Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Рельефный метод

Метод одностороннего косого освещения отличается от предыдущего тем, что ось освещающего пучка расположена под углом по отношению к оптической оси микроскопа. Такое освещение подчеркивает контуры объекта за счет образования теней и придает им кажущуюся рельефность. Метод бывает полезен при наблюдении объектов с недостаточной контрастностью. Косое освещение достигается благодаря смещению апертурной диафрагмы конденсора от оптической оси микроскопа. Эксцентричное положение диафрагмы можно наблюдать в выходном зрачке объектива при вынутом окуляре.  [c.20]


Граница раздела между двумя средами деформируется поступающей туда звуковой волной. Этот эффект используется при рельефном методе для получения изображения поля ультразвуковых волн (рис. 13.1).  [c.293]

Рис. 13.1. Рельефный метод (схема) Рис. 13.1. Рельефный метод (схема)
Голографический рельефный метод  [c.316]

Практическое значение приобрел только голографический рельефный метод (рис. 3.14), функционирование которого при формировании изображения (не голографического) уже пояснялось выше (см. 13.1 и 13.13.).  [c.316]

Недостаточная осевая разрешающая способность характерна и для описанного выше голографического рельефного метода. Поэтому и при нем в случае практического применения приходится отказаться от размера в глубину.  [c.319]

Выше уже отмечалось, что основными причинами, снижающими эффективность тепловых процессов, являются трение и теплообмен при конечной разности температур. Вредное влияние трения не нуждается в пояснениях. Чтобы рельефнее представить вредное влиянне неравновесного теплообмена, а заодно продемонстрировать разницу между методами балансов эксергии и теплоты, рассмотрим передачу теплоты от одного теплоносителя к другому, например, от продуктов сгорания топлива к воде и пару в паровом котле.  [c.57]

После образования первичной окисной пленки дальнейшее окисление образца затруднено, так как оно ограничивается скоростью диффузии кислорода или металла через пленку. Кроме того, этому препятствует и обязательное в данном методе ускоренное охлаждение. Поэтому ни последующие изменения в исходной структуре, ни полиморфное превращение, направленное на получение конечной структуры основы, не искажают полученной рельефной цветной картины.  [c.182]

При дальнейшем развитии методов и средств высокотемпературной металлографии было показано, что поскольку интегральные свойства реальных поликристаллов определяются свойствами отдельных зерен и их границ, между которыми существуют отклонения, то неравномерность протекания деформационных процессов в различных элементах структуры также приводит к изменению рельефности поверхности образца. Благодаря этому создается контраст изображения в световом микроскопе и появляется источник информации об особенностях поведения поликристаллического агрегата в условиях теплового воздействия и механического нагружения [2].  [c.5]


Таким образом, результативность и достоверность методов тепловой микроскопии и, в частности, высокотемпературной металлографии, в значительной мере определяется факторами, оказывающими влияние на формирование геометрического профиля поверхности исследуемого образца во-первых, средой и условиями испытания, обусловливающими ту или иную степень полноты отображения процессов, характерных не только для поверхностных слоев, но и для внутренних объемов исследуемых материалов и, во-вторых, исходной рельефностью микрошлифа, зависящей от способа его приготовления и выявления структуры образца.  [c.5]

Поскольку для металлических материалов сопротивление определяется мгновенными условиями нагружения (скоростью пластического деформирования) и мгновенной структурой материала в момент регистрации напряжений, влияние истории нагружения связано с изменением структуры материала в зависимости от процесса предшествующего нагружения. В связи с этим интегральные наследственные уравнения можно рассматривать как удобный метод аппроксимации экспериментальных данных путем выбора параметров ядра (чаще всего используются ядра типа Абеля или дробно-экспоненциальные функции), обеспечивающих удовлетворительное соответствие экспериментальным данным. Этим объясняется непригодность таких уравнений для описания процессов деформирования с резким изменением скорости, которые дают наиболее рельефное проявление Б экспериментальных исследованиях чувствительности материала к истории предшествующего нагружения [50].  [c.48]

