Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Спектральный рентгеновский

Выполнение перечисленных функций осуществляется при помощи специализированных лабораторий (литейной, металлографической, химической, антикоррозийной, смазочных материалов и топлива, спектральной, рентгеновской, механической и др.), возглавляемых центральной лабораторией завода.  [c.583]

Спектральный рентгеновский анализ  [c.60]

Спектральный рентгеновский анализ имеет ряд преимуществ перед оптическим спектральным анализом.  [c.60]

Химический или спектральный анализ показывает в твердых растворах наличие двух элементов или более, тогда ка по данным металлографического анализа такой сплав, как и чистый металл, имеет однородные зерна (рис. 80). Рентгеновский анализ обнаруживает в твердом растворе, как и у чистого металла, только один тип решетки.  [c.100]


Аналогичную формулу можно записать также для других спектральных линий и серий. Так, например, для L-серии рентгеновских  [c.161]

Этот метод лежит в основе построения современных рентгеновских спектральных приборов.  [c.410]

Эффект Комптона состоит в изменении длины волны рентгеновских лучей, происходящем при их рассеянии в веществе. Схема опыта Комптона приведена на рис. 27.1. Выделяемый диафрагмами 1 и 1 узкий пучок рентгеновского излучения направляется на рассеивающее вещество 2. Спектральный состав рассеянного излучения исследуется с помощью рентгеновского спектрографа, со-  [c.178]

Результаты исследования рассеяния монохроматических рентгеновских лучей (/Са-линия молибдена >, % = =0,7126 А) приведены на рис. 27.2. Кривая на рис. 27.2, а характеризует распределение интенсивности в первичной линии, остальные кривые — спектральный состав излучения при различных углах рассеяния 0. По оси ординат отложена интенсивность излучения, а по оси абсцисс — величина, пропорциональная длине волны.  [c.179]

Результаты, полученные Комптоном. Схема опыта Комптона представлена на рис. 3.7. Диафрагмы Д выделяют узко направленный пучок монохроматического (характеристического) рентгеновского излучения. Пучок направляется на рассеивающий образец О. С помощью надлежащим образом размещенных в пространстве кристалла Кр и ионизационной камеры К (представляющих собой рентгеновский спектрограф) можно исследовать спектральный состав рентгеновского излучения, рассеянного под тем или иным углом 0.  [c.73]

Рис. 45.26. Спектр излучения рентгеновского пульсара Геркулес Х-1 в различных фазах Ф периода пульсаций. Спектральная особенность вблизи Е=7 кэВ—результат флуоресценции железа. Особенность вблизи =50 кэВ соответствует циклотронной частоте электронов в магнитном поле с В = 5-10. Тл [43] Рис. 45.26. <a href="/info/22667">Спектр излучения</a> рентгеновского пульсара Геркулес Х-1 в различных фазах Ф периода пульсаций. <a href="/info/229540">Спектральная особенность</a> вблизи Е=7 кэВ—результат флуоресценции железа. Особенность вблизи =50 кэВ соответствует <a href="/info/188623">циклотронной частоте</a> электронов в магнитном поле с В = 5-10. Тл [43]
Рис. 45.48. Распределение спектральных индексов а активных галактик в рентгеновском диапазоне Рис. 45.48. <a href="/info/251134">Распределение спектральных</a> индексов а активных галактик в рентгеновском диапазоне

У мюонного атома, получаемого в результате замещения в атоме водорода (Z = 1) электрона на отрицательный мюон, радиус боровской орбиты в 186 раз меньше, а ионизационный потенциал в 186 раз больше значений соответствующих величин у атома водорода. Частоты спектральных линий также увеличиваются в 186 раз по сравнению с частотами спектральных линий атома водорода, испускаемых при аналогичных переходах п п. Это означает, что переходы между низшими энергетическими уровнями приводят к излучению в рентгеновской области спектра.  [c.196]

Количество оттенков рентгеновского изображения можно увеличить, если применить пленку с большим числом эмульсионных слоев. Так, например, хорошее изображение дает пленка, состоящая из трех эмульсионных слоев, сенсибилизированных к различным спектральным областям рентгеновского излучения. В этих слоях посла  [c.336]

При просвечивании рентгеновским излучением трехмерного контролируемого изделия со сложной внутренней структурой информация об этой структуре может быть восстановлена по пространственному распределению интенсивности и спектрального состава рентгеновского излучения, прошедшего сквозь изделие.  [c.400]

