Коэффициент пропускания амплитудный

Изменение во времени коэффициента пропускания амплитудного модулятора возбуждает в каждой моде боковые составляющие, совпадающие по частотам с соседними аксиальными модами. Установление процесса синхронизации мод можно объяснить следующим образом при возбуждении с помощью накачки лазерной среды порог генерации достигается сначала на частоте vo, ближайшей к максимуму линии усиления. Поле этой моды модулируется амплитудным модулятором с частотой 6v, в результате чего возникают боковые составляющие с частотами vo 6v, имеющие определенные амплитуды и фазы. [c.134]

Рис. 5,4.1, График коэффициента пропускания амплитудной синусоидальной решетки

Рис, 5.4.3. График коэффициента пропускания амплитудной дифракционной решетки со скачкообразным изменением коэффициента пропускания [c.366]

Полученные результаты справедливы для решеток с равномерным пропусканием по щели. Если амплитудный коэффициент пропускания т непостоянен, то формула (6.49) может иметь другой вид. Так, например, интересный результат получается при дифракции света нй решетке с гармоническим пропусканием (рис. 6.38). [c.297]

Указание (см. рис. 14). Пусть на границе /—II амплитудный коэффициент отражения равен р, коэффициент пропускания т (для амплитуд), а на границе//—/— соответственно р и т. [c.870]

В зависимости от того, каким способом зарегистрирована интерференционная структура на светочувствительном материале, а именно в виде вариации коэффициента пропускания (отражения) света или в виде вариации коэффициента преломления (толщины рельефа) светочувствительного материала, принято также различать амплитудные и фазовые голограммы. Первые называются так потому, что при восстановлении волнового фронта модулируют амплитуду освещающей волны, а вторые — потому, что модулируют фазу освещающей волны. Часто одновременно осуществляются фазовая и амплитудная модуляции. Например, обычная фотопластинка регистрирует интерференционную структуру в виде вариации почернения, показателя преломления и рельефа. После процесса отбеливания проявленной фотопластинки остается только фазовая модуляция. [c.22]

Фотопластинка после обработки представляет собой диапозитив с амплитудным коэффициентом пропускания, пропорциональным экспозиции. В этом случае пропускание пластинки можно записать в виде [c.234]

В эллипсометрии, основанной на исследовании проходящего света, сравниваются поляризации падающего и проходящего света. Введя соответствующие коэффициенты пропускания и Г,, можно определить амплитудные и фазовые изменения [c.201]

Используемая для восстановления голограмма может быть освещена параллельным когерентным пучком света, падающим по нормали (рис. 112,6). При подходящем процессе фотообработки амплитудный коэффициент пропускания голограммы линейно связан с в уравнениях 5.11 и 5.12). Следовательно, амплитуда восстановленного волнового фронта определяется непосредственно правыми частями этих уравнений, если мы пренебрежем множителем, который не влияет на интерпретацию. Используя уравнение (5.11), получим [c.108]

Авторы предпочли другой подход, в котором дифракционный элемент рассматривают как бесконечно тонкий транспарант с особым образом заданным амплитудным коэффициентом пропускания. Во-первых, такое представление ДОЭ достаточно реально отражает условия его работы дифракция света на рельефно-фазовых структурах, изготавливаемых с помощью фотолитографического метода, происходит в пределах тонкого слоя толщиной не более двух длин волн. Во-вторых, оперируя с амплитудным коэффициентом пропускания, очень просто задавать асферические отклонения в структуре ДОЭ, тогда как при рассмотрении рефракционной линзы пришлось бы вводить асферические поверхности, что затрудняет расчет элемента. Конечно, реальные ДОЭ всегда представляют собой дифракционную структуру на поверхности стеклянной подложки конечной толщины. Общепринято, однако, рассматривать в качестве ДОЭ только структуру, на которой дифрагирует свет. Если же влияние подложки существенно, то реальный оптический элемент представляется как совокупность бесконечно тонкого ДОЭ и подложки как чисто рефракционного компонента. [c.7]