Метод накатывания сеток с помощью тангиров основан на использовании широко применяемых в полиграфической промышленности тангирных сеток. Тангир представляет собой тонкую желатиновую пленку, натянутую на деревянную раму. На поверхности тангиров нанесен рельефный рисунок сетки. База такой сетки может быть любой, нижний предел достигает 0,15 мм. Толщина линий находится в пределах 0,02—0,06 мм. Тангир покрывают тонким слоем типографской краски с помощью валика, изготовленного из желатина. Сначала краску наносят тонким слоем на специальную зеркальную поверхность, затем этот слой раскатывают валиком. Валик покрывается ровным слоем краски, которую и переносят на тангир. Благодаря большой эластичности желатина тангир также покрывается весьма равномерным слоем краски. Далее тангир накладывают рельефной стороной на исследуемую поверхность модели и притирают другим упругим валиком. Рисунок с тангира переходит на поверхность модели. Используя медленно сохнущие типографские краски, можно получить делительные сетки, которые сохраняют пластичность в течение нескольких месяцев. Накатанные сетки деформируются вместе с образцом, сохраняя непрерывность и четкость линий при любой степени деформации. Метод тангиров можно применять только для полированных плоских поверхностей. Недостаток метода в трудоемкости процесса накатывания и большой чувствительности его к фиксированию положения тангира и модели. Этот метод требует специального оборудования.  [c.39]

При конструировании сварных заготовок деталей очень рельефно выступает еще одно преимуш,ество метода сварки, заключающееся в том, что нет необходимости при создании конструктивных форм заготовок деталей учитывать возможность заполнения формы расплавленным металлом и усадку металла при затвердевании.  [c.341]

Молибден и другие тугоплавкие металлы (в частности, вольфрам) обычно испаряют электронно-лучевым нагревом в условиях глубокого вакуума (10 —10- мм рт. ст.). Метод вакуумного напыления имеет следующие недостатки 1) большие потери, напыляемого металла 2) загрязнение покрытия остаточными газами в камере и в исходном металле 3) трудность нанесения толстых покрытий тугоплавких металлов из-за низкой летучести и малой скорости испарения осаждаемого металла 4) сложность нанесения равномерных по толщине покрытий на подложки с рельефной поверхностью 5) недостаточная термическая стабильность покрытия из-за большого различия в температурах зон конденсации и испарения 6) невозможность получения текстурированных покрытий из-за сложности регулирования режима осаждения 7) недостаточная адгезия покрытия 8) пористость покрытия. Вследствие этих недостатков данный метод нанесения молибденовых и вольфрамовых покрытий широко не применяется.  [c.106]


Высокоэнергетические импульсные методы листовой штамповки. При гидровзрывной штамповке энергия взрыва передается заготовке через ударную волну и движение гидропотока. Передающей средой может быть жидкость, сыпучая, вязкая или твердая среда. Деформируемые листовые или трубчатые заготовки можно подвергать пробивке, вытя кке, рельефной формовке, раздаче, обжиму, отбортовке и др. (рис. 47). Возможно также формообразование при нагреве заготовки передающей средой (песком). Для взрыва используют бризантные и метательные взрывчатые вещества. Взрыв можно производить в стационарном или съемном (разовом) бассейне. Для формообразования используют один инструмент — матрицу или пуансон для вытяжки и рельефной формовки — матрицу для обжима — пуансон.  [c.166]

В электронике Ф. используется для формирования рельефного рисунка в слое металла, диэлектрика или полупроводника с применением фоторезистов и источников УФ-излучения в процессе изготовления интегральных схем и др. электронных устройств. В зависимости от требуемого размера элементов интегральных схем применяют контактную (при низком разрешении) или проекционную (при высоком разрешении) Ф, Проекционная Ф. обеспечивает создание сверхбольших интегральных схем типа дина-мич. оперативных запоминающих устройств ёмкостью до 64 Мбит и более при использовании наиб, коротковолнового УФ-излучения эксимерных лазеров (>.я=193 нм). При этом предельные мин. размеры элементов сверхбольших интегральных схем, получаемых методом Ф.. практически ограничиваются интерференцией и дифракцией света и достигают 0,35 мкм.  [c.350]

С помощью контактной сварки можно изготавливать стыковые соединения методами оплавления или сопротивления и нахлесточные соединения — методами точечной, рельефной или шовной контактной сварки (рис. 1.7). т  [c.12]

Рельефность травления совершенно необходима. При исследовании двухфазных сплавов несомненные преимущества имеют способы травления, применяемые при фазовом анализе для количественного разделения фаз сплава. Эти способы обеспечивают рельефность травления и облегчают толкование возникающего рельефа, так как позволяют надежно судить о происхождении выступов (нерастворимая фаза сплава) в рельефе. Эти способы обязательны при использовании полупрямого метода исследования структуры.  [c.37]

