Наклонное падение излучения

Отражение от грани раздела сред при наклонном падении излучения существенно зависит от состояния поляризации падающего излучения. Наибольший коэффициент отражения соответствует плоско-поляризованной составляющей излучения, для которой электрический вектор перпендикулярен плоскости падения. В этом случае коэффициент отражения [c.17]

Наклонное падение излучения [c.346]

Действие селектора на основе эталона Фабри—Перо [153, 169] основано на том, что пропускание эталона зависит не только от длины волны, но и от направления распространения излучения. Поскольку при наклонном падении пучка эта зависимость становится более резкой, эталон уста- [c.217]

Кроме того, фокусировка принимаемого излучения на спектральный фильтр 3 приводит к уширению его полосы пропускания (для интерференционных фильтров). Дело в том, что наклонное падение [c.204]

Зависимость фазовой скорости (или показателя преломления) от частоты (или от длины волны) называется дисперсией. Наличие дисперсии позволяет в эксперименте рассортировать монохроматические компоненты сложной волны, так как при наклонном падении на границу вещества эти компоненты в преломленном излучении распространяются в различных направлениях. На этом принципе действуют призменные спектрографы и монохроматоры. [c.80]

В соответствии с формулой Эйри кривая пропускания интерферометра Фабри — Перо состоит из серии эквидистантных по частоте (или волновому числу Х о) пиков. При нормальном падении (0 =0) минимальному ослаблению подвергастся излучение с длиной волны j = 2nd/m, где W — целое число, называемое порядком интерференции. При наклонном падении длина волны, на которой имеет место максимальное пропускание, становится равной = 2nd os в /т. При достаточно малых в положение пика, соответствующего частоте [c.563]

Мы здесь не будем вдаваться в подробности расчета pi и рг для частных случаев. Отметим лишь, что общая формула (4.61) может быть использована при анализе влияния наклонного падения дождевых капель на распространение СВЧ излучения и при анализе рассеяния света на полимерах. Отметим также, что при полностью хаотической ориентации частиц р, = р2 = = 1/4я и (4.61) сводится к случаю, рассмотренному в примере в раздела 2.6. [c.99]

Резонансное поглощение лазерного излучения при наклонном падении на слой неоднородной плазмы. Продольные плазменные колебания. Еще одним (а для горячей термоядерной плазмы - наиболее важным) механизмом поглощения энергии световой волны, проявляющимся при наклонном падении света на неоднородную плазму, является так называемый механизм резонансного поглощения [5]. Такое поглощение происходит благодаря линейной трансформации поперечных электромагнитных волн в продольные плазменные. При наклонном падении в р-геометрии (т.е. при поляризации волны в плоскости падения) всегда имеется продольная (вдоль градиента концентрации) компонента электрического поля световой волны (рис. 2.7). На определенной глубине, где концентрация плазмы близка к критической для падающего электромагнитного поля, происходит резонансное преобразование энергии лазерного излучения в энергию сильно затухающих собственных плазменных колебаний. [c.84]

Бесконечно длинные круговые цилиндры из однородного вещества, па которые падает плоская волна излучения, дают задачу о рассеянии, до некоторой степени сходную с задачей о рассеянии однородны.ми шарами. Эта задача близка к задаче Ми (гл. 9), если падающий свет распространяется перпендикулярно оси цилиндра. Этот случай будет рассмотрен подробно (разд. 15.12, 15.13 и 15.23). Сначала покажем, что наклонное падение приводит к более сложным формулам (разд. 15.11). [c.346]

К уравнению такого же типа можно свести и случай наклонного падения волны на неоднородный слой. Подобная задача рассматривалась в работе [93], где было показано, что конкретный вид уравнения для электромагнитной волны зависит от ее поляризации. В этой же работе рассматривается применение развитой ниже теории к конкретной физической задаче о тепловом излучении слоистых сред. Такая слоистая среда может служить моделью для льдов Антарктиды. [c.193]

Ниже иным способом будет получено решение задачи (основанное на результатах работы [108]) для наклонного падения и абсолютно жесткого экрана, причем искомые поля выражаются через импеданцы излучения щелей в экране. [c.104]

Поскольку почти не зависит от угла падения, то р р увеличивается при наклонном падении волны. Другими словами, энергия волны, соответствуюш,ая излучению участка (18, при нормальном падении звука сосредоточена в трубке /, а при наклонном падении — в трубке 11, ширина которой меньше ширины трубки I. Поэтому и звуковое давление р р при наклонном падении оказывается больше, чем при нормальном падении. [c.225]

Из приведенного соотношения видно, что толщина исследуемого слоя материала при данном излучении определяется углом наклона падающих на образец рентгеновских лучей. Известно, что, изменяя угол падения первичного луча к исследуемой поверхности, можно изучать структуру поверхности послойно вплоть до толщины слоя 10" м. Однако, несмотря на огромные возможности и преимущества по сравнению с методами, использующими промежуточные операции по обработке поверхности, метод скользящего пучка рентгеновских лучей длительное время не находил применения. Авторами подробно разработана методика скользящего пучка рентгеновских лучей для исследования ме-талов, Деформированных трением [85]. Метод представляет собой некоторое видоизменение рентгеносъемки поликристаллических веществ, проводимой от шлифа. Изменение состоит в том, что устройство камеры допускает возможность рентгеносъемки скользящим лучом, т. е. под малым углом между плоскостью исследуемого шлифа и направлением луча в камере. [c.78]

Электрич. поле У. в. в точке приема можно рассматривать как результат сложения полей двух лучей—прямого и отраженного от поверх- Ности земли. Очевидно, что путь отраженного луча (построенного по обычным правилам геометрич. оптики, что справедливо при не слишком малых расстояниях от передатчика и не слишком большой величине<т2Я)длиннее пути прямого луча. Кроме того в зависимости от угла падения луча (определяемого расположением излучающего вибратора и точки приема) и свойств -почвы , от к-рой происходит отражение, амплитуда и фаза отраженного луча отличаются от амплитуды и фазы для прямого луча и определяются при помощи коэф-тов отражения Френеля, известных из оптики. При наличии проводимости эти коэф-ты комплексны. Теория дает ф-лы, по к-рым можно произвести вычисление поля излучения У. в. в различных случаях это поле, вообще говоря, имеет лучистую картину, детали к-рой, и в частности углы наклона отдельных лучей, определяются расположением излучающего устройства и электрич. постоянными почвы. Электрич. поле вертикального элементарного диполя определяется выражением [c.265]

Рис. 3.1. Дифракционное рассеяние продольных воли на конце трещины (разреза) при нормальном (с) и наклонном (б) падении. Стрелки указывают направление излучения и отражения

Использование наклонного падения на плоские решетки позволило определить длину волны рентгеновских лучей с большой точностью. Повторяя те же измерения с пространственной решеткой каменной соли, можно было по известной длине рентгеновского излучения точно определить период решетки.каменной соли, т. е. расстояние между составляющими эту решетку ионами. Отсюда удалось найти точное значение числа молекул в одном моле, т. е. число Авогадро. Эти определения числа Авогадро считаются самыми надежными. Согласно им значение числа Авогадро рекомендовано (в 1974 г.) считать равным 6,022045-10 мoль" вместо прежнего 6,0247-10 моль" (1955 г.). [c.412]

При наклонном падении пучка излучения на прело.мляющие грани прпз.мы коэффициент отражения зависит от поляризации излученпя, и поэтому степень поляризации излучения, прошедшего через призму, изменяется. Соответственно и коэффициент [c.173]

Энергетической освещенностью (облученностью) Е некоторой поверхности называют отношение потока излучения, приходящегося на элементарный участок поверхности, к площади этого участка Е=АФ/Аа. Когда излучение падает перпендикулярно поверхности, ее освещенность равна интенсивности . При наклонном падении (под углом 0) освещенность уменьшается E= S) os0. Энергетическая освещенность выражается в тех же единицах, что и интенсивность (Вт/м ). [c.67]

В 1958—1970 гг. теория переходного излучения была обобщена Корхмазяном, Гарибяном, Пафомовым и др. на случай наклонного падения заряженной частицы на границу раздела сред [58.3, 58.4, 60 13, 60.14, 62.1, 62.2, 69.5, 70.8], на пластину [66.1, [c.19]

Корхмазян Н. А. Переходное излучение при наклонном падении заряда.— [c.294]

Рис. 2.30. Характерные периодические структ>ры, наведенные лазерным излучением на поверхности твердых тел а - одномерная решетка, образующаяся на поверхности Се под действием лазерного импульса с Л. = 1,06 мкм (// = 10 МВт/см , Тр - 100 не, угол падения в 10° стрелкой показано направление вектора , ) б - двумерная решетка, образующаяся на поверхности Се под действием импульсов излучения большой интенсивности с Л. - 1,06 мкм (сложная структура может быть связана с взаимодействием решеток) в - структура, образованная на поверхности Се волной с круговой поляризащ1ей при наклонном падении г - замороженные капиллярные волны на поверхности первоначально расплавленного излучением СО, лазера кварца (снимок получен с помощью сканирующего электронного микроскопа)
В пассивном кольцевом резонаторе помимо описанной выше абсорбционной бистабильности могут возникать поляризационные мультистабильности. Обычно считается, что поляризационные эффекты характерны для пучков с наклонным падением. Но даже для распространяющегося вдоль оптической оси интенсивного линейно поляризованного излучения флук гуации поляризации могут нарастать во времени, приводя к появлению ряда конкурирующих стационарных состояний. [c.294]

Все методы измерений, предполагающие наклонное падение электромагнитной волны на исследуемый образец, имеют существенный недостаток. Стремясь к облучению возможно малых участков исследуемых образцов, приходится применять сфокусированные волновые пучки малого сечения. Плосковолновое приближение, которое принимается для методов свободного пространства, справедливо только для фокальной плоскости таких пучков и для областей, находящихся в пределах зоны резкости фокусирующих антенн. При наклонном падении сфокусированной волны ее фронт в пределах облучаемой зоны диэлектрического образца будет значительно отличаться от плоского, что приводит к дополнительным ошибкам измерения. Кроме того, при измерении параметров отраженных образцом сфокусированных волновых пучков, большую погрешность измерения создают боковые лепестки излучения фокусирующих антенн, от влияния которых трудно освободиться. Поэтому при наклонном падении волн на исследуемые диэлектрические образцы приходится применять несфокусированные широкие волновые пучки, а это приводит к необходимости применения образцов значительных размеров. Такие же выводы могут быть сделаны и в отношении методов, по которым применяется измерение параметров волн, прошедших через образец. [c.61]

Для наклонно падающего света коэф. отражения и поглощения, а также фазовые сдвиги ф при отражении зависят от состояния поляризации света. Для s-поля-ризов. излучения величина коэф. отражения мово-тоЕно растёт с увеличением угла падения а зависимость ВР(а) для р-поляризов. излучения имеет вид кривой с минимумом при а ar os (1/х). При а = О и а = я/2 значения RP и Д соваадают. Вследствие отличия RP от й и фР от ф при отражении от металла наклонно падающей линейно поляризов. волны она становится эллиптически поляризованной. Это используется для определения оптич. параметров кии (см. Френеля формулы). [c.111]

Совр. способы изготовления ОДР — нарезка на металле (алюминий, золото) алмазным резцом на станке с управлением от ЭВМ (макс, частота 3600 штрихов на мм возможно получение профиля штриха с малым углом наклона при ограничениях на форму подложки), а также голография, методы с использованием УФ-ла-зеров и синхротронного излучения (макс, частота — до неск. десятков тысяч штрихов на мм). Для достижения оптим. профиля штрихов — треугольного или прямоугольного — и переноса голография, рисунка решётки на более гладкую подложку применяют ионное травление. Для полученных таким способом кварцевых ОДР с прямоуг. штрихом КВ-гравица составляет ок. 0,5 нм. С помощью рентгеновской литографии изготовляют рентгеновские ОДР с многослойным покрытием, к-рые могут работать с высокой эффективностью при больших о вплоть до нормального падения, однако их область дисперсии ограничена спектральной шириной максимума отражения покрытия. [c.349]

При фиксировании ориентации кристалла относительно направления падения рентгеновского пучка выполнение вышеприведенных условий более чем для нескольких дифракционных максимумов маловероятно, если только, как в первоначальном опыте, не используется непрерывный спектр рентгеновских волн. Однако отсутствие информации о длине волны, ответственной за какой-либо конкретный дифракционный максимум, является очевидным недостатком. Если не считать исследований определенных типов, теперь в практике повсеместно используется ква-зимонохроматическое излучение и при просвечивании рентгеновским пучком наклон кристалла постепенно меняется с тем, чтобы обеспечить выполнение условий Лауэ. Здесь нет необходимости касаться детально того, как это осуществляется на практике. Достаточно сказать, что существует возможность получения трехмерной дифракционной картины от кристалла. Она образует трехмерную структуру, которая взаимосвязана со структурой кристалла, как и в случае двухмерных решеток, рассмотренных в предыдущем разделе. [c.45]

Чтобы завершить данный раздел, укажем на то, что если па-дающ,ий пучок линейно поляризован, то плоская поверхность данного оптического элемента может быть наклонена под таким углом, что отражение будет отсутствовать. То, что при этом происходит, можно описать с помощью рис. 4.18, а. Мы предполагаем, что плоскость поляризации электрического поля падающего пучка лежит в плоскости рисунка. Пусть угол падения 0в таков, что преломленный пучок перпендикулярен отраженному пучку. Следовательно, электрическое поле Е в оптической среде, а вместе с ним и его вектор поляризации будут параллельны направлению, в котором происходит отражение. Поскольку отраженный пучок порождается излучением, испускаемым вектором поляризации среды, в которой происходит преломление, этот отраженный пучок будет в данном случае отсутствовать, так как дипольный момент не излучает вдоль собственного направления. Значение угла падения 0в, который называется углом Брюстера или поляризующим углом, можно вычислить непосредственно с помощью геометрической оптики. В соответствии с предыдущими рассуждениями имеем [c.183]

Учитывая то, что излучение лазера очень близко к монохроматическому и легко коллимируется, можно воспользоваться интерферометром Фабри — Перо в иной форме, при которой снижаются требования к качеству пластин. Поскольку мы имеем дело всего с одной длиной волны и с одним углом падения луча, свет либо проходит, либо не проходит в зависимости от того, удовлетворяется условие (7.29) или нет. Интерферометр с наклонными пластинами представляет собой вариант интерферометра Толанского — Физо, который обычно применяется для контроля качества пластин [18, 19]. Разрешаюш,ая способность подобного интерферометра такая же, как и обычного интерферометра Фабри—Перо, если только падаюш,ий луч достаточно хорошо сколлимирован и, кроме того, если в приборе не очень велики расстояния между пластинами и не используются зеркала с очень высокой отражательной способностью. [c.387]

При углах призмы, близких ко второму критическому значению, необходимо предотвратить возникновение интенсивной рэлеевской волны, которая, отражаясь от неровностей поверхности, вызовет помехи. Согласно 1.6 в дальней зоне поле излучения наклонного преобразователя можн представить так, как будто расхождение лучей началось в призме. Отсюда возникает следующее условие -b6"< s, где — угол падения цеР1тра.пьного луча, 6"—угол расхождения лучей (считаем крайним луч, амплитуда которого в il О раз меньше центрального) s — угол возбуждения поверхностной волны. [c.106]

Проявление неоднозначности но дальности иллюстрирует рис. 5.6, где рассмотрены малые (ближняя граница полосы обзора) и большие углы падения. Окружности, имеющие радиусы Rn= N кратные рекуррентной дальности отмечены на рисунке номерами 1-10. Эти дальности оказываются "слепыми", так как отраженный сигнал от целей, находящихся на этих дальностях, приходит в моменты излучения зондирующих импульсов, когда приемник заперт импульсами супрессии. Для простоты Земля изображена плоской. Все соотношения, определяемые углами падения справедливы и для сферической Земли, причем проблема пеодпозначпости усугубляется из-за резкого возрастания угла падения с увеличением наклонной дальности. [c.81]

Кансе [407, 2604] указывает, что если две плоские звуковые волны одинаковой частоты падают снизу наклонно на поверхность жидкости, то в той области, где эти волны интерферируют друг с другом, образуется комбинационная стоячая волна, под действием которой благодаря наличию давления излучения поверхность жидкости принимает неизменную во времени волнообразную форму. Измеряя расстояние между гребнями этой стоячей волны, которая может быть оптически воспроизведена в увеличенном масштабе, можно определить длину волны комбинационного колебания и, зная углы падения первичных волн,—скорость распространения звука в жидкости. [c.136]

Физико-техническое объединение в Брауншвейге выпустило недавно прибор для измерения давления излучения [4904], разработанный на основе предложения Энгберта. В этом приборе давление излучения измеряется при помощи поплавка, работающего по принципу ареометра. Разрез прибора изображен на фиг, 160. Поплавок 5 со всех сторон окружен хорошо обезгаженной водой и погружен своей нижней цилиндрической частью в сосуд О, заполненный четыреххлористым углеродом. При падении на поплавок сверху звуковых волн он опускается вниз степень его погружения, отсчитываемая по делениям шкалы Т, является мерой интеграла от давления излучения по поверхности поплавка. Обращенная к звуковому пучку поверхность поплавка выполнена в виде вогнутого конуса с углом раскрытия 130°. Благодаря этому поплавок автоматически центрируется относительно звукового пучка. Расположение поплавка в сосуде с водой можно менять, поднимая или опуская приспособление Л, на котором стоит сосуд с четыреххлористым углеродом. Над поплавком наклонно расположена пластинка алюминиевой фольги Г толщиной порядка нескольких микронов она слу- [c.140]

Смотреть страницы где упоминается термин Наклонное падение излучения : [c.46] [c.426] [c.456] [c.257] [c.86] [c.103] [c.103] [c.296] [c.297] [c.309] [c.345] [c.290] [c.909] [c.317]

Смотреть главы в:

Рассеяние света малыми частицами -> Наклонное падение излучения

ПОИСК

Дно наклонное

Наклон ПКЛ

Наклонное падение

Наклонность

Резонансное поглощение лазерного излучения при наклонном падении на слой неоднородной плазмы. Продольные плазменные колебания

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...