Брегг

Условие Брегга трактуется обычно как условие отражения рентгеновского луча от определенной кристаллической плоскости, хотя, по существу, имеет место не отражение, а интерференция колебаний, распространяющихся от возбужденных электронов в атомах кристаллической решетки. [c.529]

Если рассмотреть две параллельные плоскости АА и ВВ (рис. 591) в некоторой кристаллической решетке, то нетрудно установить условие Брегга. Рентгеновский луч, падающий на плоскости и отражающийся от них, будет усиливаться в том случае, когда разность хода волн I и 2 будет составлять целое число волн X. Тогда [c.529]

Это и есть условие Брегга. Оно показывает, что отражение рентгеновских лучей от некоторой плоскости возможно только при падении на нее луча под определенным углом 9, удовлетворяющим ношению. Число п называется порядком отражения. [c.529]

Теперь рассмотрим схему отражения рентгеновского луча от поверхности исследуемого образца. Пучок, падающий по нормали к поверхности, охватывает площадку 1,5—2 им в диаметре. На этой площадке, как показывает опыт, среди большого числа освещенных кристалликов находится обычно достаточное количество таким образом ориентированных кристаллов, что определенные их плоскости находятся в соотношении Брегга с параметрами падающего луча. При этом происходит отражение луча от кристаллов (рис. 592). Отраженные лучи образуют коническую поверхность с углом при вершине 360° — 49 Если на их пути поставить фотографическую пленку, то на ней зафиксируется круг радиуса Л (рис. 592). Очевидно, [c.529]

LiF равна 2,32 А. Поэтому можно ожидать, что при падении медленных нейтронов под малым углем 0 на плоскость кристалла будет наблюдаться отражение монохроматических нейтронов под углом, равным углу падения. Связь между углом 0, длиной волны отраженных нейтронов к и постоянной решетки d дается известной формулой Брегга — Вульфа (см. 23, п. 2) [c.341]

Условие Брегга трактуется обычно как условие отражения рентгеновского луча от определенной кристаллической плоскости, хотя, по [c.488]

Возникающие затруднения решаются следующим образом. В исследуемой точке поверхность металла зачищается и травится кислотой. Далее, на очищенную поверхность (обычно электролитически) наносятся кристаллы какого-либо другого металла. При исследовании стальных конструкций для этой цели используется чаще всего золото. При съемке на пленке получаются линии рентгеновских лучей, отраженных от кристаллов железа и от кристаллов золота. Поскольку кристаллы золота нанесены электролитически, они не напряжены, и расстояние между атомами в кристаллической решетке золота можно считать известным. Поэтому из уравнения Брегга (14.7) определяется угол О для золота. Если же на проявленной пленке замерить расстояние 2Л между линиями золота, то из выражения (14.8) можно с высокой степенью точности найти и искомую величину а. Таким образом, эта величина определяется косвенно путем обмера линий на пленке. Однако последняя операция также представляет известные трудности. [c.489]

В основе рентгенографического анализа лежит уравнение Вульфа-Брегга, связывающее угол 0 падения или отражения (они равны) на атомную плоскость рентгеновского луча с его длиной волны X и величиной межплоскостного расстояния d [c.158]

Из уравнения Вульфа-Брегга видно, что при съемке неподвижного монокристалла с использованием параллельного пучка монохроматического излучения условия получения хотя бы одного дифракционного рефлекса могут не выполняться. Поэтому целью методов рентгенографического анализа является получение дифракционной картины путем изменения ориентировки кристалла или падающего пучка (т.е. варьируя 0) или с помощью сплошного спектра (т.е. варьируя 1). Наибольшее практическое применение получил метод Дебая-Шерера (метод порошка). В этом методе осуществляется съемка поликристал-лического образца (или порошка) в параллельном пучке монохроматического излучения. [c.159]

Рентгеновский луч обладает определенной избирательностью по отношению к кристаллографическим плоскостям. Он способен отразиться только от такой плоскости и только под таким углом, при которых соблюдается тан называемое условие Брегга [c.100]

Еще одна возможность определения б по отражению от МИС связана с точным измерением угла Вульфа—Брегга с учетом поправки на преломление, которая становится заметной при малых углах 0ь. Измерения б таким способом в жесткой рентгеновской области были описаны недавно в работе [52]. [c.25]

Условие получения дифракционных максимумов можно найти нз формулы Брегга — Вульфа и соотношения де Бройля [c.202]

Рентгеновские лучи, обладая длинами волн, соизмеримыми с межатомными расстояниями в твердых и жидких телах, проходят сквозь непрозрачные для световых лучей объекты. Проходя сквозь вещество, они воздействуют на электроны атомов, сообщая электронам колебательное движение. Интерференция лучей, рассеянных электронами атомов кристаллического вещества, подчиняется закономерностям, связанным с особенностями строения кристаллов. Показано, что сложное явление интерференции рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом, приводит к таким же результатам, какие должно дать зеркальное отражение лучей от атомных плоскостей кристалла. Явление интерференции описывается формулой Вульфа — Брегга пк = 2d sin 9, где п — порядок отражения к — длина волны рентгеновского излучения [c.66]

Рис. 1. К выводу формулы Брегга — Вульфа

Это соотношение определяет возможные направления к дифрагированных кристаллом пучков. С учетом (8) оно дает формулу Брегга — Вульфа (1). При данном положении кристалла возникают лишь те пучки, которые соответствуют пересечению узла обратной решетки сферой отражения. Это изображено на рис. 6. [c.15]

