Решетка дифракционная фазовая

Стоит отметить также, что обсуждаемые принципы имеют глубокие аналогии в классической оптике волновых пучков. Действительно, сформулированная выше на спектральном языке, задача о генерации цуга коротких импульсов за счет суперпозиции синхронизованных дискретных мод аналогична классической задаче о дифракции плоской волны на амплитудной решетке, а формула (2) совпадает с известной формулой дифракционной решетки. Сжатие фазово-модулированного сигнала дисперсионным элементом (оптическим компрессором) — это временной аналог пространственной фокусировки пучка с помощью линзы. [c.15]

Рельефно-фазовые голограммы во многом похожи на голограммы с отбеленным серебром. Однако в этом случае дифракционная фазовая структура определяется изменением толщины голограммы, а не локальными изменениями показателя преломления. Правильную пропускающую дифракционную решетку можно рассматривать как исключительно простую рельефно-фазовую голограмму. [c.412]

Амплитудная (а) и фазовая (fi) дифракционные решетки [c.299]

Как уже указывалось в 48, рефракционные структуры, вносящие изменение не в амплитуду, а в фазу проходящей волны, дают прекрасно выраженную дифракцию (например, фазовые дифракционные решетки). Однако такие структуры нельзя непосредственно рассматривать или сфотографировать, ибо наши приемники реагируют не на фазу, а на амплитуду (интенсивность), которая остается неизменной при прохождении через разные участки рефракционной структуры. Может показаться, что этот результат опровергает пригодность метода рассмотрения Аббе при одинаковых первичных изображениях (спектрах) мы получаем совершенно различные вторичные изображения. Затруднение объясняется просто дифракционные спектры тех и других структур могут не отличаться по амплитудам, но фаза нулевого спектра в случае рефракционных структур отличается на /. я от фазы спектров остальных порядков. Это и приводит к различию во вторичных изображениях, где происходит суммирование всех спектров. Если, однако, изменить фазу нулевого спектра на /. я, то мы устраним различие между тем, что дают абсорбционные и рефракционные структуры, и сможем увидеть эти последние. Те места структуры, которые дают большее изменение в фазе, можно сделать темными или светлыми в зависимости от того, будет ли добавочная разность фазы в нулевом спектре равна или [c.363]

На рис. 11.16 показана схема получения голограммы при помощи установки, представленной на рис. 11.6. Из рис. 11.16 видно, что при развороте полупрозрачного зеркала 5 между сигнальной А[ и опорной Л о когерентными волнами образуется угол 0. В результате после проявления фотопластины, помещенной на месте экрана 6, получается голограмма — своеобразная дифракционная решетка с чередующимися темными и светлыми полосами высокой частоты. При появлении фазовых возмущений от неоднородности они налагаются на структуру решетки голограммы в виде искажений интерференционных полос. Такая голограмма содержит практически всю информацию об исследуемом потоке. [c.233]

Коэффициент пропускания (7.2) при линейном эйконале записи Фо реализуется рельефной структурой (рис. 7.1) в виде дифракционной решетки с пилообразным профилем штриха. Фазовую модуляцию, осуществляемую такой структурой при нормальном падении света, описывают одним из трех выражений [c.195]

Между последними двумя выражениями, несмотря на их полнейшее сходство, существует принципиальная разница. Оценка при отклонениях глубины ступеней от номинала практически точна и ее можно использовать для расчета дифракционной эффективности реальных ДОЭ, тогда как второе выражение можно применять только при грубых оценках. Для того чтобы оно было достаточно точным, необходимы одинаковые во всех зонах Френеля смещения границ ступеней профиля в фазовом выражении, т. е. величины Аг]) , однако в большинстве случаев это невозможно. При ошибке в совмещении очередного фотошаблона с уже имеющейся на подложке структурой линейные смещения границ ступеней в разных зонах Френеля одинаковы, но это приводит к одинаковым Aif только в одном случае— для периодической дифракционной решетки тогда, когда фотошаблон сдвинут относительно структуры на подложке, но правильно ориентирован. При перекосе фотошаблона линейный и фазовый сдвиги ступеней профиля оказываются непостоянными в пределах одной зоны Френеля. Для ДЛ с кольцевыми зонами Френеля переменной ширины фазовые смещения ступеней всегда непостоянны в пределах одной зоны и неодинаковы для разных зон. Глубина же ступеней профиля действительно всегда одинакова во всех зонах Френеля ДОЭ, если не [c.205]

