Методу отражения. Аппаратура

МЕТОДЫ ОТРАЖЕНИЯ. АППАРАТУРА [c.95]

Для проверки и настройки параметров метода отражений и соответствующей аппаратуры в основном используют государственные стандартные образцы СО-1, СО-2, (СО-2А) и СО-3 по ГОСТ 14782. [c.205]

Для проверки и настройки параметров метода отражений и соответствующей аппаратуры в СССР в основном используют государственные стандартные образцы СО-1, СО-2, (С0-2Р) и СО-3 по ГОСТ 14782—86, выгодно отличающиеся принципами построения и технологичности изготовления от образцов аналогичного назначения, используемых в других странах. [c.189]

В целом сборник отражает достигнутые успехи в области создания новых методов и аппаратуры для контроля материалов и изделий без разрушения. Некоторые вопросы контроля без разрушения, к сожалению, не нашли отражения в докладах. Так, в частности, не рассматривается влияние дефектов на прочность материалов и изделий мало представлено докладов по аппаратуре заводского изготовления. [c.4]

В главах 1 и 2 книги содержатся сведения о турбулентных флуктуациях показателя преломления и методах теории распространения электромагнитных волн оптического диапазона в случайно-неоднородных средах. Специальный раздел посвящен методам решения задач на локационных трассах. В главах 3—6 излагаются результаты экспериментальных и теоретических исследований статистических характеристик поля пучков оптического излучения, распространяющегося в турбулентной атмосфере на связных трассах. Анализируются средняя интенсивность, когерентность, пространственно-временная структура флуктуаций фазы и интенсивности излучения, случайная рефракция оптических пучков в зависимости от турбулентности на трассе и параметров приемной и передающей оптических систем. В главах 7 и 8 рассматриваются результаты исследований распространения лазерного излучения на локационных трассах. Дается последовательный теоретический анализ влияния интенсивности турбулентности, свойств отражающей поверхности и параметров лазерного источника, отражателя и приемника на эффекты, обусловленные корреляцией встречных волн. Систематизируются результаты экспериментальных исследований распространения лазерного излучения на трассах с отражением в турбулентной атмосфере. В главе 9 описаны методы и аппаратура лазерного зондирования атмосферной турбулентности. [c.6]

Определение образа выявленного дефекта. Целью НК является не только обнаружение дефектов, но и распознавание их образа для оценки потенциальной опасности дефекта. Методы визуального представления дефектов эффективны, когда размеры объектов (дефекта в целом или его, фрагментов) существенно превышают длину волны УЗК. Кроме того, эти методы требуют применения довольно сложной аппаратуры. В практике контроля дефекты идентифицируют по признакам, рассчитанным по измеренным характеристикам дефектов посредством дефектоскопов с индикатором типа А. Словарь признаков приведен в табл. 16, где t/д, t/д (а , t/д/ — амплитуды эхо-сигналов от дефекта при контроле сдвиговыми волнами с углом ввода o q и а. и продольными волнами с углом, ввода а соответственно Uo, Uq ( з), Uoi — амплитуды эхо-сигналов от цилиндрического отражателя СО № 2 (№ 2а) — амплитуда эхо-сигнала сдвиговой волны, испытавшей двойное зеркальное отражение от дефекта и внутренней поверхности изделия ( о) и Яд(ос2) — координаты дефекта при угле ввода о и 2 соответственно А1д, АХд, АЯд — условные размеры (протяженность, ширина и высота) дефекта ALq, АХо, АЯо — условные размеры ненаправленного отражателя на той же глубине, что и выявленный дефект Уд — угол ориентации дефекта в плане соединения (азимут дефекта), Ауд. ц, Ауд. к— углы индикации дефекта в его центре и на краю соответственно при поворотах преобразователя от центра дефекта Ауд—угол индикации бесконечной плоскости на заданном уровне ослабления при повороте искателя в одну сторону б — толщина соединения I — расстояние от точки выхода луча до оси объекта. [c.243]

