Фабри и Перо

Допплеровский сдвиг и расширение ионных линий в положительном столбе электрического разряда в газах наблюдали С. Э. Фриш и Ю. М- Каган [ ]. Положительные ионы в плазме электрического разряда ускоряются электрическим полем по направлению к катоду. Кроме того, они принимают участие в беспорядочном тепловом движении, что вызывает как сдвиг, так и расширение ионных линий. Благодаря возникающей при этом анизотропии в движении ионов, ширина и сдвиг одной и той же ионной линии различны при наблюдении под разными углами к оси разряда. Экспериментально сдвиг и расширение наблюдались на линиях ионизованных инертных газов (Аг II, Кг И, ХеИ) с помощью эталона Фабри и Перо. Допплеровский характер сдвига был, во-первых, установлен на основании того факта, что он менял знак с изменением направления электрического поля во-вторых, в соответствии с допплеровским соотношением [c.486]

С. Л. Мандельштама 1. Ими с помощью эталона Фабри и Перо измерялись ширины и сдвиги линий ионизованного аргона (АгП) и нейтрального гелия (Не I), возбуждаемых в искровом разряде при атмосферном давлении. Из линий Не I изучались линии [c.512]

На рис. 15 представлен схематический чертеж (в разрезе) эталона Фабри и Перо обычной конструкции. В массивную оправу 1 вставлено кольцо 2, к трем выступам 5 которого прижаты посредством пружин 10 зеркала 3 с нанесенными на них светоделитель-ными слоями 4. При помощи винтов 9 и пружин 10 можно регулировать параллельность зеркал эталона. В конструкции оправы предусмотрена возможность установки колец различной толщины (чаще всего в пределах 5—100 мм). [c.31]

Рис. 15. Схема эталона Фабри и Перо в разрезе

Опыт оптической лаборатории Всесоюзного научно - исследовательского института метрологии им. Д. И. Менделеева (ВНИИМ) по созданию и использованию интерференционных эталонов типа Фабри и Перо показал, что наиболее подходящей конструкцией нерегулируемых эталонов для спектрометрических целей являются трубчатые эталоны. На рис. 19 представлен схематический чертеж трубчатого эталона. [c.34]

Рис. 17. Нерегулируемый эталон Фабри и Перо

Рис. 18. Эталон Фабри и Перо с разделителем в виде концевой меры

Рис. 19. Трубчатый нерегулируемый эталон Фабри и Перо

ИНТЕРФЕРОМЕТРА МАЙКЕЛЬСОНА И ЭТАЛОНА ФАБРИ И ПЕРО [c.36]

Если разрешающая сила эталона Фабри и Перо достаточно велика, т. е. качество зеркал, параллельность и разность хода выбраны соответствующим образом, то распределение интенсивности и в интерференционном кольце почти повторяет распределение интенсивности в самой спектральной линии источника. [c.38]

Следует заметить, что для самых точных исследований контуров эталон Фабри и Перо действительно является одним из наиболее удачных и удобных приборов, непосредственно разрешающих сверхтонкую структуру линии. На основе теоретических соображений можно внести поправки на инструментальное расширение контура и получить истинный контур линии. Как уже упоминалось, для работы с эталоном Фабри и Перо необходимо выделить достаточно узкую спектральную область. Поэтому его обычно применяют в соединении с призменным спектрографом или монохроматором, располагая при этом эталон между коллиматором и призменной системой. Щель спектрографа вырезает из всей картины колец вертикальную полосу. Правильную установку эталона по отношению к оптической оси спектрографа определяют по положению щели относительно центра картины, как это показано на рис. 21. Регистрировать интерференционную картину от эталона Фабри и 38 [c.38]

Рис. 21. Поле зрения спектрографа, соединенного с эталоном Фабри и Перо

Рис. 22. Схема установки с эталоном Фабри и Перо

Метод совпадений сводится к следующему. Если интерферометр Фабри и Перо осветить волнами двух длин Я-i и 2, то кольца для обеих длин волн будут совпадать, если разность хода А равна целому числу длин волн в обеих линиях, т. е. [c.51]