Линейное движение осуществляется со скоростью, достаточной для обеспечения необходимой экспозиционной дозы D . Диапазон линейных перемещений должен превышать размеры контролируемого объекта, что позволяет осуществлять коррекцию метрологических характеристик измерительного канала в ходе всего процесса сканирования. Эго положение облегчается тем, что в системе обычно имеется еще один — опорный детектор, идентичный с измерительным, но жестко связанный с излучателем и формирующий необходимый сигнал /о (Й, используемый для непрерывной коррекции на мгновенные нестабильности параметров рентгеновского излучения согласно соотношению (2). Спектральные, временные и прочие характеристики опорного канала обычно выбираются максимально близкими к средним данным измерительного канала с обеспечением имитации средних свойств объекта. Единственным отличием является более высокое отношение сигнала к шуму по опорному каналу, не связанному с ослаблением излучения через объект.  [c.462]

В настоящее время широко распространены при работе в монтажных и выездных условиях, благодаря небольшим размерам и массе, импульсные рентгеновские аппараты, состоящие из двух блоков рентгеновского и управления. Принцип действия этих аппаратов основан на явлении возникновения вспышки рентгеновского излучения при вакуумном пробое рентгеновской трубки с холодным катодом под действием импульса высокого напряжения. К их недостаткам относятся невысокая мощность дозы, нестабильность интенсивности и спектрального состава, излучения, малый ресурс работы импульсной рентгеновской трубки и невозможность длительной непрерывной работы.  [c.15]

Для исследования качественных изменений, происходящих в трущихся поверхностных слоях деталей машин в процессе их эксплуатации и образцов при лабораторных испытаниях, была применена специальная комплексная методика, основой которой являлся металловедческий анализ. Проводились также рентгеновский, спектральный и химический анализы. На специальных установках и приборах определялись микротвердость металла, макро-и микрорельеф поверхностей трения и др.  [c.5]

В проведенных рентгеновских, спектральных и термических исследованиях вещества из области канала разряда для силикатных минералов не было достоверно обнаружено изменений химического и фазового состава и структуры. Незначительные смещения положений полос на инфракрасных спектрах (например, чувствительная к изменению состава плагиоклаза полоса 640 см в альбите), возникновение новых линий на рентгенограммах (например, линий каолинита в препарате из налета при пробое образцов мусковита)  [c.201]

Спектральный анализ рентгеновский 3—153  [c.152]

Рентгеновские фильтры движущиеся 3—158 Рентгеновский метод испытаний — см. Дефектоскопия рентгеновская Рентгеновский спектральный анализ 3—153 Рентгеновское излучение — Границы спектра торможения 3 — 154 Рентгеновское просвечивание — Режим 3—101  [c.243]

Спектральный и рентгеновский методы см. отдельные статьи.  [c.91]

Рентгеновский метод испытания металлов делится на три раздела 1) рентгеновская дефектоскопия (просвечивание) 2) рентгеновский спектральный анализ 3) рентгеноструктурный анализ.  [c.153]


Рентгеновский спектральный анализ — важное вспомогательное средство к химическому анализу при решении задач, когда последний не может быть применён для качественного обнаружения чрезвычайно малых количеств элемента, анализа редких земель и химически аналогичных элементов и т. п.  [c.153]

Для получения спектра испускания вещество наносят в виде порошка на антикатод рентгеновской трубки и полученное излучение разлагают при помощи спектрографа в спектр. Положение появляющихся спектральных линий на шкале длин волн является характерным для данного элемента.  [c.158]

Металловедческие лаборатории—механическая, химическая с отделениями коррозионным и спектрального анализа, металлографическая, рентгеновская, магнитная.  [c.366]

