Характеристики интерференционных полос

Характеристики интерференционных полос [c.115]

Влияние величины спектрального интервала и размеров источника на видность интерференционной картины. Рассмотрим влияние временной и пространственной когерентности источника-излучения на характеристики интерференционных полос. [c.117]

Рассмотрим характеристики интерференционных полос. В классических интерферометрах при введении объекта полосы представляют собой семейство кривых вида [c.159]

При изучении общей теории интерференционных схем исследователей интересуют следующие вопросы происхождение интерференционных полос, местоположение наиболее контрастной интерференционной картины, количественные характеристики интерференционных полос. Происхождение интерференционной картины и способ ее получения определяют вид интерференционной полосы. [c.34]

Общие характеристики интерференционных полос. Расстояние между двумя соседними интерференционными максимумами, измеренное в линейной мере, называется шириной полосы. Для полос равной толщины ее значение получим, если изменим геометрическую разность хода на один порядок, т. е. возьмем вместо k порядок й + 1. Тогда [c.35]

Влияние спектрального интервала и размеров источника на видность интерференционной картины. Рассмотрим влияние временной и пространственной когерентности источника излучения на характеристики интерференционных полос. Учтем, что источник имеет определенный интервал частот (или волновых чисел Аа), в котором он излучает. Решим сначала вопрос о допустимой монохроматичности источника света из обш,их соображений. Обратимся к выражению (4.2) и учтем, что постоянная и переменная части интенсивности должны быть распространены на диапазон Аа = — а [c.36]

Характеристики интерференционных полос. Рассмотрим кратко принцип образования и свойства полос в интерферометрах сдвига. В классических интерферометрах при введении объекта полосы представляют собой семейство кривых вида [c.108]

Характеристики этой картины интерференционных полос позволяют осуществить запись трех разделенных по цвету изображений объектов на один кадр таким образом, что становится возможным считывание объекта при помощи относительно простой аппаратуры. [c.469]

Наиболее просто интерференционная картина расшифровывается при двухлучевой интерференции с однократным проходом измерительного пучка через активный элемент параллельно оси резонатора. В этом случае по наблюдениям за смещением интерференционных полос относительно интерференционной картины недеформированного элемента можно непосредственно определять изменения оптической разности хода лучей вдоль оси резонатора в различных точках поперечного сечения, т. е. непосредственно измерять волновые аберрации, вносимые в резонатор термооптическими искажениями активной среды. Если исследуемый образец однороден в направлении наблюдения и характеризуется двумерным распределением температуры и оптических характеристик в поперечном направлении, интерференционная картина непосредственно характеризует поле коэффициентов преломления, от которого при известных термооптических характеристиках образца легко перейти к распределению температур. Это позволяет применять интерференционные методы для изучения тепловых полей и измерений тепловыделения в лазерных активных элементах. С другой стороны, в сочетании с измерениями температуры исследуемых образцов интерферометрические измерения могут применяться для определения термооптических характеристик материалов. [c.174]

Наличие темных полос, т. е. мест, где свет + свет = темнота , является наиболее замечательным подтверждением волновой теории света. Эти яркие и темные линии, образующие интерференционную картину, называют интерференционными полосами. Расстояние между ними, как мы теперь знаем, зависит от характеристик интерферирующих волн. Если, например, расстояние между гребнями волн увеличивается, т. е. свет будет иметь большую длину волны, то возрастает и расстояние между интерференционными полосами. Таким образом, свет разного цвета будет создавать интерференционные картины с различным расположением полос. Кроме того, если угол между направлениями прихода двух плоских волн изменяется, то это также приводит к увеличению или к уменьшению расстояния между полосами. Если же с плоскими световыми волнами интерферируют сферические световые волны, то на экране возникает картина, состоящая из чередующихся светлых и темных концентрических колец. [c.32]

Рассмотрим характеристики ряда интерференционных полос, начиная с реперных полос ртути, расположенных по обе стороны от интерференционной лазерной полосы. Левая полоса от излучения ртути с номером порядка интерференции Шо, показанная на фиг. 8.1, соответствует длине эталона [c.440]

В книге ведущих зарубежных специалистов в области голографической интерферометрии изложены принципы формирования изображения в голографии, особенности процесса образования интерференционной картины, а также измерения деформаций объекта по интерференционной картине. Рассмотрены характеристики частота, ориентация, видимость и область локализации интерференционных полос. Значительное место занимают рекомендации во применению голографической интерферометрии. [c.4]

В гл. 4 дан анализ свойств интерференционных полос голо-графической интерферометрии. Рассмотрены зависимости их характеристик от деформации объекта и способы измерения с их помощью деформаций. Использованы результаты гл. 2, касающиеся кинематики. сплошных сред, и результаты гл. 3, относящиеся к голографической регистрации и восстановлению. Сначала рассмотрели простую модель явления интерференции, взяв только два световых луча и найдя разность оптических путей, проходимых этими лучами. Механической величиной здесь был вектор смещения. Затем исследовали первые производные от этой оптической разности хода для того, чтобы вычислить расстояние между полосами и их направление, а также учесть все налагающиеся лучи, исходящие из окрестности наблюдаемой точки объекта и рассмотреть более полную модель явления интерференции. Таким образом, если из оптической разности хода можно определить только вектор смещения, то ее произ- [c.152]

Взаимозаменяемость по оптическим параметрам. Методы расчета допускаемых отклонений размеров и характеристик оптических деталей и систем еще не разработаны. В большинстве случаев пользуются статистическими данными по допускаемым отклонениям радиуса линз и местным погрешностям линз и призм, исчисляемым в интерференционных полосах (кольцах), допускаемом несовпадении оптической и геометрической осей линз и другим допускаемым погрешностям. Для нормирования допускаемых дефектов на полированных поверхностях оптических деталях по ведомственным нормалям установлены классы. [c.19]

Для характеристики четкости интерференционных полос Майкельсон ввел функцию видности (или просто видность) [c.220]

Важнейшей характеристикой интерференционной картины является видность интерференционных полос, которая по определению Майкельсона дается следующим соотношением [c.18]

ВИДЫ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОЛОС И ИХ ХАРАКТЕРИСТИКИ [c.34]

Характеристики интерференционных фильтров. Основными оптическими характеристиками УИФ являются длина волны пропускания в максимуме ширина полосы пропускания фильтра и относительная ширина пропускания б . [c.116]

Контраст полос является одной из главных характеристик интерференционного поля. Только в идеальном интерферометре достигается максимальный контраст, равный единице. Рассмотрим основные причины понижения контраста полос в реальном интерферометре. [c.120]

Для характеристики контрастности интерференционных полос Майкельсон ввел функцию [c.210]

В процессе термоциклирования при значительно отличающихся величинах Ттах и Тшш пластическая деформация во внутризеренных объемах накапливается как при верхней температуре цикла в условиях сжатия, так и при нижней температуре цикла в условиях растяжения. В соответствии с этим деформационный рельеф внутри зерен представляет собой совокупность полос скольжения двух типов высокотемпературных и низкотемпературных . Указанные полосы скольжения разделены по месту протекания деформации и достаточно легко идентифицируются по различному направлению смещения на них интерференционных линий (рис. 5) и большей ширине. Полосы скольжения указанных типов могут располагаться как в одних и тех же, так и в различных участках зерен, если условия деформации при верхней и нижней температурах цикла резко различны. Структура низкотемпературных и высокотемпературных полос скольжения, характер их развития и расположения подобны тем же характеристикам внутризеренной деформационной структуры при соответственно выбранных (температура и скорость деформации) условиях растяжения. Лишь в полосах деформации иногда наб- [c.47]

Интерференционный метод. Этот метод основан на зависимости между показателем преломления и плотностью среды. Определение поля плотностей в данном случае сводится к измерению разности хода световых лучей, так как чем больше коэффициент преломления среды, тем медленнее распространяется в ней свет. В интерферометре коэффициент преломления измеряют, сравнивая время подхода к экрану определенной фазы световой волны с временем подхода соответствующей фазы другой световой волны, не проходящей через изучаемое поле потока [63, 64, 66, 74]. Неравномерное распределение плотности в исследуемой неоднородности вызывает смещение интерферометрических полос, по величине которого можно определить характеристики изучаемого процесса. [c.276]

Отрицательные линзы 10 и 18 расширяют пучки, благодаря чему облучается вся площадка катода ФЭУ и тем самым исключается влияние зонной чувствительности катода. Монохроматические (интерференционные) фильтры 11 и 19 имеют следующие характеристики максимум пропускания — при А, = 0,635 мк, максимальный коэффициент пропускания — 38%, полуширина полосы пропускания — 10 мк. Использование таких фильтров дает возможность работать в незатемненном помещении, так как часть излучения из спектра дневного света или ламп накаливания, которая может попасть на катод ФЭУ, ничтожна по сравнению с полезным потоком и не сказывается на результатах измерений. [c.33]

Прежде чем перейти к рассмотрению собственно голографической интерферометрии, остановимся в гл. 2 на некоторых основных положениях дифференциальной геометрии и механики сплошных тел, а в гл. 3 — на принципах формирования изображения в голографии. В гл. 2 приводятся сведения, которые являются основой изложения всей книги. В гл. 3 рассматривается с одной стороны, получение исследуемых волновых фронтов, и, с другой стороны, детально. анализируются свойства изображения, в частности, аберрации, которые могут возникать, если оптическая схема, используемая при восстановлении, отлична от х ы регистрации. В этой же главе показано взаимопроникновение понятий механики и оптики. Затем в основной части книги — гл. 4 — исследуется процесс образования интерференционной картины, обусловленной суперпозицией волновых полей, соответствующих двум данным конфигурациям объекта, и обратная задача — измерение деформаций объекта по данной интерференционной картине. В ней, во-первых, показано, как определяют порядок полосы, т. е. оптическую разность хода интерферирующих лучей, и как отсюда находят вектор смещения. Во-вторых, рассмотрены некоторые характеристики интерференционных полос, их частота, ориентация, видность и область локализации, которые зависят от первых производных от оцтйческой разности хода. Затем показано изменение производной от смещения (т. е. относительной деформации и наклона). В-третьих, определено влияние изменений в схеме восстаноэле ния на вид интерференционной картины и методы измерения. Наконец в гл. 5 кратко приведены некоторые возможные примеры использования голографической интерферометрии для определения производных высших порядков от оптической разности хода в механике сплошных сред, [c.9]

При изучении общей теории интерференционных систем исследователей интересуют следующие вопросы получение интерферирующих пучков, классификация интерференционных полос, местоположение (локализация) наиболе контрастной интерференционной картины, влияние различных факторов на характеристики интерференционных полос, условия наблюдения картины и др. [c.115]

Ширина интерференционной полосы. Рассмотрим некоторые общие характеристики интерференционных полос различных видов. Одной из главных характеристик интерференционной картины является ширина полосы, т. е. расстояние между соседними интерференционными максимумами или минимумами, выраженное в линейной, угло- Чк, вой мере или в длинах волн. [c.116]

До сих пор степень когерентности у (т) и фаза ф (т) рассматривались как характеристики интерференционной картины, позволяющие, в частности, определять контрастность и положение полос. Можно понимать эти величины в несколько более общем смысле. Дело в том, что световые колебания, складывающиеся в какой-либо точке интерференционной картины, однозначно определяются световыми колебаниями в источники света амплитуды колебаний в точках М и пропорциональны друг другу, а фазы отличаются на величины 2TidJ k, 2zid, l k. Можно сказать поэтому, что у (т) и ф (т) представляют собой характеристики световых колебаний, происходящих в источнике в разные моменты времени t t т. В отличие от напряженности поля, которая характеризует состояние световых колебаний в какой-то один момент времени, степень когерентности у (т) и фаза ф (т) описывают состояние световых колебаний в два различных момента времени / и / -[- т. [c.103]

