Длина волны приведенная

Монография содержит строгую теорию дифракции на одномерных периодических структурах при любых отношениях периода к длине волны. Приведен богатый фактический материал. [c.272]

Существуют строгие решения задачи дифракции на периодических ленточных решетках при произвольных соотношениях между размерами решетки и длиной волны, приведенные в работах [1], [56]. Однако в этих работах предполагается, что экран имеет нулевую толщину. [c.104]

Ниже представлены длины волн, вычисленные по приведенной выше формуле. [c.90]

В качестве освещения в электронном микроскопе использован электронный луч. Как видно из приведенной формулы, разрешающее расстояние определяется длиной волны. [c.38]

Рис. 5.33 иллюстрирует результаты просветления двух сортов стекла (легкий крон и тяжелый флинт). Приведенные на нем кривые показывают зависимость коэффициента пропускания от длины волны при прохождении света через 10 поверхностей крона или флинта до просвет.иения и после нанесения просветляющей однослойной пленки из диоксида кремния. [c.218]

Метрологические приложения интерферометрического метода весьма существенны и отражают прогресс науки и техники, достигнутый в XX в. Хорошо известно, что использование в качестве первичного эталона длины метрового платинового стержня, хранящегося в Париже, представляла ряд неудобств. Более эффектно выглядела возможность определить путем последовательных интерферометрических измерений, сколько длин волн какой-либо спектральной линии укладывается в одном метре, и затем считать первичным эталоном приведенную к вакууму длину волны ло этой линии, излучаемой стандартным источником света. [c.237]

Из приведенного выше выражения для увеличения видно, что в голографии Фурье увеличенное изображение можно получить как за счет различия длин волн X н X, так и путем приближения объекта к голограмме (уменьшение г , которая действует, следовательно, как объектив микроскопа. [c.256]

Сложность наблюдения анизотропии кубических кристаллов обусловлена чрезвычайной малостью эффекта. Согласно приведенным выше оценкам, анизотропия в этом случае определяется квадратом отношения постоянной решетки к длине волны и по порядку величины равна 10 —10 . Поэтому обсуждаемый эффект был обнаружен лишь в 1960 г., о чем говорилось в начале параграфа, хотя Лорентц обратил внимание на возможность его существования еще в 1878 г. [c.524]

Если угол падения достаточно велик, то в области селективного эффекта изменение направления вектора Е, т. е. ориентация электрического вектора, сказывается чрезвычайно отчетливо на величине фототока. Рнс. 32.11 изображает силу тока насыщения в зависимости от длины волны для двух ориентаций электрического вектора — перпендикулярной ( 1) и параллельной (Ер) плоскости падения. Приведенные кривые соответствуют углу падения в 60° и относятся к сплаву калия и натрия, максимум чувствительности которого приходится на длину волны Х - 390,0 нм. Ниже приводятся положения максимума для ряда чистых металлов [c.645]

Электромагнитное излучение всех длин волн обусловливается колебаниями электрических зарядов, входящих в состав вещества, т. е. электронов и ионов. При этом колебания ионов, составляющих вещество, соответствуют излучению низкой частоты (инфракрасному) вследствие значительной массы колеблющихся зарядов. Излучение, возникающее в результате движения электронов, может иметь высокую частоту (видимое и ультрафиолетовое излучение), если электроны эти входят в состав атомов или молекул к, следовательно, удерживаются около своего положения равновесия значительными силами. В металлах, где много свободных электронов, излучение последних соответствует иному типу движения в таком случае нельзя говорить о колебаниях около положения равновесия свободные электроны, приведенные в движение, испытывают нерегулярное торможение, и их излучение приобретает характер импульсов, т. е. характеризуется спектром различных длин волн, среди которых могут быть хорошо представлены и волны низкой частоты. [c.682]

Из распределения амплитуд скоростей и деформаций, приведенного на рис. 436, нетрудно усмотреть, что для каждой данной гармоники узлы скоростей совпадают с пучностями деформаций и, наоборот, пучности деформаций — с узлами скоростей, а также что узлы и пучности скоростей (или узлы и пучности деформаций) расположены в чередующемся порядке на расстоянии Х /4 друг от друга, где Xfi — длина волны, соответствующая данной гармонике. [c.667]

Следует подчеркнуть, что приведенные определения длины волны имеют в виду именно гармоническую волну. [c.678]

На рнс. 167 приведен график зависимости фазовой скорости воли иа поверхности воды от длины волны. Так как фазовая скорость поверхностных волн является функцией длины волны с = с(Я), а Я = с/у, то, следовательно, с = с(у). Поэтому ири наличии дисперсии фазовая скорость волн зависит от их частоты. [c.205]

Градуировка установки. Перед началом измерений установку градуируют по длинам волн. Для этого входную часть спектрографа ИСП-51 освещают источником света, обладающим линейчатым спектром с щироко расставленными линиями, длины волн которых хорошо известны. В качестве такого источника удобно использовать ртутную лампу, спектр которой приведен в приложении 1. Далее осуществляют запись и расшифровку спектра и.злучения ртутной лампы и устанавливают зависимость между длинами волн ее отдельных линий (пиков на бланке самописца) и делениями барабана, связанного с моторчиком, вращающим призменную часть спектрографа. По этим данным строят дисперсионную кривую установки. [c.206]

Наконец, третья особенность электромагнитных процессов в ядрах обусловлена тем, что при одной и той же энергии, скажем, в области одного или нескольких десятков МэВ, приведенная длина волны фотона ку гораздо больше длины волны нуклона Xn той же энергии [c.162]

Испускаемые ядрами у-кванты обычно имеют энергии от десятков кэВ до нескольких МэВ, т. е. приведенные длины волн [c.261]

Выразив в соответствии с (1.19) импульс р через приведенную длину волны I, это выражение можно переписать в виде [c.342]

Определение образа выявленного дефекта. Целью НК является не только обнаружение дефектов, но и распознавание их образа для оценки потенциальной опасности дефекта. Методы визуального представления дефектов эффективны, когда размеры объектов (дефекта в целом или его, фрагментов) существенно превышают длину волны УЗК. Кроме того, эти методы требуют применения довольно сложной аппаратуры. В практике контроля дефекты идентифицируют по признакам, рассчитанным по измеренным характеристикам дефектов посредством дефектоскопов с индикатором типа А. Словарь признаков приведен в табл. 16, где t/д, t/д (а , t/д/ — амплитуды эхо-сигналов от дефекта при контроле сдвиговыми волнами с углом ввода o q и а. и продольными волнами с углом, ввода а соответственно Uo, Uq ( з), Uoi — амплитуды эхо-сигналов от цилиндрического отражателя СО № 2 (№ 2а) — амплитуда эхо-сигнала сдвиговой волны, испытавшей двойное зеркальное отражение от дефекта и внутренней поверхности изделия ( о) и Яд(ос2) — координаты дефекта при угле ввода о и 2 соответственно А1д, АХд, АЯд — условные размеры (протяженность, ширина и высота) дефекта ALq, АХо, АЯо — условные размеры ненаправленного отражателя на той же глубине, что и выявленный дефект Уд — угол ориентации дефекта в плане соединения (азимут дефекта), Ауд. ц, Ауд. к— углы индикации дефекта в его центре и на краю соответственно при поворотах преобразователя от центра дефекта Ауд—угол индикации бесконечной плоскости на заданном уровне ослабления при повороте искателя в одну сторону б — толщина соединения I — расстояние от точки выхода луча до оси объекта. [c.243]

В уравнении (5-5) закон Кирхгофа приведен для интегрального излучения. Но он может быть применен и для монохроматического излучения. В этом случае он формулируется так отношение излучательной способности определенной длины волны к поглощательной способности при той же длине волны для всех тел одно и то же и является функцией только длины волны и температуры, т. е. [c.157]

Из анализа приведенных соотношений следует, что направленность ультразвукового пучка тем выше, чем больше размер излучателя и меньше длина волны. Для решения таких практических задач, как определение шага сканирования, оценка условной протяженности дефектов, проектирование стандартных образцов предприятия (СОП), требуется знать ширину ультразвукового пучка на определенном расстоянии от излучателя. Для симметричного поля круглого или квадратного пьезоэлектрического преобразователя (ПЭП) удобнее пользоваться его полушириной, которую в зависимости от глубины г определяют по формуле г tg G. [c.21]

Из приведенных графиков трудно сделать выводы о значении КПД. Теоретически КПД кремниевой батареи составляет лишь 45 %. Для кремния ( g=l,08 3B) максимальная длина волны излучения, создающего пары дырок и электронов, Я=1150 нм. Энергия части солнечного спектра с Х>1150 нм равняется 22 % полной энергии и составляет энергию потерь. При 575 >.<1150 нм в батарее используется только 1,08 эВ от каждого фотона излучения. Результирующее значение этих потерь составляет около 45 %. КПД равен отношению полезной мощности батареи к энергии излучения, падающего на ее поверхность [c.100]