В 1916 г. А. Зоммерфельд, работая над воровской атомной моделью, ввел новый способ квантования электронных систем с помощью двух переменных ( главного и побочного квантовых чисел) и получил для движения электронов необходимые эллиптические орбиты. Благодаря уточнению модели атома Бора были объяснены некоторые спектроскопические данные. Далее Бор в духе классической механики принял массу движущегося электрона постоянной. Зоммерфельд же учел поправки, которые требовала теория относительности, и ввел в теорию Бора релятивистскую массу электрона, заметно меняющуюся в зависимости от изменения громадной скорости электрона, движущегося внутри атома. В результате этого стало ясно, что электронная орбита движется в данной плоскости вокруг фокуса, занятого ядром, т. е. она приобрела вид розетки. Теперь Зоммерфельд смог объяснить тонкую структуру не одного только спектра водорода, но и спектра рентгеновских лучей. Тем самым при построении атомной модели стали учитывать и теорию относительности Эйнштейна. Однако и это новое видоизменение теории Бора, развитое Зоммерфельдом, не давало возможности охватить все опытно наблюдаемые спектральные линии, а модели, содержащие три и более тел (например, гелия), она не в силах была точно рассчитывать. Здесь все время сохранялось противоречие теории фактам, как бы ни усложнялось классическое в своей основе представление об электронной орбите. Только квантовая механика позднее разрешила это противоречие, отказавшись в принципе от классических представлений об электроне как миниатюрном шарике и о точной орбите его движения.  [c.454]

Хром может быть обнаружен в соединениях по образованию зеленого перла буры, по желтому цвету хроматов, образующихся при плавлении соединений хрома с нитратом калия и по красно-фиолетовому цвету, возникающему при реакции шестивалентного хрома е S-дифенилкарбазидим. Для обнаружения хрома использую1Ся также методы качественного спектрального, рентгеновского и полярографического анализов. Количественное определение хрома производят обычно путем окисления до бихромата с последующим титрованием раствором соли двухвалентного железа известной концентрации.  [c.879]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль  [c.153]

Прямые доказател1ьства существования фотонов получил в 1922 г. американский ученый А. Комптон при исследовании спектрального состава рассеянных рентгеновских лучей. С клас-  [c.159]

Y, рентген УФ, О, ИК, радио — V. рентгеновский, ультрафиолетовый. оптический, инфракрасный и радноднапазоны S спектральная плотность потока  [c.1200]

Другим распространенным методом анализа состава материалов является рентгено-спектральный микроанализ (РСМА). В РСМА веществ регистрируют характеристическое рентгеновское излучение из зоны торможения электронов зонда в твердой мишени. РСМА часто применяется вместе с РЭМ на одном приборе, в виде специальной приставки - микроанализатора.  [c.156]

Если предположить, что в некоторой точке А расположен точечный рентгеновский источник, монохроматическое излучение которого сколлими-ровано в направлении точки В, расположенной по другую сторону контролируемого объекта, так, что поперечные размеры пучка пренебрежимо малы (в масштабе структуры объекта), то интенсивность рентгеновского излучения, измеренная в точке В коллимированным в направлении на источник точечным, спектрально селективным и линейным детектором вследствие ослабления различными участками объекта может быть представлена в виде  [c.400]

В отдельных случаях коррекция нелинейных погрешностей, обусловленных немоноэнергетичностью тормозного рентгеновского излучения, может выполняться с использованием дополнительной информации об особенностях ослабления фотонов разных энергий, в других — без спектральной селекции, на основании интегральной оценки.  [c.420]


Оценку проекций в разных спектральных интервалах можно выполнять как последовательно, так и одновременно. При последовательной оценке обычно модулируют ступенями энергию ускоренных электронов рентгеновского источника или, что неизбежно сопряжено с потерями квантов, используют управляемые фильтры. Большую эффективность и быстродействие обеспечивает параллельная спектрометрия на уровне детектора, подобно решению в методе усреднения проекций по спектру. Грубое разбиение общего интервала энергий регнстрируе-  [c.424]

Радиографические пленки разделяют на две группы — безэкранные, предназначенные для использования без флюоресцирующих экранов или с металлическими экранами, и экранные, используемые с усиливающими флюоресцирующими экранами. Основные характеристики радиографических пленок спектральная чувствительность, контрастность, разрешающая способность [10]. Наибольшую спектральную чувствительность имеет рентгеновская пленка РМ-2, контрастность — РТ-3, разрешающую способность — РТ-5.  [c.18]

Проведенный комплексный (металлоструктурный, рентгеновский, спектральный н др.) анализ деталей различных машин после их эксплуатации в условиях схватывания второго рода позволяет сделать следующие основные выводы  [c.22]

Лабораторные испытания так же, как и исследования деталей машин, проводились одновременно по двум направлениям. С одной стороны, изучались количественные характеристики процесса — интенсивность износа, величина сил трения, температура поверхностных объемов при трении и др. С другой стороны, с помощью металлоструктурного, рентгеновского, спектрального, химического и других анализов, замера микротвердости, макро- и микрорельефа и т. п. изучались качественные изменения, происходящие на поверхности и в поверхностных объемах металлов в тех или иных условиях трения.  [c.26]

Как следует из табл. 4, чувствительность (относительная) РСМД весьма невелика и гораздо ниже, чем чувствительность, достигнутая в методах оптической спектроскопии и рентгеновского флюоресцентного анализа. Однако по абсолютной чувствительности рентгеноспектральный микроанал1гз превосходит все другие методы. Так, анализ с чувствительностью 0,1 — 0,01 % элемента в микрообъеме массой 10 I —10 г означает возможность определения содержания вещества до 10 I"—10 1 г. Если же массу анализируемого элемента, равную lO i г, равномерно распределить ио объему, который анализируется при точечном оптическом спектральном анализе (0,5 мм ), то концентрация элемента составит всего 10" %. Следовательно, метод РСМА с высокой эффективностью может быть применен для анализа очень малых количеств примеси, если они распределены неравномерно в виде микровключений в основном материале.  [c.496]

Для химического анализа металлов применяются методы а) химические (весовой и объёмный) б) физико-химические (электроанализ, потенциометрия, колориметрия, фотоколориметрия, полярография и др.) и в) физические (спектральный и рентгеновский).  [c.91]

Рентгеновы лучи, полученные при обычных условиях, неоднородны в отношении частоты колебаний э или длины волны X и представляют собой набор лучей с различными длинами волн. Такое рентгеновское излучение по аналогии с видимым белым светом называют белым рентгеновским излучением (спектр торможения). Спектральный состав белого рентгеновского излучения и интенсивность его при различных длинах волн, измеренная при помощи ионизационной камеры, показаны для различных напряжений на фиг. 2,5.  [c.154]

Кроме белого рентгеновского излучения, которое возникает при любых малых скоростях движения электронов и на любых анодах, каждый химический элемент, применённый в качестве анода, испускает свой собственный характеристический рентгеновский спектр, накладывающийся на спектр торможения. Характеристический спектр в отличие от спектра торможения является не сплошным, а состоящим из нескольких серий волн с характерными для каждого данного элемента длинами волн и минимальными напряжениями возбуждения (в кв), при которых эти характеристические рентгеновы лучи возникают. На суммарной спектральной кривой длины волн характеристического спектра отличаются резкими максимумами интенсивности.  [c.154]

Фиг. 2. Компоновка средней заводской лаборатории /— термическая лаборатория 2 — металлографическая лаборато-рУ1Я] 3 — кабинет начальника 4 — лаборатория формовочных материалов 5 — механическая лаборатория 6 — механическая мастерская 7 — химическая лаборатория отдел коррозии 9 — отделение спектрального анализа /<9 — магнитная лаборатория II — рентгеновская лаборатория. Фиг. 2. Компоновка средней <a href="/info/435652">заводской лаборатории</a> /— <a href="/info/519736">термическая лаборатория</a> 2 — металлографическая лаборато-рУ1Я] 3 — кабинет начальника 4 — лаборатория формовочных материалов 5 — <a href="/info/519737">механическая лаборатория</a> 6 — <a href="/info/102293">механическая мастерская</a> 7 — <a href="/info/227394">химическая лаборатория</a> отдел коррозии 9 — отделение <a href="/info/12728">спектрального анализа</a> /<9 — магнитная лаборатория II — рентгеновская лаборатория.

Смотреть страницы где упоминается термин Спектральный рентгеновский : [c.72]    [c.249]    [c.416]    [c.423]    [c.152]    [c.13]    [c.376]    [c.171]   
Машиностроение Энциклопедический справочник Раздел 2 Том 3 (1948) -- [ c.153 ]



ПОИСК



Диализ рентгеновский спектральный

МЕТОД Спектральный анализ рентгеновский

Рентгеновская, гамма-лучевая и спектральная дефектоскоКонтроль механических свойств металлов (испытание на твердость) (Ф. П. Волосевич)

Рентгеновский анализ спектральный

Рентгеновский спектральный микроанализ с помощью электронного зонда



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте