Мультислой

Рассмотрим теперь мультислой из т слоев, каждый из которых характеризуется одинаковой М-матрицей, а чтобы получить матрицу для всего мультислоя, матрицу М нужно повторить т раз, т. е. вычислить т-ю степень матрицы М. Для этого М удобно представить в виде двух матриц и таких, что и [c.183]

В случае когда характеристическая экспонента 8 вещественна, блоховские волны распространяются через мультислой без затухания и стопа ведет себя как прозрачный диэлектрик. Если же 1тб Ф О, то амплитуда одной блоховской волны экспоненциально затухает, а другой экспоненциально возрастает. Это означает, что падающая извне волна не может проникнуть в среду. В данном случае стопа действует как отражатель. [c.187]

Отражательная способность R периодической структуры типа стекло — (ВН) " может быть увеличена добавлением еще одного В-слоя, так что мультислой имеет теперь структуру стекло— (BH)" B . В этом случае V = . [c.196]

Рассмотрим мультислой, расположенный между некоторой подложкой (справа от мультислоя) и бесконечно протяженной окружающей средой (слева). Пусть мультислой описывается характеристической М-матрицей 4x4, а падающая на границу раздела 2 волна — четырехмерным вектором . Тогда обратно в окружающую среду отражается волна , а волна проникает в подложку. При этом является суперпозицией двух собственных векторов среды, описывающих волны, бегущие справа налево. В соответствии с уже принятыми обозначениями (3.16.4) эти волны будем отмечать индексами 2 и 4, а бегущие слева направо — индексами 1 и 3. Это упорядочение остается справедливым не только для одноосных кристаллов, но и для двухосных. Поэтому векторы 1 ), и 1 ) можно записать в виде [c.209]

Вычислите постоянную затухания а поверхностной волны, распространяющейся вблизи тонкой пленки без потерь, нанесенной на металл, в котором потери велики. Подсказка. Вычислите входной импеданс подсистемы тонкая пленка — металл в мультислое вакуум — тонкая пленка — металл и найдите комплексный волновой вектор = - /а, для которого вещественная и мнимая части импеданса удовлетворяют уело- [c.242]

Модовый шум 609 Моментов метод 431 Монохроматическая волна в однородной среде 31 Мультислой 171 [c.654]

Вторая фракция покрытия (доля 2), так называемый хемосорбированный мультислой , является наиболее важной частью. аппрета. По кинетике десорбции хемосорбированного слоя аппрета с поверхности чистого стекла в кипящей воде можно судить о его структуре. Если аппрет представляет собой полимер с сетчатой структурой, то процесс десорбции имеет инкубационный период, поскольку десорбция не (Может произойти до тех пор, пока в результате гидролиза не разрушатся связи между сегментами молекулы. [c.124]

После насыщения поверхности раздела водяными парами на ней возможно образование активных центров. При этом неупорядоченный гидролиз силоксановой связи (вероятно, той, что ближе к стеклянной поверхности) приводит к появлению двух еиланоль-ных групп, способствующих адсорбции гидрофильных соединений и, возможно, молекул воды. Участки поверхности, соприкасающиеся с этими группами, гидролизуются, т. е. гидролиз протекает в местах образования активных центров. Гидролиз димерного слоя аппрета АПС (рис. 9) возможен только в плоскости средней точки димеров. При максимальной толщине покрытия (рис. 8), представляющего собой мультислой АПС довольно большой толщины, эта плоскость может произвольно перемещаться зигзагами в вертикальном (перпендикулярно поверхности) направлении на участке, содержащем максимальное количество связей в этом случае долговечность адгезионного соединения будет такой же, как и на рис. 9. [c.137]

В качестве простейшего примера неоднородной среды рассмотрим многослойную область (мультислой) с кусочно-постоянным (ступенчатым) законом изменения показателя преломления. В разд. 3.2 мы уже обсуждали обобщение метода геометрической оптики на неоднородный диэлектрик с непрерывным профилем показателя преломления сущностью этого анализа была основанная на свойствах функщ1й Эйри возможность сшивки асимптотических решений. При наличии у показателя преломления разрывов непрерывности можно также применить этот метод, учитывая, однако, некоторые небольшие изменения в выражениях для коэффициентов отражения и пропускания. Если же в задаче возникает большое число разрывов функции л (г), то описание многократного отражения проходящей через среду волны становится очень сложным. Для этого требуется систематическое изучение зависимости коэффициентов отражения и пропускания от числа разрывов, их характера и относительных положений разрывов непрерывности л (г). [c.170]

Диэлектрические мультислои широко применяются в электрооптических устройствах для уменьшения отражения от поверхности, получения полосовых фильтров или увеличения отражательной способности при определенных длинах волн [16, 17]. Создание таких сред при помощи испарения или напыления возможно на многих подложках (стекла, полимеры, металлы, композитные материалы) [18] (рис. 3.7). Простейший мультислой представляет собой стопу четвертьволновых пластинок, каждая из которых имеет оптическую толщину nd = Хо/4. В современных системах вместо одинаковых четвертьволновых пластинок используют слои со слабо изменяющейся толщиной, поскольку это позволяет обеспечить лучшее управление пропускатель-ной способностью в широком частотном диапазоне. При изготовле- [c.170]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...