Во ВНИИМ создана установка для измерения длин волн и полуширины спектральных линий — на рис. 29 изображена ее схема. Свет от лампы 4, излучающей эталонную длину волны, ламп 2 и 6, излучающих исследуемые длины волн, с помощью системы призм 5 направляется на щель коллиматора 22, а затем на эталон Фабри и Перо 20, помещенный в вакуумную камеру 21, и далее через призмы спектрографа 19 в регистрационное устройство 17 и 16. При измерениях длин волн и щирины линий в воздухе ДЛЯ регистрации интерференционной картины служит фотоэлектрическое регистрирующее устройство (12, 14, 15, 16, 18). При измерениях в вакууме фотоумножитель 16 заменяют фотокамерой и для регистрации используют фотографический способ. Система 13 служит для измерения температуры эталона, система 9 — для измерения температуры стенок капилляра эталонной лампы, насос 11 и вакуумметр 10 — для создания и измерения вакуума в камере эталона. /, 5 и 7 — это агрегаты питания лампы 8 — система охлаждения лампы. [c.54]

Генератор будет излучать монохроматический направленный световой пучок, так как усиливаться будут только те волны, которые многократно отразились и прошли при этом много раз через активное вещество, не сильно отклонившись от оси системы. Этот пучок очень мощный и неограниченно монохроматический. Однако воспроизведение длины волны, испускаемой лазером, определяется до некоторой степени качеством резонатора, т. е. физическими достоинствами эталона Фабри и Перо. Эта сторона вопроса находится в стадии исследования так же, как и ширина излучения. Теоретически световой пучок может быть сужен до бесконечности. В процессе опыта интерференция наблюдалась на расстоянии около 200 м. [c.69]

Метод интерференции световых волн, как уже упоминалось, позволяет осуществить эту передачу. Пользуясь методом совпадения дробных частей порядков интерференции, если известно точно значение длин волн и приближенно разность хода, можно уточнить значение порядка интерференции, получить точно размер эталона Фабри и Перо, концевой или штриховой меры и, таким образом, передать значение естественного эталона искусственным и, далее — до изделий заводов и фабрик. [c.73]

ИНТЕРФЕРОМЕТР ФАБРИ И ПЕРО 81 [c.81]

Интерферометр Фабри и Перо. [c.81]

Полосы Фабри и Перо могут получаться с одной пластинкой при интерференции прошедшего света и света, который испытал два внутренних отражения. В этом случае разность запаздывания между двумя волнами равна 2пс, где с представляет толщину пластинки, ап — ее показатель преломления. Постепенной нагрузкой или нагреванием можно изменять как п, так и с изменение п и с можно измерить с большой точностью подсчетом числа появляющихся (или исчезающих) полос. Применение этого способа к оптическому методу изучения напряжений будет дано в главе 111, 3.25. [c.82]

Долгое время оставался спорным вопрос о том, соответствует ли расстояние между наблюдаемыми составляющими теоретическому или оно несколько отлично от него. Ответ удалось получить лишь после того, как стало возможным применение тяжелого изотопа водорода (дейтерия, D ), линии которого приблизительно в 1,4 раза з же линий обычного водорода Весьма тщательные измерения, произведенные Виллиамсом с помощью эталона Фабри и Перо и источника света, охлаждаемого жидким воздухом, окончательно установили на- [c.129]

В результате этих сдвигов компоненты III rf, III с и Ий должны расщепиться. Сериесу, который работал с источником света, охлаждаемым жидким воздухом, и с двойным эталоном Фабри и Перо, удалось разрешить компоненты III й и 111с [ ]. Всего им измерено положение 8 компонент (рис. 69), из которых 1-я представляет собой нало- [c.130]

Возникшая из золота ртуть отгонялась в кварцевую трубку, наполненную аргоном при давлении в 4 мм рт. ст. Свечение паров ртути возбуждалось высокочастотным разрядом. Зеленая линия (Х5461 А) исследовалась с помощью эталона Фабри и Перо она была простой и резкой и совпадала по положению с компонентой сверхтонкой структуры зеленой линии обычной ртути (линия I на рис. 297). [c.530]

Наблюдения велись на линии Lull, — Dj, Х646зА. Так как для обоих термов У < /, то момент ядра / определялся по отношению интенсивностей сверхтонких компонент, измеряемых с помощью фотоэлектрической установки с эталоном Фабри и Перо. На рис. 298 приведена наблюденная сверхтонкая структура линии Х646зА, где а, Ъ, с — компоненты а А, В, С — компоненты [c.532]

Многолучевая интерференция и многолучевой микроинтерферометр МИИ-И. Многолучевая интерференция возникает за счет многократного отражения когерентных пучков света в клинообраз-йой пластине по схеме Фабри и Перо (свет падает под углом <0 = 1-ьЗ ). При этом получение узких контрастных полос обусловливается тем, что при сложении N когерентных пучков образуется не по одному максимуму и минимуму освещенности (Как это имеет место при двухлучевой интерференции), а на М максимумов приходится Л —1 минимумов освещенности. Из макси- [c.97]

Работы Майкельсона, Фабри, Перо, Бенуа и других ученых, посвященные изучению спектров различных элементов и послужившие началом развития новой отрасли науки — спектроскопии, позволили установить и принять в 1905 г. на Международном конгрессе по изучению Солнца, что длины световых волн следует определять путем сравнения их с одной длиной волны, принятой за эталонную и сравненную предварительно с длиной прототипа метра. Эталонная длина волны получила название новой единицы — ангстрема. Конгресс по изучению Солнца принял в качестве эталонной длину волны красной линии кадмия, сравненную Майкельсоном с прототипом метра. После повторного, уточненного, сравнения, проведенного в 1905—1906 гг. Бенуа, Фабри и Перо, ангстрем был определен как - - длин волн красной линии кадмия, где знамена- [c.7]

ЯВЛЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ В ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ И КЛИНОВИДНЫХ ПЛАСТИНКАХ, ЭТАЛОН ФАБРИ И ПЕРО, ИНТЕРФЕРОМЕТР МАИКЕЛЬСОНА [c.23]

При сравнении метра с длиной световой волны красной линии кадмия в Международном бюро мер и весов (МБМВ) Фабри и Перо предложили интерферометр, представляющий собой два зеркала, покрытые светоделительными слоями и установленные строго параллельно друг другу на определенном расстоянии, т. е., по существу, воздушную плоскопараллельную пластинку . Эта воздушная плоскопараллельная пластинка названа была ими интерференционным эталоном и известна в курсе физики как интерференционный эталон Фабри и Перо . Это название, конечно, не связано с понятием эталона в метрологическом смысле, оно лишь означает неизменность расстояния между зеркалами. [c.31]

При исследовании строения спектральных линий с помощью эталона Фабри и Перо пользуются фотографической регистрацией интерференционной картины. Во избежание заметного влияния изменения температуры эталона на интерференционную картину в течение экспозиции кольца изготовляют из материала с малыми коэффициентами термического удлинения. Для эталонов, толщина колец которых не превьшлает 100 мм, параллельность зеркал удобно регулировать с помощью соответствующих пружин и винтов. Для эталонов длиной свыше 100 мм лучшие результаты дает иная конструкция регулировки (рис. 16). [c.32]

В Международном бюро мер и весов интерферометр Майкельсона, усовершенствованный Пераром и Терриеном и снабженный новейшим фотоэлектрическим способом регистрации интерференционной картины, и в настоящее время используется при самых точных исследованиях контуров спектральных линий. Однако интерферометр Майкельсона позволяет построить контур спектральной линии при изменении разности хода в интерферометре передвижением зеркала, и при таком анализе контура приходится выполнять довольно сложные математические преобразования. Несколько проще получить контур линии, пользуясь эталоном Фабри и Перо. [c.38]

На рис. 23, а изображены интерференционные кольца зеленой линии ртути (негатив) —ясно видна чрезвычайно сложная сверхтонкая структура на рис. 23,6 — кольца красной линии естественного кадмия ( d) при той же разности хода в эталоне Фабри и Перо на упомянутой выше установке. Для зеленой линии каждое кольцо как бы распадается на целую систему колец. Число составляющих сверхтонкой структуры зеленой линии ртути (Hg) доходит до 16. Именно эта сложность контура и заставила Май-кельсона отказаться от самой яркой линии, испускаемой тяжелым [c.40]

