Форм-фактор атомный для рентгеновских лучей

Форм-фактор атомный 152, 458 --для рентгеновских лучей 158 [c.587]

Сверхструктурные линии оказываются слишком слабыми или не выявляются, если атомные факторы рассеяния (или порядковые номера 2) для компонентов мало различаются. В этих случаях можно попытаться увеличить интенсивность сверхструктурных линий, используя специальный подбор излучений [42] или с помощью нейтронографии (см. [12, с. 421]). Анализ упорядочения твердых растворов внедрения с помощью рентгеновских лучей возможен, если образуется сверхячейка или изменяется форма элементарной ячейки, например мартенсит в углеродсодержащей стали, нитрид Ре1аМ2. [c.128]

ФОРМ-ФАКТОР (в теории элементарных частиц) — ф-ция, описывающая влияние протяилсиности частицы па ее взаимодействие с др. частицами и полями. Термин Ф.-ф. заимствован из теории рассеяния рентгеновских лучей (см. Атомный фактор), а его применение основано на наглядном представлении о том, что, напр., протон проводит часть времени в виртуальном состоянии <(пейтроп-(-- -я -ме шп . Поэтому заряд его оказывается размазанным с нек-рой плотностью ер (г). Тогда, папр., амплитуда рассеяния электронов па таком размазанном протоне отличается от амплитуды рассеяния на точечном протоне множителем, наз. Ф.-ф. протона [c.333]

Для описания дифракции в бинарном сплаве А—В необходимо ввести три парциальных структурных фактора 5аа, 5ав и Sbb для трех типов пар атомов каждый из этих структурных факторов имеет соответствующую парную функцию распределения gxA, gAB и gBB. Зависимости между SuiQ) и gu r) такие же, как и между S и в формулах (3.10) и (3.11). Интенсивность когерентного рассеяния /(Q) для нейтронов и рентгеновских лучей зависит от атомных форм-факторов /д и fs и от концентраций сд и в, а также от парциальных структурных факторов [c.70]

Дифракция рентгеновских лучей 1105—109, П 385, 386 атомный форм-фактор 1116 брэгговские максимумы 1105 брэгговское отражение 1109 влияние колебаний решетки П 49, 386 диффузный фон 1104 (с) и фононный спектр П 108 как рассеяние частиц II 100, 386 комптоновский фон II108 метод вращающегося кристалла 1110,111 метод Лауэ I ПО, 111 [c.408]

Мы получили элементарную формулу для дифракции рентгеновских лучей или нейтронов на любой системе атомов, будь то кристалл, аморфное веш ество или жидкость. Атомный форм-фактор 1 и (д) р предполагается известным из независимых измерений, это есть не более чем сечение рассеяния рассматриваемого излучения отдельным атомом. Тогда иэмерение величины I (9) можно интерпретировать как определение функции интерференции или структурного фактора неупорядоченного вещества [c.152]

С другой стороны, рентгеновские лучи рассеиваются электронами в атоме или твердом теле, поэтому атомный потенциал и (R) уже нельзя считать сконцентрированным на ядрах. Для рентгеновских лучей атомный форм-фактор по существу представляет собой фурье-образ электронной плотности р (R) внутри атома и потому не может считаться не зависящим от передаваемого импульса q. Для определения структурного фактора надо, пользуясь формулой (4.7), разделить наблюдаемую интенсивность рассеяния на этот форм-фактор, который обыгчно определяют независимым путем из опытов по рассеянию в газе или на свободных атомах. При этом, однако, возникает вопрос, можно ли представить действительную электронную плотность в конденсированной фазе в виде суперпозиции плотностей отдельных атомов, как это сделано в формуле (4.6). В принципе в промежутках между атомами должно происходить некоторое перераспределение заряда. С помощью очень точных измерений можно обнаружить этот эффект в кристаллах некоторых полупроводников что же касается стекол или жидкостей, то там он полностью маскируется общим беспорядком. [c.158]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...