Диффракция рентгеновских лучей

Исследование изменения высоты максимума затухания в зависимости от кристалличности, изменения модуля кручения полимера, а также исследование диффракции рентгеновских лучей, удельной теплоемкости позволяют определить отношение областей релаксации к аморфной или кристаллической фазе. [c.13]

УСТАНОВКА ДЛЯ ДВОЙНОЙ ДИФФРАКЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ [c.164]

В установке для диффракции рентгеновских лучей используют способ двойной диффракции с целью изучения кристаллических свойств материалов, облученных в реакторе. Исследования [c.164]

Полировальный станок с дистанционным управлением служит для выполнения окончательных операций по приготовлению металлографических образцов перед их микроскопическим исследованием. Хотя основным назначением станка является подготовка образцов различных металлов для микроскопического исследования, его можно также использовать для подготовки плоских и надлежащим образом отполированных поверхностей для исследования больших кристаллов методом диффракции рентгеновских лучей. [c.168]

В результате роста сравнительно длинных прямых нитей сквозь слои иодистого и сернистого серебра получаются образцы, весьма пригодные для исследования методом диффракции рентгеновских лучей. Диффракционные снимки получались таким способом, чтобы легко можно было обнаружить преимущественную ориентацию вдоль оси нити, однако никаких преимущественных ориентаций вообще не было обнаружено. Диффракционные кольца были весьма нерезки, и размер кристаллов был оценен в 25, ч. Это указывает на то, что отдельная нить может содержать [c.84]

Понятие дальнего порядка было введено первым, так как этот тип порядка допускает непосредственную экспериментальную проверку в опытах с диффракцией рентгеновских лучей. Однако Бете указал ), что в действительности более фундаментальным понятием является ближний порядок, поскольку энергия взаимодействия атомов определяется прежде всего им. [c.533]

Рентгенографический структурный анализ основан на диффракции (отражении) рентгеновских лучей рядами атомов в кристаллической решетке. Как известно из физики, зная длину волны у монохроматического пучка рентгеновских лучей, можно определить расстояние между рядами атомов и воспроизвести пространственное расположение атомов. [c.12]

Кроме того, необходимо было объяснить волновой и одновременно корпускулярный характер некоторых явлений, Классическая волновая теория объяснила явления интерференции и диффракции света и рентгеновских лучей, а для объяснения фотоэлектрического эффекта уже существовала теория световых частиц или фотонов. [c.24]

Следует подчеркнуть, что в силу формулы (4,2) значение постоянной В[о) самого низкого колебательного уровня отличается от значения этой постоянной Ве в положении равновесия. Для точного определения момента инерции и расстояния между атомами в положении равновесия нужно применять постоянную В . Любые моменты инерции или междуатомные расстояния, определенные из постоянной Б[о]. являются средними значениями, усредненными определенным образом по различным положениям, которые могут занимать атомы при нулевых колебаниях. Междуатомные расстояния, найденные из диффракции электронов или рентгеновских лучей, конечно, являются также усредненными значениями для состояния и, = О, г>.2 = О,.... Однако разница между значениями Гд и всегда очень мала, значительно меньше ошибок при измерениях диффракции электронов. Хотя эту разницу принципиально можно легко уловить спектроскопическим путем, только в очень небольшом числе случаев известны все данные (т. е. все значения постоянных а), необходимые для нахождения постоянной В из Вщ. [c.400]

Здесь будут рассмотрены некоторые аспекты нейтронной физики, в которых становится очевидным волновой характер нейтрона. Согласно результатам волновой, или квантовой, механики, аналогично излучению, всем частицам может быть присуща интерференция, для которой длина волны определяется соотношением де Бройля (Л = к/ту). Для наблюдения таких явлений необходимо, чтобы длина волны по порядку величины была сравнима с геометрическими размерами, фигурирующими в поставленной задаче. Поэтому целесообразно предварительно указать численные данные. Для так называемых тепловых нейтронов, т. е. для нейтронов, замедленных до скоростей теплового возбуждения, соответствующего температуре среды, или до энергии около 1/40 эв, по соотношению де Бройля для длины волны получается величина, равная 1,8 10 см. Так как эта величина близка к межатомному расстоянию, можно ожидать, что у нейтронов имеются явления диффракции в кристаллической решетке, подобные тем, которые наблюдаются у рентгеновских лучей, имеющих длину волны того же порядка. [c.114]

После этого вступления перейдем к описанию простого опыта, который может подтвердить, что нейтроны действительно ведут себя как рентгеновские лучи в явлениях диффракции на кристаллах. Если на грань кристалла, спиленную, например, параллельно ряду плоскостей решетки, падают монохроматические рентгеновские лучи (рис. 4), то происходит отражение только в некоторых специальных направлениях. Они определяются хорошо известным соотношением Брэгга [c.116]

Природа рентгеновских лучей долгое время оставалась неизвестной. Английский ученый Дж. Стокс высказал гипотезу, что рентгеновские лучи представляют собой очень короткие электромагнитные волны, возникающие при торможении электронов при ударе их об анод. В 1904 г. английский ученый Ч. Баркла экспериментальным путем обнаружил поляризацию рентгеновских лучей. Доказательством того, что рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны, было также открытое в 1912 г. немецким ученым М. Лауэ (совместно с В. Фридрихом и П. Книппингом) явление диффракции рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллы. Последовавшие затем фундаментальные исследования русского ученого Г. В. Вульфа (1913 г.), английских ученых В. Г. и В. Л. Брэггов (1913 г.), Г. Мозли (1913 г.) и других привели к тому, что рентгеновские лучи получили широкое примение в физике и технике. [c.354]

Еще более тонким является метод диффракции рентгеновских лучей, позволяющий по картине из точек и черточек определить местонахождение молекулы, атомов и даже электронов. Затем следует указать метод камеры Вильсона, позволяющий наблюдать следы частиц в газе по ионизации молекул газа (фиг 29), Наконец, сче1чики частиц при помощи электрических устройств дают целую гамму видимых ощущений , что позволяет почти прикоснуться к атомным частицам. [c.66]

Настоящее исследование было предпринято, во-первых, для выяснения возможности различения между двумя типами дефектов при высоких температурах путем использования результатов измерения постоянной решетки бромистого серебра, во-вторых, для проверки значения постоянной решетки, полученного Вагнером и Байером [4], и, в-третьих, для проверки предположения Лоусона, что коэффициент расширения бромистого серебра вблизи точки плавления аномален в том смысле, что увеличение объема кристалла частично обусловлено образованием структурных дефектов. Довольно большая концентрация дефектов (около 2% [7]) вблизи температуры плавления бромистого серебра позволяет без труда исследовать эту область методом диффракции рентгеновских лучей. [c.37]

Естественно, что следующим шагом должно было быть создание трехмерной пространственной решетки посредством трех ультразвуковых волн, распространяющихся перпендикулярно друг к другу. По аналогии с диффракцией рентгеновских лучей на пространственной решетке кристалла здесь можно было бы ожидать таких же диффракционных явлений для видимого света. Систематические исследования в этом направлении впервые были проведены Шефером и Бергманом [1829—1831]. Почти в то же время и независимо от них Гидеман и Асбах [864] опубликовали данные о наблюдении диффракции света на пространственной решетке, образованной многократно отраженными ультразвуковыми волнами. [c.202]

Рассмотрим теперь, какое объяснение дает теория Фюса и Лудлофа [674] возникновению этих диффракционных картин. Первоначальное предположение об аналогии с диффракцией рентгеновских лучей на кристаллической решетке не дает полного объяснения. Во-первых, полу- [c.356]

Определение структуры металлов и типа кристаллической решетки при помощи рентгеновских лучей основано на диффракции (отражении) рентгеновских лучей рядами атомов кристаллической решетки. Зная длину волны рентгеновых лучей, можно определить расстояние между рядами атомов и расположение их в пространстве. Установление атомной структуры металлов и сплавов весьма существенно для понимания физической природы явлений, происходящих при изменении состояния металла в процессе его обработки. [c.109]

С точки зрения волновой механики атомы совершенной решётки рассеивают электроны когерентно, т. е. аналогично рассеянию рентгеновских лучей при лауэвской диффракции. Следовательно, прежде чем какой-либо электрон сможет оказаться рассеянным в совершенной решётке, он должен занимать уровень у границы зоны, а уровень, на который он сможет перескочить, должен быть свободным. Для значительной части электронов проводимости эти условия обычно не выполняются. Мы увидим ниже, что рассеяние благодаря тепловым колебаниям можно рассматривать как когерентное рассеяние решёткой, периодически деформированной тепловыми волнами искажённый таким образом кристалл ведёт себя подобно решётке, постоянная которой равна длине волны тепловых колебаний решётки. Вследствие того, что рассеяние такого типа также ограничено лауэвскимн условиями, данное колебание может отклонять данный электрон только на определённые углы. Обычно предполагается, что не зависящее от температуры рассеяние, ответственное за остаточное сопротивление, существенно некогерентно, т. е. что рассеивающие центры расположены настолько беспорядочно, что их можно рассматривать независимыми друг от друга. Мы обсудим этот вопрос более подробно в 130. [c.546]

Рентгеновский анализ. Этот метод позволяет провести более глубокое исследование кристаллической структуры пленок, установить тип решетки и основные параметры решетки путем рент-гено-анализа, т. е. исследования диффракции рентгеновских лучен после прохождения через кристаллическую структуру пленки. Так как рентгеновские лучи обладают большой жесткостью— глубоко проникают в образец, то обычно предпочитают исследовать снятый материал пленки. [c.35]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...