случае оптического квантового генератора зеркальный резонатор создает положительную обратную связь между полем излучения и источником его энергии — активной средой ). Зеркала резонатора обеспечивают многократное распространение (и тем самым усиление) светового потока в активной среде. Это необходимо и для самовозбуждения генерации, и для ее поддержания. Однако роль резонатора в работе лазера не исчерпывается повышением плотности энергии поля в активной среде. Согласно указанной выше аналогии, для возникновения автоколебательного режима обратная связь должна быть положительной. Другими словами, должна иметь место строгая сннфазность колебаний, уже существующих в системе и приходящих по каналу обратной связи. Подобные соображения применимы и к оптическим квантовым генераторам, о чем будет идти речь в 228, 229. [c.783]

Отражение (как и пропускание) может быть регулярным (направленным), диффузным и смешанным. Яркость идеального диффузно рассеивающего ОК (ламбертовский источник) одинакова во всех направлениях. Его сила света в зависимости от угла равна 1а = /о os а. Для ОК с зеркальным отражением яркость максимальна в направлении, определяемом оптическим законом отражения. [c.50]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран. [c.95]

В гл. VIII наложена возможная методика классификации оптических систем (в частности, зеркально-лиизовых объективов), которая почти без изменений может бьггь нспользована для поисков фотографических объективов. В качестве признаков, по которым ведутся поиски, можно назвать следующие фокусное расстояние апертурное число в пространстве изображений спектральная область линейное увеличение угол поля зрения диаметр кружков рассеяния в угловой мере для точки иа о сн и для точки на краю поля число компонентов и число поверхностей число асферических поверхностей (разбитое на число поверхностей [c.259]

Если W = О, то Р обязательно должно равняться нулю однако, если Р О, W может быть любым. Параметр aj— i, пропорциональный оптической силе первой лннзы, может быть выбран. произвольно он влияет только на аберрации высших порядков афокальногй компенсатора. В первом приближении его выбирают таким, чтобы ни одни нз радиусов компенсатора не оказался слишком крутым. Окончательный выбор значения этого параметра определяется по результатам расчета хода лучей в зависимости от требований к качеству системы. Когда компенсатор находится впереди зеркальной системы, Oj = О и формулы для W к Р несколько упрощаются [c.350]

Таблицы Хенке представляют собой компиляцию и экстраполяцию имеющихся расчетных и экспериментальных данных по поляризуемости атомов. При переходе от атомной поляризуемости к диэлектрической проницаемости используется ряд предположений о структуре материала, его плотности, характере межатомных взаимодействий и т. п., которые обсуждаются в п. 1.2. Поэтому для справок в дополнение к таблицам Хенке в качестве приложения II нами дана составленная А. Я- Грудским подборка экспериментальных значений оптических констант материалов, наиболее часто применяющихся в качестве покрытий для зеркальной рентгеновской оптики. [c.10]

В работе [45] приведены расчеты характеристик телескопов, имеющих зеркальные системы скользящего падения типа вольтеровской первого рода, аналогичной использованной в телескопе 8-056 станции Скайлэб (D = 24 см, Р = 190 см), и типа систем Вольтера—Шварцшильда (два совмещенных объектива с Э = = 37,4 си, О = 33 см и 7 = 128 см) с дополнительными зеркалами с МСП. Рассматривались зеркала с МСП вогнутой эллиптической или выпуклой гиперболической или сферической формы. Во всех случаях при коэффициенте дополнительного увеличения 2—6 разрешение в поле зрения 10—15 оказалось лучше 1", при этом эллиптическое и гиперболическое зеркала дают на оптической оси идеальное изображение, сферическое — с разрешением 0,2— 0,6". По данной схеме в космическом центре им. Маршалла (США) разработан ракетный телескоп для исследования Солнца, в котором используются указанный выше объектив Вольтера—Шварц- [c.206]

В схеме прибора предусмотрен ряд устройств для юстировки. Так, правильная установка образца, обеспечивающая выход и попадание зеркально отраженного пучка на приемник 10, достигается с помощью системы зеркал 11 и приемника 1, а установка приемника 8 в точку, где собираются отраженные от зеркала 7 лучи, осуществляется визуально с помощью оптического устройства 4, снабженного волоконной оптикой. В ряду приборов отметим установку [42], где реализован относительный метод измерения TIS, и измерение а проводится сравнением с эталонным образцом, среднеквадратичная шероховатость поверхности которого измерена с максимальной точностью. Установка для измерения TIS с фотометрическим шаром фирмы Балзерс схематично изображена на рис. 6.6, где излучение от Не—Ne-лазера 1, проходя прерыватель 2, ослабитель 3 и апертуру 4, падает на поверхность исследуемого образца 5. Зеркально отраженный поток выводится из фотометрического шара через отверстие 9. Интегральное значение рассеянного потока с детектора 8 поступает на синхронный усилитель 6, куда одновременно поступает опорный сигнал падающей интенсивности. Сигнал с синхронного усилителя пропорционален отношению /о//д, входящему в формулу (6.11). Измеренное значение а индицируется на цифровом вольтметре 7. Значения а порядка 0,5 нм были измерены с помощью описанной установки фирмы Балзерс в работе [37]. Как было показано в работе [30 ], метод позволяет проводить измерения а и не дает возможности определения параметров поверхности в плоскости (X, У). Это ограничение метода TIS было преодолено в приборе, в котором была обеспечена возможность измерения углового [c.237]

ОР — лишь одна из областей, где возможно использование полученных результатов. Не перечисляя всех из них, отметим еще одну. Это диплек-серы микроволнового диапазона и мультиплексеры оптических линий связи. Близкое расположение (по частотному параметру х) областей с высоким уровнем концентрации энергии в незеркальной W-i 1) и зеркальной гармониках О для зоны 2, М)) позволяет создавать на основе соответствующих решеток устройства с высокой разрешающей способностью по частоте, высоким коэффициентом отбора энергии и разделением по углу излучения, близким к 90°. [c.193]

В силу всех этих обстоятельств как схема, изображенная на рис. 4.8в, так и полностью ей эквивалентная схема угловой селекции с зеркальным телескопом (рис. 4.8г), предложенная одним из авторов [36] - О.Б. Даниловым — еще в конце 60-х годов, применяются и поньше. Небезынтересна также разновидность подобных схем с нерезонансной обратной связью [103] (рис. 4.8d), которую можно использовать при огромном усилении в активной среде. Нерезонансная связь делает лазер практически не-разъюстируемым и резко повьш1ает стабильность его работы в условиях изменяющихся во времени оптических неоднородностей. [c.225]

Документация о лабораторном оборудовании, данных исследований и деталях экспериментов в лаборатории Баушингера необычайно полна. Баушингер нумеровал свои опыты последовательно. В трактате 1886 г. упоминается 3678 опытов, выполненных начиная с 1875 г. (номера опытов в этом году были от 938 до 1000) и кончая опытом 4615, датированным ноябрем 1885 г. В некоторые месяцы он проводил на одной машине до 150 испытаний, каждое из которых требовало сложной настройки оптического экстензометра — иногда несколько раз за один эксперимент. В 1886 г. Баушингер дал Кеннеди (Kennedy [1887, 1]) описание своего лабораторного оборудования для предстоявшего большого исследования, озаглавленное Использование и оборудование инженерных лабораторий 1) 100-тонная испытательная машина Вер дера, снабженная прибором с зеркальным экстензометром Баушингера (это было основное оборудование, на котором выполнено около 5000 опытов) 2) машина типа Вёлера для испытаний на усталость при растяжении 3) машина типа Вёлера для циклического изгиба 4) машина для изгиба пластин 5) машина для испытаний материалов на износ 6) приспособление для испытаний цемента на 100-тонной машине Вердера 7) механические станки для изготовления образцов с приводом от двигателя Отто в две лошадиные силы. [c.54]

В работах [165-166, 170] была продемонстрирована возможность измерения методом спекл41нтерферометрии наклона 1 едеформируемого диффузно рассеивающего объекта независимо от его поперечного переме щения. В частности, в [165-166] зта возможность достигалась за счет коллимированного освещения о екта и регистрации спекл-картины в заднот фокальной плоскости положительной линзы. В [170-171] показано, что этого же можно достичь, не прибегая к коллимированному освещению, фокусируя регистрирующую фотокамеру на плоскость, в которой находилось бы зеркальное изображение освещающего источника, отраженного в исследуемой поверхности, а также освещая обьект в направлении, близком к оптической оси фотокамеры. [c.160]

Советская промышленность уже в 1975 году освоила серийный выпуск лазеров различных типов, серий ГОС и ГОР, серии ЛГ и др. Они демонстрировались на iMho-гих международных выставках, и вызывали всеобщий интерес [4, 5, 6]. Ускоренными темпами развивалась лазерная техника и в США, Франции, Англии, Италии, ФРГ. В новое научное направление вовлекалось все больше ученых и исследователей. Они принесли новые идеи, часть из которых оказалась давно забытыми старыми. Так, например, использование схемы эксперимента А. Майкельсона, который он приводил еще в npomJioM веке, привело к созданию лазерного гироскопа, а точнее, датчика угловой скорости вращения (ДУС), который отличается от роторного более высокой точностью, широким диапазоном измеряемых скоростей, практически мгновенным включением в работу (не нужно время на раскрутку ротора), малой чувствительностью к перегрузкам [7, 8]. Эти приборы стали использовать в системах навигации и стабилизации. Для решения ряда научных проблем были построены различные локаторы и дально-. меры с лазером в качестве источника излучения. Например, при проведении локации Луны локатор был размещен в Крымской обсерватории и им осуществлялось зондирование поверхности Луны. С тем, чтобы получить отраженный сигнал значительной мощности, на Луну был доставлен зеркальный отражатель, изготовленный французскими учеными и техниками [9, 10]. О высокой точности лазерной локации говорит такой эксперимент.. Он был выполнен сотрудниками обсерватории Мишель де Прованс по американскому спутнику Эксплорер-22 . Этот спутник был также оснащен зеркальной панелью, состоящей из 360 оптических элементов. В локаторе в качестве источника излучения использовался рубиновый лазер. После обработки результатов локации выяснилось, что в момент измерений наклонная дальность от локатора до спутника составляла 1571 км 992 м. Причем это Расстояние было измерено с ошибкой всего 8 м. Такой эксперимент дает ученым возможность составить более правильное представление о форме Земли и о распределении поля тяготения. И если раньше считалось, что поле тяготения имеет сферическую форму, затем стали говорить об эллиптической форме, то теперь о поле тяго- [c.6]

Возбуждение эмиссионного спектра аэрозолей осуществляется электроионизационным СОг-лазером, представляющим собой модифицированный вариант разработки [15] в малогабаритном транспортируемом исполнении. Максимальная энергия в импульсе генерации лазера достигает 500 Дж длительность главного пика генерации на полувысоте и длительность заднего фронта равны соответственно 0,3 и 1,5 мкс диаметр пучка ПО мм. Перед выходом в атмосферу лазерный пучок формируется оптической зеркальной системой Кассегрена с диаметром большого зеркала 2/ о=500 мм (парабола) и малого 2/ 2=И0 мм (гипербола). Перестройка фокусного расстояния в диапазоне fo=50- 250 м, определяющая дальность зондирования, производится перемещением малого зеркала. Сканирование по углу места осуществляется поворотом телескопа относительно горизонтальной оси, совмещенной с оптической осью лазерного пучка и центром поворотного [c.198]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...