Изменение ориентации изображения

Изменение ориентации изображения [c.223]

Изменение ориентации изображения 249 [c.249]

На рис. 22.33 показано, как будет выглядеть дом, изображенный на рис. 22.32, после установки секущих плоскостей и слегка измененной ориентации модели. Внутренность кухни и дальняя стена теперь отсутствуют на изображении. [c.709]

К сожалению, оптические системы согласованной пространственной фильтрации, реализуемые на основе голографических фильтров, оказались очень чувствительными к изменению ориентации и масштаба распознаваемого образа [168—170]. Тем не менее создано 4 действующих макета, подтвердивших возможность решения задачи опознавания фрагмента изображения оптическим методом, если фрагмент не изменяет свою ориентацию и размеры. Это макеты для идентификации отпечатков пальцев [171], определения местоположения спутника по наземным ориентирам [172], перевода с японского языка на английский [173] и определения розы. ветров по фотоснимкам со стационарного спутника Земли [174, 154]. [c.264]

Рис. 90. Запись нескольких изображений на одной фотопластинке с изменением ориентации щели.

И наконец, в схеме, представленной на рис. 92, регистрация нескольких изображений на одной фотопластинке производится путем диафрагмирования объектива системой двух одинаковых отверстий. В этом случае каждое пятно спекл-структуры имеег в плоскости изображения вид дифракционного пятна, модулированного интерференционными полосами Юнга. Пространственная ориентация полос зависит от ориентации двух диафрагмирующих отверстий. При регистрации каждого изображения задается своя пространственная ориентация системы отверстий. Наблюдение того или иного из зарегистрированных изображений производится, как и ранее, по схеме рис. 81 с изменением ориентации фильтрующей щели. Во всех рассмотренных случаях ограниченный динамический диапазон фотопластинок не позволяет записать на одной фотопластинке более 5—6 изображений. [c.95]

Поскольку увеличение и ориентация изображения могут немного меняться от кадра к кадру и эти изменения накапливаются от одного конца пленки к другому, для количественной обработки результатов на каждом кадре необходимо иметь опорные отметки. [c.56]

В разделе Изменение ориентации имеется группа опций, позволяющая настроить различные параметры изображения модели при изменении ее ориентации или масштаба [c.868]

Центрировать изображение - это опция, включающая центрирование изображения модели во время изменения ее ориентации, в том числе при автоматическом изменении ориентации во время создания эскизов и операций (это изменение происходит, если включены опции При редактировании эскиза и При создании операции соответственно) [c.868]

Дефектоскопическая информация во многих случаях представляет собой изображения различного типа. Например, при контроле усталостных трещин оператор сравнивает изображения эталонной и контролируемой поверхностей.. Аналогичные операции многократно выполняются при сравнении формы однотипных изделий, выявлении дефектов заданного типа на фоне структурных помех и т. д. Это вызывает утомление операторов и приводит -к ошибкам распознавания дефектов. Во всех этих случаях эффективно применение когерентно-оптических методов фильтрации основных частот изображения, позволяющих устранить ошибки операторов. Любое изображение можно представить его частотны.м спектром (спектром Фурье), представляющим собой совокупность синусоидальных решеток с различным периодом изменений яркости и различной ориентации на плоскости. Двумерное преобразование Фурье может быть -выполнено с помощью ЭВМ, однако оптические устройства выполняют эту операцию существенно проще и быстрее. Воздействуя на спектр изображения с помощью различных устройств (масок, диафрагм), можно осуществлять его обработку в реальном масштабе времени. [c.97]

Современные достижения в области физических исследований металлов свидетельствуют о перспективности использования не только световой, но и электронной тепловой микроскопии, когда контраст изображения обусловлен не геометрическим профилем поверхности образца, а определенными характеристиками исследуемого материала, например, работой выхода электрона при термоэлектронной или фотоэмиссии кроме того, в качестве такой характеристики может быть использован коэффициент вторичной электронной эмиссии при бомбардировке первичными электронами. Эти характеристики существенно зависят от состава, фазового состояния, ориентации и температуры изучаемого объекта, поэтому, например, эмиссионная высокотемпературная микроскопия вследствие более высокой разрешающей способности обеспечивает получение большего объема информации по сравнению со световой тепловой микроскопией. При микроструктурном изучении процессов деформирования и разрушения принципиально новые результаты могут быть получены при использовании эффекта экзоэлектронной эмиссии, позволяющего количественно характеризовать определенное энергетическое состояние локальных участков исследуемого образца, что является весьма ценным дополнением к наблюдаемым в металлографический микроскоп качественным структурным изменениям, связанным с накоплением дефектов в поверхностных слоях материала. [c.6]

