Метод отраженного света

Изучение состояния поляризации можно провести как в отраженном, так и в проходящем свете. В случае металлов преломленная волна практически поглощается в очень тонком поверхностном слое. Поэтому в данном случае целесообразно использовать измерения в отраженном свете. Наоборот, при слабом отражении от диэлектриков основным методом исследования является эллипсометрия в проходящем свете. В тех случаях, когда возможны соответствующие измерения в отраженном и проходящем свете, эллипсометрия в отраженном свете удачно дополняет эллипсометрию в преломленном свете, и наоборот. Следует отметить, что эллипсометрия позволяет не только определять оптические константы чистых поверхностей материалов, она позволяет также, исходя из непосредственно измеряемых параметров эллипса поляризации, определить характеристики тонких поверхностных пленок, возникающих вследствие адсорбции и т. д., например толщину (вплоть до долей ангстрема) и показатель преломления (с точностью до 10" ) поверХНОСТНОГО слоя. [c.64]

Следовательно, в отраженном свете этот цвет с длиной волны X будет более или менее исключен. Итак, препарированная по указанному методу пластинка приобретает способность избирательного отражения световых лучей и в отраженном свете будет давать то распределение цветов, которое было применено при ее приготовлении пластинка дает возможность видеть в отраженном свете изображение в натуральных цветах. Механизм действия пластинки становится особенно ясным, если рассмотреть процесс отражения по методу, изложенному в 51. [c.119]

Обычно применение интерференционных методов основано на употреблении образцового эталона, сделанного с большой тщательностью. Накладывая со всеми необходимыми предосторожностями (устранение пылинок, выравнивание температуры) на заданную эталонную поверхность испытуемую (рис. 7.10), мы получаем между этими поверхностями тонкую воздушную прослойку, дающую в отраженном свете отчетливую интерференционную картину. По форме интерференционных полос и их ширине можно судить о недостатках изготовленной поверхности и видеть, какие участки отступают от заданной формы, в какую сторону (выпуклость или вогнутость), и приблизительно оценить величину отступлений. Если несовершенство испытуемой поверхности очень невелико, то интерференционные кольца будут широкими, а в отсутствие отступлений вся поверхность будет иметь равномерную окраску. [c.146]

Изложенное рассмотрение применимо к стоячей ультраакустической волне, где показатель преломления в каждой точке меняется со временем. Для бегущей ультраакустической волны изменение частоты легче всего представить как результат отражения света от движущихся поверхностей, которыми являются поверхности фронта бегущей волны, т. е. как результат явления Допплера (см. 127). В волне, бегущей в одну сторону, изменение частоты дифрагировавшего света будет соответствовать увеличению частоты (V + М), а в волне, бегущей навстречу, — уменьшению (V — Ы). Стоячая волна, как совокупность двух бегущих навстречу, обусловливает изменение частоты, выражаемое формулой V N. Несложный расчет показывает, что как по методу стоячих волн (модуляция), так и по методу бегущих волн (явление Допплера) мы получаем, конечно, одно и то же значение (/V) изменения частоты падающего света. [c.234]

Был разработан метод, позволяющий чрезвычайно сильно уменьшать отражение света на свободной поверхности стекла (просеет-ление оптики). Путем химической обработки или осаждением постороннего вещества на стекле образуют поверхностный слой, показатель преломления и толщину которого стремятся подобрать так, чтобы лучи, отраженные от верхней и нижней границ этого слоя, благодаря интерференции взаимно погашались (см. упражнение 192). При хорошем подборе констант слоя удается весьма значительно ослабить отражение. Это крайне важно при конструировании приборов, состоящих из многих оптических частей, т. е. обладающих большим числом отражающих поверхностей. Так, в некоторых приборах, например, в перископах, подобная обработка ведет к уменьшению потерь на отражение в несколько раз. [c.477]

В качестве пигментов-наполнителей покрытий исследованы окислы элементов II, III, IV групп периодической системы Д. И. Менделеева и соответствующие им силикаты и титанаты, обладающие высоким коэффициентом отражения света. Высокодисперсные пигменты (размер частиц менее 5 мкм) получены методом термохимического разложения исходных материалов марок ос. ч или X. ч. . Спектральные коэффициенты отражения боль- [c.202]

Название оптическое выявление структуры не вполне уместно для данного метода. Понятие интерференционные цвета уже давно принято в практике металлографических выявлений структуры (методы горячего травления на воздухе, травление реактивами, образующими поверхностные слои). Для всех этих видов выявления структуры достаточно уже обычного света (отраженные лучи, светлое поле), в то время как эффект оптического цветового травления возникает только при использовании поляризованного отраженного света и гипса красного. [c.97]

Окисные пленки бывают тонкие, средние и толстые. Тонкие пленки имеют толщину от нескольких до 400 А и невидимы невооруженным глазом их можно обнаружить и измерить с помощью оптических методов — интерференционным или методом отражения поляризованного света. [c.13]

Применяемый в поляризационно-оптическом методе поляризованный свет создают следующими способами 1) посредством отражения, 2) пропусканием через кристаллы, 3) с помощью поляроидных пленок. В современных полярископах обычно используются поляроидные пленки, так как они обходятся недорого, могут быть изготовлены в виде весьма больших листов и создают почти полную поляризацию. Подробное описание отражающих зеркал и поляризационных призм читатель может найти в других пособиях (см., например, [1, 7 ]). [c.25]

Высокоточным методом аттестации образцовых колец из прозрачного материала является метод абсолютных интерференционных измерений при отражении света от диаметрально противоположных участков поверхности отверстия. По данным работы 110], этот метод обеспечивает измерения с погрешностью 0,05 мкм. Интересен метод аттестации прозрачных колец по аттестованным пробкам [11 ]. Во ВНИИМ им. Менделеева создан прибор для измерения диаметров аттестованных колец с погрешностью 0,3 мкм. Прибор содержит двухлучевой интерферометр, фотоэлектрический оптический щуп и систему подачи с помощью пьезокерамического устройства [ 1 ]. [c.202]

Метод светового сечения для определения толщины прозрачных пленок основан на законах преломления и отражения света в плоско-параллельной пластине. [c.109]

В качестве фотометрического параметра, определяющего блеск, принимают, как правило, коэффициент яркости для определенных условий освещения и наблюдения. Оказалось, что из-за большого разнообразия в характере отражения света различными материалами не удается найти единый фотометрический параметр, хорошо коррелирующий со зрительной оценкой блеска различных объектов. Поэтому для объектов измерения с различными характеристиками отражения света были предложены различные методы и приборы, с помощью которых судят о блеске поверхности этих образцов. [c.183]

Исследование включений под микроскопом на шлифе дополняется изучением выделенных электролизом из металла включений в проходящем или отраженном свете и определением их оптических констант, т. е. определением их минералогического состава петрографическими методами [15]. Наиболее важная характеристика включений — показатель преломления N. Схема определения природы включений и характерные признаки основных неметаллических включений в сталях приведены в табл. 1.4 и на рис. 1.15. [c.34]

Метод установления связи свойств металла с его структурой, зарекомендовавший себя в металловедении, не нашел еще такого же широкого распространения в керамическом производстве. Это вызвано главным образом, по-видимому, тем, что керамика в большинстве случаев не может быть достаточно полно исследована ни в микроскопе, работающем в отраженном свете (типа металлографического), ни, тем более, в микроскопе, работающем на просвет (типа биологического). Поэтому все большее применение для этих целей стал находить электронный микроскоп [149 150]. [c.145]

Следует иметь в виду, что элементы теории, изложенные далее применительно к методу наблюдения препаратов в проходящем свете, справедливы и для отраженного света. [c.6]

Структуру препарата, рассматриваемого через микроскоп, можно различить лишь тогда, когда различные частицы препарата отличаются друг от друга и от окружающей их среды по поглощению (отражению) света или по показателю преломления. Эти свойства обусловливают разницу фаз и амплитуд световых колебаний, прошедших через различные участки препарата. От разницы фаз и амплитуд, в свою очередь, зависит контраст изображения. (Здесь под термином разница фаз следует понимать запаздывание или опережение во времени одного луча по отношению к другому разница амплитуд возникает из-за неодинакового поглощения света различными участками препарата и определяет различную интенсивность света, прошедшего через эти участки). Поэтому в зависимости от характера препарата в микроскопии применяются различные методы наблюдения, для осуществления которых служат принципиальные схемы, показанные на фиг. 5—9, где обозначены Об— объектив, АВ — препарат, К—конденсор, аа —выходной зрачок объектива. Да — апертурная диафрагма конденсора, А В — изображение препарата, создаваемое объективом. [c.12]

Метод светлого поля в отраженном свете (фиг. 6) применяется для наблюдения непрозрачных объектов, например, травленых шлифов металлов, биологических тканей, [c.13]

Фиг. 6. Ход лучей при методе светлого поля в отраженном свете.

С. Б. Кормер с сотрудниками обнаружил структуру фронта с неоднородно-Ч1ТЯМИ порядка длины световой волны, применяя весьма изящный метод отражения света от детонационного фронта. Ред.) [c.395]

Метод отражения света Метод светопогло- щения Порошки разной дисперсности То же Фотометры типа ФМШ-56М Турбидиметры, фо-тоэлектродина-мическая установка ЛТИ Прочие методы Прост, экспрессен Получение комплекса дисперсионных характеристик порошков Требует построения калибровочных кривых с помощью стандартного метода [c.82]

На фиг. 258 представлено несколько фотографий, полученных методом отраженного света. На фиг. 258, а виден источник звука в виде круглой кварцевой пластинки, колеблющейся однородно на собственной частоте 4,6 мггц. На фиг. 258, б дано изображение неоднородно колеблющейся кварцевой пластинки. Ясно видна небольшая часть поверхности справа внизу, которая вообще не колеблется, в то время как другие две части разделены линией. На фиг. 258, в дано изображение куска листовой латуни с тремя отверстиями разной величины и на фиг. 258, г— изображение ключа перед источником звука в виде кварцевой мозаики диаметром 110 мм с собственной частотой 2,4 мггц. В новой работе Мейера и Троммлера [4868] можно найти еще несколько полученных методом рельефного изображения фотографий колеблющейся пластинки L-среза кристалла ADP. [c.207]

Проекторы предназначены для контроля н измерения деталей, спроецированных в увеличенном масштабе на экран. Проекторы могут работать в проходящем и отраженном свете. Их используют главным образом для контроля изделий со сложным профилем шаблонов, плат, лекал, зубчатых колес, HiTaMnoBaHHbix детален, фасонных резцов и т. п. Свет от источника (рис. 5.17, а и б) через конденсор 1 параллельным пучком направляется на проверяемую деталь 2. Объективом 3 действительное обратное изображение детали, через систему зеркал 5—6 проецируется на экран 4. Контролируемое изображение детали на экране можно проверять различными методами, например сравнения с вычерченным в увеличенном масштабе номинальным контуром с двойным контуром, вычерченным в соответст-вки с 1]редельными положениями годного профтля показаний от-счетных устройств проектора с помощью масштабных линеек совмещением противоположных контуров детали. В соответствии с ГОСТ 19795—82 выпускают проекторы типа ПИ с экраном диаметром до 250 мм 250—400 мм и свыше 400 мм. Часовой проектор ЧП (рис. 5.17, б) состоит из осветителя I, сменных конденсоров 3, стола 5 с продольным и поперечным винтами 4 п 9 (цена деления [c.129]

Рэлей полагал, что в методе аберрации света мы измеряем непосредственно фазовую скорость, ибо там свет не прерывается искусственно. Однако Эренфест (1910 г.) показал, чт наблюдение аберрации света в принципе не отличимо от метода Физо, т. е. тоже дает групповую скорость. Действительно, аберрационный опыт можно свести к следующему. На общей осп жестко закреплены два диска с отверстиями. Свет посылается по линии, соединяющей эти отверстия, и достигает наблюдателя. Приведем весь аппарат в быстрое вращение. Так как скорость света конечна, то свет не будет проходить через второе отверстие. Чтобы пропустить свет, необходимо повернуть один диск относительно другого на угол, определяемый отношением скоростей дисков и света. Это — типичный аберрационный опыт однако он ничем не отличается от опыта Физо, в котором вместо двух вращающихся дисков с отверстиями фигурирует один диск и зеркало для поворота лучей, т. е. по существу два диска реальный и его отражение в неподвижном зеркале. Итак, метод аберрации дает то же, что и метод прерываний, т. е. групповую скорость. [c.431]

Остальные из упомянутых выше свойств второй гармоники в отраженном свете требуют более детального анализа. Количественное их описание основано на теории, аналогичной изложенной в гл. XXIII для френелевского отражения в линейной оптике. Согласно объясненному там общему методу, свойства отраженных и преломленных волн устанавливаются с помощью граничных условий, сводящихся к требованию непрерывности тангенциальных составляющих напряженности электрического и магнитного полей. Сами же напряженности записываются как суперпозиции волн, удовлетворяющих уравнениям Максвелла. [c.846]

Обнаружение дислокаций и включений в монокристаллах кремния методом визуального наблюдения на экране ЭОП или фоторегистрации на инфрахрома-тической пленке. Контроль в проходящем и отраженном свете, в темном и светлом поле в видимых и ИК-лучах [c.107]

В ряде процессов (релаксация полимеров, процессы диффузии и т. п.) необходимо оценить изменение подвижности и средний размер частей, составляющих среду, в различные моменты времени. Если эти процессы протекают медленно (1 — 10 с), то единственным способом контроля является метод голографической коррелометрии (МГК), который основан на получении с помощью двулучевой схемы голограммы рассеивающей среды в отраженном свете (при одностороннем доступе). Направление освещения между экспозициями меняется на угол 0, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Дфо на элементах рассеивателя и появление в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. Случайный сдвиг фазы отдельной частицы Дф (G, т) = к Дг (т), где О — угол между направлениями падающей и рассеянной волн Дг — вектор сме-, 2я [c.114]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Эллипсомегрия Поверхность образца освещают плоскополяризован-ным светом. Параметры эллиптической поляризации отраженного света зависят от толщины поверхностного слоя. Метод применим и к образцам, находящимся в жидкости Дифракция Монохроматический рентгеновский луч проходит рентгеновских через образец. Образующаяся дифракционная [c.151]

Электролитическое полирование — один из наиболее иитересчых способов обработки поверхности. Полностью заменить механическое полирование этот метод не может, однако в результате электрополировки удаляют неровности, остающиеся на поверхности после обработки самыми тонкими полировальными материалами. Этот процесс применяют в дополнение к механической полировке, для декоратип-ной отделки поверхности, для получения поверхностей с высоким коэффициентом отражения света и многих других. [c.127]

Из сказанного следует, что для получения интерференционных картин необходимы только когерентные волны. Следовательно, источники света должны давать непрерывное монохроматическое излучение без перерывов и искажений их характеристик. Поскольку обычно излучение происходит вследствие атомных процессов и в каждом из атомов процесс излучения, длящийся очень недолго, происходит с обрывами, совершенно случайно, в зависимости от взаимодействия с окружающими атомами, трудно допустить, что суммирование таких излучений даст строго когерентные волны и тем более в двух независимых источниках. Поэтому обычно используют один источник света, который методом отражения или преломления расчленяют на два луча. При этом каждый из двух лучей, имеющих одир и то же происхождение, используется далее в качестве когерентных волн. Используя различные оптические системы, можно заставить лучи пройти различные расстояния и затем встретиться в одной точке. При этом волны, вышедшие фактически из одного источника при одном акте излучения группы атомов, прийдут в эту точку с малым сдвигом по времени, благодаря чему будет иметь место когерентность. [c.74]

Метод муаровых нолос. Муаровый эффект — оптическое явление, наблюдаемое при наложении друг на друга почти одинаковых семейств линий или точек. При наблюдении их в проходящем или отраженном свете видна картина муаровых полос, возникающих в тех местах, где линии одного семейства попеременно накладываются на линии другого семейства или располагаются между ними из-за разницы в шаге налагаемых семейств линий, поворота одного семейства относительно другого или совместного действия этих двух факторов (фиг. 8.7). [c.218]

При сдувании с полированной твердой поверхности слоя жидкости (например, смазочного масла) этот слой может быть настолько тонким, что в отраженном свете окажется возможным наблюдать интерференционные линии равной толщины. Такое сдувание с удобством может быть использовано для быстрой и чрезвычайно наглядной характеристики реологических свойств смазочных масел при данной температуре. Применяя сдувание в узкой плоскопараллельной щели в форме прямоугольника, Б. Дерягин, Г. Страховский и Л. Малышева показали, что этим методом можно характеризовать вязкость тонких пристенных слоев жидкостей и исследовать аномалию их механических свойств [1]. Этот же метод е успехом может быть применен для быстрого измерения обычной объемной вязкости жидкостей. При сдувании в узкой клиновидной щели [2, 3] оказывается возможным в результате одного опыта получить полную характеристику механических свойств жидкостей, обладающих как нормальной, так и,аномальной вязкостью, а также жидкостей, у которых существует предельное напряжение сдвига. В последнем случае особенно удобен радиальный вариант метода сдувания [4]. Возможны, разумеется, и другие варианты метода сдувания, отличающиеся друг от друга главным образом геометрией узкой щели (например, сдувание в узкой цилиндрической щели и др.) и имеющие каждый свою область применения. [c.111]

ОПТИКА [ асферическая содержит элементы, поверхности которых, не имеют сферической формы просветленная обладает уменьшенными коэффициентами отражения света у отдельных ее элементов путем нанесения на них специальных покрытий) как оптическая система (волновая изучает явления, в которых проявляется волновая природа света волоконная рассматривает передачу света и изображений по световодам и пучкам гибких оптических волокон геометрическая изучает законы распространения света в прозрачных средах на основе представлений о световых лучах интегральная изучает методы создания и объединения оптических и оптоэлектронных элементов, предназначенных для управления световыми потоками квантовая изучает явления, в которых при взаимодействии света и вещества существенны квантовые свойства света и атомов вещества когерентная изучает методы создания узконаправленных когерентных пучков света и управления ими нелинейная изучает распространение мощных световых пучков в оптически нелинейных средах (твердые тела, жидкости, газы) и их взаимодействие с веществом силовая изучает воздействие на твердые тела интенсивного светового излучения, в результате которого может нарушаться механическая цельность этих тел статистическая изучает статистические свойства световых полей и особенности их взаимодействия с веществом тонких слоев изучает прохождение света через прозрачные слои вещества, толщина которых соизмерима с длиной световой волны физическая изучает природу света и световых явлений) как раздел оптики электронная занимается вопросами формирования, фокусировки и отклонения пучков электронов и получения с их помощью изображений под воздействием электрических и магнитных полей корпускулярная изучает законы движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях нейтронная изучае взаимодейс вие медленных нейтронов со средой) как раздел физики] [c.255]

Гетеролазеры и гетерофотоприём-н и к и, используемые в сочетании с плёночными полупроводниковыми Болиоводами, могут выполняться на основе единой Г. и на общей полупроводниковой подложке объединяться (интегрироваться) в оптич. схему (методами планарной технологии). Для управления условиями генерации и распространения света часто используются сложные Г., активный слой к-рых состоит из неск. слоев постоянного или плавно изменяющегося состава с соответствующим изменением Sg. Помимо локализации света в пределах одного или неск, слоёв в плоскости ГП, при создании интегрально-оптнч. схем возникает необходимость дополнит, локализации световых потоков в плоскости волноводных слоёв (в плоскости ГП). Такие волноводы наз. полосковыми и создаются изменением либо состава и свойств полупроводника в плоскости ВОЛ1ГОВОДНОГО слоя, либо толщины слоёв, Встраивание гетеролазера в волноводную схему осуществляется с помощью оптического резонатора, образуемого периодич, модуляцией толщины волноводного слоя. При определ. выборе периода модуляции благодаря дифракции в волноводе возникает волна, бегущая в обратном направлении. В результате формируется распределённое отражение света (см. Интегральная оптика). [c.449]

Явление поляризации света лежит в основе ряда методов исследования структуры вещества с помощью многочисл. поляризационных приборов. По изменению степени поляризации (деполяризации) света при рассеянии и люминесценции можно судить о тепловых и структурных флуктуациях в веществе, флуктуациях концентрации растворов, о внутри- и межмолекулярной передаче анергии, структуре и расположении излучающих центров и т. д. Широко применяются поляризационно-оптический метод исследования напряжении, возникающих в твёрдых телах (напр., при механич. нагрузках), по изменению поляризации прошедшего через тело света, а также метод исследования свойств поверхности тел по изменению поляризации при отражении света эллипсометрия). В кристаллооптике ноляризац, методы используются для изучения структуры кристаллов, в хим. промышленности — как контрольные при произ-ве оптически активных веществ (см. Сахариметрия), в оптич. приборостроении — для повышения точности отсчётов приборов (напр,, фотометров). [c.420]

ОПТИКА НЕОДНОРОДНЫХ СРЕД — раздел физ. оптики, в к-ром изучаются явления, сопровождающие распространение оптического излучения в оптически неоднородных средах, показатель преломления п к-рых не постоянен, а зависит от координат. Характер явлений и методы их исследования существенно зависят от характера изменения п и масштабд неоднородностей по сравнению с длиной волны света К. Оптич, неоднородностями являются поверхности или объёмы внутри среды, на (в) к-рых изменяется и. Независимо от физ. природы неоднородности она всегда отклоняет свет от его пер-вонач. направления. На поверхностях, разделяющих среды с различными н, происходят отражение света и преломление света. В среде с непрерывно изменяющимся п, когда относит, изменение п на расстояниях, сравнимых с очень мало (т. н. градиентная среда), световой луч, задаваемый величиной grad5 =п(1г1(13 в каждой точке волновой поверхности 8 х, у, г), меняет направление в зависимости от неоднородностей пространства, что приводит к его искривлению (рефракции). [c.424]

Внимательный визуальный осмотр является одним из распространенных МНК- Дефектами, которые можно наблюдать, являются разнооттеночность (следствие перегрева), посторонние включения, трещины, царапины, зазубрины, пузыри, апельсиновая корка — шероховатая фактура поверхности, точечная коррозия (питтинг), воздушные пузыри, поры, натеки связующего и непропитанные участки, пустоты и расслоения. Наблюдения могут проводиться с использованием различного освещения и приборов. Отраженный свет используется для определения дефектов на поверхности проходящий свет (если материал может быть просвечен) позволяет обнаруживать дефекты внутри образцов. Особенностью визуальных МНК является возможность обнаружения только сравнительно больших дефектов, которая зависит от квалификации контролера. Стандарт ASTM D2563-70 (Классификация визуальных дефектов в стеклопластиках и изделий из них) уточняет ряд деталей этого метода. [c.468]

Метод нанесения пленок Тол- щина пленок (А) Пока- затель пре- лотле- тшя пленки Коэффициент отражения света пленкой (%) [c.259]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...