Во-первых, будем считать, что ДОЭ плоские и бесконечно тонкие. Тогда их можно охарактеризовать амплитудным коэффициентом пропускания [7] /( , т)), где , т) — координаты в плоскости элемента, а t—в общем случае комплексная функция. При этом, если на элемент падает монохроматическая волна, амплитуда которой в плоскости ДОЭ f/( , т)) = ехр /2яФ( , т)) Д (векторный множитель опущен), то амплитуда прошедшей волны в плоскости элемента f/ (g, т)) = (g, т)) f/(g, т)). [c.11]

Во-вторых, предположим, что амплитудный коэффициент пропускания t с помощью комплексной функции f/o( , т)) можно [c.11]

Теперь в соответствии с определением амплитудного коэффициента пропускания и разложением (1.4)—(1.5) поле дифрагированного света непосредственно за ДОЭ будет [c.12]

Устройства оптической обработки выполняют все необходимые вычислительные операции (свертка функций, дифференцирование, интегрирование и т. д.) на основе двух базовых — комплексного умножения и преобразования Фурье. В основе комплексного умножения лежит модуляция световой волны, проходящей через объект в виде транспаранта с заданным амплитудным коэффициентом пропускания. (Напомним, что именно на основе представления об амплитудном коэффициенте пропускания в гл. 1 был развит волновой подход в теории ДОЭ.) Операцию преобразования Фурье выполняет оптический фурье-анализатор, состоящий в простейшем случае из транспаранта с входным изображением и линзы (объектива) с положительной оптической силой [24]. Если транспарант освещает плоская монохроматическая волна, то его фурье-об-раз (спектр пространственных частот) формируется в дальней зоне в результате дифракции света на структуре транспаранта. Линза переносит спектр из бесконечности в свою фокальную плоскость, где он представляется в виде комплексной амплитуды волнового поля. [c.150]

Как было показано в гл. 1, дифракционная эффективность ДОЭ определяется видом зависимости амплитудного коэффициента пропускания t от эйконала записи дифракционного элемента Фо [см. выражения (1.5) и (1.3)]. Поскольку для анализа эффективности ДОЭ конкретный вид эйконала записи неважен, при иллюстрации полученных результатов будем считать его линейной функцией одной из координат в плоскости ДОЭ Фо == 2я /Г. При таком виде эйконала записи соответствующий дифракционный элемент представляет собой решетку с периодом Т с прямолинейными штрихами, параллельными оси т]. Простая дифракционная решетка — наиболее удобная модель в данном случае. [c.194]

Оптическая бистабильность может быть получена также в электро-оптическом амплитудном модуляторе, на кристалл которого подается сигнал обратной связи, пропорциональный интенсивности прошедшего света. На рис. 8.16 схематически показано, как действует такое устройство. Если поляризатор на входе ориентирован под углом 45° относительно главных осей кристалла, к которому приложено модулирующее напряжение, а анализатор на выходе скрещен с ним, то коэффициент пропускания этого амплитудного модулятора дается выражением (5.2.11) [c.325]

Дифракционная эффективность амплитудной голограммы зависит не только от коэффициента пропускания света голограммой Та и не только от модуляции коэффициента поглощения ka, но также и от числа дифрагированных пучков света, которое зависит от углов падения опорного и объектного пучков света. [c.193]

Матрицы Джонса наиболее употребительных в технике твердотельных лазеров элементов приведены в табл. 9. Первая строка таблицы не нуждается в комментариях — оптически изотропная среда изображается единичной матрицей Джонса. Матрицы для двух следующих элементов записаны в системе координат, совпадающей с их главными осями. Для частичного поляризатора (п. 2 табл. 9) Pi и р2 — амплитудные коэффициенты пропускания света, поляризованного в х и у направлениях идеальный поляризатор характеризуется значениями pi = 1, рг = 0. Линейная фазовая пластинка (п. 3 табл. 9) записана в такой форме, что ее медленная главная ось совпадает с х направлением набег фазы после прохождения через фазовую пластинку равен ф. [c.87]

Подставив амплитудный коэффициент пропускания (2.74) в соотношение (2.77), мы получим четыре члена, из которых первые два не содержат информации о фазе предметной волны и не описывают восстановленное голографическое изображение. Изображению соответствуют два последних члена, которые мы проанализируем каждый отдельно. Для примера возьмем третий член, которому соответствует амплитудное пропускание [c.45]