Поверхность прочности строится в других осях, чем кривые на рис. 3.1, 3.2 и 3.4, поэтому изображение соответствующей кривой имеет на рис. 3.7 более сложный вид, величина а изображается здесь своими составляющими по осям координат. Линия, проведенная через точки А, J и В, отвечает изменению предела прочности при различно ориентированном одноосном растяжении в плоскости k. Линия, проведенная через точки С, G п D, соответствует изменению предела прочности при сжатии. Линия, проходящая через точки L, М, N, соответствует сдвигу в плоскости ik при различной ориентации напряжений по отношению к осям i и k. Эти линии лежат на поверхности прочности, описываемой уравнением (3.10), что следует из вывода этого уравнения [3]. [c.155]

Анизотропия предела прочности древесины сосны при скалывании в тангенциальной плоскости в зависимости от угЛа а между направлением действия касательных напряжений и направлением волокон представлена на рис. 3.22. Прочность древесины сосны при других случаях ориентации касательных напряжений исследована в [2, гл. 1]. Результаты представлены на рис. 3.23 и 3.24. Кривые на рис. 3.23 изображают изменение сопротивления древесины сосны действию касательных напряжений по различно ориентированным площадкам, причем обе кривые относятся к случаю, когда касательные напряжения составляют угол а с направлением волокон. Явно выраженный максимум сопротивления получается при наклоне площадки среза под углом а = 60- 70° к направлению волокон древесины. Кривая 1 на рис. 3.21 построена как среднее из двух кривых, изображенных на рис. 3.23. Кривые на рис. 3.24 относятся к случаю, когда изменяется угол между волокнами и площадкой действия касательных напряжений, направленных все время перпендикулярно волокнам. Здесь максимум сопротивления имеет место при а = 90°, когда происходит перерезывание волокон древесины. 1 [c.175]

В работе [8.40] при измерении зависимости т] (у) на модулятор с фотопластинки проектировалось изображение решетки с v = = 5 лин/мм. Имелась возможность вращать фотопластинку вокруг оптической оси проектирующей системы и тем самым изменять ориентацию решетки относительно осей кристалла. Результаты измерения, получаемые для модулятора, у которого кристаллическая пластина имела срез (111) и толщину 700 мкм, показаны на рис. 8.10. Результаты получены при считывании циркулярно и линейно поляризованным вдоль оси кристалла [112] светом. При изменении направления поляризации линейно поляризованного света вид зависимости Т1 (y) сохраняется, но в соответствии с (8.2) кривая смещается вращением вокруг начала координат на угол, который в два раза больше, чем угол поворота плоскости поляризации считывающего света. Хорошее согласие экспериментальных данных с расчетными наблюдается лишь тогда, когда при записи решетки отрицательный потенциал подается на передний по отношению к считывающему свету электрод. Если же на этот электрод подать положительный потенциал, то экспериментальная кривая (7) оказывается повернутой приблизительно на 30° по отношению к расчетной (рис. 8.10). Это может быть объяснено влиянием оптической активности кристалла BSO, которая не учитывалась при расчете т] (у). Как указывалось выше, неоднородное электрическое поле, вызывающее модуляцию считывающего света, формируется вблизи отрицательного электрода. При прохождении через кристалл направление поляризации считывающего света изменяется на 15° (толщина кристалла в данном случае была 700 мкм, а коэффициент оптической активности BSO для [c.174]

Контрастное изображение зерен. Кубические металлы оптически изотропны. Чистые полированные образцы отражают поляризованный свет без изменений, и при скрещенных поляроидах все зерна представляются равномерно темными. После покрытия подходящей анизотропной пленкой образцы можно исследовать с помощью поляризованного света [55], причем оптическая анизотропия зависит от ориентации зерен под пленкой. Металлы некубических сингоний оптически анизотропны и могут изучаться с помощью поляризованного света без какой-либо обработки поверхности. Однако на степень контраста часто влияет метод подготовки образца и контраст связан по крайней мере отчасти с поверхностными пленками, ямками травления и т. п. [66]. [c.361]

