Поляризатор

Излучение, испущенное изучаемой поверхностью с неизвестной температурой Та и прошедшее через поляризатор под произвольным углом ф к главной плоскости поляризации /г, описывается выражением [c.389]

Если на поверхность падает также излучение черного тела с известной температурой Т, то сумма отраженного и испущенного излучений /, пропущенных поляризатором, есть [c.390]

Схема установки представлена на рис. 580. В этой установке 5— источник света, 1 — конденсатор, 2 — светофильтр, 6 — объектив, 7 — экран. Модель 4 помещается между двумя поляризующими элементами 3 и 5. Первый из них называется поляризатором, а второй — анализатором. Оптические оси поляризатора и анализатора составляют друг с другом угол в 90°. При этом пучок света, прошедший через поляризатор 3, поляризуется в горизонтальной плоскости (вектор поляризации располагается горизонтально, а световые [c.516]

Если менять нагрузку на модель при неизменном положении поляризатора и анализатора, можно наблюдать возникновение и перемещение полос на изображении модели. Например, при изгибе призматического бруса имеем систему полос, показанную на рис. 582. В средней ч асти модели, где имеет место чистый изгиб, наблюдается [c.520]

Теперь можно полностью истолковать этот эксперимент. При падении на первое зеркало естественного (неполяризованного) света под углом Брюстера отраженный свет оказывается полностью поляризованным. От второго зеркала он либо отразится полностью (П2 II ni рис. 2. 13, а) или совсем не отразится от него (П2 X пх рис. 2.13, б), так как в последнем случае второе зеркало отражает свет только той поляризации, которая отсутствовала в пучке, отраженном от первого зеркала. Контрольными опытами нетрудно показать, что именно поляризация света при первом отражении и определяет условия отражения от второго зеркала. Для этого можно заменить первое зеркало каким-либо поляризатором (например, поляроидом или призмой Николя см. 3.1). Изменяя поляризацию падающего на второе зерка.по света, легко перейти от максимальной к минимальной интенсивности света на выходе. Укажем также, что если одно из диэлектрических зеркал заменить обычным металлическим, то ни при каком положении другого зеркала не удается добиться исчезновения света. Следовательно, при отражении света от металлического зеркала никогда не получается линейно поляризованная волна (см. 2.5). [c.88]

Действие призмы Френеля можно исследовать, используя оптическую схему, показанную на рис. 2.22. После прохождения поляризатора Pi падающий свет будет линейно поляризован. Вращая анализатор Рг. будем периодически наблюдать полное исчезновение прошедшего света, что соответствует определенному направлению линейно поляризованных колебаний, получивших в результате превращения призмой Френеля линейной поляризации в круговую и повторного превращения в линейную поляризацию в результате действия пластинки в четверть длины волны. Можно также продемонстрировать это в УКВ-диапазоне, для чего используется большой ромб Френеля , изготовленный из парафина. [c.99]

Такие пластинки изготовляют обычно из кварца, а иногда и из тонких слоев слюды, которая, несмотря на то является двуосным кристаллом, может быть использована в этих целях. Свойства пластинки Х/4 легко проверить, поместив ее между двумя скрещенными поляризаторами. Если при вращении анализатора интенсивность прошедшего света не меняется, то толщина подобрана правильно — на выходе из пластинки Получается циркулярно поляризованный свет. Добавив еще одну такую пластинку, можно снова перевести круговую поляризацию в линейную, в чем легко убедиться вращением анализатора. В по-добных опытах, конечно, должно быть выдержано упомянутое выше условие, т. е. вектор Е в волне, падающей на пластинку, должен составлять угол л/4 с ее плоскостью главного сечения. Это достигается относительным вращением поляризатора и пластинки вокруг направления луча. Здесь следует указать, что если направление колебаний вектора Е в падающей волке совпадает с оптической осью пластинки 1/4 (или с направлением, перпендикулярным этой оси), то через пластинку пройдет лишь одна волна. В таком случае из пластинки выйдет линейно поляризованная волна. [c.117]

Для преобразования эллиптически поляризованного света в линейно поляризованный ( а также для превращения линейной поляризации в эллиптическую с любым заданным значением ft) можно применять кристаллический клин, определенным образом вырезанный относительно его оптической оси (рис.3.4). Его использование позволяет скомпенсировать любую разность фаз. Поместив этот клин между двумя поляризаторами и осветив его точечным источником света, получаем на выходе систему темных [c.117]

Опыты с аморфными веществами (сахар, камфора, патока, никотин и др-)- Опыт ставится так же, как и в предыдущем случае, но вместо кварца между поляризаторами вводят кювету с оптически активным веществом. Если обозначить длину кюветы через d, а концентрацию вещества — через с, то из опыта получается ф = a]d , где [а] — постоянная вращения для данного вещества, сильно зависящая от длины волны ([о] 1/Х ) и слабо — от температуры образца. Постоянная вращения [а] практически не зависит от агрегатного состояния вещества. [c.154]

