Рентгеновские лучи, исследование

Рентгеновские методы исследования остаточных напряжений основаны на определении расстояния между кристаллографическими плоскостями, т. е. деформации кристаллографической решетки, с помощью измерения угла отражения луча. Остаточные напряжения этим методом можно определить с невысокой точностью и только в тонком поверхностном слое. Для рентгеновских методов исследования остаточных напряжений характерны большая трудоемкость и высокая стоимость проведения эксперимента. [c.424]

Последующие исследования показали, что рентгеновские лучи дифрагируют (Лауэ, 1912 г.) и интерферируют (Линник, 1930 г.), т. е. обладают свойствами волн. Были обнаружены два типа рентге- [c.157]

Заслуживает особого упоминания случай и > с (фазовая скорость больше скорости света в вакууме), который не противоречит теории относительности, ограничивающей лишь скорость сигнала (групповую скорость). С фазовой скоростью и распространяется в среде немодулированная волна. Для передачи какой-то информации нужно промодулировать волну, причем экспериментальное значение скорости сигнала не может превосходить скорости света в вакууме. В дальнейшем рассмотрены случаи, когда п < 1,, т. е. и > с (например, для радиоволн в ионосфере, при исследовании рентгеновских лучей и-др.). [c.51]

Исследование соотношения (4.6) позволяет выявить некоторые закономерности, которые на первый взгляд не имеют прямого отношения к данной проблеме. Так, например, можно исследовать дисперсию рентгеновских лучей и рассчитать фазовую скорость распространения радиоволн в ионосфере. Для этого обратимся к правой части кривой на рис. 4.3, где частота вынужденных колебаний значительно больше собственной частоты колебаний соо Такое приближение (ш шо) можно использовать при описании дисперсии рентгеновского излучения, частота которого в несколько тысяч раз больше частоты видимого света. Если со то, то в (4. 6) можно положить мо = О и получить следующую своеобразную зависимость п от (л [c.145]

Указанное обстоятельство нашло важное применение при исследовании дифракции рентгеновских лучей. Так как длины волн рентгеновских лучей обычно в тысячи раз меньше, чем волн видимого света, то все искусственно построенные решетки оказываются для рентгеновских лучей слишком грубыми, а именно d k 1000. [c.205]

Рентген обнаружил, что при электрическом разряде в эвакуированной трубке (например, в трубке, применяемой для исследования катодных частиц) с ее анода испускаются лучи, способные проникать через тела, непрозрачные для обычного света (черная бумага, картон, тонкие слои металла и т. д.). Эти лучи, названные Рентгеном Х-лучами, но больше известные под именем рентгеновских лучей, были обнаружены им благодаря их способности вызывать свечение флуоресцирующего экрана. Рентген скоро нашел также, что они способны вызывать почернение фотографической эмульсии и потерю заряда на электроскопе вследствие ионизации воздуха. Таким образом, для исследования рентгеновских лучей можно применять и [c.403]

В тех же исследованиях Рентген установил и другой крайне важный факт, использованный им для характеристики применяемых в том или ином случае лучей. Было обнаружено, что поглощение рентгеновских лучей одним и тем же веществом различно в зависимости от условий их получения. Лучи, сильно поглощаемые, были названы мягкими, лучи, слабо поглощаемые, — жесткими. Таким образом, способность лучей проникать сквозь вещество характеризует степень их жесткости. [c.405]

Важнейшее применение рентгеновской спектрографии — исследования с помощью рентгеновских лучей структуры кристаллов (а в последнее время и молекул) и определение параметров кристаЛ лической решетки. В тех случаях, когда мы располагаем монокристаллами достаточных размеров, можно применить для таких рентгеноструктурных исследований метод Лауэ (см. 117), используя рентгеновское излучение со сплошным спектром. [c.411]

Если при исследованиях рентгеновских лучей в качестве дифракционной решетки использовать искусственную плоскую решетку с относительно грубым периодом и направить на нее рентгеновские лучи под углом, близким к 90°, то возможно наблюдение дифракции от плоской решетки, т. е. с максимумами, соответствующими всем длинам волн (ср. 47). [c.412]

Исследование рассеяния рентгеновских лучей веществом привело в 1923 г. Комптона к открытию важного явления, значительно углубляющего наши представления о фотонах. [c.652]

Движение электронов, получивших заметные скорости в результате рассеяния рентгеновских лучей, удается наблюдать непосредственно на опыте. Для этой цели были произведены исследования с помощью камеры Вильсона, которая позволяет судить и о направлении рассеянных лучей и о направлении движения электронов, выбитых при рассеянии рентгеновских лучей (электроны отдачи ). И на пути электронов, и на пути рассеянного рентгеновского света появляются ионы, на которых конденсируется водяной пар, что делает видимым эти пути. [c.656]