В гeoмe гpичe кoй модели ориентация направления приложения напряжений относительно волокон существенно влияет на нижнее предельное значение поперечной прочности. Например, при 50% упрочнителя стк/о м в случае квадратного расположения (рис. 9) составляет 0,44 для ориентации, изображенной в верхней части рисунка, и лишь около 0,20 для ориентации, изображенной в нижней части. Таким образом, различие в прочности из-за изменения ориентации превышает 100%. Напротив, иривые минимального нижнего предельного значения прочности для плот-ноупакованного и квадратного расположений (нижние кривые на рис. 8 и 9) и кривые максимального нижнего предельного значения для тех же типов расположения (верхние кривые на рис. 8 и 9) согласуются гораздо лучше. Рис. 10 характеризует еще не- [c.200]

Затем Auto AD делает запрос на удаление старых объектов (так называются объекты, выбранные для отражения). Если вы желаете их оставить, введите п<Р. Если же зеркальное отражение используется для построения недостающей части изображения симметричной детали, то, конечно, старый объект нужно оставить. Для того, чтобы в чертеже оставить только отраженное изображение объекта (это бывает в том случае, когда операция используется для изменения ориентации объекта), нужно в ответ на приглащение Auto AD ввести у<Р. [c.235]

Рис. 86. Изменение ориентации интерферограмм (в) в зависимости от выбора плоскости регистрации (б) 0 - объект, Л, - линза, Я г - фурье-плоскость, Hj - плоскость изображения, Я,, Я, - промежуточные плоскости, gjiHgn - векторы смещения спекл-поля вследствие поступателыюго смещения и наклона объекта, - вектор о цего смещения спекл-поля.

Инструментальные средства Artlantis по созданию анимационных роликов включают такие важные средства, как создание и редактирование траектории расположения камер, изменение анимационной последовательности, манипулирование характеристиками камеры и ее поведением, установление скорости и временных параметров съемки, связывание анимационных последовательностей, анализ панорамных изображений путем полного кругового осмотра перспективы. Artlantis для Ar hi AD позволяет интегрировать изображения в ЗО-сцены, учитывать эффекты атмосферных явлений, управлять плотностью, масштабированием и ориентацией изображений. [c.654]

Третье ограничение связано с ограниченной способностью СТЗ к распознаванию объекта, расположенного в зоне обзора. Например, число отдельных объектов, которое может распознать СТЗ, ограничено возможностями различения ею характерных признаков разных объектов и емкостью ЗУ входящей в ее состав ЭВМ. К характерным признакам объекта, которые могут определяться типовой СТЗ, относятся площадь, периметр, центр тяжести, размеры составляющих геометрических фигур (например, окружностей) или конкретные параметры ориентации объекта (например, положение линии, соединяющей центры эллипса). Емкость памяти ограничивает объем хранимых данных и число отдельных эталонных моделей, с которыми можно сравнивать конкретное изображение. Другим недостатком является ограниченная способность СТЗ различать те или иные изменения в изображении объекта, которые могут вызываться либо дефектами, подлежащими выявлению в процессе контроля, либо отклонениями в ориентации и расположении детали. Проблемы ориентации и позиционирования деталей успешно решаются уже сейчас средствами визуального контроля. Так, например, задачу определения ориентации можно решить на основе учета положения характерных осей объекта при различных углах поворота детали. Одной из нерешенных проблем продолжает оставаться задача разграничения контуров деталей в зоне обзора при их взаимном перекрьггии при этом СТЗ оказывается не в состоянии определить границу ни одной из деталей. [c.466]