Если энергия первичных электронов такова, что длина их волны соизмерима с периодом поверхностной решетки , то упруго отраженные электроны дадут дифракционную картину. Следовательно, надо зарегистрировать их пространственное- распределение. Это — метод ДМЭ, поскольку речь идет о медленных электронах с энергией 20—200 эВ. Аппаратура для получения дифракционных пятен несложна, чего нельзя сказать об анализе дифракционной картины и возможностях однозначной трактовки структуры поверхности. Возможности эти значительно улучшаются, если одновременно с пространственным распределением измеряется число отраженных частиц в каждом пятне как функция энергии первичных электронов, что однако усложняет эксперимент. [c.152]

Первый из указанных путей внедрения ЭВМ — разработка новых видов анализа, из-за своей специфичности не отражен в данной книге, основное содержание которой посвящено различным аспектам проблемы автоматизации традиционных видов анализа. При этом вопросы, связанные с автоматизацией, рассматриваются комплексно с учетом их влияния на качество измерений и ориентированы на реализацию как на стадии проектирования анализаторов на фирме-изготовителе аналитической аппаратуры, так и непосредственно у пользователя на имеющемся аналитическом оборудовании. Наличие огромного парка неавтоматических аналитических приборов у пользователя и преимущества, обеспечиваемые их автоматизацией, заставили в основном рассмотреть именно последний круг вопросов. Это сразу же увеличило удельный вес алгоритмических методов повышения качества измерений, с одной стороны, как наиболее доступных для пользователей, не имеющих возможности вносить значительные изменения в системы существующих анализаторов, а с другой стороны, обусловленных массовым производством широкой номенклатуры микро-ЭВМ. [c.5]

В настоящее время для измерения коэффициента поглощения в жидкостях чаще всего применяется импульсный метод. Импульс, прошедший через среду в интерферометре с плоской волной и принятый приемником (после отражения от рефлектора в простом кварцевом интерферометре), сравнивается с аналогичным импульсом такой же частоты, выходящим из прокалиброванного аттенюатора. При этом нетрудно определить изменение амплитуды из-за изменения длины пути, пройденного импульсом. Этот метод использовался в частотном интервале 0,5—2000 МГц с точностью порядка 2% вплоть до 200 МГц и 4—5% выше 500 МГц [1, 25]. Для достижения такой точности требуется большая тщательность в конструировании интерферометра [38] и электронной аппаратуры. Источником является кварц, возбужденный на своей основной частоте или на одной из нечетных гармоник (вплоть до 487-й). Этот метод может применяться в широком интервале давлений и температур. [c.155]

Методом диффузионного (или отраженного) звукового поля измеряют шумы машин, звукоизоляцию ограждающих конструкций, звукопоглощение материалов, характеристики акустической аппаратуры по диффузионному полю. Микрофон располагают в нескольких точках области диффузионного поля и определяют среднее по объему значение уровня звукового давления в октавной или третьоктавной полосах частот. [c.608]

Для контроля качества сварных соединений аппаратуры емкостного типа, работающей под давлением, применяют различные методы, основными из которых являются 100%-ный визуальный осмотр швов, выборочный контроль рентгенопросвечиванием и ультразвуком. Готовые изделия проходят испытания внутренним давлением, превышающим в 1,2—1,5 раза рабочее, а также проверку герметичности. Ультразвуковой контроль может быть использован не только для выявления дефектов, но и для контроля толщины антикоррозионного слоя, нанесенного сваркой. При этом используют раздельно-совмещенный искатель, устанавливаемый со стороны основного материала. Он позволяет получать на экране два сигнала, отраженные от наружной поверхности и границы раздела. При толщине наплавленного слоя более 0,5 мм точность определения составляет 1 %. [c.234]

Работа [1], является одной из первых работ по реализации метода оптического гетеродинирования. Авторами [1] был создан необходимый комплекс аппаратуры и успешно проведены его лабораторные испытания. К этому же периоду относится работа [5], в которой была построена и испытана в атмосфере аппаратура с гетеродинным приемником. Эксперимент строился по локационной схеме на длинах волн 0,63 и 1,15 мкм. В качестве гетеродинного использовалась часть излучения передатчика со сдвигом частоты. Сдвиг частоты опорного излучения составлял 340 кГц и осуш,ествлялся за счет отражения от движуш,егося уголкового отражателя. На трассах 2 и 11,9 км с помоп ью анализатора спектра наблюдался сигнал биений в полосе частот около 50 кГц. Большая ширина спектра сигнала промежуточной частоты (ПЧ) исключала возможность изучения спектра атмосферной турбулентности. Основным результатом работы является измерение мош,-ности сигнала биений, усредненной в течении 30 с в зависимости от диаметра апертуры. [c.66]