Впервые такое рассеяние было обнаружено в опытах по исследованию свойств жестких рентгеновских лучей. Эти опыты показали, что проникающая способность жестких рентгеновских [c.245]

Исследование рентгеновскими лучами. Рентгеновские лучи представляют собой лучистую энергию, имеют электромагнитную и волновую природу и отличаются от видимого света значительно [c.374]

В металлургии для исследования качества заготовок и готовых деталей рентгеновские лучи применяют в следующих областях [c.376]

Из предыдущего изложения следует, что квантовые свойства должны наиболее отчетливо проявляться н опытах с коротковолновым излучением. К такого рода опытам относятся эксперименты с рентгеновским излучением, в частности исследование рассеяния рентгеновских лучей. Некоторые свойства рассеянного рентгеновского излучения (интенсивность, поляризация) довольно легко объясняются с волновой точки зрения, тогда как другие свойства (изменение частоты при рассеянии) могут быть объяснены только при условии, если считать, что рентгеновские лучи имеют квантовую природу. Недостаток волновой теории рассеяния рентгеновских лучей обнаруживается при изучении интенсивности рассеяния и измерения частоты рентгеновских лучей. [c.178]

Результаты исследования рассеяния монохроматических рентгеновских лучей (/Са-линия молибдена >, % = =0,7126 А) приведены на рис. 27.2. Кривая на рис. 27.2, а характеризует распределение интенсивности в первичной линии, остальные кривые — спектральный состав излучения при различных углах рассеяния 0. По оси ординат отложена интенсивность излучения, а по оси абсцисс — величина, пропорциональная длине волны. [c.179]

Рис. 12.4. Результаты исследования структуры высоковлажного двухфазного потока в рентгеновских лучах

Возникающие затруднения решаются следующим образом. В исследуемой точке поверхность металла зачищается и травится кислотой. Далее, на очищенную поверхность (обычно электролитически) наносятся кристаллы какого-либо другого металла. При исследовании стальных конструкций для этой цели используется чаще всего золото. При съемке на пленке получаются линии рентгеновских лучей, отраженных от кристаллов железа и от кристаллов золота. Поскольку кристаллы золота нанесены электролитически, они не напряжены, и расстояние между атомами в кристаллической решетке золота можно считать известным. Поэтому из уравнения Брегга (14.7) определяется угол О для золота. Если же на проявленной пленке замерить расстояние 2Л между линиями золота, то из выражения (14.8) можно с высокой степенью точности найти и искомую величину а. Таким образом, эта величина определяется косвенно путем обмера линий на пленке. Однако последняя операция также представляет известные трудности. [c.489]

Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 -10- Л. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [c.158]

Для изучения зарождения и развития процессов разрушения применяются различные методы исследований ультразвуковой метод, метод акустической эмиссии, метод малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Широкое распространение получили структурные методы исследования с помощью оптической и электронной микроскопии, а также метод определения плотности материала. Подробное описание методов исследования процессов разрушения приведено в [6,7,8]. [c.12]

Водные растворы индола [138] весьма чувствительны к небольшим дозам рентгеновских лучей, в связи с чем предпринимались многочисленные попытки [5, 58, 122] выяснить возможность использовать эту систему в качестве чувствительного дозиметра. Однако проведенные исследования не дали положительного результата, так как количество распавшегося индола изменялось в зависимости от начальной концентрации индола, мощности дозы и других величин. [c.31]

Образцы топлива или смазочного материала, помещенные в ампулы из алюминия, нержавеющей или мягкой стали и запаянные в вакууме, на воздухе или в инертной атмосфере, облучали на источнике рентгеновских лучей, ускорителях частиц, -источниках и в различных ядерных реакторах в контролируемых и неконтролируемых температурных условиях. Экспозиции облучения определяли с различной степенью точности, хотя истинные дозы облучения в большинстве случаев не были измерены. В тех немногих случаях, когда были сделаны попытки исследовать влияние некоторых упомянутых выше параметров (например, мощности дозы или типа источника излучения) на изменение свойств и эксплуатационных характеристик облучаемых объектов, было показано, что влияние таких параметров может быть существенным. Поэтому следует сделать вывод, что для большинства исследованных веществ результаты по радиационному воздействию, полученные в экспериментах первого типа, могут. служить только как общее руководство при разработке новых материалов и более чувствительных методов измерения. [c.116]

Дальнейщие исследования поглощения рентгеновских лучей позволили установить количественную меру их жесткости. Измеряя интенсивность ) рентгеновских лучей до и после поглощающего вещества, можно установить закон их поглощения в виде соотношения [c.405]

Хотя уже первые исследователи рентгеновских лучей (Стокс, Д. А. Гольдгаммер и отчасти сам Рентген )) высказывали мысль, что рентгеновские лучи суть электромагнитные волны, возникающие при торможении быстрых электронов, ударяющихся об анод, однако ряд свойств рентгеновского излучения трудно было примирить с его волновой природой. Вообще исследование большинства его свойств давалось с большим трудом. Долго не удавалось наблюдать отражение и преломление рентгеновских лучей при переходе из одной среды в другую. Рентген смог только обнаружить слабые следы рассеяния рентгеновских лучей, что, конечно, легко было объяснить и исходя из предположения о корпускулярной их природе. [c.407]

В случае кристаллических порошков или поликристаллических тел структурное исследование можно выполнить по методу, предложенному в 1916 г. Дебаем и Шерером, а также Хеллом. Монохроматический пучок рентгеновских лучей направляется на столбик прессованного кристаллического порошка или палочку из поликрис-таллического материала (рис. 19.7) различные кристаллики препарата имеют всевозможные ориентации, так что падающий пучок образует с атомными плоскостями самые разнообразные углы. Лучи заданной длины волны к отразятся под разными углами от различных атомных плоскостей, соответствующих различным зна-ч, ниям 6 (см. (118.1)), создавая на фотопленке, окружающей препарат, соответствующую дифракционную картину. Рис. 19.8 воспроизводит полученную рентгенограмму в центре виден след прямого пучка вправо и влево расположены следы отраженных лучей, причем каждая пара симметричных следов соответствует отражению от кристаллографических плоскостей одного определенного направления. Зная длину волны % и измеряя углы скольжения 9, мы можем [c.411]

В настоящее время установлено, что все вещества, активные в аморфном состоянии (расплавленные или растворенные), активны и в виде кристаллов, хотя постоянная вращения для кристаллических форм может сильно отличаться от ее величины для аморфных наоборот, существует ряд веществ, неактивных в аморфном виде и вращающих в кристаллическом состоянии. Таким образом, оптическая активность может определяться как строением молекулы, так и расположением молекул в кристаллической решетке. Действительно, исследование соответствующих кристаллов (кварц, хлорноватистокислый натрий) при помощи рентгеновских лучей показывает особенности структуры, позволяющие истолковать. их оптическую активность. [c.614]

В явлениях фосфоресценции также соблюдается правило Стокса. Очень многие вещества фосфоресцируют видимым светом под действием ультрафиолетовых и рентгеновских лучей. Этим пользуются для удобного исследования невидимой коротковолновой радиации, и фосфоресцирующие экраны имеют очень широкое распространение. Вместе с тем явление фосфоресценции можно использовать и для изучения инфракрасной части спектра. Опыт показывает, что фосфоресценция гасится под действием инфракрасного излучения. Спроектируем на фосфоресцирующий экран (предварительно возбужденный) сплошной спектр, Через некоторое время фосфоресцен- [c.765]

С использованием методов растровой электронной микроскопии, метода скользящего пучка рентгеновских лучей и измерения микротвердости исследованы процессы самоорганизации дислокационной и субаереиной структуры в приповерхностных слоях и внутренних объемах технически чистого рекристаллизованного Мо при статическом растяжении и влияние магнетроиного покрытия Мо-45, 8Re-0,017 на особенности протекания этих процессов вблизи поверхности. Исследования проводили на образцах, растянутых до деформаций, соответствующих пределу пропорциональности, нижнему пределу текучести н пределу прочности. [c.185]

В первых опытах Рентгена иопуокание рентгеновских лучей сопровол<далось флуоресценцией стеклянных стенок рентгеновской трубки. Были проведены широкие исследования флуоресценции, чтобы выяснить, не сопровождается ли она всегда испусканием рентгеновских лучей. Опыты проводились с завернутыми [c.101]

Кроме фотоэффекта, при которо м у-квант перестает суще-ствавать и вся его энергия передается атомному электрону, взаимодействие у Лучей со средой может приводить к их рассеянию, т. е. отклонению от первоначального направления распространения. Рассеяние бывает двух видов с изменением и без изменения длины волны. Рассеяние длинноволнового излучения, как показало исследование мягких рентгеновских лучей (>. 10 см), происходит без изменения длины волны. Такое рассеяние обычно называется классическим, или томсоновским. Оно возникает, когда энергия у-кванта недостаточна для вырывания электрона из атома [c.244]

Результаты измерений приведены на рис. 245. Из рисунка видно, что вплоть до энергии падающих протонов тторядка 200 Мэе энергетический спектр v-лучей представляется монотонно убывающей кривой, типичной для спектров тормозного излучения (например, для спектра рентгеновских лучей, возникающих при торможении быстрых электронов в твердом веществе). Теоретический расчет тормозного излучения быстрых протонов подтвердил это предположение. Однако при больших энергиях интенсивность образующихся у-квантов начинает превосходить теоретическую. Особенно заметное расхождение наблюдается при энергии протонов Гр >290 Мэе, а для энергии Т-р = 340 Мэе экспериментальная интенсивность Y-квантов превосходит теоретическую уже в 100 раз. При этом исследование характера энергетического спектра образующихся улучей показало, что для Тр > 290 Мэе форма спектра существенно отличается от монотонно убывающей кривой тор-мозного излучения наличием мак- Рис. 246. [c.577]

Для получения дифракционной картины существенно, чтобы длина волны используемого излучения была сравнима с этим средним межатомным расстоянием. В рентгенографии для исследования атомной структуры применяют рентгеновские лучи с длинами волн 01 0,7-10- ° до 3-10- ° м, в электронографии электроны с длинами волн де Бройля —от 3-10 до м, в нейтроно- [c.35]

Поскольку рассеяние тепловых нейтронов вообще не зависит явно от атомного номера исследуемого вещества, то с помощью дифракции нейтронов легко выявляется различие атомов с близкими. Z (например, при исследовании упорядочения атомов Fe и Со в системе Fe — Со), что трудно сделать рентгенографически и электронографически. При использовании дифракции нейтронов возможно изучение изотопических (часто рассеивающие способности изотопов одного и того же элемента значительно различаются) и спиновых различий атомов, входящих в решетку, причем такие различия не замечают ни рентгеновские лучи, ни электроны. В то же время при дифракции нейтронов могут оказаться неразличимыми (имеющими приблизительно равную амплитуду рассеяния) совершенно разные атомы. Так как легкие вещества рассеивают нейтроны также эффективно, как и тяжелые, то с помощью нейтронографии успешно проводят изучение кристаллической структуры веществ, в состав которых входят одновременно атомы легких и тяжелых элементов (атомы водорода в гидриде циркония, углерода в аустените), а также структур из легких элементов (льда, гидрида натрия, дейтерита натрия, графита). Такие структуры нельзя исследовать с помощью рентгеновских лучей и затруднительно с помощью электронов нз-за незначительного рассеяния их легкими элементами. [c.37]

Атомная структура металлических стекол. Как и в любом другом некристаллическом веществе, в аморфном металле отсутствует дальний порядок в расположении атомов. Данные по рассеянию рентгеновских лучей аморфными телами можно пытаться объяснить как в рамках микрокристаллитной структуры, так и в рамках модели непрерывной сетки. Исследования последних лет, в частности опыты по электрон-позитронной аннигиляции, дают веские основания считать, что в аморфном металле существует распределение атомов без каких-либо разрывов типа границ зерен и точечных дефектов, характерных для кристаллов. Предполагается, что в металлическом стекле существует хаотическое непрерывное распределение сферических частиц, характеризующееся плотной упаковкой. Координационные числа, определенные по площади под первым пиком функции радиального распределения, в большинстве случаев оказываются равными 12, т. е. они больше, чем для жидких металлов. [c.372]

Прямые доказател1ьства существования фотонов получил в 1922 г. американский ученый А. Комптон при исследовании спектрального состава рассеянных рентгеновских лучей. С клас- [c.159]

Рентгенографические методы анализа широко используются для изучения структуры, состава и свойств различных материалов. Широкому распространению рентгенофафического анализа способствовали его объективность, универсальность, быстрота многих его методов, точность и возможность решения разнообразных задач, часто недоступных другим методам исследований. Вследствие высокой проникающей способности рентгеновских лучей для осуществления анализа не требуется создание вакуума. С помощью рентгенографического анализа исследуют качественный и количественный состав материалов (рентгенофазовый анализ), тонкую структуру кристаллических веществ - форму, размер и тип элементарной ячейки, симметрию кристалла, координаты атомов в пространстве, степень совершенства кристаллов и наличие в них микронапряжений, наличие и величину остаточных макронапряжений в материале, размер мозаичных блоков, тип твердых растворов, текстуру веп ес1в, плотность, коэффициент термического расширения, толидину покрытий и т.д. [c.158]

Вторым крупным исследовательским центром стал Московский физический институт имени П. Н. Лебедева, преобразованный в 1934г. из Физической лаборатории Академии наук СССР. В его отделах и лабораториях велись исследования рентгеновских лучей и космической радиации, выполнялись работы по физике нейтронов, разрабатывалась теория ускорения атомных частиц и т. д. В нем же в 1934 г. П. А. Черенковым в ходе изучения явлений люминесценции растворов солей урана под действием гамма-лучей был открыт эффект свечения веществ при прохождении быстрых заряженных частиц, использованный затем в приборах для точного измерения скорости и направления полета электронов, протонов, мезонов и гамма-квантов высоких энергий [c.151]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...