Авторы предпочли другой подход, в котором дифракционный элемент рассматривают как бесконечно тонкий транспарант с особым образом заданным амплитудным коэффициентом пропускания. Во-первых, такое представление ДОЭ достаточно реально отражает условия его работы дифракция света на рельефно-фазовых структурах, изготавливаемых с помощью фотолитографического метода, происходит в пределах тонкого слоя толщиной не более двух длин волн. Во-вторых, оперируя с амплитудным коэффициентом пропускания, очень просто задавать асферические отклонения в структуре ДОЭ, тогда как при рассмотрении рефракционной линзы пришлось бы вводить асферические поверхности, что затрудняет расчет элемента. Конечно, реальные ДОЭ всегда представляют собой дифракционную структуру на поверхности стеклянной подложки конечной толщины. Общепринято, однако, рассматривать в качестве ДОЭ только структуру, на которой дифрагирует свет. Если же влияние подложки существенно, то реальный оптический элемент представляется как совокупность бесконечно тонкого ДОЭ и подложки как чисто рефракционного компонента.  [c.7]

МЕТОДЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЛЬЕФНО-ФАЗОВЫХ ДОЭ СО СТУПЕНЧАТЫМ ПРОФИЛЕМ  [c.200]

Прочитав эту главу, вы сможете строить типы поверхностей, которые принято относить к так называемым сетям. Поверхностные модели имеют большое преимущество перед трехмерными каркасными моделями они могут закрывать объекты позади себя и отбрасывать тень. Это существенно упрощает восприятие таких моделей. Кроме того, методы поверхностного моделирования позволяют создавать вполне реалистичные изображения объектов нерегулярной формы — рельефные карты и другие поверхности произвольной формы. На рис. 23.1 представлена поверхностная модель лампы.  [c.724]

Для того чтобы достичь высокой эффективности рельефных голограмм, поверхность делается блестящей и покрывается непрозрачным слоем хорошо отражающего свет металла, такого, как алюминий или золото. В этом случае дифракционную эффективность приходится определять численными методами, решая задачу о граничных значениях. С этой целью были составлены программы вычислений эффективности с помощью ЭВМ, причем полученные таким образом результаты хорошо согласуются с экспериментальными данными [4, 8]. В некоторых случаях рассмотренный тип поверхностной решетки может иметь почти 100% эффективность.  [c.641]

При необходимости получения гладких не рельефных изображений по данному методу процесс дубления не обязателен.  [c.154]

Ввиду высокой скорости процесса оптического сканирования рельефный метод работает в реальном масштабе времени. Он разработан для высоких частот (100—500 МГц) и доведен до промышленного применения (звуковой микроскоп, фирма Со-лоскан , США). Исследования в таком диапазоне частот можно называть ультразвуковой микроскопией (см. рис. 13.13).  [c.294]

Электромеханическая контактная) сварка может осуществляться несколькими способами, схемы которых показаны на рис. 18.1 а — точечная контактная сварка (для соединения листов, полос и пакетов листов общей толщиной до 30—35 мм) б — рельефная сварка (для одновременной сварки деталей в нескольких выступающих местах с небольшой суммарной площадью контакта) в — стыковая сварка (для соединения деталей, имеющ их форму стержня) г — шовная роликовая сварка (для выполнения непрерывных и прерывистых швов присоединении деталей толщиной до 4 мм). Контактная сварка осуществляется на специальных сварочр1ых машинах методом сопротивления.  [c.258]


В заключение кратко остановимся на основных методических вопросах. Сетки изготавливаются следующим образом грубые сетки с частотой линий примерно 3 мм изготавливаются на прозрачных пленках, которые наклеиваются на плексигласовую модель. Сетки средней частоты (около 8 мм ) можно нарезать на плексигласовых моделях на фрезерном станке. Сетки с высокой частотой — 10—12 мм и более (до 80 мм ) — изготавливаются фотометодами. Иногда они делаются на металлических подложках, с которых переносятся на модель подобно переводным картинкам. Эталонные сетки часто изготавливают на стекле. При изготовлении термостойких сеток сначала на модель наносят фотометодом сетку, а затем различными методами травления получают рельефную сетку на металле.  [c.63]

Хорошие результаты даёт рельефная сварка с предварительной горячей опрессовкой деталей (разработана ЦНИИТМАШ) [9]. При этом методе через детали, зaиiaтыe между контактными плитами машины, пропускается кратковременно ток, разогревающий выступы, которые под давлением припрессовываются к сопряжённой детали. Затем, не снимая давления, пропускают основной импульс сварочного тока. Плотное прилегание деталей по всем выступам обеспечивает равномерное распределение между ними сварочного тока и одинаковый провар во всех точках.  [c.376]

Чтобы воспроизвести изображение на поверхности металлической пластины, выполняют негативное изображение на кальке пли фотопленке, на металлическую пластинку наносят светочувствите 1Ьный слой и методом контактной печати получают па ней позитивный отпечаток. Вытравливая затем незасветленные части светочувствительной эмульсии, гюлучают рельефное изображение на поверхности металлической пластинки.  [c.570]

При прикреплении фирменных дощечек ставится дополнительная метка вместе с серийным номером. Этот метод обладает еще одним до некоторой степени ограниченным достоинством маркировка прибора сохраняется и в тех случаях, когда фирменные дощечкн сняты или переставлены. Хотя последний метод приемлем для сложных изделий, все же лучше, если таким изделиям присваивается постоянный серийный номер в начале сборки при этом номер должен быть изображен рельефно и четко. Это сведет к минимуд у вероятность ошибок.  [c.175]

В методе Дифференциального интерференц. контраста (ДИК) обе волны проходят через один и тот же объект с небольшим боковым смещением. Наиб, распространение получил вариант ДИК по Номарскоыу, в к-рои разделение и сведение пучков производятся в поляризов. свете с по.мощью спец, двоякопреломляю-щих призм, установленных соответственно перед конденсором и после объектива. Величина разведения пучков выбирается близкой к разрешающей способности микроскопа, чтобы не было за.метно двоение изображения. Изображение в ДНК отражает градиент разности оптич. пути в объекте в направлении раздвоения. Получаемое цветное изображение рельефно в нём, так же как и в предыдущем случае, отсутствуют ореолы. Благодаря тому, что оба интерферирующих пучка проходят через одни и те же оптич. элементы, устройства, реализующие ДИК, просты и удобны в обращении.  [c.146]

Трудности интерпретации Р(и,и,ш) связаны с тем, что среди пиков этой ф-ции необходимо распознать пики одного изображения структуры. Максимумы ф-ции Патерсона существенно перекрываются, что ещё более осложняет её анализ. Паиб. прост для анализа случай, когда исследуемая структура состоит из одного тяжёлого атома и неск. значительно более лёгких атомов. В этом случае изображение структуры в тяжёлом атоме рельефно выступает на фоне остальных пиков Р и,а,т). Разработан ряд методов систематич. анализа ф-ции межатомных векторов. Наиб, эффективными из них являются суперпозиц. методы, когда две или более копий Р(чуи,и)) в параллельном положении накладываются друг на друга с соответствующими смещениями. При этом закономерно совпадающие на всех копиях  [c.372]

Электроды и оправки для сварки методом сопротивления (RWMA, класс 3) Оправки и электроды для точечной, шовной, стыковой и рельефной сварки Выключагелн  [c.76]

Твердость. Различная твердость фаз часто может быть использована как дополнительное средство для их определения. Вообще при полировке следует избегать получения рельефа методами, указанными ниже, но этот эффект также может сл ужить полезным методом исследования. При применении соответствующей техники полировки одна из фаз может стать рельефной, а другая нет. Иногда очень ценные данные о твердости различных фаз может дать наблюдение ширины царапины на травленом шлифе. Например, может случиться, что в сплаве, содержащем три фазы — А, В и С, полированном и протравленном для выявления микроструктуры, на протравленной поверхности остались слабые царапины. Если ширина царапины остается почти неизменной по ширине при переходе т А в В, но царапины делаются заметно тоньше при переходе т А ъ С или из В в С, то эго указывает, что С намного тверже, чем А VI В.  [c.232]

Если две или несколько фаз сплава сильно различаются по твердости, то микроисследование часто бывает затруднено вследствие явления рельефности рельеф образуется при обычных методах изготовления шлифов. Это затруднение может быть значительно уменьшено применением специальных мето-  [c.241]

Микроскопическая металлографии для определения солндуса 194, 193 Микроскопическая металлография легкоплавких сплавов 240 Микроскопическая металлография преимущества 236 Микроскопическая металлография структур распада 220 Микроскопическаи металлография устранение рельефности 241 Микроскопическая металлография химически активных сплавов 239 Микроскопическая металлография хрупких сплавов 237 Микроскопическая металлография чувствительность 227 Микроскопическая металлография экспериментальные методы 221 Микроскопическая металлография электролитическая полировка и травление 243  [c.394]