Импульсный метод ультразвуковой дефектоскопии используется не только для выявления внутренних дефектов, но и для измерения толщины стенок труб, листов, резервуаров, обшивок и т. п. Так, например, ультразвуковые толщиномеры применяются для измерения толщины стенок разнообразной аппаратуры химической и нефтеперерабатывающей промышленности в процессе эксплуатации при доступе с одной стороны. Толщина стенок контролируется измерением интервала времени между посланным ультразвуковым импульсом и первым его отражением от противоположной поверхности стенки. Так, для освидетельствования подземных резервуаров применяются ультразвуковые импульсные толщиномеры [c.101]

О ри управлении по принципу самонаведения на борту ракеты устанавливается специальная аппаратура — координатор цели, который под воздействием отраженной от цели или излученной ею энергии определяет угловое положение ракеты относительно цели. На основании этой информации координатор цели вырабатывает сигналы управления. Эти сигналы воздействуют на органы управления так, чтобы свести отклонения ракеты от предписанной ей методом наведения траектории к нулю и вывести ракету в район цели. [c.30]

Ранее указывалось, что с принципиальной точки зрения разрешающую способность метода РНП наиболее правильно оценивать через наименьшие углы между направлениями прихода наложившихся волн, при которых эти волны разрешаются аппаратурой РНП. Однако в практике, как правило, приходится пользоваться не углами падения волны, а связанными с ними величинами градиентов времен или кажущимися скоростями, которые определяются непосредственно по наклону годографов. При этом следует отметить, что участки годографов отраженных волн на базах в 200 м, которые обычно применяются в методе РНП, в большинстве случаев могут быть представлены прямолинейными отрезками. [c.70]

Аппаратура и параметры контроля. Для контроля изделий теневым и зеркально-теневым методами обычно используют импульсные эхо-дефекто-скопы, при этом искатели включают по раздельной схеме, т.е. с разделением функций излучающего и приемного преобразователей. Появление дефекта фиксируют по исчезновению или уменьшению сигнала, прошедшего через изделие от излучателя к приемнику (теневой метод) или донного сигнала, отраженного от противоположной поверхности изделия (зеркально-теневой метод). [c.147]

Вторым элементом схемы оптического квантового генератора является зеркальный резонатор, внутри которого помещается активное вещество. Размещение активного вещества в зеркальном резонаторе вызвано тем, что получение стимулированного излучения в активном веществе еще не обеспечивает получения требуемой направленности и концентрации лучистой энергии. Очевидно также, что усиление стимулированного излучения тем больше, чем больший путь оно пройдет в активном веществе, однако применение таких длинных активных веществ в оптических локаторах противоречит общему требованию к малогабаритности аппаратуры. Для получения большого коэффициента усиления при небольших размерах активного вещества применяют предложенный академиком А. М. Прохоровым метод увеличения длины пути луча посредством многократных отражений его от зеркальных поверхностей,, между которыми размещается активное вещество. Полость между зеркалами образует открытый оптический резонатор. [c.35]

В 1967—1969 гг. была разработана аппаратура для контроля формы таких цилиндрических стержней голографическим методом [2, 3], которая формирует на выходе контурную карту, характеризующую различие формы двух цилиндров. При полу--чении голограммы внутренние стенки одного цилиндра освещаются коллимированным лазерным светом, падающим на них под косым углом таким образом, происходит только одно отражение (фиг, 6,8, а). Для этого применяются специальные [c.191]

Можно ожидать, что р витие малоглубинной модификации метода отраженных волн существенно повысит возможности сейсморазведки при решении задачи литологического расчленения верхней части разреза. Это подтверждают первые результаты, полученные при использовании специальной аппаратуры (рис. 76, 77). [c.173]