Микроинтерферометр МИИ-5 представляет собой упрощенную конструкцию микроинтерферометра МИИ-4. Упрощение в основном заключается в отсутствии фотокамеры, интерференционных светофильтров, микрометренных перемещений стола и устройства для изменения ширины и направления интерференционных полос. В остальном его технические характеристики и способ применения совпадают с МИИ-4. [c.95]

Для специальных исследований и аттестации вибростендов и виброизмерительной аппаратуры можно использовать бесконтактные интерференционные методы, основанные на счете интерференционных полос, эффекте исчезновения интерференционных полос при амплитуде, пропорциональной корням функции Бесселя нулевого порядка первого рода, с двухчастотным оптическим квантовым генератором, с фотоэлектрическим отсчетом (интерферометры ФОУ-1 ЬаЗООО и др.). Кроме того, разраба тываются методы, основанные на принципах голографии, эффекте Допплера смещения частоты излучения движущегося источника, эффекте Мессбауэра резонансного поглощения гамма-квантов. Схемы, функциональные особенности и метрологические характеристики соответствующих установок подробно рассмотрены в [52]. [c.129]

При измерении ПФ структур с фазовой модуляцией отраженного считывающего света пучок гелий-кадмиевого лазера освещал тест-объект — лезвие ножа. Изображение резкой границы проецировалось на поверхность фотополупроводцика структуры ФП— ЖК- Весьма удобным оказалось иметь в считываемом изображении систему интерференционных полос, перпендикулярных грани це освещенной области [157]. Эта решетка была образована с по мощью интерферометра Майкельсона, одним из плеч которого яв лялось Диэлектрическое зеркало структуры ФП—ЖК. Направле пие начальной ориентации директора в ЖК и электрического вектора считывающего света гелий-неонового лазера совпадали с осью у выбранной коордиг1этной системы. При этом форма интерференционных полос в изображении структуры представляла собой точный график переходной характеристики структуры по фазовой задержке [79]. [c.162]

Относительная ширина ннтер-ференционнон полосы. Относительная ширина интерференционной полосы представляет собой важную характеристику интерферометра, во многом определяющую точность регистрации смещения интерференционной полосы Рис. 10. К выводу выражения для (ИЛИ изменение освещенности в относительной ширины ннтерфорсн- ноле интерференции). Примем за циониои полосы ширину интерференционной поло- [c.26]

Если, как говорилось в п. б , источник действительно монохроматический, то система полос будет периодичной по т, а контрастность будет постоянной. Точно так же квазимонохромати-ческий источник с прямоугольной спектральной интенсивностью даст картину интерференционных полос, содержащую модуляционную характеристику sin х/х. Контрастность будет иметь огибающую аналогичного характера. [c.369]

Существенной характеристикой интерференционной картины является ширина полос, которая отсчитывается по направлению перпендикуляра у к касательной. Так как между двумя соседнилн) полосами разность хода меняется на X, то ширину полосы у можно вглчислить из соотношения [c.169]

Для глубины интерференционных полос, наблюдаемых в окрестности произвольной оптической разности хода h, имеется количественная характеристика — видность интерференционных полос, впервые введенная Майкельсоном. Видность сииусоидаль-иой картины полос определяется как [c.160]

В варианте ОКУ18 [53] двух лучевой интерферометр настраивается таким образом, что рекомбинирующие пучки наклонены друг относительно друга на некоторый малый угол ф. В результате в поперечном сечении области интерференции образуется система полос, расстояние между которыми б = Х,/51п (р. При работе со светом, отраженным от движущейся поверхности, смещение полос на величину (1 соответствует одному интерференционному биению, то есть, как и ранее, изменению скорости поверхности на величину к/2 Ai. Эволюция системы интерференционных полос в процессе измерений регистрируется электроннооптическим фотохронографом, работающим в режиме щелевой фоторазвертки. Из-за худших метрологических характеристик камер с ЭОП, их применение несколько увеличивает погрешность амплитудных измерений. [c.70]