Метод фазового контраста. Контрастность изображения рельефных структур может быть дополнительно повышена при использовании системы фазового контраста, имеющейся в некоторых металломикроскопах, или отдельной фазовоконтрастной приставки к микроскопу. Неровности поверхности шлифа создают разность фаз отраженных световых лучей, которая усиливается системой, состоящей из кольцевой диафрагмы 1 и фазовой пластинки 2 (рис. 1.6). Кольцевую диафрагму устанавли-  [c.27]

Удовлетворит, результаты получены при сварке бериллия методом сопротивления (точечной, рельефной, шовной, роликовой, стыковой), однако этот метод не выпшл из стадии лабораторных исследований.  [c.146]

Мысль о том, что дифракционные решетки можно получать голографическим способом, впервые высказал Ю. Н. Денисюк в 1962 г. С тех пор голографические решетки получают все большее распространение в спектральном приборостроении благодаря своим преимуш,ествам отсутствию духов (порядков, обусловленных нарушением периодичности), малого случайного светорассеяния, быстроты изготовления, дешевизны, меньшей трудоемкости. Естественно, что от голографических решеток сложнее добиться нужных дифракционных характеристик, чем в случае нарезной решетки, например типа эшёлетт, где геометрия просто определяет так необходимый оптикам угол блеска. Однако, как неоднократно отмечалось во многих работах, при меньшей, чем у нарезных решеток, дифракционной эффективности решетки, изготовленные голографическим методом, обеспечивают более высокое качество волнового фронта в рабочем порядке (гармонике). К тому же в последнее время появился ряд работ, в которых утверждается, что с использованием фоторезиста и определенных схем записи — восстановления голограмм — возможно получение рельефно модулированных решеток с заданным профилем, в том числе и эшелеттов.  [c.6]

Другой класс фоточувствительных материалов образуют фоторезисты, которые отображают информацию в виде рельефных картин. При освещении фоторезиста актиничным излучением в нем происходят химические изменения, приводящие к различной его растворимости для разных экспозиций. В зависимости от того, является ли обрабатываемый фоторезист негативным (или позитивным), проявитель с соответствующим растворителем способствует растворению либо неосвещенного, либо освещенного участка. Получающуюся картину поверхностного рельефа можно использовать для получения отражательных голограмм методом испарения металла, а также для копирования голограмм штампованием. В табл. 4 перечислены некоторые фоторезисты, выпускаемые промышленностью. Следует заметить, что в большинстве случаев толщина фоточувствительного слоя оказывается порядка микрометра. Существуют три типа процесса регистрации образование органической кислоты, поперечных фотосвязей (фотосшивок) или фотополимеризации мономера. Диапазон регистрируемых длин волн простирается от УФ-области спектра до 5000 А, причем для этого диапазона можно выбрать фоторезист, обладающий либо широкой, либо узкой полосой спектральной чувствительности. Для достижения предельного разрешения 250—1500 мм 1 необходима экспозиция около 10 Дж/см .  [c.305]


К трудностям, возникающим при склеивании деталей из ПМ, относят [37] незаинтересованность их изготовителей в проведении на стадии формования мероприятий, облегчающих соединение, а также наличие большого числа методов подготовки одного и того же материала. В литературе отмечают также предубеждение некоторых работников против клеевых соединений, обусловленное неинформиро-ванностью и отсутствием специальных знаний. Так, не совсем справедливым считают представление о склеивании как о сложном и дорогостоящем процессе [42]. Эксперименты в течение одного года по применению различных способов соединения по отношению к партии изделий в количестве 200 штук, относящихся к областям точной механики или электротехники, показали, что расходы на проведение процесса склеивания стальных и алюминиевых деталей выше (условный фактор стоимости 1,7) только расходов на контактную точечную сварку (фактор стоимости 1) и на рельефную сварку (фактор стоимости 1,3). Более высокий, чем для склеивания, уровень расходов характерен для различных видов клепки, выполнения винтовых и болтовых соединений, пайки твердым припоем и сварки в среде защитного газа. Высокая экономичность достигается при склеивании деталей типа вал-втулка (табл. 7.1).  [c.445]


Смотреть страницы где упоминается термин Рельефный метод : [c.191]    [c.293]    [c.22]    [c.481]    [c.220]    [c.134]   
Смотреть главы в:

Ультразвуковой контроль материалов  -> Рельефный метод



ПОИСК



Голографический рельефный метод

Методы изготовления рельефно-фазовых ДОЭ со ступенчатым профилем



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте