Решетка двумерная

Нахождение указанных частот как для трехмерного, так и для двумерного кристалла содержит значительные математические трудности. Поскольку мы рассматриваем электромагнитные колебания, длина волны которых значительно больше размеров решетки [c.48]

Итак, разложения структур в спектр на одномерной, двумерной и пространственной структурах не одинаковы. Если осветить одномерную правильную структуру излучением, содержащим все длины волн (белый свет), то решетка разложит его в непрерывный спектр, который можно исследовать в первых порядках (в высоких порядках будут мешать трудноустранимые наложения). Двумерная решетка преобразует белый свет в систему цветных пятен, каждое из которых будет своеобразным разложением в непрерывный спектр по двум координатам. Трехмерная структура пропустит из непрерывного спектра лишь излучение с теми дискретными значениями которые удовлетворяют уравнению [c.349]

Если осветить одномерную (двумерную) решетку монохроматическим светом, то получится одномерная (двумерная) картина распределения по дифракционным порядкам, которая описывается простыми уравнениями с одним (линейная решетка) или парным индексом (правильная структура на плоскости). Трех- [c.349]

Двумерная поверхностная пленка характеризуется, таким образом, химической стабильностью (частицы каждого вида в соединении характеризуются строго определенным координационным числом), прочностью и хрупкостью, т. к. находится под воздействием сжимающих напряжений со стороны нижележащих приповерхностных слоев. В последних сжимающие напряжения возникают в силу описанной выше дефектности кристаллической решетки - наличия в ней межузельных и замещенных атомов (несте-- [c.307]

Рис. 10.1. Схематическое изображение распределения интенсивности при дифракции на двумерной решетке.

Однако в нашем случае среда представляет собой совокупность таких двумерных решеток, расположенных периодически вдоль 2 с периодом да- Если каждый слой решетки достаточно прозрачен, то часть света испытает дифракцию на первом слое, а часть проникнет до следующего слоя и частично испытает дифракцию на этом втором слое, остаток проникнет дальше и т. д. Таким образом, по найденному выше направлению (а, р, у) будет распространяться несколько когерентных волн с известной разностью хода, и мы должны для окончательного результата учесть их взаимную интерференцию. [c.229]

Таки.м образом, если параллельный пучок всех длин волн (белый свет) направить на линейную решетку, то получим максимумы для каждой длины волны, располагающиеся вдоль линии, перпендикулярной к штрихам решетки (спектр). Если параллельный пучок белого света падает на двумерную решетку, то получим максимумы для всех длин волн, располагающиеся в определенном порядке в плоскости, параллельной плоскости решетки (цветные пятна). Если же направить на пространственную решетку свет всех длин волн, то получатся дифракционные максимумы только для некото- [c.230]

Решетка обш,его типа может быть представлена в виде двух (или более) одинаковых решеток Бравэ, которые вставлены друг в друга и подобно ориентированы. На рис. 6.1 показана двумерная решетка, образованная двумя квадратными решетками Бравэ, взаимное расположение которых [c.130]

Рис. 6.6. Двумерные решетки Бравэ (помимо косоугольной с углом ф 60° и ф= =90°), а — квадратная, б — гексагональная, в — прямоугольная, г — центрированная прямоугольная

И, наконец, после двумерного преобразования Фурье от (11) в учетом (12) и (96) для двумерного пространственного спектра дискретизированной на квадратной решетке томограммы имеем [c.431]

Рис. 2.24. Произвольная сетка дисклинаций в модели двумерного поликристалла, состоящего из квадратных зерен (а), и соответствующая произвольная решетка дисклинационных квадруполей (б)

В работах Ю. М. Полукарова с сотр. [82] установлено, что увеличение перенапряжения катода при электроосаждении меди вызывает переход от слоисто-спирального роста осадка к образованию и росту двумерных зародышей с появлением дефектов упаковки двойникового типа добавки к электролиту меднения поверхностно активных веществ резко повышают вероятность образования дефектов упаковки, увеличивают искажения кристаллической решетки и плотность дислокаций. Заряд двойного электрического слоя ускоряет процессы возврата в тонких осадках меди (эффект Ребиндера), приводящие к появлению внутренних напряжений растяжения. Влияние электрохимических условий осаждения на состояние кристаллической решетки осадков становится определяющим при достаточно большой толщине осажденного слоя на пластически деформированной монокристал-лической подложке дефектность слоев осадка постепенно уменьшалась при утолщении слоя, а при росте осадка на подложке из граней совершенного монокристалла, наоборот, увеличивалась до значений, соответствующих условиям электролиза. [c.93]