В третьем методе, который впервые независимо друг от друга применили Боллман и Хирш, контраст изображения образуется локальными изменениями интенсивностей дифрагированных пучков. Этот дифракционный контраст зависит от изменений ориентации и толщины и от смещений атомов с их нормальных положений, вызванных напряжениями в решетке. В совершенном кристалле этот тип контраста является причиной экстинкционных контуров, которые соответствуют участкам постоянной толщины или ориентации. На изображении несовершенного кристалла дислокации выявляются в виде линий, что обусловлено смещением положений атомов около дислокаций дефекты упаковки дают характерную полосчатость. Этот метод получения контраста имеет то преимущество, что не требует разрешения атомных плоскостей, поэтому разрешающая сила не является лимитирующим фактором и условия, которым должен удовлетворять образец, не так строги. Метод дифракционного контраста в основном применяют для исследования распределения и поведения дефектов, например, после нагрева или деформации образца первые два метода весьма пригодны для наблюдения атомных смещений около дефектов. [c.52]

Следовательно, в принципе можно определить вектор Бюргерса дислокации путем исследования контраста, создаваемого каждым отражением на соответствующем светлопольном изображении и выявления тех отражений, для которых контраст на дислокации исчезает. Однако возможность изменения ориентации образцов в микроскопе ограничена, так что не всегда удается найти два различных семейства отражающих плоскостей, которые вызывают погасание. Следовательно, остается неопределенным направление вектора Бюргерса. Тем не менее, в некоторых случаях можно определить плоскость, в которой может находиться этот вектор. [c.54]

В случае сильно анизотропного металла, когда изменения частоты Р с ориентацией сравнимы с самой величиной F, определение F с такой точностью может быть достаточным, чтобы получить неплохое представление о размерах и форме ПФ. Однако для поверхностей Ферми, более близких к сферическим, для которых изменение Р составляет только несколько процентов или менее, такой точности уже совершенно недостаточно для определения отклонений, связанных с анизотропией. Для таких случаев была предложена специальная методика, в которой осцилляция дГвА от контрольного образца накладывались на осцилляции от изучаемого образца и возникали биения, подобные изображенным на рис. 3.5, в. Очевидно, что частота биений более чувствительна к изменению ориентации, чем просто частота осцилляций Р для изолированного образца, и, как оказалось, этим способом можно измерить отклонения величины Р с точностью до 0,2 о. Такой точности было достаточно для определения существенных черт ПФ благородных металлов, однако для легких щелочных металлов, поверхности Ферми которых еще ближе к сферическим, обнаружение малых отклонений от изотропии стало возможным только с развитием более гибкого метода модуляции поля. [c.136]

Видом называется совокупность экранного увеличения, положения и ориентации видимой на экране части рисунка. Основной способ изменения вида - это применение одного из имеющихся в Auto AD режимов зумирования, при котором размер изображения в области рисунка увеличивается или уменьшается. [c.184]

Подход, рассмотренный в предьщущем разделе, можно применить и к случаю непериодических объектов, потому что дискретные порядки дифракции не являются его необходимой предпосылкой. Непериодический объект можно считать эквивалентным одной апертуре (щели) решетки, и мы знаем, что в этом случае используется преобразование Фурье вместо рядов Фурье. Дифракционная картина в фокальной плоскости линзы представляет собой картину непрерывного рассеяния с угловым изменением амплитуды и фазы, зависящим от апертурной функции это-преобразование Фурье от функции амплитудного распределения по объекту (ср. оценку линзы как преобразователя Фурье в разд. 4.2). Восстановление этой картины в плоскости изображения сводится к суммированию интерференционных полос, создаваемых парой дифрагированных лучей (под углом + 0 на рис. 5.4), но с непрерьш-ным диапазоном разнесения полос и ориентаций. Формирование изображения может быть описано как процесс двойного преобразования Фурье. Это описание в общем применимо как к периодическим, так и к непериодическим объектам, поскольку даже первые из них имеют конечный размер, что позволяет говорить об изображении как о преобразовании дифракционной картины, независимо от природы объекта. Мы уже использовали эту идею в разд. 4.5. [c.96]

Выбор оптимального диапазона пространственных частот при записи СПФ. который в этом случае называется взвешенным фильтром, позволяет снизить чувствительность коррелятора к геометрическим искажениям, но не устраняет ее полностью [2 6, 2 7]. Частичным решением этой проблемы является изменение оптико-механическими средствами масштаба и ориентации исходных изображений см. [218]. с. 41—87, 131—207). а также перебор или параллельный опрос согласованных фильтров, записанных с различными масштабами и ориентациями эталона [218, 219]. Пространственно неинвариантные СПф. записанные с использованием преобразования Меллинз и преобразования декартовых координат в полярные, а также фильтры, полученные путем разложения эталона по циркулярным гармоникам, могут обеспечить инвариантность по отношению к некоторым геометрическим искажениям [208. 210, 222, 223]. [c.272]