Опыт проводят по схеме, представленной на рис. 4. 16. Между скрещенными поляризаторами вводят оптически неактивное ве- [c.160]

Определим интенсивность прошедшего света для двух ортогональных направлений анализатора (поляризатор и анализатор параллельны или скрещены)- [c.207]

Пусть угол 4/ = О, т.е. поляризатор и анализатор параллельны. Интенсивность прошедшего света определяется выражением [c.207]

Пропускание будет максимальным при ф = О, л/2, я,. .. В этом случае I = т. е. весь свет проходит, и можно считать, что при таких ориентациях поляризатора интерференция отсутствует. Нетрудно заметить, что при ф =0, л/2, л,. . . направление колебаний, пропускаемых поляризатором, совпадает с одним из [c.207]

Пусть ч/ Ti/2, т.е. поляризатор и анализатор скрещены тогда общее выражение для интенсивное и прошедшего света имеет вид [c.208]

Процессы и вещества, способствующие удалению продуктов анодной реакции е поверхности электрода, называются анодными поляризаторами. Им1] могут быть как процессы механического удаления ионов перемешиванием электролита, так и вторичные реакции, связ1)Ша]ощие выходящий в раствор ион металла в трудно диссоциирующий комплекс или переводящие его п осадок. Примером такой реакции является реакция растворения меди в растворах аммиака. Образование трудно диссоциирующего комплексного иона [Си(ПНз)4] +, сильно понижающего концентрацию ионов меди в электролите, объясняет беспрепятственное течение процесса растворения меди и ее сплавов в аммиачных растворах. [c.36]

При отсутствии в образце напряжений анализатор гасит световые лучи, прошедшие через поляризатор, и изображение получается затемненным. Под нагрузкой материал образца, становясь двоякопреломляющпм, разлагает поляризованный свет на две взаимно перпендикулярные и совпадающие с иаправленпе.м главных напряжений волны с разностью фаз, пропорциональной разности главных напряжений. В анализаторе волны снова совмещаются, и благодаря приобретенной разности фаз на изображении возникает спсте.ма интерференционных полос. При освещении белым светом образуются цветные полосы (изохромы), цвет которых зависит от разности главных напряжений — 02, а частота расположения — от величины нагрузки. [c.156]

Кроме того, на изображении возникают темные полосы — изоклины (лпшш одинакового угла а наклона главных напряжений). Поворачивая одновременно поляризатор и анализатор на малые углы (5 —10""), получают се. 1е11С1 во изоклин данной модели, на осповашш которых можно построить траектории главных напряжений (изостаты) и определить в каждой данной точке величину т = 0,5 (05 — 02)51117.. [c.156]

Поляроиды. В качестве поляризаторов используются также поляроиды. Поляроид представляет собой пленку, на которую наносятся кристаллики герапатита, обладающие сильным селекшв-иым поглощением. Установлено, что такая пленка толщиной порядка 0,1 мм селективно поглощает одни из лучей. В результате мы имеем дело фактически с поляризатором. Поляроиды обходятся деи1евле, обладают апертурным углом, близким к 180, легко изготовляются и могут иметь большие размеры. Одним из недостатков поляроидов но сравнению с призмами из исландского шиата являются их недостаточная прозрачность п селективность поглощения при разных длинах волн. [c.234]

Объясним принцип модуляции света на основе линейного элект-рооптического явления. Для простоты рассмотрим кубический кристалл, обладающий изотропным показателем преломления п. На рис. 12.2 показан простейший электрооптический модулятор света. Кристалл с приложенным вдоль оси х напряжением Ej, помещен между скрещенными поляризаторами. На такую систему направляется свет, распространяющийся вдоль оси г. Расположим поляризатор Ml так, чтобы входящее в кристалл излучение было поляризовано под углом 45° по отношению к полю Е . Тогда падающий на кристалл свет имеет равные компоненты поля Е по осям X я у. Приложенное вдоль оси х электрическое поле вызовет определенную разность показателей преломления Ап для компонент светового поля по осям хну. Если длину кристалла по оси z обозначить через /, то возникшая разность фаз между компонентами светового вектора вдоль осей х а у по выходе света из кристалла [c.287]

Устройство, выделяют,е(3 из всех возмолсных колебания, про-исходяш,ие в одной плоскости (первая щель), называется поляризатором. Устройство, позволяющее определить плоскость поляризации волны (вторая щель), называется анализатором. [c.231]

Поляризация излучения является третьей основной характеристикой монохроматич( ской волны. Наиболее простой случай. нинейной поляризации имеет место в УКВ-области, и его можно искусственно создать и в оптическом диапазоне. Существует множество различных типов оптических поляризаторов — устройств, на выходе которых получа( тся линейно поляризованный спет (кристаллы исландского игиата или кварца, призма Николя и различные другие приспособле шя). ( помощью таких уст ройств можно не только поляризовать излучение, но и проверить, характеризуется ли неизвестная радиация линейной поляриза-иией.Методика подобных исследований ясна из рис. 1.12, где показаны две взаимные ориентации поляризатора и анализатора, при которых свет проходит целиком или нацело задерживается. Метод исследования эллиптически поляризованного света [c.36]

Итак, для создания в эксперименте плоской монохроматической Е олны нужно использовать коллиматор, монохроматор и поляризатор. Излучение произвольного источника света, пропу-пдениое через систему, содержащую все эти устройства, в какой-то степени соответствует идеальной волне см. (1.24) . Излуче ние лазера в еще большей степени соответствует принятой идеализации. [c.38]

Кроме описанных существуют также поляризаторы, в 1соторых используется явление дихроизма — избирательное поглощение [c.119]

Анизотропия в электрическом поле. Возникновение анизотропии в электрическом поле было обнаружено Керром в 1875 г. и с тех пор широко используется в технике эксперимента. В настоящее время явление Керра хорошо исследовано как экспериментально, так и теоретически. Это оказалось возможным благодаря тому, что эффект наблюдается в веществах, находящихся в жидком и даже газообразном состоянии, а их изучение несравненно проще изучения твердого тела. Схема опыта относительно проста (рис. 3.10). Между двумя скрещенными поляризаторами Pi и / 2 располагают плоский конденсатор. Между пластинами конденсатора помещают кювету с жидким нитробензолом — веществом, в котором изучаемый эффект весьма велик. При включении напряжения происходит поляризация молекул нитробензола и их выстраивание. Так создается анизотропия вещества с преимущественным направлением (оптической осью кназикрис-талла) вдоль вектора напряженности электрического поля. Так же как и при механической деформации, излучение становится эллиптически поляризованным и частично проходит через второй поляризатор, скрещенный с первым, т.е. установленный так, чтобы не пропускать линейно поляризованный свет. Опыт дает Ап = н,, — п = КЕ , где К — некая константа, как правило, положительная. Однако для некоторых веществ К оказывается меньше О (это значит, что /г > п , т.е. образуется отрицательный квазикристалл). [c.122]

Опыты с кварцем. Классическим объектом для демонстрации вращения плоскости поляризации служит одноосный кристалл. Схема опыта представлена на рис. 4.9. Поляризатор и анализатор установлены так, что они не пропускают излучения (скрещены). После введения пластинки кнарца толщиной d поле просветляется. Свет распространяется вдоль оптической оси [c.153]

При включении электрического тока внутри катушки возникает продольное магнитное поле и на экране наблюдается светлое пятно — свет от внешнего источника S проходит через скрещенные поляризаторы. Вращением анализатора Р2 можно убедиться, что в данном случае действительно плоскость поляризации поворачивается на некоторый угол ср. При повороте анализатора на угол ф свет не проходит через систему. Угол ф пропорционален напряженности магнитного поля Явнеш и пути света I в исследуемом веществе [c.161]

После прохождения анали )атора. пои- р-нутого на угол / относительно поляризатора, амплитуды этих компонент станут мен1.п1е эти амплитуды изображены отрезками OF и OG длиной [c.207]

Обычно в опытах подобного рода изучают не интенсивность или oKpa i y света, выходящего из системы, а наблюдают изменение интерференционной картины. Для этого необходимо осветить кристаллическую пластинку, помещенную между двумя Николями, непараллельным пучком света и спроецировать линзой картину на экран. В проходящем свете наблюдаются интерференционные полосы, соответствующие постоянной разности фаз. Их форма существенно зависит от взаимной ориентации поляризаторов и оси кристаллической пластинки. [c.208]

Интерференционную картину с большим количеством полос можно наблюдать при освещении кристаллической пластинки сильно сходшцимся пучком света. Для этого после поляризатора устанавливают короткофокусную линзу (рис. 5. 2г ),а). Возникающие интерференционные полосы удобно наблюдать не на весьма удаленном экране, а в фокальной плоскости проецирующей линзы, помещенной между кристаллической пластинкой и анализатором. [c.208]

Смотреть страницы где упоминается термин Поляризатор : [c.434] [c.156] [c.158] [c.517] [c.287] [c.288] [c.301] [c.36] [c.116] [c.116] [c.118] [c.119] [c.119] [c.120] [c.121] [c.154] [c.206] [c.206] [c.206] [c.207] [c.208] [c.209]

Теория упругости (1975) -- [ c.163 ]

Лабораторный практикум по сопротивлению материалов (1975) -- [ c.131 ]

Введение в фотомеханику (1970) -- [ c.36 ]

Микроскопы, принадлежности к ним и лупы (1961) -- [ c.16 ]

Сопротивление материалов (1959) -- [ c.357 ]

Оптический метод исследования напряжений (1936) -- [ c.0 ]

Оптика (1985) -- [ c.275 ]

Дифракция и волноводное распространение оптического излучения (1989) -- [ c.178 ]

Теория упругости (1937) -- [ c.141 ]

Техническая энциклопедия Том17 (1932) -- [ c.287 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.398 ]

Справочное руководство по физике (0) -- [ c.287 , c.376 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...