Для Применения УЗСП-метода необходимо выполнение ряда требований как к преобразователям, так и к электронной аппаратуре широкополосность преобразования электрического сигнала в акустический и обратно, широкополосность приемного тракта, проведение спектрального анализа отраженных от дефектов сигналов. В качестве широкополосных преобразователей используют осесимметричные преобразователи переменной толщины (см. подразд. 2.2). В табл. 5.9 даны основные технические характеристики разработанной аппаратуры. С помо дыо этой аппаратуры можно распознавать тип дефекта по трехклассовой системе, используемой в теории прочности. В табл. 5.10 приведены границы каждого класса, соответствующие им коэффициен1ы формы и концентрации напряжений реальных дефектов сварных соединений. [c.275]

Явление интерференции двух световых лучей — прямого от источника света и отраженного от вибрирующей поверхности используется преимущественно для лабораторных испытаний. Этот метод является одним из наиболее точных при измерении малых амплитуд. Интерференционный метод довольно широко применялся в начале нашего столетия, но затем он уступил место более совершенным методам измерения при помощи электромеханических систем. Однако в последнее время интерференционный метод снова стал применяться для абсолютной калибровки других типов виброизмери-тельной аппаратуры при высоких частотах и весьма малых амплитудах вибрации. Интерференционному методу посвящена уже довольно обширная современная литература. Применение фотоумножителя в качестве регистратора [28 ] и использования для наблюдения интерференционных максимумов высшего порядка [29] значительно расширяет возможности метода. [c.404]

Брэгговская оптика кристаллов. При взаимодействии рентг. излучения с кристаллом, когда выполняются условия Брэгга — Вульфа, возникает брэгговское отражение (см. Дифракция рентгеновских лучей). Это явление легло в основу рентгеноспектральных методов (см. Рентгеновская спектральная аппаратура), а также методов рентгеновской топографии. Диапазон спектра, в к-ром может использоваться тот или иной кристалл, определяется постоянной решётки 2d и диапазоном изменения (обычно от 3—5° до 60—70°) угла Брэгга б (угла между плоскостью кристалла и направлением падающего пучка). Кристаллы СО структурой, близкой к идеальной, имеют наиб, высокую разрешающую силу — энергия рентг. кванта, [c.347]

Ширина угл. области полного дифракц. отражения составляет величину порядка угл. секунды (- 0,5 "Ю рад). Поэтому для эфф. развития метода разрабатывается прецизионная гониометрич. аппаратура (ом. Рентгеновский гониометр), работающая в авто-матич. режиме и управляемая ЭВМ. С помощью этой аппаратуры кристалл можно поворачивать в прямом и обратном направлениях через положение полного дифракц. отражения в течение неск. ч, причём положение кристалла сохраняется с точностью до сотых долей угл. секунды. Разрабатываются также новые эфф, счётчики вторичных излучений, [c.364]

Анализ энергетич. спектров неупруго рассеянных электронов составляет основу спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, исследующей коллективные (плазменные) и одночастичные возбуждения валентных электронов с энергией до < 50эВ, и ионизационной спектроскопии, изучающей возбуждение и ионизацию электронов внутр. оболочек атомов (электронов острова) в диапазоне потерь энергии —5000 эВ. В зависимости от используемой энергии первичных электронов в Э. с. (и в дифракции электронов) различают два случая. Если энергия лежит в интервале от десятков до 100 кэВ, то регистрируются либо электроны, прошедшие сквозь тонкий слой вещества, когда получаемая информация характеризует его объёмные свойства, либо электроны, отражённые от поверхности под скользящими углами. Обычно при этом аппаратуру совмещают в одном приборе с электронным микроскопом [5 ]. В области низких и ср. значений энергии (не превосходящих неск. кэВ) используется геометрия эксперимента на отражение. В этом случае получают информацию о структуре и свойствах приповерхностного слоя, толщина к-рого примерно равна длине свободного (по отношению к неупругому взаимодействию) пробега электрона X. При энергии электронов 50—100 эВ, когда X, составляет неск. моноатомных слоев, достигается наиб, чувствительность метода к свойствам поверхности. При большей и меньшей энергии глубина зондирования возрастает. [c.553]

Методы. Ультразвуковой метод определения напряжений основан на анализе закономерностей прохождения упругой волны через твердое тело. Плоские поляризационные волны можно направлять под различными углами к плоскостям действия главных напряжений, благодаря чевлу можно найти ориентацию этих напряжений в конструкции и средний уровень действующих напряжений. Направления действия главных напряжений также могут быть определены по максимальной разности прохождения звуковой волны в двух плоскостях, а также по характеру последовательных отражений ультразвукового сигнала. Изменение скорости ультразвуковых волн под действием напряжений очень мало. Поэтому для проведения таких измерений требуется аппаратура с очень высокой разрешающей способностью. [c.268]

