Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Полупрямой метод

Преимущества полупрямого метода по сравнению с косвенным привели к его широкому применению для исследования гетерофазны.т сплавов. С помощью полупрямого метода получены важные результаты об особенностях карбидообразования при отпуске легированных сталей, о структуре ряда стареющих сплавов, о процессах разрушения металлов и сплавов и др.  [c.51]

Возможность электронографического фазового анализа, повышенная контрастность и разрешение деталей структуры, надежность и легкость интерпретации изображения, возможность различать неоднородности твердого раствора и вьщеления второй фазы и, наконец, возможность более точно, чем с помощью слепков, определять их размеры и форму — таковы преимущества полупрямого метода исследования структуры по сравнению с косвенным.  [c.35]


Рельефность травления совершенно необходима. При исследовании двухфазных сплавов несомненные преимущества имеют способы травления, применяемые при фазовом анализе для количественного разделения фаз сплава. Эти способы обеспечивают рельефность травления и облегчают толкование возникающего рельефа, так как позволяют надежно судить о происхождении выступов (нерастворимая фаза сплава) в рельефе. Эти способы обязательны при использовании полупрямого метода исследования структуры.  [c.37]

Полупрямой метод исследования)  [c.68]

Для гетерофазных сплавов с дисперсной структурой — полупрямой метод микроскопического и дифракционного -исследования, являющийся прямым, по крайней мере для некоторых фаз сплава.  [c.169]

Очевидные преимущества полупрямого метода перед косвенным обусловили его широкое применение для исследования гетерофазных сплавов, особенно сталей, а также теплоустойчивых и жаропрочных стареющих сплавов. Важные сведения получены, например, о сложных процессах карбидообразования при отпуске закаленной легированной стали и при распаде переохлажденного аустенита. В ряде работ показана эффективность метода при изучении сложных процессов, происходящих по границам зерен, процессов разрушения металлов, при анализе неметаллических включений и т. д.  [c.175]

Различают три метода электронно-микроскопического исследо-вания материалов косвенный, полупрямой и прямой. В практике изучения покрытий получил распространение методически более простой косвенный метод анализа с помощью реплик, снимаемых с поверхности образца. При этом определяется характер границы покрытия с основным металлом, рассматривается тонкое строение различных видов покрытий, устанавливаются фазовые и структурные, изменения в поверхностных слоях основного металла, анализируются изломы и т. д. [15, 16, 61 и др. ]. Снятие реплик с образцов с покрытиями проводится по стандартным методикам, описанным в книгах [247, 253—255 и др. ]. Изломы металлов с покрытиями можно исследовать в соответствии с рекомендациями [2561.  [c.177]

Недостатком метода полупрямого исследования можно считать ограниченность его применения дисперсными структурами максимальный размер частиц, удерживаемых пленкой (толщиной в 20 нм), составляет несколько микрометров, что, впрочем, во многих случаях вполне достаточно. На рис. 2.13 приведена сводная схема получения электронно-микроскопических препаратов различными методами.  [c.36]

В книге систематически рассматриваются МГЭ трех типов прямые (составляется и решается ГИУ относительно функций, имеющих смысл в содержательной постановке исходной задачи) непрямые (строится решение ГИУ, записанного для вспомогательных функций (плотностей распределения), по которым неизвестные исходной задачи находятся интегрированием) полупрямые (задача сводится к ГИУ относительно некоторых вспомогательных функций, например относительно функции напряжений в теории упругости или функции тока в гидродинамике). Разбираются особенности методов каждой группы и приводятся результаты их применения к решению одних и тех же задач, что позволяет судить о преимуществах и недостатках указанных методов применительно к разным классам задач.  [c.6]


Настоящая книга целиком посвящена всесторонней демонстрации мощи и простоты этих методов при достаточном, но не формально строгом освещении математической основы. Мы будем иметь дело преимущественно с прямым и непрямым вариантами МГЭ, так как, по нашему мнению, в общем случае они оказываются значительно полезнее полупрямого подхода. Непрямой МГЭ особенно  [c.15]

В работе А. С. Алексеева [4] (1955 г.) методом точечных отображений исследование динамики двухпозиционного регулятора температуры с зоной опережения сведено к исследованию точечного отображения прямой в прямую, порождаемого отображениями Т1, Т2, Л), 7 2, и 82 полупрямых И) >0, О, Мз > О и 4 > О двулистной фазовой плоскости (рис. 1.17).  [c.24]

Недостатком метода полупрямого исследования можно считать ограниченность его применения дисперсными структурами максимальный размер частиц, удерживаемых  [c.123]

Электронная микроскопия метод позитивных слепков 122 ---полупрямого исследования 122  [c.1204]

При работе на сульфат аммония различают три метода улавливания аммиака прямой, полупрямой и косвенный. При получении сульфата аммония V п р я м ы м методом вся масса коксового газа,1 несущего аммиак, промывается верной кислотой в сатураторах. При косвенном  [c.243]