Полосы равного хроматического порядка. Ранее, при рассмотрении видов интерференционных полос уже упоминались полосы, характеристикой которых является изменение в системе волнового числа (длины волны) при постоянстве других параметров. Такие полосы получили название полос равного хроматического порядка. Для получения полос необходимо использовать источник света, излуча- юи ий сплошной спектр. На рис. 4.13 изображена оптическая система, позволяюи ая наблюдать полосы этой природы. [c.51]

За счет дифракции на синусоидальной решетке, образуемой интерференционными полосами, возникают три волны. Одна из них соответствует главному максимуму нулевого порядка /тг = О и распространяется в направлении падающей волны. Какой-либо полезной информации эта волна не несет. Направление волны с ш = 1 определяется условием lunQ = X, таким образом, ее направление и все остальные характеристики такие же, как у предметной волны 1 при записи [c.163]

Максимальная допустимая скорость механического перемещения [фязл1ы определяется частотцой характеристикой фотоэлектрического блока, осуществляющего подсчет интерференционных полос. Обычно фотоэлементы и усилителн могут работать до частот порядка 1. мГц, что соответствует скорости линейного перемещения до 18 м/.мин. Однако для устойчивой работы измерительной системы с учетом вибраций станка скорость не должна превышать. 6 м/мин. [c.103]

В следующих испытаниях промежутки между стеклянными брусками были увеличены за счет применения пластмассовых брусков вдвое большей ширины. Последовательность фотоупру-гих интерференционных картин (рис. 41) показывает высокую концентрацию напряжений у конца распространяющейся трещины. Одной из важных характеристик, наблюдаемых на этих интерференционных картинах, является угол наклона петель, образованных полосами вблизи конца трещины. Здесь наблюдается угол наклона более 90", что заметно отличается от известных результатов для однородных материалов. Герберих[28] наблюдал углы 45 и 60° для медленно растущих внутренних и краевых трещин соответственно. Уэллс и Пост [67] приводят значения угла, достигающие 80° для бегущих трещин. Как показал Ирвин [38], угол наклона изохроматической петли 0ш, максимальный модуль радиуса-вектора этой петли Гт и порядок полосы (или, что эквивалентно, максимальное касательное напряжение Тщ) связаны с коэффициентом интенсивности напряжений К или силой растяжения трещины Т. Было установлено, что сила ST очень чувствительна к изменениям угла наклона, Наблюдаемое в данном опыте значение этого угла указывает на большое различие в величине силы ST между моделью композита и однородным материалом. [c.546]

Такие измерители [8, 18, 113] состоят из источника излучения (лазера), оптического устройства-интерферометра, формирующего сигнал измерительной информации, а также, как и другие измерители, включают в себя электронное устройство обработки и индикации результатов измерения. Для устранения влияния излучения, отраженного от интерферометра обратно в лазер, на его характеристики в таких измерителях предусмотрена оптическая развязка резонатора лазера и интерферометра, которая обычно осуществляется поляризациоииыми элементами или путем разнесения мест деления и наложения интерферирующих пучков. Чувствительность к направлению изменения оптической длины почти у всех приборов достигается построением схем с двумя интерференционными картинами, сдвинутыми друг относительно друга на четверть иптерференционной полосы. [c.237]

Частотные О. ф. (светофильтры) используются для выделения или подавления нек-рого заданного участка спектра широкополосного оптич. излучения. Осп. характеристики таких О. ф. отношение ср. длины волны Ло к ширине полосы пропускания (поглощения) 6к контрастность — отношение коэф. пропускания фильтра в максимуме прозрачности к коэф. пропускания вне полосы пропускания. В зависимости от используемого физ. механизма частотные О. ф. разделяются на абсорбционные, интерференционные, поляризационные, дисперсионные и др. [c.459]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...