Диффузное рассеяние] рентгеновских лучей

Фон на рентгенограмме является результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей [87]. Как известно, причинами появления фона могут быть тепловое диффузное рассеяние, отсутствие дальнего и (или) ближнего порядка в расположении атомов при аморфизации вещества и диффузное рассеяние твердым раствором. Тепловое диффузное рассеяние приводит к монотонному росту интенсивности фона с ростом угла дифракции в на рентге- [c.78]

В связи с вышесказанным, на наш взгляд, особую роль приобретает исследование фона на рентгенограммах наноструктурных материалов, значительные объемы в которых принадлежат границам зерен. Смещение атомов в границах зерен из равновесных положений, характерных для кристаллической решетки, должно существенно влиять на интенсивность диффузного рассеяния рентгеновских лучей наноструктурными материалами. [c.79]

ДИФФУЗНОЕ РАССЕЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ — рассеяние рентгеновских лучей веществом в направлениях, для к-рых не выполняется Брэгга — Вульфа условие. [c.691]

Соответственно и свойства твердых растворов отличаются от свойств чистых металлов. Это изменение макроскопических термодинамических свойств определяли экспериментально, а для прямого измерения локального расположения атомов применяли метод диффузного рассеяния рентгеновских лучей [133. [c.154]

Несмотря на сложность описанной методики, метод определения упругих постоянных ио спектрам диффузного рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов на тепловых колебаниях решетки приобретает все большее распространение. Основным его преимуществом является то, что исследования можно проводить на мелких монокристаллах и особо хрупких веществах. [c.271]

Хотя в качестве идеализированного примера можно рассматривать образование неупорядоченного твердого раствора, однако экспериментальные данные, полученные в основном при изучении диффузного рассеяния рентгеновских лучей, свидетельствуют о том, что полной неупорядоченности (так же как и идеального кристаллического строения), по всей вероятности, в природе не существует. Твердые растворы, находящиеся в термодинамическом равновесии ), в макроскопическом масштабе можно считать истинно гомогенными, однако при этом они не обязательно являются гомогенными при рассмотрении в атомном масштабе. [c.151]

Другая возможность определения статических искажений основывается на применении теории Хуанга [47 ] и связана с измерениями интенсивностей брэгговских отражений при различных температурах. Помимо того, что изменения в межатомных расстояниях в твердом растворе вызывают диффузное рассеяние рентгеновских лучей, эти изменения приводят также к понижению интегральной интенсивности брэгговских максимумов, определяемому множителем [c.177]

Недавно были проведены расчеты вклада диффузного рассеяния вдали от брэгговских отражений, обязанного различным точечным дефектам (см., например, [19]) наблюдения, проведенные для такого диффузного рассеяния рентгеновских лучей на точечных дефектах большой концентрации, описаны в работе [183]. [c.268]

ИССЛЕДОВАНИЕ ДИФФУЗНОГО РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ И РАССЕЯНИЯ ПОД МАЛЫМИ УГЛАМИ [c.792]

Измеренная величина интенсивности диффузного рассеяния рентгеновских лучей в общем случае имеет вид [c.792]

ДИФФУЗНОЕ РАССЕЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ [гл. I и [c.794]

ДИФФУЗНОЕ РАССЕЯНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛуЧЕЙ [c.796]

Приведены значения различных функций, входящих в соотношения Ц1Я вычисления интенсивности диффузного рассеяния рентгеновских лучей [c.801]

Таким образом, как ясно из последней формулы, исследование углового распределения диффузного рассеяния рентгеновских лучей дает возможность найти радиальную функцию распределения плотности или функцию корреляции. Для видимого света из (2.10а) получим для коэффициента рассеяния [87, 103] [c.59]

Эти уравнения показывают, что диффузное рассеяние рентгеновских лучей является непосредственным следствием локальных флуктуаций плотности, описываемых корреляционной функцией. [c.95]

Проведенное рассмотрение позволяет дать чрезвычайно наглядное объяснение диффузного рассеяния рентгеновских лучей (см. К 5, б), которое по существу эквивалентно теории рассеяния света по Бриллюэну. Делаем следующие предположения [c.105]

Проведенные исследования [98] показали, что в процессе ИПД кручением в образцах Си формируется слабая аксиальная текстура. Таким образом, результаты РСА показывают, что при ИПД кручением чистой Си происходят существенные изменения вида рентгенограмм, получившие отражение в увеличении доли лорен-цевой компоненты в форме профилей рентгеновских пиков, их уширении и смещении, а также увеличении интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей. Это [c.39]

Погрешность в вычислении интегральной интенсивности фона в основном зависит от правильности выбора базисных линий. Поскольку рентгеновские пики на рентгенограммах наноструктурной Си преимущественно описываются функцией Лоренца, т. е. имеют длинные хвосты, то оказалось очень трудно достаточно точно определить место, где кончается рентгеновский пик и начинается фон 79-82]. Для уменьшения погрешности базисные линии выбирали таким образом, чтобы их концы совпадали с концами широких интервалов углов дифракции, в которых производилась съемка рентгеновских пиков [79-82]. Как показано в работах [80, 81], ИПД Си приводит к росту интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 6 3 %. [c.79]

Таким образом, проведенные рентгеноструктурные исследования свидетельствуют о формировании в результате ИПД состояния, характеризующегося размером зерен-кристаллитов в десятки нанометров, высоким уровнем микроискажений, измененным параметром кристаллической решетки, повышенными атомными смещениями, пониженной температурой Дебая, несколько повышенным диффузным фоном рассеяния рентгеновских лучей. Все это свидетельствует о специфичности дефектной структуры наноматериалов, полученных с использованием интенсивных деформаций, что должно быть учтено при разработке структурной модели ИПД материалов (см. 2.3). [c.80]

Холодная прокатка наноструктурной Си, полученной РКУ-прес-сованием, приводит к возрастанию величины интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 4,9 % по сравнению с состоянием до прокатки [98]. Одновременно в результате холодной прокатки происходит увеличение размера зерен в направлении (200) и уменьшение величины микроискажений кристаллической решетки в этом направлении (табл. 3.1). [c.150]

Интенсивность фона, наблюдаемого на рентгенограммах, является не только результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей на образце, но также связана с инструментальными факторами (например, с рассеянием дифрагировавшего излучения атмосферным воздухом) [141]. Если инструментальные факторы одинаковы для исследуемых образцов, то появляется возможность сравнительного анализа роли самих образцов в формировании диффузного фона рассеяния на рентгенограммах. Интенсивность дифрагировавших рентгеновских лучей, зафиксированная на рентгенограмме, складывается из интенсивности рентгеновских пиков и интенсивности фона [130]. Для отделения интенсивности, связанной с фоном, в районе рентгеновских пиков, представленных псевдофункциями Фойгта, проводят базисные линии. Левая и правая точки каждой базисной линии соответствуют интенсивности фона слева и справа от рентгеновского пика. Для получения интегральной интенсивности фона площади под базисными линиями суммируют с площадями под линией фона вне рентгеновских пиков. [c.79]

Наличие в твердом растворе зон Гинье—Престона обусловливает появление аномального диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов. [c.211]

Статические искажения в твердых растворах, которые связаны с различием в размерах отдельных атомов, мошно оценить по величине диффузного рассеяния рентгеновских лучей [4, 99, 114], а также из квазитемпературного уменьшения интенсивности брэгговских отражений [12, 13, 43, 47]. В первом случае интенсивность диффузного рентгеновского излучения, рассеянного твердым раствором, определяется коэффициентами завися-ш ими от характера локального расположения атомов, и коэффициентами Рг, которые отражают различия в размерах атомов компонентов. Согласно теории, [c.175]

На диффузное рассеяние рентгеновских лучей, обусловленное статическими искажениями, накладывается тепловое диффузное рассеяние, пропорциональное ехр (—2р sin G Д2) последнее можно исключить или свести к минимуму, если проводить исследование при низких температурах. Практически это означает, что металлические породхки отжигаются при относительно высоких температурах, интересующих исследователя с точки зрения изучения структуры порошков, а затем они быстро закаливаются. При этом делается допущение о том, что высокотемпературное состояние сохраняется после закалки. [c.177]

Нетрудно видеть, что величина а, определяемая таким путем, становится равной единице в случае полного порядка и нулю — при полной неупорядоченности. На самом деле а не становится равной нулю при разупорядочении, а сохраняет обычно некоторое значение даже при температуре выше Тс- Таким образом, параметр O характеризует состояние порядка только в непосредственном окружении данного атома в отличие от параметра дальнего порядка S Брэгга и Уильямса, который относится ко всей решетке. Описание ближайшего окружения данного атома можно расширить, рассматривая несколько следуюш их концентрических оболочек, соответствующих координационным сферам первого, второго, третьего и т. д. порядка (Коули 121]). Таким образом ближний порядок можно описать с помощью серии коэффициентов г, подобно тому как это сделано в уравнении (6) в разд. 6.5. Как показано в том же разделе, наличие ближнего порядка приводит к появлению диффузного рассеяния рентгеновских лучей. [c.215]

Определением постоянной Холла подтверждено существование непрерывного ряда твердых растворов между 5-Т1 и Мо и обнаружены эффекты, указывающие на существование соединений в сплавах состава Т14Мо, Т1зМо и Т1Мо4 [8]. Однако при исследовании диффузного рассеяния рентгеновских лучей в системе не обнаружено каких-либо соединений или сверхструктур, хотя степень ближнего порядка при медленном охлаждении повышается [9]. [c.207]

Величина поляризационного множителя интенсивности при диффузном рассеянии рентгеновских лучей составляет для неполяризованпого излучения [c.798]

До того как стало возможным получать Г. искусственным путём, изучение гиперзвуковых волн и их распространение в жидкостях и твёрдых телах проводилось гл. обр. оптич. методом, основанным на исследовании рассеяния света на Г. теплового происхождения. При этом было обнаружено, что рассеяние в оптически прозрачной среде происходит с образованием нескольких спектральных линий, смещённых относительно частоты падающего света на частоту Г. (т. н. М анделъштама — Бриллюэна рассеяние). Исследования Г. в ряде жидкостей привели к открытию в них зависимости скорости распространения Г. от частоты (см. Дисперсия скорости Звука) и аномального поглощения звука на этих частотах. Изучение Г. теплового происхождения рентгеновскими методами показало, что тепловые колебания атомов в кристалле приводят к диффузному рассеянию рентгеновских лучей, размазыванию пятен, обусловленных взаимодействием рентгеновских лучей с атомами, и к появлению фона. По диффузному рассея- [c.87]

Априорное вычисление корреляционных функций для конденсированных фаз связано с колоссальными трудностями, так что даже в простых случаях задачу можно решить только приближенно. Эту проблему мы здесь рассматривать не будем. К счастью, во многих случаях корреляционные функции можно определить экспериментально из опытов по диффузному рассеянию рентгеновских лучей. Для простых жидкостей это впервые показали Цернике и Принс [40] и Дебай и Менке [41]. Дадим краткое изложение теории. [c.94]

Третья разновидность динамических методов определения модулей упругости — анализ рассеяния рентгеновских лучей и тепловых нейтронов на тепловых колебаниях решетки. Поскольку тепловые колебания представляют собой суперпозицию продольных и поперечных волн с широким набором длин волн (частот), вместо дифракционного рефлекса возникает более или менее широкая ди( )фузная область рассеянных лучей вблизи брэгговских углов отражения. Отдельным выделенным точкам в диффузном облаке соответствуют константы упругих волн с данной длиной волны и частотой. Таким образом, анализируя спектр теплового диффузного рассеяния в различных точках диффузного пятна, смещенных относительно дифракционного максимума для соответствующей отражающей плоскости кристалла, можно определить длину упругой волны, распространяющейся в выбранном направлении и, следовательно, найти упругие постоянные. [c.270]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...