Весьма распространенным методом реализации не. тнсйных преобразований изображения является преобразование интенсивности в пространственную частоту. Основная идея метода заключается в кодировании каждого элемента изображения с помощью периодической решетки, период и ориентация которой зависят от интенсивности в данном элементе изображения. Изменение наклона решетки с интенсивностью (тета-модуляцця) обычно выполняется с помощью специального растрового преобразования. Изменение периода с интенсивностью может быть выполнено в реальном масштабе времени с использованием структуры ФП—ЖК с управляемой дифракционной решеткой на основе флексоэлектри- [c.282]

Суть данной методики заключается в последовательной импульсной регистрации на одном и том же участке фоточувствительной среды двух голограмм одного и того же объекта (рис. 9.1, а). В результате освещения подобной сложной суперпозиционной голограммы исходным опорным пучком восстанавливается изображение голографируемого объекта, покрытое сетью интерференционных полос. В их расположении, ориентации, частоте заключается информация об изменениях, происшедших с объектом за время At между экспозициями, получение которой и является основной целью данного эксперимента. [c.209]

Как было показано ранее (гл. 4, 3, 4 гл. 6, 4), выгодно регистрировать три изображения объекта с отношением экспозиций 1 2 1. Это можно сделать либо за три экспозиции, либо за две, если использовать двулучепреломляющую систему (гл. 4, 4). Для проведения количественного исследования можно рассматривать отдельные точки, как показано на рис. 95 [6]. В этом случае, вместо того чтобы наблюдать изображение негатива Н, исследуют интерференционные полосы в фокальной плоскости F объектива О, помещая с этой целью рядом с негативом Н диафрагму с отверстием Т. Ориентация интерференционных полос и расстояние между ними будут изменяться при изменении положения отвер- [c.97]

Очень простая схема, изображенная на рис. 109, позволяет обнаруживать колебания диффузного объекта, связанные с изменением его ориентации. Пусть, например, диффузный объект, освещенный светом лазера, колеблется между двумя положениями Ai и Лг. Сформируем в плоскости А изображение объекта А с помощью объектива О. Поместим теперь плоскопараллельную двулучепреломляющую пластинку Q, вырезанную под углом 45° к оптической оси крИ сталла, либо перед объективом, либо за объективом. Сначала предположим, чго усредненная по микрорельефу пло скость объекта находится, например, в положении А (рис. 110). При наличии двулучепреломляющей пластинки две точки Ml и М плоскости А оказываются наложенными друг на друга в изображении Л, Эти точки интерферируют [c.113]

При точном совпадении изображения входной пластинки с выходной пластинкой разность хода между обыкновенным и необыкновенным лучами полностью компенсируется. Одинаковой ориентации поляризаторов при этом соответствует светлое поле, скрещенным — темное. Смещение изображения приводит к раскомненсации. Разность фаз, как нетрудно видеть из формулы (30), при небольших смещениях бх будет линейно меняться при изменении. г и не зависеть от у [c.54]

Прежде чем перейти к рассмотрению собственно голографической интерферометрии, остановимся в гл. 2 на некоторых основных положениях дифференциальной геометрии и механики сплошных тел, а в гл. 3 — на принципах формирования изображения в голографии. В гл. 2 приводятся сведения, которые являются основой изложения всей книги. В гл. 3 рассматривается с одной стороны, получение исследуемых волновых фронтов, и, с другой стороны, детально. анализируются свойства изображения, в частности, аберрации, которые могут возникать, если оптическая схема, используемая при восстановлении, отлична от х ы регистрации. В этой же главе показано взаимопроникновение понятий механики и оптики. Затем в основной части книги — гл. 4 — исследуется процесс образования интерференционной картины, обусловленной суперпозицией волновых полей, соответствующих двум данным конфигурациям объекта, и обратная задача — измерение деформаций объекта по данной интерференционной картине. В ней, во-первых, показано, как определяют порядок полосы, т. е. оптическую разность хода интерферирующих лучей, и как отсюда находят вектор смещения. Во-вторых, рассмотрены некоторые характеристики интерференционных полос, их частота, ориентация, видность и область локализации, которые зависят от первых производных от оцтйческой разности хода. Затем показано изменение производной от смещения (т. е. относительной деформации и наклона). В-третьих, определено влияние изменений в схеме восстаноэле ния на вид интерференционной картины и методы измерения. Наконец в гл. 5 кратко приведены некоторые возможные примеры использования голографической интерферометрии для определения производных высших порядков от оптической разности хода в механике сплошных сред, [c.9]