Белки 50, 57, 282, 328 Бесселя функцни 120, 255, 323 Большие периоды 345 Брегга — Вульфа формула 6 [c.368]

Выражение (6.1.8) представляет собой условие Брегга, полученное при исследовании дифракции рентгеновских лучей л кристаллах. [c.381]

Наряду со структурно-фазовыми изменениями при поверхностной модификации в алюминиевом сплаве происходит изменение напряженно-деформированного состояния тонкого поверхностного слоя. Установленные изменения межплоскостного расстояния d и уширения бреггов-скнх рефлексов при имплантации позволили рассчитать микронапряжения первого рода и определить напряжения второго рода, используя зависимости [88, 89] с разделением эффектов уширения, обусловленных микронапряжениями второго рода и конечными размерами блоков мозаики [c.177]

Если молекулы представляют собой не ровные, а слегка закрученные стержни, то они укладываются друг относительно друга в спиральные структуры, схематически показанные ка рис. 1.5, а. Такая жидкокристаллическая фаза наблюдается в чистом эфпре холестерина и поэтому называется холестерической (в отличие от нематической, представленной на рис. 1.4, б). Холестерическая фаза возникает не только в чистых веществах, но и в растворах закрученных молекул в нематических жидкостях. Холестерики обладают рядом специфических свойств, в частности оптических, представляющих большой интерес для электроники. Структура холестерика периодична вдоль оси спирали, что прг1Водит к бреггов-скому отражению света на длине волны, равной шагу спирали, [c.10]

Рис. 1. Кривые качания кристаллов алмаза до и после деформации а, б — съемка по Бреггу,— до деформации, 6 — после деформации (70 кбар, 2100 К) St г — съемка по Лауэ иа прямом Т) и дифрагированном (R) пучках tf — до деформации г — после деформации (70 кбар, 1600 К).

Параметры кристаллической решетки с и а определяют-согласно уравнению Вульфа — Брегга, а размеры кристаллитов-(диаметр и высоту)—по уравнению Селякрва — Щеррера, полагая (согласно 2361), что они имеют форму цилиндров, высота которых меньше диаметра. Рентгеноструктурные характеристики измеряют на дифрактометрах типа УРС-50ИМ или ДРОН,. снабженных сцинтилляционными счетчиками. Съемку произво- [c.99]

Подобно этому получают квадратичные формы и для других кристаллических систем при помощи формул (15), (16), (17) и уравнения Бреггов (7). Квадратичные формы позволяют определять постоянные решётки, зная из эксперимента значения синусов брэгговских углов 0 для ряда кристаллических плоскостей (кк1) и длины волны X применяемого излучения. [c.166]

Метод восстановления волновых фронтов при записи их с использованием когерентного фона, лежащий в основе голографии, предложен Д. Габором [1J в 1948 г. Через 23 года ему за открытие голографии была присуждена Нобелевская премия. Работы, предшествующие открытию голографии, были выполнены значительно раньше. Решающую роль в них сыграли работы Лоуренса Брегга. Две наиболее важные после открытия голографии статьи опубликованы в 1962 году. Это работы Е. Лейта и Ю. Упатниекса [2], впервые использовавших для создания голограмм лазер и предложивших схему с внеосевым опорным пучком, благодаря чему они получили высококачественную объемную картину объекта, и Ю. Н. Денисюка [3], предложившего схему голографирования в трехмерной среде. После этих работ отмечается значительный интерес к голографическим исследованиям, и к настоящему времени имеется очень большое число публикаций по голографии. [c.9]

Дифракция нейтронов. При прохождении пучка медленных нейтронов через кристалл возникают вторичные, дифрагированные (т. е. отраженные ) кристаллическими плоскостями пучки нейтронов. Направления пучков, дифрагированных кристаллом, определяются условиями Вульфа—Брегга Л = 2dhkl sin6, где — межплоскостное расстояние для плоскостей с индексами А, й, 6 — угол отражения. [c.928]

Кристаллические иейтроиные фильтры. Для системы беспорядочно ориентированных кристаллитов в по-ликристаллическом нейтронном фильтре условие Вульфа — Брегга удовлетворяется только для нейтронов с длиной волны К<а2с1щ, гда — максимальное меж-плоскостное расстояние кристаллической решетки. При прохождении пучка нейтронов через такой фнльтр из пучка вследствие когерентного рассеяния будут выводиться нейтроны с К< 2 т- Ослабление нейтронов с К > 2йщ происходит за счет процессов некогерентного упругого рассеяния, теплового неупругого рассеяния и поглощения. Для многих веществ сечения последних трех процессов много меньше, чем сечение когерентного рассеяния, поэтому в пучке, прешедшем через фильтр, практически отсутствуют нейтроны с K< 2d . [c.929]

Несколько особняком стоит алюминий в реакциях с силикат-ионом. По мнению Брегга [5] и Уэлса [6], иопы алюминия в реак- [c.102]

Это формула Брегга — Вульфа, связывающая направления, под которыми возникают рассеянные пучки, т.е. угол 6, с межплоскост-ным расстоянием в кристаллической решетке п означает [c.6]

Метод травления Фрая 315, 317 Модель расположения атомов в твер-Д0Л1 теле Брегга 75 [c.638]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...