В настоящей главе содержатся данные по оптическим свойствам растворителей (циклопентана, четыреххлористого углерода, хлороформа, дихлорметана, бензола, спиртов, сероуглерода, хлорида кремния, аммиака, сжиженных газов), аттестованных в ИК-области с максимально возможной метрологической точностью. Эти данные служат надежной базой для создания средств контроля и поверки аппаратуры, а также для отработки различных методов измерения оптических постоянных. Оптические характеристики получены для сравнения тремя независимыми методами (пропускания, внешнего и внутреннего отражения), причем исходные данные обрабатывались разными вычислительными приемами (по Френелю, Крамерсу—Кронигу и классическим дисперсионным анализом). [c.58]

Ограничения во временном разрешении двухлучевого интерферометра, связанные с частотными характеристиками регистрирующей аппаратуры, снижаются при использовании скоростных фотохронографов на базе электроннооптического преобразователя [20, 53]. В этом случае разрешающая способность метода может достигать субнаносекундного уровня, причем экспериментальные регистро-граммы становятся гораздо более наглядными и легче обрабатываемыми. Кроме того, метод становится менее чувствительным к колебаниям коэффициента отражения контролируемой поверхности и, как следствие, интенсивности поступающего в прибор света. С другой стороны, эффективность использования светового потока выше в вариантах с применением фотоэлектронных умножителей. [c.70]

Интерферометр и регистрирующая аппаратура могут бьггь удалены от экспериментальной сборки на десятки метров. Применение волоконных световодов в качестве линий связи обеспечивает проведение измерений вне пределов прямой видимости объекта. Используются различные типы волоконно-оптических линий связи—с одним общим волокном для передачи излучения от лазера к мишени и обратно к интерферометру, с одним волокном для передачи излучения к объекту и вторым для передачи отраженного излучения, а также пучки из семи волокон, в которых центральное волокно служит для передачи излучения от лазера, а шесть остальных—для передачи отраженного излучения к системе регистрации. Так как между экспериментальной сборкой и регистрирующей аппаратурой нет электрической связи, лазерные методы обладают высокой электрической помехоустойчивостью. [c.72]

Таким способом была измерена ширина отражения 422 от кремния, равная 2,95", из которой найдено значение амплитуды атомного рассеяния с ошибкой, оцениваемой примерно в 0,3% точность можно было улучшить при небольших усовершенствованиях аппаратуры. Точность повышается, а сам метод становится более разносторонним при использовании трехкристального устройства [3171. [c.342]

Методы, связанные с регистрацией электрических характеристик исследуемого объекта, позволяют кодировать информацию о свойствах объекта непосредственно в форме электрического сигнала, наиболее удобной для последующего преобразования. Электрохимические методы требуют весьма различных инженерных решений аналитической аппаратуры. Особенно это относится к узлам первичного преобразования информации об объекте (кон-дуктометрия, полярография) или самого объекта (электрофорез, изоэлектрическая фокусировка). Еще большее разнообразие характеризует электрохимические методы в плане их информативности. В этом отношении на один полюс можно поставить методы определения элементарных ионов, а на другой — исследование функционального состояния и жизнеспособности органических тканей. Промежуточными областями аналитического диапазона электрохимических методов является определение различных неорганических и органических соединений, ферментативной и иммунной активности, белкового состава, дисперсионный и электроспектроскопический анализы суспензий всевозможных частиц, в том числе биологических клеток. Общая черта, объединяющая вышеуказанные методы в одну группу, заключается в комплексном характере взаимодействия объекта, поддерживающей среды (если таковая имеется), электродной системы и электрического поля. Основные электрохимические методы нашли отражение в табл. 2. Кроме них, применяются еще некоторые методы. [c.128]

Трудности применения метода ALOK в случае дефектов, которые имеют частичное зеркальное отражение на своих наклонных поверхностях, могут быть отчасти устранены методом последовательной корректировки с использованием модельных дефектов [749]. Несмотря на дорогостояшую аппаратуру, такой метод успешно опробован на толстых изделиях. [c.305]

На лрактике нельзя обойтись без других эталонных образцов кроме пластин, потому что уже для наклонных искателей в качестве замены отражателей от задней стенки нужны четверти окружностей различных радиусов. Более точные результаты могли бы дать плоские задние стенки под соответствующим углом, что однако снова привело бы к нежелательному разнообразию эталонных образцов. Однако имеются и другие случаи, когда нельзя обойтись без искусственных эталонных дефектов, а именно если нарушено прохождение звука через боковую стенку. Тогда и простые законы, на которых основывается построение АРД-диаграмм, оказываются недействительными. Важнейшими примерами являются трубы и плоские тела в виде пластин, в которых в местах дефекта появляются не поддающиеся обозрению зигзагообразные волны с угловыми отражениями. Здесь совершенно необходимы эталонные дефекты типа канавок и глухих отверстий. Нужно однако четко представлять себе, что эти дефекты не достигают целей, поставленных применением АРД-диаграмм или метода плоскодонных эталонных дефектов, эти методы позволяют получить эквивалентный отражатель первого рода, который для заданного естественного дефекта всегда имеет одну и ту же величину, даже если изменяется диаметр искателя и его частота, а также расстояние до дефекта. Следовательно, по АРД-диаграмме все контролеры, по крайней мере в принципе, должны получать на всех приборах и при всех настройках одинаковые значения. Все другие эталонные дефекты, как, например, канавка в трубе, дают эквивалентный отражатель лишь второго рода, т. е. он обеспечивает воспроизводимые результаты только в том случае, если все вышеназванные условия остаются неизменными. Он используется в первую очередь для того, чтобы проверить стабильность работы аппаратуры. В стандарте его можно регламентировать только в том случае, если будут регламентированы по крайней мере и некоторые другие переменные, например расстояние и частота работы искателя, что однако всегда влечет за собой недоразумения. [c.381]

Из уравнений (14.1) и (14.2) представляют интерес два следствия. Во-первых, при г + / = 90°, tg(r + ) становится бесконечным и / р = 0, а это означает, что отраженный свет полностью поляризован в плоскости поверхности. При г+ = 90°, sin г —eos i и из уравнения Снелла n = sin /sin r — tg i. Это основа углового метода Брюстера для определения показателя преломления, в котором определяется угол падения света, при котором отраженный луч может полностью отсекаться путем использования поворотного поляризующего фильтра. Методика требует высокоточной аппаратуры и может использоваться для определения показателя преломления черного стекла (используемого как стандарт при измерении блеска) или лаковых пленок на черном стекле, а также (с некоторым снижением точности) для пленок с высоким блеском. [c.419]

В определенных случаях, в частности при использовании методов лазерного зондирования, основанных на флюоресценции или комбинационном рассеянии, обратно рассеянное лазерное излучение может ограничивать чувствительность лидарной системы двояким образом. Если спектральная фильтрация недостаточна, то часть отраженного лазерного излучения совпадает с полезным сигналом. Кроме того, если имеются недостатки в конструкции лидара, то при работе с коротковолновым лазерным излучением возможна ситуация, когда рассеянное на небольшом расстоянии от лидара излучение будет индуцировать флюоресценцию в некоторых деталях приемной оптической системы (например, объективе) или приводить к насыщению фотодетектора. Этого можно избежать путем установки узкополосного фильтра, не пропускающего лазерное излучение, перец всеми незащищенными деталями лидарной системы. Лидары с биаксиальной конфигурацией в значительно меньшей степени подвержены последнему недостатку. Тем не менее очевидно, что это явление необходимо учитывать при конструировании лазерной аппаратуры для дистанционного зондирования. [c.320]

Определение числа, размеров и разориентировки кристаллитов. Размеры кристаллитов поликрист, материалов существенно влияют на их механич. св-ва. Число N достаточно крупных ( 0,5—5 мкм) кристаллитов, участвующих в отражении рентг. лучей, определяется числом п точечных рефлексов, составляющих дебаевское кольцо рентгенограммы (см. Дебая — Шеррера метод) N = 2nla os 0, где а — пост, величина (параметр аппаратуры), 0 — брэгговский угол. Средний объём кристаллита — отношение объёма образца к N. [c.645]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...