В уравнениях, приведенных в 2, 3 и 5 для цилиндрической и кубической трубки, встречаются две постоянные — о я /о. которыми существенно обусловливается резонанс теперь мы постараемся вычислить эти постоянные для некоторых случаев. При этом необходимо определить потенциал скоростей для всего рассматриваемого объема воздуха и для движения, которое в цилиндрической трубе поддерживается ее основанием, в кубической же трубе — произвольной частью сосуда. Это опять-таки возможно кри некоторых определенных предположениях относительно ограничения объема воздуха. Мы примем, что для расстояний от отверстия порядка длины волны или больших, простирающихся в бесконечность, объем воздуха или ничем не ограничен, или ограничен частью произвольной конической поверхности, вершина которой расположена в отверстии. Обозначим через г расстояние переменной точки от этой вершины и допустим, что для значений г порядка длины волны или больших, имеет место уравнение (19) [c.282]

Из приведенных выкладок следует и то, что 7 = 0 для всех длин волн лишь в том случае, когда ni — nj = 0. Иными словами, соотношение (2.18) справедливо для монохроматического света. При белом свете гашение наблюдается лишь в том случае, когда rej — 2 = О- [c.42]

Предположение о том, что поверхности серые, будет правильным, если собственное и падающее излучение ограничены одним и те.м же диапазоном длин волн, а спектральные характеристики поверхностей не зависят от длины волны. Приведенный выше метод можно использовать и в случае неизотермных по- [c.130]

Все приведенные выше характеристики излучения имеют отношение как к интегральному, так и к монохроматическому излучению. В случае последнего характеристики излучения записываются с индексом X, указывающим на их отношение к некоторому интервалу длин волн. Приведенная классификация видов излучения предложена Ю. А. Суриновым, [c.478]

Для того чтобы увязать приведенные ранее термодинамические соотношения с результатами экспериментов по определению зависимости испускательпой способности черного тела от длины волны и температуры, нужно сделать какие-то предположения [c.416]

Пусть источник посылает волны длины К. Разность хода, выраженная в длинах волн, есть А = к21/0 = тХ, где т — любое число (целое или дробное), определяющее порядок интерференции. Согласно расчетам, приведенным в 13, изменение освещенности в зависимости от к (или т = 2М1ХВ) описывается формулой (при равных амплитудах а интерферирующих волн) [c.75]

Используя приемники, полностью поглощающие всю падающую на них тепловую энергию (абсолютно черное тело, см. гл. XXXVI), зная теплоемкость приемника и учитывая потери тепла, можно по повышению температуры оценить в абсолютных единицах энергию, приносимую лучами, что также является принципиальным преимуществом теплового метода. Им пользуются для измерений лучистой энергии всех длин волн, включая и ультрафиолетовые, особенно в тех случаях, когда желают получить количественные данные о распределении энергии по спектру излучающего тела. На рис. 19.1 показано схематически такое распределение для спектра Солнца. Для иных источников (например, лампа накаливания или ртутная лампа) распределение энергии по длинам волн может существенно отличаться от приведенного. Несмотря на универсальность теплового метода и возможность получения сравнимых между собой количественных показаний, обычно удобнее использовать для разных интервалов длин волн специальные приемы исследования, упомянутые выше. [c.401]

Из приведенных данных, относящихся к длине волны X = = 546,0 нм (зеленая линия), видно, насколько трудно исследование явления Керра в газах. В первых измерениях этого рода применялся конденсатор с длиной пластин 50 см и с расстоя,нием между ними около 4 мм, на которые накладывалась разностР потенциалов [c.530]

Для характеристики степени монохроматичности спектральных линий, т. е. излучения практически изолированных атомов, надо исследовать распределение интенсивности излучения по частотам с помощью прибора высокой разрешающей способности, например интерферометра Майкельсона или Фабри—Перо. Результат такого исследования можно представить в виде диаграммы (рис. 28.16), где по оси абсцисс отложены длины волн, а по оси ординат — соответствующие интенсивности. Конечно, нижние части полученных кривых очень мало достоверны, и можно полагать, что в идеальных условиях кривые спадали бы к нулю асимптотически. В разных условиях опыта (различие в природе пара, различие в температуре и давлении его, в степени иониза-0,01 000 0,03 Щ ции и т. д.) форма спектральной линии, изображенная на рис. Рис. 28.16. Контур линии испуска- 28.16, может быть различной. В качестве характеристики ширины линии условно принимают расстояние в ангстремах между двумя точками А, В, где ордината достигает половины максимальной. Эту условную характеристику принято называть шириной спектральной линии. Как сказано, она в очень благоприятных случаях может составлять 0,001 А и менее, но обычно бывает значительно шире кроме того, и форма линии мом ет сильно отступать от приведенной на рисунке, будучи иногда заметно асимметричной. [c.572]

Более серьезные затруднения, в случае применения теорип Дебая к кристаллическим веществам, возникают в связи с видом используемой функции g(i) [формула (5.2)]. При высоких температурах (7 >Н ) теплоемкость С,, не должна сильно зависеть от вида (n), поскольку в этом случае возбуждены все колебания. Наоборот, при низких температурах (ГсНц) возбуждаются только состояния, соответствующие низкочастотному концу спектра, т. е. большим длинам волн. Распространение же волн, длина которых значительно превышает межатомные расстояния, не может резко зависеть от фактического строения кристалла и действительного характера межатомных сил. Вычисления Дебая вполне приложимы к таким волнам, причем функция (м) для нпзких частот должна быть пропорциональна Однако эта теория ничего не. может сказать о том, в какой мере отклонения от параболического (квадратичного) закона при более высоких частотах связаны с конкретным строением кристалла. Из приведенных рассуждений следует заключить, что может отклоняться от значений, определяемых формулой [c.320]

Картину явления, наблюдавшуюся при более низких температурах (ниже 0,5° К), удается объяснить на основе предположения о том, что при этих температурах длина свободного пробега фононов становится порядка длины волны второго звука или порядка размеров полости. В этом случае вообще не имеет смысла говорить о втором звуке. Резкий передний край принимаемого импульса может быть обусловлен фононами, приходящими прямым путем со скоростью v . Значение v , полученное во всех трех трубках (если ввести запаздывание в 8 мксек, вызванное, возможно, тепловыми сопротивлениями, обнаруженными Капицей, на поверхностях нагревателя и термометра), составляет 236 i- 4 м/сек, что находится в хорошем согласии со значением Чейса и Херлина, приведенным выше. Большое размытие пмпульса, по-видимому, обусловлено фононами, приходящими к приемнику после большого числа столкновений со стенками и диффузного рассеяния на них. [c.571]

Очевидно, что чем меньше угол конуса, т. е. чем уже пучок звуковых волн, создаваемых пластиной, тем медленнее падает амплитуда звуковой волны в направлении иормали к пластине. Поэтому во многих случаях (например, чтобы озвучить длинную, но узкую площадь) выгодно применять источники звука, дающие узкий пучок волн, т, е. направленные источники звука. Для этого потребовались бы пластины, например мембраны громкоговорителей, размеры которых больше длины звуковой волны. Однако даже для средних звуковых частот (волны длиной 20—30 см) это условие выполнить невозможно. Мембраны сами по себе практически не могут дать направленного излучения звуковых волн. Более того, так как мембраны практически приемлемых размеров оказываются много меньше длины волн для длинных звуковых волн, то на низких частотах явление дифракции играет заметную роль уже в непосредственной близости к мембране. Даже вблизи мембраны создаваемые ею волны существенно отличаются от плоских. Поэтому приведенный выше расчет мощности, излучаемой пластиной, в этом случае неприменим. [c.741]

На тех же графиках в интервалах длин воли АХ схематически показан[,1 кривые (а, Ь и с) сиектральноГ излучательиости и коэффициента поглощеиия при выборочном излучении. Из приведенных кривых следует, что чем интенсивнее тело излучает лучи определенной длины волны, тем большим коэффициентом поглош,ения обладает оно по отношению к лучам той же длины волны. [c.393]

Спектры поглощения водных растворов приведенных веществ обнаруживают характерный четкий максимум поглощения, находящийся в диапазоне 220—290 нм, точное местоположение которого зависит от вида и расположения заместителей в бензольном кольце. Абсолютная величина поглощения зависит от концентрации ингибитора и с переходом от дициклогексиламина к циклогексила-мину и далее к щелочным металлам растет, что отчетливо видно из графиков (рис. 27). Таким образом, метод спектрофотометрического определения производных бензойной, нитробензойной и динит-робензойной кислот в антикоррозионной бумаге сводится к экстрагированию их из бумаги, фотометрированию полученного экстракта для получения оптической плотности при длине волны максимума [c.136]

Требования, предъявляемые к материалам для полю сов. Анализ приведенных данных позволяет сформулировать основные требования к материалам полюсов материал полюсов должен иметь однородную кристаллическую структуру и высокую чистоту по содержанию примесей, исключающую возможность резких локальных колебаний фазового и химического составов обработка полюсов должна обеспечить достижение минимальных значений внутренних напряжений при их однородном распределении обработка полюсов должна обеспечить минимальную длину волны регулярных колебаний их намагниченности наиболее высокие требования должны предъявляться к тонкому поверхностному слою полюсов материал полюсов должен быть высокопро- [c.231]

Как следует из приведенных выражений, относительная разность хода, называемая также относительным запаздыванием, прямо пропорциональна толш.ине пластинки и разности главных показателей преломления и обратно пропорциональна длине волны света. [c.30]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...