Таким образом, изучая контуры исследуемых линий при разных температурах источников и плотностях тока, проходящего через разряд, оказалось возможным подобрать условия, при которых все искажения теоретического допплеровского контура исчезающе малы лишь для оранжевой линии Кг . На рис. 26 представлен контур этой линии, заимствованный из работы МБМВ, где кривая 1 соответствует записи контура с помощью эталона Фабри и Перо, кривая 2 — теоретическому контуру, полученному по видимости интерференции при помощи преобразований Фурье. Сравнение этих [c.47]

При измерении длин волн с помопхью многолучевого интерферометра (эталона Фабри и Перо) дробные части порядка интерференции определяют по диаметрам интерференционных колец. Вначале для этого фотографируют интерференционную картину при всех измеряемых длинах волн и затем на негативах, пользуясь [c.53]

В основе действия квантовых усилителей и генераторов лежит так называемое отрицательное поглощение. Сущность его заключается в том, что на поглощающую систему, содержащую некоторое количество возбужденных атомов, падает квант, соответствующий по значению кванту, который должен излучиться при переходе возбужденных атомов в нормальное состояние, и тогда из системы в одном направлении выйдут два кванта. Вместо того, чтобы поглотиться, падающий квант вынуждает излучиться второй квант, совпадающий с ним по частоте и направлению движения, т. е. создает вынужденное или индуцированное излучение. При этом испускаемая, т. е. генерируемая, световая волна оказывается точно в фазе с волной, которая была причиной ее возникновения. Вещество, содержащее большое количество атомов в возбужденном состоянии — активное вещество , — получается подачей электромагнитной энергии на длине волны, отличающейся от длины волны вынужденного излучения. Этот активизирующий процесс называется оптической накачкой. Таким образом, атомы переводятся в возбужденное состояние оптической нак -жой. Чтобы вынужденное излучение преобладало над поглоихетием, большинство атомов должно находиться в возбужденном состоянии. Активная среда помещается в резонатор, представляющий собой систему, подобную эталону Фабри и Перо. [c.69]

Еще одним из наиболее перспективных методов создания искусственных источников света с суженными спектральными линиями является применение интерференционного монохроматора. Если призма разлагает белый свет, а затем щель монохроматора выделяет определенную спектральную линию, то эталон Фабри и Перо разлагает излучение в пределах ширины линии, а установленная в плоскости объектива, проектирующего систему интерференционных колец, диафрагма выделяет центральный максимум, отвечающий суженному излучению. Во ВНИИМ с помощью rrzu-ческого сужения линий d и Hg была получена интерференция при разности хода, несколько превышаЮ Щей 2 м. [c.71]

Если луч проходит систему по косому направлению, вводимое отставание будет больше. Та.<им оЗразом при наблюдении поля через телескоп Т оно представляется покрытым рядами концентрических круговых полос, соответствуюш,их относительным запаздываниям на нечетное число длин в половину волны. По мере удаления друг от друга этих пластинок, эти о.<ружности расширяются, в то же время постепенно появляются новые о.фужности, сначала в виде темных пятен в центре, развертывающихся затем в кольца. Считая число новых колец, появляющихся таким образом при удлинении расстояния между пластин.<ами на х, можно получить очень хороший подсчет числа длин волн в 2х. Этим путем Фабри и Перо получили основные и весьма точные определения различных стандартных длин волн. Для получения [c.82]

Интерферометр Фабри и Перо может употребляться при отражении света так же, как и при прохождении. Так на рис. 1.46 между Т и АВ может быть введена под углом 45 полупосеребренная стеклянная пластинка и использована для отражения бокового освещения так, чтобы последнее падало нормально на АВ, D. Волны, отраженные поверхностями АВ, D, соответственно будут интерферировать при тех же условиях, что и раньше. [c.82]

Затем опыт повторяется при прикрытых зеркалах F к G, так что сам образец применяется в качестве интерферометра Фабри и Перо, причем свет, отраженный от передней поверхности образца, интерферирует со светом, дважды пересекающим образец и отраженным от задней поверхности Здесь разность относительного отставания, введенного между верхним и нижним лучами, будет 2Д(/гс) = = 2сАп - - 2лДс и соответственно, если т число полос между верхней и нижней поверхностями бруса, то [c.209]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...