НЫ. Тогда изменение интенсивности на светлопольном или темнопольном изображениях клина будут описываться уравнениями (9.1) и (9.2), а расстояние в изображении связано с толщиной Н через угол клина и ориентацию кристалла по отношению к пучку. [c.202]

Трактовка Дарвина [108] дифракции рентгеновских лучей при отражении от поверхности большого совершенного кристалла включала в себя установление коэффициентов прохождения и отражения для каждой атомной плоскости и затем суммирование амплитуд прошедших и дифрагированных пучков на каждый плоскости. Хови и Уилан [213 применили этот вариант теории к дифракции электронов на прохождение вначале с целью определения контраста в электронно-микроскопических изображениях дефектов. Амплитуды дифракционных пучков рассматриваются как непрерывные функции расстояния вдоль направления пучка и связаны рядом дифференциальных уравнений. По существу это теория для совершенного кристалла, для каждого его слоя, хотя в нее могут быть включены изменения в ориентации дифракционных плоскостей при переходе от одного слоя к другому. [c.223]

Включение более чем одного пучка в систематический ряд отражений приводит к более сложному профилю интенсивностей полос и более сложному изменению этого профиля в зависимости от толщины и ориентации кристалла и дефокусировки. Ранние расчеты, относящиеся к профилю таких полос, выполнили Ниерс [320] и Мияке и др. [306]. Более сложные п-волновые расчеты, относящиеся к изображению кристаллов с высоким разрешением, сделали Олпресс и др. [2] и Анстис и др. [6]. [c.308]

В качестве возможных способов получения точных структурных амплитуд были испробованы различные другие экспериментальные ситуации. Стиде [362] использовал изгибные контуры на электронных микрофотографиях изогнутых клиновидных кристаллов он обнаружил изменение прошедшей и дифракционной интенсивностей как с толщиной, так и с ориентацией кристалла. Сделано сравнение с картинами, полученными машинным расчетом с использованием того же самого типа ограниченной серой шкалы , как и в методике изображения дислокаций по Хиду [185] (гл. 18). [c.345]

Интенсивности дифракции или изображения также будут зависеть от температуры через фактор Дебая—Валлера, на который умножаются структурные амплитуды. В двухволновом случае это дает простое сглаженное изменение экстинкционного расстояния. В более сложных -волновых случаях температурное изменение может представлять сложную функцию ориентаций кристалла, как показал в своих экспериментах и вычислениях Гудман [168]. В соответствии с этим коэффициенты поглощения зависят от числа и силы взаимодействующих дифракционных пучков. [c.348]

Приемлемая схе.ма структурных преобразований ГЦ-волокна, предложенная Р. Бэконом и М. Тангом [9-24], приведена на рис. 9-17. Согласно этой схеме из целлюлозы при пиролизе формируется остаток из четырехатомных углеродных звеньев, образующих зигзаги. Расположение этих звеньев генетически закладывает формирование последующей надмолекулярной структуры углеродного волокна, которая возникает выше 400°С. Принудительное вытягивание упомянутых звеньев логически приводит к росту надмолекулярной ориентации углеродных волокон. Вместе с увеличением степени ориентации гидратцеллюлозного волокна снижается его усадка по длине при графитации. При нагревании до 2500°С усадка волокна в направлении, перпендикулярном оси волокна, более чем в 4 раза выше по сравнению с изменением размера вдоль оси. Это свидетельствует об образовании уплотняющейся структуры, состоящей из углеродных пачек. Характер изменения плотности ПАН-волокна при нагревании изображен на рис. 9-18. Рост плотности и развитие текстуры обусловливает значительное увеличение теплопроводности вдоль оси волокна [9-40]. [c.170]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...