В течение времени экспонирования фотографическая пластинка получает энергию или экспозицию Е — 1х. После проявления амплитудный коэффициент пропускания Т фотопластинки пропорционален Е лишь при условии, что использовался линейный интервал на кривой Т = f E) (рис. 3.2), т. е. при условии, что Е отклоняется не на очень большую величину от своего среднего значения Ео. Это получают за счет придания двум волновым фронтам различных амплитуд интенсивность опорной волны должна быть приближенно постоянна на всей фотопластинке, тогда как интенсивность предметной волны должна быть гораздо меньше, т. е. [c.43]

Пусть тир — амплитудные коэффициенты пропускания и отражения при переходе волны из окружающей среды в плоскопараллельную пластинку (которая, в частности, может быть воздушным промежутком между зеркалами), а т и р — при переходе из пластинки в среду. Согласно формулам (3.12), [c.257]

Рассеиватель можно характеризовать амплитудным коэффициентом пропускания Ха х,у). Для простоты предположим, что отверстия расположены на вертикальной оси у, и поэтому зависимость 1/1 от X отсутствует ). При единичной интенсивности нормально падающей плоской волны рассеиватель создает оптическое поле с амплитудным распределением [c.188]

Отверстие, изображенное на рис. 5.22, можно описать амплитудной функцией (коэффициентом) пропускания вида [c.214]

Указание. Представить в комплексном виде падающую волну А exp(ifeja), волну внутри эталона В ехр (ikz) -Ь С ехр (—ikz) и волну, прошедщую через него, D ехр (ikiz). Если обозначить через ij, ij и Pi, Pj амплитудные коэффициенты пропускания и отражения зеркал эталона, то система уравнений для нахождения амплитуд В, С, D имеет вид [c.908]

Из последнего соотношения видно, что амплитудный коэффициент пропускания голографически записанного элемента действительно можно представить как функцию эйконала монохроматической волны, равного разности эйконалов, интерферирующих при записи волн. [c.12]

При компоновке схем объективов возникают ситуации, когда две ДЛ с известными характеристиками помещают в одну плоскость и их нужно заменить одним элементом. В этом случае, исходя из представления ДОЭ как бесконечно тонких структур, характеризуемых амплитудным коэффициентом пропускания (см. п. 1.1), нужно перемножить коэффициенты пропускания линз, а следовательно, просто сложить их эйконалы записи [см. выражение (1.3)]. Нет смысла подробно рассматривать это сложение, отметим -только, что если задний отрезок одной из ДЛ равен переднему отрезку второй (как это было в гл. 4.5), то оставшиеся два отрезка характеризуют составной элемент, а его коэффициенты асферической деформации равны суммам соответствующих коэффициентов ДЛ. [c.210]

Рис. 7.5 иллюстрирует также сам процесс амплитудной модуляции оптического сигнала. На модулятор обычно накладывают смещающее напряжение таким образом, чтобы создать фиксированную задержку Гд = х/2 и добиться коэффициента пропускания 50%. Этого смещения можно достичь, прикладывая напряжение V = VJ2 или, что более удобно, используя кристалл с естественным дзулучепреломлением (рис. 7.4) для создания разности фаз (задержки) между составляющими х иу, равной х/2. При этом ма- [c.261]

На рис. 1.1, а показана зависимость амплитудного коэффициента пропускания псевдоинверсного фильтра от координаты [c.148]

Пусть Г (I, т]) — комплексная функция, описывающая результат регистрации волнового поля голограммой. Это может быть либо амплитудный коэффициент пропускания оптической голограммы, зарегистрированной на фотоносителе, либо результат измерения синфазной и ортогональной к опорному сигналу компонент радиополя или акустической волны. В случае регистрации голограммы в дальней зоне распределение комплексной амплитуды поля Ъ (х, у) на объекте может быть найдено с помощью обратного Фурье-преобразования функции Г %, т]) [c.162]

Решая задачи подобного рода, удобно иметь дело не с истинной напряженностью поля внутри среды с показателем преломления пф I, 2l с величиной, в / раз большей. Тогда исчезают различия между коэффивд1ентами амплитудного пропускания волн, падающих на границу раздела с разных сторон (коэффициенты отражения, естественно, не изменяются) квадрат их обоих становится равным энергетическому коэффициенту пропускания. [c.135]

Действие амплитудных шумов выражается в том, что коэффициент пропускания при одинаковой экспозиции на всех участках материала Е х, у)=1(х, y)i= onst дает отклик S x, г/) 1—т(л , y)=7 = onst, причем каждая конкретная функция (реализация) х х, у) при одной и той же экспозиции Е х, y)= onst отличается от другой реализации, но так, что колебание случайных значений в любой точке х, у) происходит вокруг некоторого среднего значения т(л , у). Будем иметь в виду, что при одинаковом световом воздействии среднее значение данной реализации х х, у) при достаточно большом числе точек X, у равно среднему значению функции х х, у) при достаточно большом числе реализаций. Представим данную реализацию г(х, у) как сумму двух членов [c.73]

Простейшим амплитудным ПМС является фотопленка (фотопластинка), на которой подлежащий обработке сигнал записан в виде изменения коэффициента пропускания (полутоновая запись) или в силуэтной форме (бинарная запись). Фотопленка является неуправляемым ПМС однократного использования, требующим значительного времени на фотохимическую обработку. В подавляющем большинстве применений необходимо обрабатывать информацию в реальном времени, т. ё. в темпе ее ноступления. Для обработки информации оптическими методами в реальном времени нужны реверсивные регистрирующие среды или устройства, управляемые оптическими или электрическими сигналами, которые бы позволяли многократно и достаточно быстро записать, считать и стереть обрабатываемый массив данных и обладали бы не худшими характеристиками по чувствительности, разрешающей способности, динамическому диапазону, дифракционной эффективности. и др., чем фотопленка. Известные в настоящее врем% -виды реверсивных регистрирующих сред и ПМС с опти- ческим управлением рассмотрены в гл. 4. [c.200]

Встречное четырехпучковое взаимодействие. Рассмотрим приближение заданных интенсивностей пучков накачки. В этом случае, исходя из (3.23) и (3.24), получаем следующие выражения для амплитудных коэффициентов пропускания и ОВФ-отражения в случае записи одного типа решетки (пропускающей либо отражающей) и строго встречных пучков накачки [c.89]

Поместим предмет с амплитудным коэффициентом пропускания то(х, у ) непосредственно перед линзой (рис. 184) и направим на него плоскую -монохроматическую волну. На передней плоскости перед линзой образуется световое поле АоТо(х у ) = [c.238]

Фурье преобразование амплитуд между фокальными плоскостями линзы. Изложенные в предыдущем параграфе соображения показывают, что в процессе распространения волны распределение амплитуд в плоскости, перпендикулярной направлению распространения, претерпевает изменение от плоскости к плоскости. Последовательно применяя формулы, описывающие эти изменения, можно найти формулы преобразования распределения амплитуд между двумя любыми плоскостями. Можно также найти распределение интенсивностей в этих плоскостях. Связь между распределениями амплитуд в общем случае получается довольно сложной, а распределение интенсивностей ничем не похожи др>т на друга. Однако в определенных условияк связь между распределениями амплитуд оказывается достаточно. простой и сводится в своей существенной части к преобразованию Фурье. Ясно, что наиболее простые случаи следует рассмотреть в первую очередь. Затем будут рассмогрены условия, при которых распределения интенсивностей в двух плоскостях достаточно хорошо похожи друг на друга. В этом случае говорят о дифракционном образовании -изображения, поскольку все рассмотрение основывается на волновых понятиях без какого-либо обращения к лучам. Поместим плоский предмет с амплитудным коэффициентом пропускания Tq(Xo, > о) перед Линзой на расстоянии L (рис. 185) и направим на него плоскую монохроматическую волну. Па задней плоскости предмета образуется световое поле [c.239]

Амплитудная невзаимность резонатора представляет собой раз-носность коэффициентов пропускания но амплитуде собственных типов колебаний, распространяющихся в противоположных направлениях г = Л+ — А . Для этих собственных типов колебаний имеет место также невзаимный сдвиг собственных частот резонатора [c.109]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...