Локальный анализ

Микрохимическая неоднородность с большой степенью точности и локальности (пятно анализа 1...4 мкм) может быть определена существующими методами анализа. При этом глубина анализируемого слоя составляет 1...3 параметра кристаллической решетки. Иногда такого анализа бывает достаточно, чтобы судить об эксплуатационных свойствах сварного соединения. Однако в ряде случаев, например при определении степени граничной неоднородности аустенитных зерен, локальность анализа может оказаться недостаточной. В этом случае представление о степени химической неоднородности можно получить, применяя аналитические методы расчета. [c.464]

Локальность анализа зависит от диаметра электронного зонда, плотности вещества (или от атомного номера) и предельной чувствительности прибора. При рентгеновском микроанализе объем анализируемой зоны объекта имеет размер несколько больший, чем диаметр электронного зонда. Этот эффект обусловлен рассеянием электронов в объекте, рентгеновской флюоресценцией под воздействием характеристического излучения и флюоресценцией иод воздействием излучения с непрерывным спектром. Влияние эффекта расширения анализируемой зоны значительно уменьшается при исследовании тонких фольг. [c.496]

Определение типов облаков, сплоченности облачного покрова и температуры верхушек облаков осуществляется с использованием аппаратуры и космических аппаратов дистанционного зондирования, приведенных в табл.1.9. В большинстве случаев требуемое пространственное разрешение составляет 1 км (глобальный анализ) и 150 м (локальный анализ), а необходимая точность измерения температуры — 1 К (для Т >230 К) и 0.5 К (для Т >273 К). [c.31]

Исследования малых объемов веществ (до 0,01—0,001 мм ), позволяющие производить локальный анализ биологических объектов, приэлектродных слоев и т. д. [c.10]

В принципе возможно получение твердого раствора с концентрацией, превышающей максимальный предел равновесной растворимости. Однако подобное пересыщение твердых растворов в сплавах систем Al-Si, Al-Mg и других возможно только при сверхвысоких скоростях охлаждения в процессе кристаллизации. При литье в кокиль, предварительно подогретый до 200—250 °С, указанное пересыщение практически исключено, так как скорость охлаждения при этом сравнительно невысока. Диаметр области возбуждения рентгеновского излучения во-время исследования составлял 2—3 мкм. Локальность анализа за счет взаимодействия электронов с веществом по поверхности и глубине не превышала 5 мкм. Чувствительность прибора данного класса 10 —10 г [40 при точности 1—4 %, зависящей от определяемой концентрации. Дальнейшую обработку результатов измерений проводили на ЭВМ, входящей в состав микроанализатора. [c.33]

Локальный анализ. Измерение толщины покрытий [c.60]

При использовании разрушающих методов локального анализа источниками существенных погрешностей могут быть операции химического и электрического растворения поверхностных слоев или их участков (например, границ между зернами, включений) и последующие (концентрирование и разделение элементов и др.). Значение аналитического сигнала мо- [c.60]

С учетом возрастающего значения локального анализа, перспектив дальнейшего применения и его особенностей важно удовлетворить потребности в соответствующих СО. Первоочередными являются те, которые необходимы радиоэлектронной промышленности и отраслям, обеспечивающим ее материалами, а также многочисленным отраслям, для деятельности которых важен контроль состава поверхностных слоев, образуемых средствами электрохимической, термодиффузионной и других технологий. [c.61]

Поскольку исследуемый элемент лучше растворим в жидкой фазе, он начнет переходить из поверхностных слоев твердой фазы в жидкую, причем твердая фаза будет обедняться им, а жидкая обогащаться до тех пор, пока на границе не установятся равновесные соотношения концентраций. В связи с тем, что вблизи линии сплавления твердая фаза обеднена элементом, в глубинных слоях металла возникнет направленный к поверхности раздела диффузионный поток элемента (рис. 98). Одновременно от жидкого слоя, имеющего повышенную концентрацию элемента, в глубь жидкой фазы будет идти противоположный диффузионный поток Ф. . При достаточно быстром охлаждении образца неравномерное распределение элемента, показанное на рис. 98, может быть зафиксировано и установлено спектральным локальным анализом. [c.212]

Кроме того, фотографический метод применяется для анализа алюминиевых сплавов, сплавов на никелевой основе, чистых металлов на примеси, шлаков, руд, минералов, для локального анализа металлов — послойного, причем глубина анализируемого слоя при специально подобранных условиях может ие превышать 5 мк, и точечного, когда анализу подвергаются площадки диаметром 0,02—0,03 мм. Точный анализ некоторых сплавов на медной ос- [c.281]

При выяснении механизма кристаллизации модифицированных чугунов необходимо изучить характер распределения модификаторов в структуре отливок и в первую очередь в шаровидных включениях графита. В последнее время для этого используют новейший метод в области локального анализа — электронное зондирование. Метод основан на рентгеноспектральном анализе участков поверхности 0 0,5—Ъ мкм, рентгеновское излучение которых возбуждается электронным пучком небольшого диаметра [1 ]. [c.91]

Основная тема второй части книги — взаимосвязь между локальным анализом вблизи отдельной (например периодической) орбиты и сложностью структуры орбит в целом. Эта взаимосвязь изучается с помощью таких понятий, как гиперболичность, трансверсальность, глобальные топологические инварианты, а также с помощью вариационных методов. Набор методов включает анализ устойчивых и неустойчивых множеств, бифуркаций, исследование индекса и степени и построение орбит как минимумов и мини-максов функционалов действия. [c.12]

Идеальная ситуация для применения локального подхода возникает в случае. когда первоначальная орбита периодична, т. е. f" Xf ) = х . Тогда последовательность дифференциалов также периодична и главная роль в понимании локального поведения отображения принадлежит итерациям одного линейного оператора который представляет инфинитезимальное поведение близлежащих орбит на протяжении периода. В частности, собственные значения этого оператора играют решающую роль в понимании локального поведения отображения в окрестности точки См. анализ линейных отображений в 1.2 и локальный анализ нелинейных отображений в окрестности периодических точек в 6.3 и 6.6. Для непрерывных динамических систем роль дифференциала играет вариационное уравнение, правая часть которого представляет собой инфинитезимальную образующую однопараметрической группы дифференциалов отображений, порождающих поток. [c.29]

Хотя предмет локального анализа — изучение относительного поведения близлежащих орбит либо, в случае окрестности периодической орбиты, поведения орбит или их частей, пока они остаются достаточно близко к периодической орбите, главная цель теории гладких динамических систем состоит в том, чтобы понять глобальное поведение нелинейных отображений. Иногда локальный анализ играет решающую роль в глобальных рассмотрениях. Это случается, например, если периодическая точка является аттрактором, т. е. близкие орбиты асимптотически приближаются к ней со временем (см. 1.1 и 3.3). В более общей ситуации мы можем пытаться локализовать определенные части фазового пространства, которые играют особенно важную роль при изучении асимптотического поведения, и исследовать орбиты внутри этих частей или вблизи их. Может также оказаться, что при исследовании конкретной проблемы, представляемой динамической системой, орбиты с определенными начальными условиями представляют особый интерес. [c.29]

ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ И РОСТ ОРБИТ ГЛАВА 6 [c.243]

Конечно, гиперболическая периодическая точка диффеоморфизма / периода п является гиперболической неподвижной точкой для и наоборот. Следовательно, для целей локального анализа обычно достаточно рассматривать только гиперболические неподвижные точки. [c.245]

Распространить локальный анализ, данный в главе 6 (теория существования, продолжение решения при увеличении сил, анализ методов приращений), на (существенно) смешанные задачи с граничными условиями на перемещения и напряжения. [c.11]

Обычные общепринятые методы спектрального анализа наряду с большими достоинствами имеют и недостатки. К ним относится так называемое влияние третьих компонентов. Затруднен анализ тугоплавких илн непроводящих веществ (алмазы, рубины, ферриты и т. д.). Методы локального анализа вещества без порчи поверхности изделия также неосуществимы. Какая-то доля вещества должна сгореть в электрической искре или дуге. [c.79]

Рентгеновский микроанализ (локальный анализ) участков пробы 1—-3 мкм выполняют с помощью электронного зонда в микроанализаторе. Электронный зонд формируют с помощью электростатич. и магн. фокусировки до сечения диам. 1 мкм. Анализ осуществляют по рентг. излучению образца, к-рое разлагают в спектр с помощью рентг. спектрометра, В этой методе вводят поправки на Z определяемого элемента, поглощение его излучения в пробе и его флуоресценцию, возбуждаемую тормозной компонентой излучения и характеристич. излучениями др. элементов в пробе. Микроанализ применяют при исследованиях взаимной диффузии 2- и 3-компонентных систем, процессов кристаллизации, локальных флуктуациях состава сплавов и т. д. [c.379]

Методами дифракции электронов может быть осуществлено полное исследование атомного строения твёрдого тела. Основы этой т. н, электронной кристаллографии заложены учёными Москвы. Сочетание микродифракции электронов с электронной микроскопией атомного разрешения открыло принципиально новые возможности локального анализа атомного строения и исследования реальной структуры кристаллич. вещества. Фурье-преобразо-вание данных эксперимента позволяет вычислить фазы структурных амплитуд, к-рые могут быть приписаны определяемым по дифракц. картине модулям структурных амплитуд. Зная модули структурных амплитуд и фазы, можно построить пространств, распределение потенциала в исследуемом кристалле. [c.585]

ПЭМ ВР становится важным инструментом и в исследовании поверхности твердых тел, особенно наноструктурных материалов, где возможности традиционных методов анализа поверхности, таких как сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) и др., ограничены. Совсем недавно ПЭМ ВР хорошо себя зарекомендовала для локального анализа тонкого приповерхностного слоя наноматериалов. Так, в основе субплантационной модели роста -BN лежит гипотеза о том, что на поверхности растущего -BN образуется монослой л/ -связанного BN. Для проверки этой гипотезы были выполнены исследования структуры приповерхностного слоя -BN с помощью ПЭМ ВР на поперечных срезах [3]. Установлено, что верхний слой пленки содержит чистый -BN, что свидетельствует о послойном гомоэпитаксиальном росте -BN. [c.502]

Это досадное обстоятельство не отражается, однако, на вполне плодотворном энтузиазме разных групп исследователей в выяснении причин разрушения и создании методов оценки свойств материала и методов расчета конструкций из него изготовленных. К сказанному примешивается то обстоятельство, что создаваемые модели разрушения, как правило, концентрируют свое внимание на определенном, но одном уровне явления, в то время, как явление разрушения представляет собой иерархический процесс (каждый уровень которого имеет свою геометрическую и масштабную структуру), при котором одновременно происходят деградируюш,ие процессы. Отсюда, собственно, и следует упомянутое выше противопоставление методов исследования. Возможно, возникновение по-следуюш,их иерархических уровней явления разрушения, происходят в связи с нарастанием величины глобальной деформации (измеряемой по перемеш,ениям точек на поверхности тела). Принадлежность модели разрушения тому или иному уровню происходяш,его явления позволяет оценить границы применения соответствуюш,его критерия, совместно, конечно, с сопоставлением результатов расчета по данному критерию с другими. Сопоставление результатов расчета с экспериментом требует тш,ательного анализа во избежание скороспелых и неправильных выводов. Ориентировочно критерии разрушения можно разбить по степени локальности анализа — микрострук-турная механика и физика дефектов (описывает главным образом, процесс зарождения треш,ин), затем промежуточная область между микро и макро подходами, так называемые короткие трептиньт, которые имеют свою специфику развития и, наконец, магистральные [c.73]

В последние годы выявились новые возможности метода локального рентгеноспектрального анализа, связанные с открытиями новых эффектов при взаимодействии электронов с кристаллическим веществом. Разработано много новых локальных физических методов исследования и анализа, в которых используют информацию, получаемую при исследованиях характеристических рентгеновских и электронных спектров, спектров вторичных и первично рассеянных ионов. В отличие от способа локального рентгеноспектрального анализа все эти методы имеют высокую локальность лишь в одном измерении (по глубине) это методы вторичной ион-ионной эмиссии, рентгенофотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и др. Перечисленные методы позволяют проводить локальный анализ тонких слоев толщиной 0,2—4 нм с целью количественного элементного анализа, определения валентного состояния атомов на поверхностях соединений, сплавов, получения сведений о распределении электронных состояний по энергиям [1, 63]. [c.84]

Обратимую отпускную хрупкость исследуют уже много десятилетий, однако интерес к этой проблеме не снижается. В последние годь) представления о закономерностях обратимой отпускной хрупкости получили значительное развитие. Это обусловлено, с одной стороны, появлением новых экспериментальных методов локального анализа химического состава приграничнь1х зон зерен, а с другой — большим практическим значением отпускной хрупкости в связи с возросшим уровняем требований, предъявляемых к сопротивлению хрупкому разрушению массивных крупногабаритных деталей ответственного оборудования. [c.4]

Необычное поведение волчка тип-топ (или китайского волчка) привлекло внимание механиков еш,е с прошлого века. В середине XX века этот объект снова стал предметом оживленной полемики в литературе. Только в промежуток с 1952 по 1956 г. ему посвяш,ено около пятнадцати публикаций различных зарубежных авторов, исследования которых позволили идентифицировать трение скольжения как основную причину, вызываюш,ую подъем центра тяжести волчка. Однако во всех публикациях приводились либо качественные соображения, либо результаты локального анализа, пригодные лишь на коротких временах движения. В послеяуюптие годы к этим работам добавилось около десятка публикаций. В 1963 г. вышла работа Контенсу 4], в которой поставлена задача об устойчивости враш,ения волчка вокруг вертикальной оси симметрии в линейной постановке. Хотя здесь [c.345]

Микрорентгеноспектральныи локальный анализ закаленных образцов и образцов, дополнительно подвергнутых ШОО-ч отпуску при 450° С, показал, что в феррите содержится 23—23,5% Сг н 4% N1, а в аустените 19—20% Сг и 7% Ы . Количество титана в обеих фазах было одинаковым и составило около 0,2% в стали 0Х22Н5Т. [c.187]

Все эти рассуждения приводят к полулокальному подходу, который находится между локальным анализом и глобальным изучением системы в целом. А именно, пусть М — гладкое многообразие (не обязательно компактное), и а М — открытое подмножество многообразия М и Ас и — компактное множество. Пусть, кроме того, и - М — гладкое отображение, которое оставляет множество Л инвариантным. Нас может интересовать поведение орбит системы на самом множестве Л или вблизи него. Локальный инструмент этого анализа—дифференциал П/, суженный на ограничение касательного расслоения Т М = у Т М. [c.29]

До СИХ пор мы рассматривали локальный подход, основанный на предположении, что линеаризованная система служит моделью локального поведения нелинейной системы, таким образом подразумевая, что нелинейные члены создают неприятное возмущение, которое должно находиться под нашим контролем. Естественный следующий шаг в локальном анализе — попытаться рассмотреть члены более высокого порядка (по сравнению с линейными) более систематическим и специфическим способом и попробовать более точно определить, до какой степени их влияние должно приниматься во внимание и нельзя ли его просто игнорировать. Мы рассматриваем эту проблеи в 6.6. И вновь гиперболическая периодическая орбита наиболее удо на для такого анализа. Определяющими явлениями здесь служат некоторые резонансы между собственными значениями линеаризованного отображения. Их присутствие или отсутствие определяет, какие члены более высокого порядка должны приниматься во внимание. В негиперболическом случае этот анализ преимущественно формален, т. е. он может быть проведен только с точностью до членов (произвольно) высокого порядка, в то время как в гиперболическом случае такой анализ дает гладкое сопряжение. [c.245]

Большие и интересные возможности для локального анализа таит в себе окрестность точки торможения. Направление, основанное на предположении о постоянстве плотности, представлево в 6. Даны решения задач обтекания сферы и кругового цилиндра. Методы, связанные с разложением по координатам, оставлены до ГЛ.Ш. [c.27]

Возможно использование других итерационных сглаживающих процедур таких, как метод Гаусса — Зейделя, последовательной верхней релаксации, сопряженных градиентов и др. В сравнении с простой итерацией и тривиальным выбором параметров т = Ijd они дают, естественно, более высокую скорость сходимости, что можно аналитически вьтести из локального анализа Фурье [100]. Но при оптимальном вь1боре параметров Т по формулам (2.26) и (3.38) алгоритмы А и не уступают по эффективности алгоритмам с перечисленными выше итерационными процессами, посколь- [c.211]

За последние годы в оптическом приборостроении в значительной степени возросла роль зеркальных и зеркально-линзовых систем в связи с развитием инфракрасной техники, высокотемпературной металлографии, растровых электронных микроскопов — микроанализаторов, микроскопов для микроспектрального локального анализа, ультрафиолетовой микроскопии и т. д. [c.130]

На рис. У.95 приведен объектив, рассчитанный для микроспектрального локального анализа с помощью лазерного излучения (Я, = 1060 нм). [c.239]

Учитывая, что диффузионные слои представляют собой объекты трудные для анализа, поскольку содержание хрома постепенно меняется с глубиной, мы избрали для определения содержания хрома в диффузионных слоях спектральный метод анализа, поставив главной задачей выполнение локального анализа в возможно тонком поверхностном слое, а также исследование распределения хрома с глубиной. Спектральный метод анализа хрома в диффузионном слое разработан в Физическом институте Академии Наук СССР Ф. С. Барышан-ской Сущность методики сводится к воздействию слабой искры на большую поверхность изучаемого электрода. Исследуемый образец ставился в металлическую оправу, укрепленную на оси электромоторчика и вращался со скоростью 3000 об/мин. Вторым электродом служил пруток из углеродистой стали, расположенный против изучаемой поверхности. Режим контура (трансформатор 150/14 000 V, С = 0.003 лр, / = 30 витков) [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...