При нормальном падении электромагнитной волны на симметричную решетку (например, одноэлементную) дифрагированное поле симметрично относительно любой плоскости, перпендикулярной плоскости решетки и проходящей через одну из ее осей симметрии. Для математического описания такого поля начало координат удобно выбирать на оси симметрии, так как в этом случае оказываются равными комплексные амплитуды дифракционных волн с одинаковыми по модулю индексами (эти волны назовем парными). Если начало координат выбрано не на оси симметрии, то комплексные амплитуды парных волн, оставаясь равными по модулю, различаются некоторым фазовым множителем. В противоположность этому в поле дифракции плоской волны на несимметричной решетке, комплексные амплитуды парных волн, вообще говоря, различны. Модули этих амплитуд. как показывает численный анализ, в зависимости от параметров системы могут также оказаться неравными. [c.55]

Остановимся на особенностях резонансных явлений, обусловленных несимметрией возбуждения решетки со слоем или несимметрией самой структуры. При отклонении угла падения от нормального резонансы расщепляются на два один по частоте относительно ф = О слабо сдвинут и имеет примерно ту же добротность, а второй имеет существенно больший частотный сдвиг и более высокую добротность. Если само наличие двух типов резонансов при q> Ф О изначально ясно из существования разных фазовых скоростей для волн с положительными и отрицательными номерами (с п =—1, п = +1), то разный характер этих резонансов требует дополнительного объяснения. Для структур, симметричных относительно нормали, вместо собственных колебаний в виде двух волн, бегущих навстречу друг другу вдоль направления периодичности, можно рассматривать их сумму и разность, т. е. две стоячие волны с симметричным и антисимметричным распределениями поля относительно плоскости симметрии решетки. При ф = О падающая волна связана с симметричным типом, с его резонансами связаны соответствующие явления запирания слоя. Появление хотя бы слабой несимметрии в поле возбуждения (ф Ф 0) влечет за собой соответственно слабую связь и с нечетным типом колебаний. Слабость этой связи обусловливает малые дифракционные потери, высшую добротность резонансов и сильную зависимость резонансной точки от угла падения при малых ф. [c.123]

Рассмотрим область частот, в которой над периодической структурой существует лишь одна распространяющаяся отраженная волна — нулевая гармоника рассеянного поля. Так как в одноволновом диапазоне отражение происходит в зеркальном направлении и с единичной мощностью, то с точки зрения наблюдателя, находящегося в дальней зоне, отражательную периодическую решетку можно заменить некоторой эквивалентной идеально проводящей плоскостью. Положение этой плоскости в пространстве будет определяться arg (Ло) и существенно зависеть от всех параметров. В многоволновом диапазоне (и > (1 + sin ф i ) ), когда над решеткой существует несколько однородных плоских волн, на первый план, естественно, выдвигается изучение энергетических, а не фазовых характеристик отраженного поля. Рассмотрим некоторые наиболее характерные особенности поведения фазы отраженной волны для трех типов отражательных дифракционных решеток гребенки с ламелями прямоугольного сечения (рис. 77, г), эшелетта (рис. 77, а) и решетки из полуцилиндров (рис. 77, д). Для единообразия плоскость 2=0 координатной системы совмещена с плоскостью, касающейся элементов структуры. Прежде всего отметим ряд общих положений. Для длин волн, гораздо больших периода структуры, профиль отдельного элемента решетки практически не сказывается на фазе отраженного сигнала, и отражение происходит практически от плоскости 2=0. При этом Е-поляризованная волна отражается с фазой, близкой к 180°, а Я-поляризованная — с фазой, близкой к нулю. С продвижением в область частот, где длина волны соизмерима с характерными размерами элемента решетки, на фазе отраженного поля начинает сказываться профиль структуры. Как показано ниже, это влияние более существенно в случае [c.136]

Б результате обработки получается набор фазовых дифракционных решеток с разной глубиной рельефа. Профиль одной из них показан на рис. 3.9. Если такие решетки осветить плоской монохроматической волной, то в нулевом порядке дифракции будет наблюдаться максимальная интенсивность для решетки, рельеф которой удовлетворяет соотношению (3.6). Выбором концентрации отбеливателя добиваются, чтобы зто соотношение выполнялось для решетки с максимальным контрастом. [c.66]