Для оценки волн, излучаемых в определенном направлении L, мы используем специальные оси, подобные тем, которые изображены на рис. 91. Прежде всего мы примем вертикальную плоскость, проходящую через L, за плоскость у = 0 после этого другие оси выбираются, как и ранее ось — вдоль образующей конуса, так что она имеет направление волнового вектора, а Zq (конечно, под прямым углом к оси х ) — вдоль луча. Эти оси удобны потому, что в методе стационарной фазы считается, что только образующая в вертикальной плоскости, проходящей через L, вносит вклад в излучение вдоль L, причем этот вклад вносит, как и раньше, вся полупрямая, представляемая данной образующей.  [c.462]

Полупрямой метод, сочетающий в себе элементы косвенного, т. е. снятия реплик, и прямого микродифракционного изучения второй фазы, частицы которой извлекаются из материала в реплику, мон ет быть использован для анализа основного металла. Для оценки структуры покрытия метод распространения не получил.  [c.177]

При исследовании гетерофазных сплавов используют полупрямой метод [1.3], т. е. косвенное (с помощью реплик) электронно-микроскопическое исследование основной фазы (матрицы) и прямое электронно-микроскопическое и микродифракционное исследование второй фазьг, частицы которой извлекаются из матричной фазы в реплику.  [c.50]

Полупрямой метод незаменим при исследованиях, связанных с идентификации различных дисперсных фаз в металлической Л1атри-це при малой объемной доле этих фаз (например, неметаллических включений в стали).  [c.51]

Микроскопия электронная просвечивающая диффузионное рассеяние электронов 58 изучение дислокационной структуры 59 косвенный метод 50 кристаллографический анализ 54 микродифракционный фазовый анализ 54 полупрямой метод 50 приготовление образцов 51 прямой метод 51  [c.349]

Дисперсные стрз туры двухфазных и более сложных сплавов, практически наиболее важных, лучше исследовать с помощью полупрямого метода. Надежное решение ряда металловедческих вопросов возможно лишь при использовании полупрямого метода в сочетании с электронографическим анализом исходных образцов и препаратов с частицами второй фазы. Применение полупрямого метода во многих случаях делает излишним изучение формы и размеров частиц осадка, выделенного при электролитическом растворении образца и требующего диспергирования довольно сложными приемами, часто не дающими должного эффекта.  [c.36]

Полупрямые варианты МГЭ. В качестве альтернативы можно составлять интегральные уравнения для неизвестных функций, аналогичных функциям напряжений в теории упругости или функциям тока при потенциальном течении. Когда получено решение для этих функций, простое дифференцирование даст, например, распределение внутренних напряжений. Этот подход, известный под названием полупрямого метода, был развит Генри, Джесуоном, Понтером, Римом и Симмом [24—28].  [c.15]

Кроме указанных методов, являющихся косвенными, применяют полупрямой метод (метод Л. М. Утевского). Его применяют для исследования двухфазных структур, например феррито-карбидных, в сплавах железа. Поверхность металлического шлифа подвергают электролитическому травлению в условиях, обеспечивающих лишь растворение основы. При этом частицы избыточной фазы (карбиды) не растворяются, но некоторые из них за счет растворения основы  [c.80]


Прямое и полупрямое электронномикроскопическое исследование непосредственно совмещается с электронографическим. Кроме того, массивные образцы можно параллельно исследовать в электронографе съемкой. сна отражение от той же поверхности, которая изучается косвенным или полупрямым методами  [c.169]

Исследование гетерофазных сплавов проводят также полупрямым методом [20, 21], т. е. путем косвенного (по слепкам) электронномикроскопического исследования основной фазы и прямого электронномикроско-пичйского и электронографического исследования второй фазы (или фаз) на одном и том же препарате, который приготовляют следующим образом.  [c.174]

Следует подчеркнуть, что полноценное использование полупрямого метода стало возможным лишь благодаря осуществлению микродифракции.  [c.175]

Появление электронного микроскопа, имеющего разрешающую способность, в десятки раз большую, чем световой микроскоп, позволило подробно изучить такие важные элементы структуры, как выделения второй фазы при старении пересыщенных твердых растворов и, в частности, при отпуске закаленной стали, одно до-менные ферромагнитные включения в высококоэрцитивных сплавах, структуру межкристаллитных 2 прослоек и т. д. Однако следует учитывать, что при исследовании объектов косвенными методами электронный микроскоп не дает возможности проводить фазовый анализ. Последний должен, ак правило, сопро- 4 вождать исследование структуры металла. При исследовании прямым или полупрямым методами фазовый анализ возможен непосредст-веннсУ в электронном микроскопе, настраиваемом для этого на диф-фракционную съемку в этом случае микроскоп играет роль электроно-графа. 8  [c.119]

В этом случае роль вспомогательной кривой в методе Льенара играет совокупность полупрямых  [c.526]

Применение методов граничных интегралов к задаче о кручении стержней детально обсуждалось Мендельсоном [5]. Им были рассмотрены непрямой, полупрямой и прямой методы их решения с одновременным использованием функций кручения и функций напряжений, а затем полученные для чисто упругих стержней результаты были распространены на случай упругопластических стержней. Ранее Джесуон и Понтер [4] получили решения задачи  [c.90]

В последнее время методы калибровочных полей используются для описания структуры и физических свойств неупорядоченных систем. При этом наряду с изучаемыми в механике сплошных сред физическими полями (поле деформаций) появляются калибровочные поля, описывающие дефекты (дислокации, дисклинации, точечные дефекты), ответственные за неупорядоченность [1—8]. Так, в работах [1—2] в качестве калибровочной группы введена группа СЬ(3), что позволяет описать дислокации Сомилианы [9]. В работе [3] взята группа аффинных преобразований ОЬ(3)[>Т(3), что позволило учесть трансляционный вклад в деформацию. Наконец, в работе [4] калибровочной группой является полупрямое произведение группы вращений 80(3) и группы трансляций Т(3), 80(3)>Т(3). Обобщение нелинейной теории упругости локализаций группы 80(3)[>Т(3) дает возможность построить динамику дислокаций и дисклинаций.  [c.20]

Теорема 33.2 устанавливает важное свойство У-разбиений прямой %. При выполнении ее условий полупрямая к> кш принадлежит Уй, к 2. Кроме того, теорема 33.2 показывает важную роль эйлеровой характеристики Я(хэ при глобальном анализе проблемы устойчивости, заключающуюся в том, что при Я > Я(хэ появляющаяся моментная форма более устойчива, чем существовавшая безмомент-ная. Наконец, отметим, что локальные методы в некоторых частных случаях дают возможность установить существование при Я > кщ в некоторой малой окрестности трех форм равновесия безмоментной и двух моментных.  [c.306]

Таким образом, в задаче 9х полупрямая Я>Я,9хэ принадлежит Уа, /с 2, и в данной задаче теорема 34.2 вскрывает важную роль эйлеровой характеристики Лэхэ при глобальном анализе проблемы устойчивости, заключающуюся в том, что при А > Яд э появляющаяся м. н. д. с. более устойчива, чем б. н. д. с. И здесь отметим, что фактически, по-видимому, при я > Яэх 3 появляются дополнительно два м. н. д. с. Это обстоятельство нри малых превышениях % над Яэхэ обнаруживается в ряде случаев аналитическими методами.  [c.317]

Рассмотрение нескольких задач об автоколебаниях кусочно-линейных систем при помощи метода точечных преобразований было уже проведено в 4—6 гл. III. В этих задачах нахождение предельных циклов и исследование их устойчивости сводились к построению некоторого точечного преобразования полупрямой самой в себя (к вычислению соответствующей функции последования), к отысканию неподвижных точек полученного точечного преобразования и исследованию их устойчивости, причем во всех рассмотренных задачах мы  [c.504]

Линии токов у отдельных потоков будут прямые, параллельные оси х, и полупрямые, выходящие из начала координат линии токов сложного потока можно получить, проводя кривые, соединяющие точки, для которых сумма обеих функций тока имеет постоянную величину. Этот геометрический метод иллюстр1 рован на фиг. 10 для конкретного случая V = h = I. Линия тока ф = О состоит из положительной полуоси х и кривой ВАВ параболического типа. Поток источника течет целиком Eeiyipn кривой ВАВ а равномерный поток разделяется в вершине А и течет сверху и снизу кривой. Любую линию тока можно заменить твердой стенкой без изменения потока, и весьма интересная интерпретация разбираемого потока получается, если за такую стенку принять кривую хАВ. Равномерный поток идет над плоской равниной или поверхностью воды и набегает на гору АВ, которая его отклоняет по направлению, указанному линиями тока на фиг. 10. При такой интерпретации источник находится вне жидкости, и его можно рассматривать только как математическую фикцию, позволяющую учесть влияние горы.  [c.22]


Смотреть страницы где упоминается термин Полупрямой метод : [c.208]    [c.50]    [c.31]    [c.457]    [c.350]    [c.1656]    [c.243]    [c.106]    [c.542]    [c.53]    [c.245]   
Смотреть главы в:

Металловедение и термическая обработка стали Т1  -> Полупрямой метод



ПОИСК



Микроскопия электронная просвечивающая полупрямой метод

Отпечатки с фиксированными частицами (полупрямой метод исследования)

Электронная микроскопия метод позитивных слепков полупрямого исследования

Электронная микроскопия полупрямой метод



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте