ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Обнаружение дислокаций и включений в монокристаллах кремния методом визуального наблюдения на экране ЭОП или фоторегистрации на инфрахрома-тической пленке. Контроль в проходящем и отраженном свете, в темном и светлом поле в видимых и ИК-лучах [Выходные данные]