В простейшем случае, при записи методом бинарных голограмм, фильтр представляет собой дифракционную решетку с переменной шириной и положением штриха. На рис. 7.2, а показан дифференцирующий фильтр, амплитудная прозрачность которого равна 1 h x,y), значения фазы, равные О и я соответственно в верхней и нижней половинах фильтра, записываются так, что ширина полосы на данном участке голограммы пропорциональна соответствующему значению h (х у) , а фазовая информация кодируется путем смещения структуры штрихов в нижней половине фильтра на половину периода решетки, передающей пространственную несущую. [c.142]

В Структурах были записаны фазовые дифракционные решетки с периодом до 100 мм и дифракционной эффективностью 1 % (при пространственной частоте 15 лин./мм она составляла от 10 до 30 %). [c.143]

Дифракционная эффективность — это отношение интенсивностей восстановленной сигнальной и восстанавливающей волн. При чисто фазовой записи дифракционная эффективность фазовой решетки растет при изменении максимальной разности фаз от О до я и уменьшается затем до нуля при дальнейшем изменении разности от я до 2я, затем снова увеличиваясь в интервале от 2п до Зя. [c.103]

Значение дифракционной эффективности решетки, зарегистрированной на материале, существенным образом зависит от того, является ли регистрирующая среда амплитудной или фазовой, тонкой или толстой , осуществляется ли восстановление в проходящем свете или отраженном (табл. 4.1.1). Кроме того, дифракционная эффективность зависит от параметров регистрации средней экспозиции, соотношения интенсивностей интерферирующих волн, режимов и способов обработки материала и т. д. Изучение этих зависимостей для каждого материала является необходимым условием оптимизации голографической регистрации. [c.133]

Если объектная волна является плоской, то дифракционная эффективность толстой фазовой голограммы может достигать теоретически 100% [2, 4, 6]. В действительности волна не бывает плоской, а изменяется по амплитуде по площади голограммы. Это означает, что нельзя получить оптимальное значение отношения энергии опорной волны к объектной по всей голограмме. Кроме того, если записывается много изображений, дифракционная эффективность падает еще сильнее. Это уменьшение дифракционной эффективности связано не с накоплением интенсивности фона, как в случае поглощающих голограмм, а совсем с иными явлениями. Если многократные экспозиции осуществлять таким образом, чтобы восстановленные изображения всегда образовывались вдоль одной и той же оси (объект помещается всегда в одно и то же место, изменяется только угол, под которым падает опорная волна), то восстанавливающая волна взаимодействует со всеми записанными решетками, свет от которых идет в направлении прихода опорных волн. Таким образом используется часть энергии волны, формирующей изображение. Этот эффект можно исключить введением совершенно различных углов для каждой пары объектной и опорной волн. В таком случае волна, формирующая данное изображение, не может больше взаимодействовать с записанными решетками и тем самым терять энергию. Недостаток такого решения состоит в том, что при этом либо все восстановленные изображения появляются в разных местах, либо голограмму нужно поворачивать, а считывающую волну направлять под другим углом [4]. [c.212]

Обратимые или дополнительные отбеливатели растворяют проявленные зерна нефиксированной голограммы, при этом средний показатель преломления модулируется непроявленными зернами галогенида серебра. Оба этих отбеливателя являются объемными , так как производимая ими модуляция среднего показателя преломления оказывается распределенной по толщине эмульсии и дает некоторые эффекты брэгговской селекции, а также обеспечивает высокую дифракционную эффективность. Поверхностно-рельефные отбеливатели используют эффект поперечной сшивки желатины проявителем или вызывают побочными продуктами отбеливания дыхание желатины, чтобы во время последующей сушки можно было создать модуляцию толщин эмульсии голограммы, образуя тонкую фазовую решетку. Такой же, но более слабый эффект вызывается удалением, обычно в процессе фиксирования, составных частей эмульсии. Вследствие того что эффекты поверхностного рельефа ограничиваются областью низких пространственных частот, такие отбеливатели редко используются в голографии и, за исключением некоторых частных случаев, обычно считаются источниками шума, когда их применяют вместе с другими отбеливателями [9]. [c.395]

Рис. 4. Дифракционная эффективность синусоидальной фазовой решетки в первом и нулевом порядках.

Кноп в работе [10] показывает, что пропускание t(k) составляющей нулевого дифракционного порядка для прямоугольной фазовой решетки равно ( )=со5 (лаД), где а — разность длин оптических путей, и что решетка при %=та, где т — целое число, пропускает весь свет в нулевой порядок, а при A,=(m+V2) а направляет весь свет в высшие порядки. Селективность к цвету основана на зависимости дифракционной эффективности нулевого порядка от длины волны. На рис. 14 показана теоретическая зависимость [c.478]

Дифракционная эффективность голограмм с поверхностным рельефом сильно зависит от формы профиля рельефа и его глубины по сравнению с используемой длиной волны. Чтобы показать это, рассмотрим модель тонкой фазовой решетки, которая вносит в падающую волну фазовую модуляцию с амплитудой 2ф, и вычислим эффективность для некоторых частных случаев. Разложение модулированной волны в ряд Фурье дает значение эффективности для прямоугольного профиля [c.641]

Каждая голограмма является по существу дифракционной решеткой. В зависимости от типа голограмм штрихи решетки могут быть образованы либо пространственным изменением почернения, либо вариациями фазового рельефа. В отличие от нарезных решеток, имеющих, скорее, прямоугольный профиль штриха, голографические решетки являются синусоидальными. [c.171]

Фазовые решетки могут быть отражающими и пропускающими. Идеально отражающие решетки вызывают периодическое изменение фазы и не приводят к изменению амплитуды. Можно создать решетки, способные одновременно менять как амплитуду, так и фазу. Подобные решетки называются амплитудно-фазовыми. На практике решетки, изготовленные нанесением штрихов на стекло или металл, являются фактически амплитудно-фазовыми. Отражательные решетки были изготовлены еще в 80-х годах XIX в. Роулендом путем нанесения штрихов на плоскую н вогнутую металлические поверхности. Преимуществом вогнутой сферической дифракционной решетки является то, что она одновременно выполняет роль фокусирующего зеркала и поэтому не нуждается в наличии дополнительных объективов для получения изображения щели. Это делает ее удобной для использования во всем оптическом диапазоне. Отра- [c.150]

Для объяснения описанного, очень эффектного эксперимента можно рассуждать следующим образом. На первом этапе голографирования фотопластинка воспринимает более или менее сложное поле, фазовые свойства которого зависят от геометрических особенностей объекта и опорной волны, поскольку использованное лазерное излучение пространственно когерентно. Каково бы ни было это поле, его можно представить в виде набора плоских волн (теорема Фурье). Каждая нз них в результате интерференции с опорной волной создает периодическую систему интерференционных полос с характерными для нее ориентацией и периодом. Каждая элементарная интерференционная картина приводит к образованию на голограмме некоторой дифракционной решетки. В соответствии с изложенным в 58 каждая из этих решеток на втором этапе голографирования восстановит исходную плоскую волну. Более детальный анализ показывает, что восстановленные элементарные волны находятся в таких же амплитудных и фазовых отношениях, как и набор исходных плоских волн. Поэтому совокупность восстановленных элементарных плоских волн воссоздаст согласно теореме Фурье полное рассеянное объектами поле, которое мы и наблюдаем визуально или регистрируем фотографически. [c.244]

Описанная система пятен напоминает совокупность главных дифракционных максимумов, возникающих при прохождении исходных пучков через дифракционную решетку. Такой решеткой могла бы, например, служить ультраакустическая волна, представляю-ш,ая собой периодическую последовательность областей уплотнения и разрежения в жидкости и создающая тем самым периодическое изменение показателя преломления, т. е. объемную фазовую рещетку. Дифракционные явления, протекающие в таких условиях, описаны в 56. В нашем случае фазовая решетка создается самим светом. [c.825]

Во взаимодействии записывающего интерференционного поля с голографической решеткой наиболее су1цест-венным моментом являются фазовые соотношения между ними, которые определяются типом решетки и механизмом получения голограммы. Для динамической голографии наибольший практический интерес представляют фазовые объемные решетки, для которых дифракционная эффективность, как уже отмечалось, теоретически может достигать 100%. [c.66]

Как показано выше, принцип взаимности при исследовании рассеяния волн на периодических структурах позволяет получить ряд важных резуль-тов еще до решения соответствующей краевой задачи. Аналогичная ситуация имеет место и в дифракционной электронике [5] при анализе характеристик излучения волн плоским монохроматическим потоком электронов, движущихся с постоянной скоростью V вблизи дифракционной решетки. В [100] показано, что суммарная энергия однородных плоских волн, которая обычно называется в электронике полными потерями монохроматического потока на излучение, не зависит от замены направления движения электронов на обратное даже для несимметричных решеток. От направления движения электронов зависит только перераспределение энергии между распространяющимися волнами, если их несколько. Фазовые скорости собственных волн решетки (в том числе и leaky waves) одинаковы для волн, бегущих влево или вправо от нормали, даже если сама решетка не симметрична относительно нее. [c.32]

Учет конечной толщины возможен в чисто теоретическом плане на основе полученных строгих решений. Влияние ограниченности) размеров, конечной проводимости материала решетки, а также отклонения формы фазового фронта падающей волны составляют предмет многочисленных экспериментальных исследований. в оптике и радиофизике [105, 141, 144, 244, 257, 258, 271, 275—279]. Как показывают результаты экспериментов, дифракционные свойства реальных решеток совпадают с расчетными в пределах ошибки эксперимента (расхождение менее 5 %), если линейные размеры решеток не менее 40—50> , количество периодов порядка 40, толщина лент порядка 0,01 — 0,06 мм (в четырехмиллиметровом диапазоне) и материалом, из которого изготавливаются решетки, является медь или серебро в миллиметровом и сплавы алюминия в оптическом диапазоне. При этом такую решетку необходимо размещать от рупорной антенны облучателя на расстоянии нескольких сотен длин волн (300— 500 X). Влияние конечной проводимости материала решетки на экспериментальные данные наиболее существенно в области аномалий в оптическом диапазоне [141], а также в миллиметровом вблизи добротных резонансов [105]. [c.169]

Интерес к совместному анализу фазовых и энергетических характеристик комплексных амплитуд пространственных гармоник дифракционного спектра периодических решеток нашел отражение в работах [107, 283], появившихся в последнее время и посвященных ОР с селективными зеркалами. Целью этих работ является поиск путей создания существенно одномодовых резонансных систем. Известно, что в ОР, в котором одно из зеркал выполнено в виде дифракционной решетки, существует возможность управлять добротностью, изменяя величину модуля комплексной амплитуды той гармоники дифракционного спектра решетки, на которой работает резонатор, при этом фаза данной амплитуды должна быть постоянной (сохраняется рабочая длина волны, рис. 136, а). Не меньший интерес вызывает режим, когда модуль амплитуды гармоники поддерживается на уровне, близком к единице, а фаза существенно изменяется, что позволяет управлять резонансной частотой ОР (рис. 136, б). [c.196]

Как уже отмечалось в 4.1, главная трудность при записи синтезированных голограмм и фильтров — необходимость записывать одновременно их амплитудную и фазовую части. Эту трудность можно преодолеть, если записывать эти части по отдельности. Так, в [63] предложено синтезировать оптимальный фильтр (7.9) в два этапа на ЦВМ синтезировать амплитудную компоненту фильтра, а фазовую компоненту записать голографическим методом в виде голограммы, состоящей из набора кольцевых дифракционных решеток, сдвинутых одна относительно другой на половину периода решетки (метод нерегулярной фазовой решетки). Процедура оптического синтеза фазовой компоненты винеровского фильтра подробно описана в [200]. [c.151]

Недавно было показано, что пара призм может создавать отрицательную дисперсию при отражении [53]. Тем не менее требуемое расстояние между призмами обычно на два порядка больше, чем между решетками, из-за относительно малого значения дисперсии в кварцевом стекле. Это расстояние можно уменьшить, используя такие материалы, как стекло из тяжелого флинта [54] или кристалл TeOj [55]. Для призм из кристалла ТеО, расстояние между ними становится сравнимым с расстоянием между дифракционными решетками. В эксперименте [55] 800-фемтосекундные импульсы были сжаты до 120 фс при этом использовалась пара призм на расстоянии 25 см друг от jnyra. Поскольку потери энергии в паре призм можно сократить до 2% и менее, их использование, вероятно, станет общепринятым. В качестве альтернативы паре решеток в работе [56] было предложено использовать фазовую решетку, индуцированную в кристалле ультразвуковой волной со свипированной частотой. Если световод обладает фоторефракцией, то, пользуясь стандартными методами голографии, внутри его сердцевины можно создать постоянную [c.152]

Грим [25] описывает изготовление голографических дифракционных решеток на фоторезисте Шипли AZ-1350. После проявления и сушки на этих решетках методом вакуумного испарения можно получить алюминиевое покрытие с высоким отражением. С другой стороны, проявленный фоторезист можно применять без покрытия как высококачественную тонкую фазовую решетку. Бартолини [3] [c.305]

Впервые синтезированную на ЭВМ голограмму произвольной ко.мплексной функции фильтра создали Ломан с сотр. [7, 211. Чтобы получить такую голограмму, прежде всего необходимо сделать выборку комплексного поля. В каждой точке выборки комплексное поле представляется прямоугольной щелью, ширина которой пропорциональна амплитуде, а ее смещение в поперечном направлении (от точки выборки) пропорционально фазе. Синтезированную на ЭВМ голограмму можно рассматривать как дифракционную решетку с целенаправленно введенными дефектами Желаемое комплексное поле получается в результате косвенных фазовых эффектов в одном из дифракционных порядков (рис. 4). На рис. 5 показана такая голограмма-фильтр, преобразующая букву G в знак +. Экспериментальные результаты применения этого фильтра были получены Ломаном и сотр. 123] (рис. 6). [c.598]

Используя такой подход, Когельник рассмотрел наиболее характерные случаи записи. В частности, он показал, что дифракционная эффективность фазовой отражательной решетки при некоторой достаточно большой толщине стремится к 100%. Дифракционная эффективность такой же амплитудной решетки не превышает 7,2%. [c.705]

Для расщепления предметного пучка могут быть использованы различные светоделители — зеркало Ллойда, бипризмы Френеля, зеркало Френеля, линзы Бийе, фазовая пластинка Френеля, дифракционные решетки, интерферометры и другие устройства. Наилучшей системой расщепления волны света от предмета является система, в которой в качестве светоделителя используется дифракционная решетка с синусоидальным профилем. Оптическая схема получения голограммы при пространственно некогерентном, освещении приведена на рис. 1.8. [c.22]

М. И. Бургер усовершенствовал этот метод настолько, что получил изображение решетки, не обладающей центром симметрии, для которой можно с небольшой погрешностью определить разность фаз падающего и дифрагированного излучения. Хорошо подобранные фазовые пластинки он вставлял в отдельные пятна дифракционной картины, благодаря чему получал необходимую фазовую задержку в процессе дифракции. [c.17]

Голограммы бьшают пропускающими (схема Лейта — Упатниекса [26]) и отражательными (схема Денисюка [28]) ) с весьма различными спектральными и угловыми селективностями, дифракционными эффективностями и их зависимостями от толщины. Все это, как мы увидим ниже, существенно сказывается не только на характеристиках генерации на динамических решетках обоих типов, но и на возможности ее осуществления в различных схемах резонаторов. Различают фазовые и амплитудные решетки, в которых пространственно модулированы соответственно действительная и мнимая части комплексного показателя преломления регистрирующей среды. Предельная дифракционная эффективность фазовых голограмм составляет 100%, а амплитудных - десятки процентов. Поэтому в лазерах на динамических решетках используются только фазовые динамические решетки, что и будет подразумеваться в дальнейшем изложении. Различают также тонкие (двумерные) и объемные (трехмерные) голограммы. При считывании тонких голограмм возникают несколько дифракционных порядков, что снижает дифракционную эффективность. В объемных голограммах дафракция происходит по закону Брэгга. При этом остается только один дифракционный пучок (—1)-го порядка, представляющий собой восстановленный сигнальный пучок. [c.19]

Подавляющее большинство рассеянных волн покидает нелинейный кристалл. Лишь для небольшого конечного числа рассеянных компонент система зеркал, формирующая резонатор, возвращает часть рассеянных фотонов обратно в кристалл для создания положительной обратной связи. Если фазовые соотношения подобраны правильно, вводимая в кристалл световая волна когерентно складывается с исходной, рассеянной неоднородностями кристалла, что приводит к )гвеличению контраста интерференционной решетки и росту дифракционной эффективности соответствующей шумовой голографической решетки. Так введение обратной связи создает благоприятные условия для развития лишь некоторых выделенных решеток [69]. [c.40]

Нелокальный отклик и фазовый сдвиг в тг/2 характерны для диффузионного отклика в отсутствие внешнего поля (Eg = 0) при любом соотношении /д и Л ( [, к Ер) (2.10). Однако максимальное изменение Дп, а следовательно, максимальное усиление и дифракционная зффективность решетки соответствуют малым длинам переноса 1д < А. [c.49]

Во всех самообращающих зеркалах в генерационном режиме возникает объемная фазовая решетка. При мягком режиме самовозбуждения решетка возникает на пороге с нулевой дифракционной эффективностью (интенсивность как генерационных пучков, так и обращенного пучка на пороге нулевая). В схемах с жестким режимом возбуждения требуется запись решетки с конечным значением дифракционной эффективности для установления самоподдерживающегося режима генеращ1и (полуоткрытый резонатор с двумя областями взаимодействия). Здесь [c.151]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...