Спектральная плотность интенсивности излучения потока излучения

V.5.19. Спектральная плотность (интенсивность) величин энергии излучения и его объемной плотности, потока излучения и его поверхностной плотности, энергетической светимости, освещенности, экспозиции и яркости [c.67]

Очевидно, что вынужденное излучение увеличивает интенсивность распространяющегося в среде светового потока с частотой V2l, т. е. действует обратно поглощению. Что касается спонтанного излучения, то его вкладом в увеличение интенсивности светового потока можно пренебречь по сравнению с вкладом вынужденного излучения, если световой поток распространяется в пределах малого телесного угла и имеет достаточно высокую спектральную плотность и (Т21). [c.279]

На основе распределения спектральной интенсивности 1 г, Q, т) находится вектор плотности потока излучения [c.201]

Спектральная плотность величин, определяемых поверхностной плотностью потока излучения спектральная плотность интенсивности, энергетической светимости, энергетической освещенности), равна [c.289]

Точно так же размерность спектральной плотности энергетической яркости совпадает с размерностью поверхностной плотности потока излучения (т.е. с размерностью интенсивности, энергетической светимости и энергетической освещенности), а единицы получаются из соответствующих единиц отнесением их к единице телесного угла. [c.290]

Широкое применение для измерения температуры и плотности потока нагретого газа находят методы спектрально-оптической диагностики. При этом информацию о состоянии газа можно получить, исследуя характеристики его излучения (поглощения) интенсивность излучения и длину волны линий, ширину и форму контура линий, зависимость интенсивности непрерывного излучения от длины волны и т. д. Перед применением того или иного метода измерения необходимо предварительно исследовать спектральные характеристики потока. Лишь после этого можно выбрать определенный оптический метод определения температуры, который обеспечивает достаточную точность измерения. [c.322]

Радиометрия основана на просвечивании изделия ионизирующим излучением и преобразовании плотности потока или спектрального состава прошедшего излучения в электрический сигнал. В качестве источника излучения применяют в основном радиоизотопы (у-излуче-ние), ускорители, реже - рентгеновские аппараты и источники нейтронов. В качестве детекторов используют ионизационные камеры, газоразрядные счетчики (пропорциональные и счетчики Гейгера), фиксирующие ионизацию или газовый разряд под действием ионизирующего излучения, а также сцинтилляционные счетчики, основанные на измерении с помощью электронных умножителей интенсивности световых вспышек в люминофорах. [c.349]

Однако существует ряд причин, которые могут вызвать неравномерность распределения генерируемого излучения по объему активной среды даже при совершенно равномерном ее возбуждении. Одной из них является само существование модовой структуры оценим, к каким последствиям может привести, скажем, то, что приняты меры для спектральной селекции излучения ( 4.3) и генерация является одночастотной. Тогда вдоль линейного резонатора устанавливается стоячая волна с периодом Х/2. Если распространяющиеся навстречу друг другу потоки излучения не слишком разнятся по плотности (очевидно, это имеет место при близких к единице R ), то глубина модуляции интенсивности на периоде стоячей волны приближается к 100%. В этом случае необходимо произвести усреднение [c.190]

Для получения хода температуры по радиусу струи делался пересчет интенсивностей спектральных линий на радиальное распределение. Сечение струи при этом разбивалось на 10 зон. Температура плазменной струи измерялась в зависимости от плотности потока излучения, концентрируемого на медной пластинке, и от величины давления окружающей среды. [c.268]

При рассмотрении спектрального распределения потока излучения необходимо учитывать, что строго монохроматическое излучение не является носителем энергии, а спектральная плотность потока излучения не есть интенсивность монохроматического излучения, а является вспомогательной величиной, которую нужно помножить на спектральный интервал, чтобы получить лучистый поток, излучаемый в данном спектральном интервале. [c.15]

Отношение плотности лучистого потока, испускаемого в бесконечно малом интервале длин волн, к величине этого интервала длин воли носит название спектральной интенсивности излучения [c.344]

Полные интенсивность, плотность и поток излучения получаются из спектральных интегрированием их по всему спектру частот [c.98]

На опыте измеряется спектральная интенсивность излучения столба нагретого газа при различных температурах и плотностях. В прямой ударной волне изучаются температуры порядка 3000—5000° К, в отраженной — порядка 8000° К. Пересчет измеренных интенсивностей на козффициент поглощения можно сделать с помощью известной формулы для потока излучения от нагретого слоя данной толщины й (см. 7, гл. II, формула (2.38)). Именно, количество лучистой энергии в интервале длин волн йЯ, выходящей в 1 сек с 1 см поверхности слоя в единицу телесного [c.283]

Мощность оптического излучения, или лучистый поток, представляет собой энергию, переносимую излучением за единицу времени. Мощность, отнесенная к единице спектрального интервала, в котором происходит излучение, называют спектральной интенсивностью или спектральной плотностью мощности. [c.36]

Облучают изделия, их узлы или детали, например кожухи, крышки, ручки, шкалы и другие, источниками света, по спектральному составу и интенсивности близкими к солнечному излучению. Спектр ультрафиолетового излучения должен лежать в пределах 280—400 нм. Интегральная плотность теплового потока солнечного излучения для высот до 15 км составляет 1125 Вт/м , в том числе плотность потока ультрафиолетовой части спектра 68 Вт/м . Интегральная плотность теплового потока солнечного излучения для высоты свыше 15 км 1380 Вт/м , в том числе плотность потока ультрафиолетовой части спектра 100 Вт/м , с допусками -fS- --15%. Концентрация озона в камере не должна превышать нормальную по ГОСТ 15150-69. [c.477]

Важная деталь, которую прояснили П. Т. Ландсберг и Ж. Тонге в своём обзоре и которая не была достаточно оценена предыдущими исследователями, — это разница между температурами потоков и яркостными температурами, первые из которых не являются абсолютными термодинамическими температурами (т. е. частной производной энергии по энтропии при постоянном объёме). В любом случае, правая часть полученного ими неравенства (1.50) представляет собой коэффициент полезного действия цикла Карно , вычисление которого требует определения энтропии, унесённой неравновесным излучением поля. П. Т. Ландсберг и Ж. Тонге утверждают, что эта энтропия описывается обычным равновесным выражением, а именно, интегралом от числа занятых фотонов по всем модам, входящим в спектральную ширину излучения, по области телесных углов и по направлениям поляризации излучения. Заметим, что плотность потока флуоресцентной энергии может быть записана как интеграл по тем же числам заполнения фотонов. Тогда, исходя из данных спектра флуоресценции, величина энтропии может быть соотнесена к величине энергии, так, что Тр в конечном счёте выражается только в терминах эмиссионной интенсивности. Этот анализ неявно предполагает, что Тр [c.41]

В оптический канал между источником излучения и фотоэлементом окрашенный раствор вводится кюветой, выполненной из стекла и обладающей пренебрежимо малыми потерями светового потока из-за поглощения и отражения. Для истинных растворов ослабление излучения на выходе кюветы определяется законом Ламберта— Бера, рассмотренным в 16.5. Оптическая плотность раствора 0%, как и газа, зависит от коэффициента спектрального поглощения ел, длины кюветы Ь и концентрации измеряемого компонента с, определяющей интенсивность окраски раствора [c.200]

Вторая важная проблема — это источники УФ-излучения. Источником жесткого УФ-излучения большой интенсивности являются различные виды электрических разрядов коронный, открытый, искровой, капиллярный и разряд по поверхности твердого диэлектрика. Сравнение этих и иных возможных источников УФ-излучения для предыонизации рабочей среды лазеров может проводиться 1) по спектру и спектральной интенсивности излучения 2) по пространственной и временной однородностям излучения 3) по газодинамическим возмущениям, вносимым ими в рабочую среду лазера. Поскольку интенсивность излучения определяется скоростью ввода энергии в канал разряда, т. е. мощностью разряда и плотностью разрядного потока, то наибольшую интенсивность УФ-излучения обеспечат источники, имеющие прежде всего малую собственную индуктивность, что же касается плотности тока, то при прочих равных условиях большая плотность обеспечивает разряды, ограниченные стенками. Однако особых перспектив на этом пути ожидать не приходится, поскольку отсутствуют стойкие, прозрачные в области жесткого ультрафиолета материалы (за исключением, может быть LiF, имеющего прозрачность до = 1,1 10 м). С другой стороны, нет необходимости полностью пространственно ограничивать разряд в случае использования плазмы разряда не только в качестве источника УФ, но и как плазменного катода . [c.54]

Законы лучистого теплообмена. Закон Планка устанавливает связь между спектральной интенсивностью излучения абсолютно черного тела, длиной волны и абсолютной температурой тела. Под спектральной интенсивностью излучения (или просто интенсивностью излучения) понимают отношение плотности потока излучения тела для воля длиной от X до к- -й к к расематри-ваемому интервалу волн длиной йХ, т. е. [c.186]

Собирая все полученные данные, найдем для линейчатого спектра (с частотами сор и 2сор [7, 14]) излучения плазмы металлов величину интенсивности 5 1 эрг см - сек). Такие плотности потоков возможно регистрировать экспериментально, например, при помоши ФЭУ или фотопластинок. Заметим, что интенсивность теплового излучения металлических пленок при рассматриваемых температурах на порядок меньше интенсивности излучения плазменных линий. Спектральная область теплового излучения лежит при этом в далеком инфракрасном диапазоне в отличие от видимой области спектра для плазменных частот. [c.350]

Сплошной спектр радиоизлучения в пределах отдельных участков радиодиапазона может ot и ывaть я ф-цией = к где — интенсивность излучения частоты V, а — константа, наз. спектральным индексом излучения. Величина а связана с механизмом излучения. Монохроматич. излучение характеризуется длиной волны % и формой линии. Поляризация радиоволн онределяется Стокса параметрами. Протяженные источники характеризуются зависимостью или яркостной температуры Т ,, а и параметров Стокса от угловых координат. Для характеристики 1[еразрешенных источников пользуются спектр, плотностью общего потока 7 и средними значениями а и параметров Стокса. Для нестационарных объектов существенно изменепне этих характеристик во времени. [c.280]

Излучение электромагнитных волн свойственно всем телам. Для большинства твердых и жидких тел спектр излучения непрерывный. Это значит, что эти тела излучают (и поглощают) лучи всех длин волн. Распространение энергии в спектре излучающего тела определяется его температурой. Общее количество лучистой энергии, испускаемой телом в единицу времени, называется лучистым потоком Q, Вт. Поток излучения Р, проходящий через единицу поверхности в пределах телесного угла 2тс, называется поверхностной плотностью потока излучения Е=с1р/с1А Вт/м . Излучение в достаточно узком интервале длин волн называют монохроматическим излучением ( х. Отношение плотности потока монохроматического излучения Ех=<10хМА в малом интервале длин волн X к этому интервалу есть интенсивность или спектральная плотность потока излучения [c.535]

Здесь /-jj —длина прямой линии, соединяющей элементарные площадки dAi и dAj. Для диффузного отражения спектральная индикатриса отражения fj,v и спектральная интенсивность эффективного излучения /j,v(rt) не зависят от направления тогда fi.v и Ii,v ri) связаны со спектральной полусферической отражательной способностью и плотностью монохроматического потока эффективного излучения соответственно следующими соотноще-ниями [c.196]

Тонкая структура линии рэлеевского рассеяния содержит дискретные линии, обусловленные рассеянием на тепловых волнах (рассеяние Мандельштама-Бриллюэна), расположенные симметрично относительно несмещенной компоненты. Рассеяние с изменением частоты связано с тем, что диэлектрическая восприимчивость х (э. также диэлектрическая проницаемость в = 1 + х) изменяется во времени вследствие тепловых акустических волн в веществе, характерная частота этих изменений равна г/д = и/2а, где и и а — скорость звука и постоянная решетки. Модуляция свойств среды приводит к появлению суммарной и разностной частот рассеянного света г/ г/д. Рассеяние с появлением спектральных компонент, смещенных по частоте относительно исходного излучения, является параметрическим процессом. Вероятность появления одного рассеянного фотона при облучении одной частицы (молекулы или атома) пропорциональна плотности потока квантов в пучке падающего света, но коэффициент пропорциональности (сечение рассеяния а) составляет по порядку величины всего лишь 10 ° см /ср. Отсюда получаем, что отношение интенсивности рассеянного света к интенсивности падающего /о составляет /5 / /о = = Аттапк, где п 10 см — концентрация атомов, к — толщина слоя. При прохождении светом расстояния 1 см в однородном прозрачном твердом теле рассеивается в полный телесный угол (4тг стерадиан) примерно 1з/1о 10 падающей интенсивности. [c.50]

Таким образом, как и в случае квантового усилителя с полной инверсией населенностей, интенсивность спонтанного излучения параметрического усилителя в фотонах на моду равна коэффициенту усиления (без единицы — см. (29)). Плотность потока фотонов в моде F в диспергирующей среде равна концентрации фотонов N/L , умноженной на групповую скорость и. Плотность типов колебаний в анизотропной среде согласно (3.4.34) равна g a = = кУии os Pj , так что спектральная яркость внутри кристалла связана с числом фотонов в моде соотношением (ср. (1.1.26)) [c.210]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектральная плотность интенсивности излучения потока излучения : [c.394] [c.43] [c.60] [c.188] [c.21] [c.34] [c.160] [c.354] [c.79] [c.58] [c.6] [c.210] [c.215] [c.231] [c.401] [c.10] [c.336] [c.12] [c.169]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...