Зеркальных отражений метод

Применение метода последовательных отражений к цилиндрической полости, имеющей вогнутое коническое основание, было исследовано в работе [11] для случаев изотермической и неизотермической полостей с диффузным и смешанным диффузно-зеркальным отражением. Сложность таких вычислений ограничивает число членов ряда до двух, тем не менее они оказались полезным руководством при конструировании полостей из материалов с низкой отражательной способностью. [c.341]

Эхо-зеркальный метод основан на анализе акустических импульсов, зеркально отраженных от донной поверхности [c.197]

Разобрать задачу о зеркальном отражении и преломлении плоской волны на плоской границе по методу зон Френеля. [c.874]

Как уже отмечалось в гл. П, пластическая деформация кристаллических тел может осуществляться не только скольжением, но и двойникованием. Двойникование для кристаллов с о. ц. к., г. ц. к. и г. п. у. решетками можно наблюдать при особых условиях деформирования. При этом металлографическими способами выявляются области, иначе травящиеся, чем окружающий матричный кристалл. Отличительными признаками этих областей являются прямолинейность и строгая кристаллографическая направленность двух параллельных границ. Дифракционными (рентгеновскими и др.) методами установлено, что эти области закономерно отличаются своей ориентировкой и расположением атомов относительно матрицы. Расположение атомов внутри этой области представляет собой зеркальное отражение расположения атомов в матричном кристалле (см. рис. 77,а). Плоскости зеркального отражения, пересечение которых с плоскостью шлифа имеют вид прямолинейных границ, являются плоскостями двойникования. Так, на рис. 77,а п б плоскостью двойникования является плоскость (112). Переориентированные области называют двойниками, а процесс их образования двойникованием. Двойники в кристаллах делятся на двойники роста (рост кристалла из расплава, в процессе рекристаллизации и отжига) и деформационные двойники. Двойникование при деформации — один из механизмов сдвиговой деформации. Для деформационного двойникования характерны высокие скорости и выделение энергии в форме звука с характерным потрескиванием в процессе деформации кристалла. Двойникование сопровождается скачкообразным изменением деформирующего усилия, [c.131]

Шестая глава посвящена методам решения некоторых задач теплообмена излучением, часто возникающих при проведении инженерных расчетов. Рассмотрены методы расчета лучистого теплообмена в системе поверхностей с зеркальным и диффузным отражением. Подробно разбираются основные идеи метода Монте-Карло и принципы его программной реализации применительно к задачам определения угловых коэффициентов для диффузного отражения и разрешающих угловых коэффициентов для диффузно-зеркального отражения. При изложении шестой главы в основном используется только материал первой главы. [c.5]

Возникает естественный вопрос, какая процедура, использующая метод Монте-Карло, лучше статистическое интегрирование, приводящее к формуле (6.22), или статистическая имитация. Применительно к расчету угловых коэффициентов ф можно привести соображения о некоторых преимуществах статистического интегрирования. Однако если решать рассматриваемую ниже более общую задачу расчета разрешающего углового коэффициента с учетом зеркальных отражений, то следует отдать предпочтение статистической имитации. Итак, перейдем к анализу лучистого теплообмена при наличии поверхностей с зеркальным отражением. [c.195]

Зеркально-теневой метод основан на ослаблении сигнала, отраженного от Противоположной поверхности изделия (донного сигнала). [c.201]

Определение образа выявленного дефекта. Целью НК является не только обнаружение дефектов, но и распознавание их образа для оценки потенциальной опасности дефекта. Методы визуального представления дефектов эффективны, когда размеры объектов (дефекта в целом или его, фрагментов) существенно превышают длину волны УЗК. Кроме того, эти методы требуют применения довольно сложной аппаратуры. В практике контроля дефекты идентифицируют по признакам, рассчитанным по измеренным характеристикам дефектов посредством дефектоскопов с индикатором типа А. Словарь признаков приведен в табл. 16, где t/д, t/д (а , t/д/ — амплитуды эхо-сигналов от дефекта при контроле сдвиговыми волнами с углом ввода o q и а. и продольными волнами с углом, ввода а соответственно Uo, Uq ( з), Uoi — амплитуды эхо-сигналов от цилиндрического отражателя СО № 2 (№ 2а) — амплитуда эхо-сигнала сдвиговой волны, испытавшей двойное зеркальное отражение от дефекта и внутренней поверхности изделия ( о) и Яд(ос2) — координаты дефекта при угле ввода о и 2 соответственно А1д, АХд, АЯд — условные размеры (протяженность, ширина и высота) дефекта ALq, АХо, АЯо — условные размеры ненаправленного отражателя на той же глубине, что и выявленный дефект Уд — угол ориентации дефекта в плане соединения (азимут дефекта), Ауд. ц, Ауд. к— углы индикации дефекта в его центре и на краю соответственно при поворотах преобразователя от центра дефекта Ауд—угол индикации бесконечной плоскости на заданном уровне ослабления при повороте искателя в одну сторону б — толщина соединения I — расстояние от точки выхода луча до оси объекта. [c.243]

Контроль акустический — Акустические свойства сред 191 — 196 — Классификация методов 201—204 — Оборудование см. по. названиям, например Преобразователи пьезоэлектрические — Основные понятия 189—191 — Схемы отражения и преломления акустических волн 196 — 201 — теневой — Виды помех п помехоустойчивость 253 — Общие принципы разработки методики контроля 253 — 263 — Основные положения 249, 250 — Особенности зеркально-теневого метода 251—253 — Расчет ослабления амплитуды сигнала 250, 251 [c.350]

Зеркально-теневой метод основан на измерении амплитуды донного сигнала. На рис. 2.4, а отраженный луч условно смещен в сторону. По технике выполнения (фиксируют эхо-сигнал) его относят к методам отражения, а по физической сущности контроля (измеряют ослабление сигнала, дважды прошедшего изделие в зоне дефекта) он близок к теневому методу. [c.97]

Сначала рассмотрим рассеяние на плоском отражателе. В общем случае волна падает на него под углом 3 ,. Поскольку при 26 и 2 > А, падающую волну можно считать плоской, для расчета Q(, применим апертурный метод, согласно которому источником зеркально отраженного сигнала формально считается эквивалентная апертура, представляющая собой проекцию отражателя на плоскость, перпендикулярную оси отраженного поля. Площадь апертуры дискообразного и прямоугольного отражателей = St os 3f , где 5 — действительная площадь отражателя os Рй = sin ( 1 — фй) — см. рис. 2.6. [c.108]

Зеркально-теневой метод. Основной информационный параметр при контроле этим методом — ослабление амплитуды отражения от противоположной поверхности (дна) изделия. Существуют несколько способов контроля зеркально-теневым методом 131 ]. Перечислим основные нормальным преобразователем по ослаблению первого (рис. 2.14, а) и п го (рис. 2.14, б) донных сигналов продольной волны (чаще всего п == 2) двумя наклонными преобразователями по ослаблению донного сигнала поперечной (рис. 2.14, й) и продольной (рис. 2.14, г) волн. [c.120]

Помехи, действующие при контроле теневым методом, проявляются также и при контроле зеркально-теневым методом. Непа-раллельность поверхностей изделия вызывает большее ослабление донного сигнала, чем сквозного, поскольку отраженный луч сильнее смеш,ается от акустической оси. Еш е сильнее эти помехи сказываются на качестве контроля по второму донному сигналу. Влияние помех уменьшается при использовании преобразователя с широкой диаграммой направленности. [c.122]

Наиболее распространенный объект контроля зеркально-теневым методом — железнодорожные рельсы. Метод обеспечивает обнаружение дефектов, дающих слабое обратное отражение, ориентированных перпендикулярно поверхности качения, которая служит поверхностью ввода. При контроле рельсов возникают помехи вследствие поперечного смещения преобразователя. При этом акустическая ось не совпадает с осью поперечного сечения рельса. В результате часть энергии не входит в шейку рельса, оставаясь в его головке. Экспериментально установлено, что эти помехи уменьшаются при использовании преобразователей [c.122]

Помехи от многократных отражений. При контроле эхо- или зеркально-теневым методами в иммерсионном варианте возникают ложные сигналы в результате многократных отражений УЗ-импульса в иммерсионной жидкости между поверхностями изделия и преобразователя. При малой толщине слоя иммерсионной жидкости эти сигналы приходят раньше, чем сигнал, отраженный от донной поверхности изделия. [c.284]

Упругие свойства зерен, соединенных в плоскости сварки через оксидную пленку, а также их ориентация, форма и размеры отличаются от соответствующих параметров зерен качественного соединения. Эта особенность может быть использована при выявлении дефектов контактной сварки типа оксидных пленок. Экспериментально установлено, что при взаимодействии УЗ-волн, направленных в металл под углом 50 к плоскости сварки, амплитуды зеркальных сигналов от дефектов типа оксидных пленок превышают амплитуды сигналов структурных шумов бездефектного шва. Поскольку такие дефекты являются плоскими и характеризуются в основном зеркальным отражением, для их обнаружения рекомендуется применять зеркальный эхо-метод контроля по схеме тандем, т. е. прозвучивание шва двумя преобразователями, расположенными с одной стороны шва друг за другом при этом один преобразователь излучает УЗ-колебания, другой — принимает. [c.357]

При зеркально-теневом методе признак обнаружения дефекта — уменьшение интенсивности отраженной от противоположной поверхности изделия УЗ волны, проходящей в нем от излучателя к приемнику. [c.25]

А. В. Погорелов рассматривает выпучину оболочки как зеркальное отражение сегмента ее поверхности в секущей плоскости (см. П о г о р е-лов А. В. Геометрические методы в нелинейной теории упругих оболочек.— М. Наука, 1967). [c.420]

Признаком обнаружения дефекта при зеркально-теневом методе контроля является уменьшение амплитуды ультразвукового сигнала, отраженного от противоположной поверхности (см. рис. 5.21,6). [c.505]

Ниже рассматривается метод приближенного аналитического Исследования свободномолекулярного течения пара с учетом поверхностной диффузии в цилиндрическом капилляре, ограниченном с одной стороны (Х = 0) плоской поверхностью испаряющейся жидкости, а с другой (X = L)—соединенном с резервуаром, заполненным парами этой жидкости. Поверхность жидкости характеризуется коэффициентом зеркального отражения а. [c.338]

При зеркально-теневом методе признаком обнаружения дефекта является уменьшение интенсивности (амплитуды) ультразвуковой волны, отраженной от противоположной поверхности изделия (рис. 180, 6). Отраженный сигнал называется донным. Метод не требует двустороннего доступа к контролируемому изделию, позволяет более достоверно выявлять корневые дефекты в стыковых швах, помехоустойчив, применяется для изделий небольшой толщины с грубо обработанной поверхностью. Однако точность определения координат дефекта и при этом методе невысока. [c.351]

Стыковые и тавровые соединения контролируют, как правило, эхо-методом, совмещенным пьезопреобразователем с углом ввода Р = 30..,40°, реже 50°. При толщине изделия свыше 150 мм прозвучивание ведут с двух его противоположных поверхностей. Нахлесточные соединения контролируют однократно отраженным лучом со стороны основного листа, пьезопреобразователь включают по совмещенной схеме. Таким образом выявляют трещины, непровары вертикальной кромки и корня шва. Для обнаружения горизонтального непровара лучше применять зеркально-теневой метод, включая пьезопреобразователь по раздельной схеме. [c.353]

Зеркально-теневой метод (рис. 30.1, в) является своего рода комбинацией двух предыдущих. Приемником фиксируется уменьшение отраженного импульса от данной (зеркальной) поверхности, которое тем больше, чем больше размеры дефекта. [c.549]

МЕТОД ЗЕРКАЛЬНЫХ ОТРАЖЕНИЙ [c.107]

Сущность этого метода становится очевидной при рассмотрении отражения излучения между двумя плоскими поверхностями А и Аг (фиг. 3.17). Примем для простоты, что поверхность Ai отражает диффузно, а поверхность Лг —зеркально, причем обе они излучают диффузно. Рассмотрим диффузное излучение элементарной площадки dAi.na поверхности Ai, падающее вновь на Ai после зеркального отражения от Л2 (фиг. 3.17). Прослеживая ход лучей, обнаруживаем, что излучение, испускаемое dAi, достигает Ai после одного зеркального отражения от, Лг, как если бы оно исходило от диффузного источника йАщ), являющегося мнимым изображением dA относительно поверхности Ла. Этот факт составляет основу метода мнимого изображения. [c.162]

Законы Факсена см. Факсена законы Зеркальных отражений метод 107— 108 [c.614]

Возникает вопрос о том, как учесть влияние 1 раницы. Если рассеяние на поверхности полностью хаотично, то электроны, покидающие поверхность, в среднем не будут нести импульса, параллельного поверхности. Эквивалентное распределение может быть получено в бесконечной среде, если положить Е равным нулю везде за границей. Этот вывод приводит к интегрированию уравнения (17.7) по физическому объему. В случае зеркального отражения от границы картина более сложная. Плоская поверхность может быть рассмотрена методом зеркального изображения. Если среда занимает полупространство. г > О, то можно считать, что Е(—х, у, z) = E x, у, z), и вести интегрирование по всему объему. В модели, рассматривавшейся Рейтером и Зондгеймером, предполагалось, что зеркально рассеивается некоторая часть р электронов, а часть 1 — /> рассеивается диффузно. Экспериментальные данные свидетельствуют о том, что р = 0. [c.706]

ЭхО Зеркальный метод основан на анализе сигналов, испытавших зеркальное отражение от донной поверхности изделия и дефекта (путь AB D) (рис. 6.22, б). Вариант этого метода для выявления вертикальных дефектов (в плоскости EF) называют тандем-методом. При этом перемещение преобразователей А и D поддерживается при постоянным значении + 1д= 2Htg I. [c.173]

Зеркальный эхо-метод основан на зеркальном отражении импульсов от дефектов, ориентированных вертикально к поверхности, с которой ведется контроль (рис. 22, а). Для этого наклонные преобразователи (Л и С) располагают по разные стороны изделия (/(-метод) или по одну сторону изделия (А и В), используя отражение от нижней поверхности. Это повышает надежность выявления непрова-ров и трещин в сварных швах. В процессе контроля с помощью механических или электрических устройств выполняется условие 1а + Id — onst. [c.201]

Сварные точки контролируют зеркально-теневым методом (рис. 71). Признаком отсутствия сварки является приход донного сигнала от первого листа к приемному преобразователю. Перемещая преобразователь по поверхности изделия, определяют размеры сварной точки. Недостатком данного способа является невозможность отличить наличие литого ядра (важнейший признак хорошей сварки) от слипания. Этим недостатком не обладают способы контроля в процессе сварки. Один из способов следующий в верхний лист вводится нормальная волна, которая испытывает отражение от расплавленного ядра в момент его образования. По интервалу времени от момента появления эхо-сигнала, сообщающего о начале формирования ядра, до момента выключения сварочного тока можно оценить размеры ядра. Согласно другому способу излучающий и приемный преобразователи. встроены в электроды сварочной машины. Контроль ведут теневым методом. В момент сжатия свариваемых листов электродами через зону сварки проходят УЗ К. В момент образования распла- [c.262]

Зеркальным эхо-методом анализируют сигналы, зеркально отраженные от донной поверхности изделия и дефекта, т. е. прошедшие путь AB D (рис. 2.3, б). Вариант этого метода, связанный с выявлением вертикальных дефектов в плоскости EF, называют методом тандем, для реализации которого при перемещении преобразователей 2, 4 поддерживают постоянным значение 1а f-B = 2Я tg а для получения зеркального отражения [c.95]

Зеркальный эхо-метод применяют также для выявления дефектов, ориентированных перпендикулярно поверхности ввода. Им выявляют более мелкие дефекты, чем зеркально-теневым, но при этом требуется, чтобы в зоне расположения дефектов был достаточно большой участок ровной поверхности (см. рис. 2.3, б). При контроле рельсов, например, это требование не выполняется, поэтому возможно применение только зеркально-теневого метода. Дефект В можно выявить совмещенным наклонным преобразователем, расположенным в точке А. Однако в этом случае зеркально отраженная волна уходит в сторону и на преобразователь попадает лишь слабый рассеянный сигнал. Преобразователи, расположенные в точках С илиВ, обнаруживают дефект с более высокой чувствительностью. [c.100]

Структурные помехи связаны с рассеянием ультразвука на структурных неоднородностях, зернах материала. Их часто называют структурной реверберацией. Импульсы, образовавшиеся в результате рассеяния ультразвука на различных неоднородностях и приходящие к приемгшку в один и тот же момент времени, складываются. В зависимости от случайного соотношения фаз отдельных импульсов они могут усилить или ослабить друг друга. В результате на приемнике прибора структурные помехи имеют вид отдельных близко расположенных пиков (их иногда сравнивают с травой), на фоне которых затруднено наблюдение полезного сигнала. Структурные помехи —основной постоянно действующий фактор, ограничивающий чувствительность при контроле методами отражения, а также комбинированными, связанными с наблюдением отраженных сигналов. Довольно часто структурные помехи превышают донный сигнал, исключая тем самым возможность применения эхо- или зеркально-теневого метода. [c.287]

Рефлектометрический метод и прибор. Известно, что шероховатость поверхности является одним из основных факторов, определяющих соотношение между зеркально отраженным и диффузионно рассеянным светом. Для идеально рассеивающей среды известен закон Ламберта [c.120]

Электрическая схема-аналог и метод моделирования остаются точно такими же, как и в рассмотренном ранее случае изотропного объемного и поверхностного рассеяния. Нетрудно убедиться в том, что когда зеркальная отражательная способность тел будет отсутствовать (/Кзер) = 0, 1 = 1, 2,. .п), все отмеченные новые величины для диффузно-зеркального отражения переходят в обычные, характерные для диффузно-отражающих тел. [c.297]

Если оптич. свойства поверхностей имеют селек-THBHbiii характер, т. е. зависят от длины волны излучения, ур-ния (3) разрешаются относительно моно-хроматич. (спектральных) потоков излучения для разл. спектральных интервалов, носле чего соответствующие интегральные характеристики получают интегрированием по спектру. Наиб, трудности вызывает учёт отступлений от закона Ламберта для излучат, и отражат. свойств поверхностей. При наличии в системе плоских поверхностей с зеркальными свойствами вводят т. в. разрешающие (пли зеркальные) угл. коаф., характеризующие перенос излучения в системе с учётом зеркальных отражений. В общем случае произвольных индикатрис для степени черноты II отражат. способности поверхностей учитывают перенос излучения в системе по всевозможным направлениям методом статистич. испытаний (метод Монте-Карло). [c.619]

Осесимметричные течения или обтекание тела враш,ения параллельно его оси враш ения, представляют пример трехмерных течений, которые могут быть охарактеризованы при помош и единственной скалярной функции тока, как это имеет места и в случае двумерных течений. Разделение переменных в этом случае возможно для более широкого класса систем ортогональных координат, что обсуждается в гл. 4. В другом обш,ем методе получения решений линеаризованных уравнений движения используются обобш енные функции Грина. Так как получаемые решения содержат интегралы, они во многих случаях не так удобны, как решения в виде рядов. В других более специальных методах используются зеркальные отражения и аппарат вариационного исчисления. В последующих разделах этой главы некоторые из этих методов рассматриваются подробно, причем особое внимание уделяется тем из них, которые наиболее широко используются для целей этой книги. [c.78]

Задача оптимизации заключается в анализе линейной функции вида У = Во+ S BjXj, заданной на некотором выпуклом многогранном множестве. Экстремум линейной функции достигается в вершинах многогранного множества. Для решения задачи используется метод линейного программирования — метод последовательного улучшения плана. В его основе лежит идея упорядоченного перебора вершин допустимого многогранника. После проведения первой серии опытов выявляется точка, отвечающая условиям, при которых получаются наихудшие результаты. Эта точка заменяется новой, представляющей собой ее зеркальное отражение относительно противоположной грани симплекса. Гранью называют совокупность k точек fe-мерного симплекса. Указанная точка вместе с оставшимися снова образует правильный симплекс. Это направление не является наиболее крутым, однако оно обращено в сторону повышения качества процесса оптимизации целевой функции. [c.195]

Теплообмен излучением внутри замкнутых цилиндрических систем исследовался многими авторами. Бакли [8], по-видимому, первым решил задачу о теплообмене излучением в длинном открытом с одного конца цилиндре, боковые поверхности которого поддерживаются при постоянной температуре. Он использовал метод экспоненциальной аппроксимации ядра. В работе [13] эта задача решена численно методом последовательных приближений. В работах [5 и 14] рассмотрен цилиндр конечной длины с постоянным тепловым потоком "на поверхности и постоянной температурой поверхности соответственно. В работе [6] исследовано влияние зеркального отражения на теплообмен излучением в открытом с обоих концов цилиндре конечной длины с постоянным тепловым потоком на стенках. [c.216]

Метод TIS используют достаточно широко в последние десять лет [8, 21, 43]. Типичная схема установки для определения а методом TIS приведена на рис, 6.5. Излучение от лазера 2, проходя через отверстие 5 в сферчие-ском зеркале 6, падает на образец 7, который может быть как плоским, так и сферическим. Зеркально отраженный от образца пучок выходит обратно через [c.236]

В схеме прибора предусмотрен ряд устройств для юстировки. Так, правильная установка образца, обеспечивающая выход и попадание зеркально отраженного пучка на приемник 10, достигается с помощью системы зеркал 11 и приемника 1, а установка приемника 8 в точку, где собираются отраженные от зеркала 7 лучи, осуществляется визуально с помощью оптического устройства 4, снабженного волоконной оптикой. В ряду приборов отметим установку [42], где реализован относительный метод измерения TIS, и измерение а проводится сравнением с эталонным образцом, среднеквадратичная шероховатость поверхности которого измерена с максимальной точностью. Установка для измерения TIS с фотометрическим шаром фирмы Балзерс схематично изображена на рис. 6.6, где излучение от Не—Ne-лазера 1, проходя прерыватель 2, ослабитель 3 и апертуру 4, падает на поверхность исследуемого образца 5. Зеркально отраженный поток выводится из фотометрического шара через отверстие 9. Интегральное значение рассеянного потока с детектора 8 поступает на синхронный усилитель 6, куда одновременно поступает опорный сигнал падающей интенсивности. Сигнал с синхронного усилителя пропорционален отношению /о//д, входящему в формулу (6.11). Измеренное значение а индицируется на цифровом вольтметре 7. Значения а порядка 0,5 нм были измерены с помощью описанной установки фирмы Балзерс в работе [37]. Как было показано в работе [30 ], метод позволяет проводить измерения а и не дает возможности определения параметров поверхности в плоскости (X, У). Это ограничение метода TIS было преодолено в приборе, в котором была обеспечена возможность измерения углового [c.237]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...