Решетка с базисом. Не всякую решетку можно получить трансляцией одного атома. В качестве примера на рис. 1.8, а показана двумерная решетка общего типа. Легко видеть, что при построении такой решетки с помощью вектора трансляции ее ячейка не может быть выбрана одноатомной. Такую решетку можно представить в виде двух вставленных друг в друга решеток Бравэ, каждая из которых определяется трансляционными векторами а и Ь. Смещение решеток друг относительно друга описывается дополнительным вектором А, называемым базисным. Число таких векторов в общем случае может быть каким угодно. [c.13]

Выше приведен простейший пример колебания решетки, которая может в общем случае рассматриваться как бы состоящей из частиц различных масс, и может быть двумерной или трехмерной (кристаллическая решетка трехмерного тела). Пространственная периодичность системы является ее существенной чертой ). [c.163]

Двумерные решетки. Метод групповых динамических жесткостей особенно эффективен прп исследовании колебаний двумерных и трехмерных решетчатых конструкций. Проиллюстрируем его на примере простейшей двумерной решетки из струн и исследуем основные особенности распространения волн по многомерным решеткам. [c.187]

Расчет вынужденных колебаний многомерных решеток производится так же, как и в одномерном случае. Функция Грина двумерной решетки выражается в виде двойного интеграла от групповой податливости решетки, помноженной на фазовый множи- [c.189]

При m = n — Q функция Грина определяет входную податливость решетки. Двойной интеграл для нее можно выразить через полные эллиптические интегралы [266]. Однако для произвольных 1п ж п интеграл (6.47), а также аналогичные интегралы для других видов двумерных и трехмерных решеток не удается выразить через известные функции. Их исследование проводится с помощью приближенных методов. [c.190]

Интересно сопоставить эту величину с аналогичной характеристикой для одномерной решетки, где для любого значения р существуют только две р-базы, включающие соответственно п и и + 1 точек решетки. При этом максимальная погрешность (при наилучшем выборе р) составляет 0,25 шага решетки, т. е. в двумерном случае удается достичь практически той же точности измерения, что и в одномерном. [c.46]

Детали должны быть смонтированы в виде упорядоченной решетки на двумерной поверхности, а не установлены друг над другом. [c.111]

Рассматривая двумерную задачу, можно записать уравнения движения капли в безразмерном виде, приняв эа определяющий размер хорду профиля турбинной лопатки Ъ, за определяющую скорость — скорость пара перед сопловой q и рабочей w = — и решетками [c.277]

В работе последовательно рассматриваются плоское течение чере г решетки невязкой. несжимаемой жидкости и газа осредненное осесимметричное течение невязкой сжимаемой жидкости через пространственные решетки турбомашин и двумерное (неплоское) течение в межлопаточных каналах плоское и пространственное течения вязкой жидкости при больших числах Рейнольдса. Значительное внимание [c.6]

Уравнение (25.1) наводит на мысль, что если мы представим предмет в виде решетки двумерных гауссовых пятен с размерами а = Ь, то получим особенно простые результаты. Как показано на рис. 7, мы располагаем эти пятна в виде гексагональной решетки с расстоянием d между соседними центрами, где d — предел разрешения, который мы определим немного по-другому, чем обычно, а именно постулируем, что три (а не два) равггых гауссовых пятна с размерами а = Ь находятся на пределе разрешения, если их центры удалены один от другого на расстояние d, т. е. минимум между ними исчезает как раз при этом расстоянии. Если а = Ь, то, согласно уравнению (25), амплитуда в члене, описывающем правильно восстановленный предмет, следует закону ехр [— /2 ( 7 ) ]. В точке, находящейся [c.239]

Решетка гидропрофилей представляет собой бесконечный ряд профилей одинаковой формы, установленных параллельно и на равном расстоянии друг от друга. Характеристики течения в такой решетке являются комбинацией соответствующих характеристик в криволинейных каналах и при обтекании изолированного гидрокрыла. Направление течения регулируется в большей степени, чем при обтекании изолированного гидрокрыла, но проточные каналы имеют конечную длину, и поэтому необходимо рассматривать условия течения на входе и выходе. Исследование решеток позволяет определить их характеристики, которые необходимы при проектировании различных гидравлических машин с вращающимся элементом от многолопастных винтов кораблей до радиальных и осевых насосов и турбин. Конечно, устанавливая связь между течениями в решетках и в машинах с вращающимся элементом, нужно учитывать некоторые основные факторы. Во-первых, во всех типах машин с вращающимся элементом происходит передача энергии от лопастей вращающегося элемента жидкости. Во-вторых, течение в решетках двумерно, в то время как в гидравлических машинах течение во вращающемся поле трехмерно. [c.358]

Рис. 10.2. Зоны Бриллюэна для плоской квадратной решетки (двумерный случай). Окружность описывает поверх--ность постоянной энергии (а двумерном случае) для свободных электронов. Для какого-то частного значения концентрации электронов эта окрунсиость будет поверхностью Ферми. Вся площадь за-штриховащюй области в -пространстве завпспт только от концентрации электронов и не зависит от взаимодействия электронов с решеткой. Форма иоверх-ности Ферми зависит от взаимодействия с решеткой и, разумеется, не будет иметь форму окружности (в двумерном случае) для реальной решетки. Цифры (с буквами) внутри треугольников указывают номера зон Бриллюэна (второй и третьей) и использованы на рис. 10.3 для описания этих зон.

Но можно получить острую направленность в двух измерениях, если заменить одномерную решетку двумерной. Прежде чем перейти к ее рас--смвтрению, мы решим следующую вспомогательную задачу. [c.308]

Гораздо шире распространен случай, когда кoэфq зициeнт пропускания пластинки, располагаемой в световом пучке, меняется не вдоль одного направления, а по всей поверхности нашей пластинки. Примером может служить пластинка беспорядочно запыленного стекла или окно, покрытое узорами мороза. Ясно, что такое изменение коэффициента пропускания можно охарактеризовать как изменение по двум координатам нашей поверхности, так что рассматриваемая структура будет двумерной. В простейшем случае это будет двумерная периодическая структура (двумерная решетка), в общем — совокупность многих двумерных решеток. [c.225]

Рассмотрим двумерную решетку, представляющую собой скрещенные перпендикулярные решетки с периодами и d . Подобный случай легко осуществить, поставив непосредственно одну за другой две обыкновенные нарезанные на стеклянных пластинках дифракционные рещетки, штрихи которых направлены перпендикулярно друг к другу. [c.225]

Пусть свет падает вдоль оси 2, т. е. = Р, = л/2 и уо = 0. Рассмотрим какой-нибудь слой, параллельный плоскости XV, т. е. слой, для которого г = сопз . Этот слой представляет собой двумерную решетку, и свет, проходя через него, испытает дифракцию, рассмотренную в предыдущем параграфе. Для каждой длины волны X получим максимумы по направлениям, заданным значениями углов а, р, у, определяемыми из условий (53.4). [c.229]

В случае идеальной невязкой жидкости рассматриваемое течение является плоским. Это означает, что по всей высоте лопатки, в том числе и по плоскостям, ограничивающим решетку, имеется один и тот же двумерный ноток, не зависящий от величины удлинения к = 11Ъ лспаток, со ставляющих данную решетку. [c.103]

Помимо примитивных возможны и непримитивные решетки и ячейки. Рассмотрим для примера двумерную сетку с симметрией тт. Узел, лежащий на плоскости т, имеет симметрию тт в двух случаях. Первый из них отвечает элементарному прямоугольнику с неодинаковыми трансляциями а Фач (рис. 6.6). Второй случай отвечает существованию ромбической сетки с ai = aa и Такую сетку можно описать и как прямоугольную с [c.148]

Преобразователи с электрическим сканированием (фазированные решетки) состоят из мозаики пьезоэлемен-тов, на которые раздельно, падают (снимают) электрические сигналы,Преобразователи выполняют в виде одномерной (линейной) или двумерной решетки с шагом не более длины волны используют для последовательного контроля участков изделия малой толщины, изменения угла ввода (качания) луча в дальней зоне (путем создания регулируемого линейного сдвига фаз сигналов на элементах), фокусировки ультразвукового поля (путем создания параболического закона сдвига фаз), перемещения фокальной области, подавления бокозых лепестков при некотором расширении основного луча диаграммы направленности (путем симметричного изменения амплитуд сигналов от центральных к периферийным элементам). Изготавливают из отдельных идентичных пьезоэлементов или путем выполнения пазов в пьезоэлементе большой площади. [c.219]

По результатам электронно-микроскопических исследований рассчитаны размеры карбидов в стали Х.18Н10Т, выделившихся во время выдержек при 650° С до 5000 ч (рис. 3). Как видно из графика (см. рис. 3), с увеличением степени деформирования от 0,2 до 5% скорость роста частиц повышается. Средняя рассчитанная линейная скорость роста частиц составляет 2-10 мкм/ч. Кроме того, сложность решетки карбида МгзСб по сравнению с простой решеткой аустенита определяет высокое поверхностное натяжение на межфазной границе и большую энергию образования двумерных зародышей это также замедляет скорость роста частиц. Полученные результаты подтверждают целесообразность многокомпонентного легирования даже при сравнительно невысокой рабочей температуре жаропрочного сплава. При увеличении времени изотермической выдержки до 5000 ч укрупнение карбидных частиц происходит с меньшей скоростью и составляет 1 10 ° мкм/ч, или для приращения одного атомного слоя в карбидной частице требуется выдержка 100 ч при 650° С. По-видимому, это характеризует самую высокую степень стабильности, наблюдаю- [c.61]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...