Объективы зеркальные

Разделение коэффициентов аберраций 3-го порядка в системах типа А. Как известно, оптический расчет объективов микроскопа распадается на две стадии. На первой стадии стараются получить такую систему, которая имела бы малые значения коэффициентов аберрации 3-го порядка. На второй стадии с помощью тригонометрического расчета или ЭВМ определяют действительные значения аберраций, влияние на них различных конструктивных элементов системы. Целесообразно на первой стадии разработки объективов с большой апертурой вычислить коэффициенты аберраций не только 3-го, но и 5-го порядка. Система с малыми значениями этих коэффициентов требует минимального улучшения с использованием ЭВМ. Соблюдение условия заданной величины 0 приводит сначала к самостоятельному исследованию зеркальных систем. Поэтому анализ и расчет объективов в области аберраций 3-го порядка производились методом разделения коэффициентов аберраций по компонентам и укомплектования последних в общую систему. К таким самостоятельным компонентам независимо от их сложности отнесены фронтальная часть объектива, зеркальная и дополнительная системы. Так как конструкции объективов типа А и типа В в принципе отличны друг от друга, то их анализ производился отдельно. [c.209]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

Весьма удачным решением задачи получения превосходных в оптическом отношении и сравнительно недорогих систем являются смешанные системы, где зеркальная оптика сочетается с линзовой, приводя к весьма полному устранению ряда вредных аберраций. Наиболее совершенной системой этого рода являются менисковые системы Д. Д. Максутова (рис. 14.19), где отражательное сферическое зеркало В сочетается с мениском М (см. 77), также ограниченным сферическими поверхностями. Применяя соответственно рассчитанный мениск так, чтобы его аберрации компенсировали аберрации зеркала, удается получить систему, главные аберрации которой во много раз меньше соответствующих аберраций линзовой системы того же относительного отверстия. Так, по данным Д. Д. Максутова, при относительном отверстии 1 5 у менисковой системы сферическая аберрация меньше в 11 раз, кома — в 11 раз, сферохроматическая аберрация — в 124 раза, вторичный спектр — в 640 раз и хроматизм увеличения — в 3,8 раза, чем у эквивалентного линзового объектива. Эти огромные преимущества в соединении с относительной простотой расчета и изготовления (сферические поверхности ) делают менисковые системы замечательным дости- [c.335]

Оптическая схема прибора приведена на рис. 73. Источник света 1 с помощью зеркального конденсора 2 и плоского зеркала 3 проектируется через защитную кварцевую пластину 5 на входную щель монохроматора 4. Щель расположена в фокусе зеркального объектива 6. Параллельный пучок лучей, распространяющийся за объективом, направляется на кварцевую 30-градусную приз- [c.195]

Порядок измерений. Перед началом измерений на спектрофотометре следует проверить его градуировку по длинам волн. Проверка проводится по спектру излучения ртутно-гелиевой лампы. Наиболее интенсивные линии в ее спектре излучения имеют следующие длины волн 253,7 365,8 388,9 404,7 435,8 546,1 577,0 579,1 587,6 1083 нм. При несовпадении показаний шкалы длин волн с действительными длинами волн, попадающими на фотоэлемент, исправление градуировки осуществляется по линии 546,1 нм с помощью поворота зеркального объектива монохроматора. Затем проверяют линейность зависимости показаний прибора от интенсивности падающего на фотоэлемент света. Для этого измеряются пропускания эталонных нейтральных светофильтров и полученные данные сравниваются с данными аттестата прибора. [c.196]

В ИК-области ЭОП используют с обычной стеклянной оптикой, в УФ-спектре применяют кварцевые линзы или зеркальные объективы. [c.101]

Стекло используют для измерения температур от 900 °С. Кварц применяют для регистрации температур более 400 °С. Объективы из фтористого лития или фтористого бария позволяют фиксировать температуры в диапазоне 20—500 °С. Часто используют также зеркальную оптику. [c.133]

Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119]. [c.85]

На рис. 42 показан зеркально-линзовый объектив Дайсона с числовой апертурой А = 0,5 и увеличением 1. Выходящие из объектива О лучи проходят полупрозрачную защитную пластинку /, которая с помощью зеркала II направляет часть из них в плоскость а—а промежуточного изображения О. После этого изображение О проектируется с помощью обычного объектива III микроскопа в плоскость О", сопряженную с фокальной плоскостью окуляра. [c.95]

В ГДР фирмой Цейсс разработан зеркально-линзовый объектив с апертурой 0,5 и длиной переднего отрезка 18,8 мм (рис. 45). Центральное экранирование составляет 30% по диаметру зрачка. Фронтальный компонент объектива выполнен из двух линз, склеенных плоскими поверхностями, причем центральная часть второй линзы переходит в сферическую форму и служит выпуклым зеркалом. Вторая линза фронтального компонента имеет три преломляющих и одну отражающую поверхности. Конструкция фронтального компонента требует высокой точности центровки всех четырех поверхностей второй линзы и компонента в целом. [c.96]

Зеркальные объективы получили практическое применение в связи с металлографическими исследованиями материалов, нагретых свыше 2000 С. [c.96]

Кольцевое зеркало 8 является своеобразным зеркальным объективом, обладающим числовой апертурой 0,47 и рабочим расстоянием 101,6 мм. [c.97]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

На блок индикации поступают импульсы, представляющие собой разность между числом, набранным на программном счетчике, и числом импульсов, выработанных генератором ГСИ с момента начала отсчета до момента совпадения фокальной плоскости объектива измерительной головки с зеркальной поверхностью наконечника. Это число соответствует отклонению действительного размера от номинального [c.94]

Экран и оптическая часть компактно расположены в верхней части корпуса 1. В проходящем свете лучи от осветителя 2 проходят параллельным пучком мимо детали и попадают в первую линзу 3 телескопической системы, в фокусе которой расположена зеркальная кольцевая диафрагма 4. Далее, выходя из второй линзы 5 системы, лучи отражаются от двух наклонных зеркал 6 и проектируются с помощью объектива 7 на основное зеркало 8 и экран 9. [c.385]

ЗЕРКАЛЬНО-ЛИНЗОВЫЕ ОБЪЕКТИВЫ [c.539]

Зеркально-линзовые объективы 244 [c.539]

Объективы 242 — см. также по ч.х названиям, например Апохроматы, Ахроматы, Зеркально-линзовые объективы, Кварцевые объективы [c.545]

Технические данные зеркально-линзовых объективов [c.333]

Звукопроводность 352 Зеркально-линзовые объективы — Технические характеристики 333 Зола — Теплоемкость 39 [c.711]

Акриловый клей. Рекомендуется для склеивания поляризационных призм из кальцита, различных светофильтров и клиньев (с желатиновыми поливиниловыми пленками), оптических деталей из квасцов, зеркальных объективов, лимбов, объект-микрометров, а также в тех случаях, когда необходимо получить очень тонкий эластичный склеивающий слой. Может применяться для склеивания стекла с металлом. [c.735]

Лучи света от источника I в двух направлениях проходят через светофильтры 2, конденсоры 3, призмы 4 п 6. Призмы 6, перекрывая половину светового диаметра объективов 5, посылают пучок лучей на лимб 16. Отразившись от зеркальной поверхности лимба, лучи возвращаются к объективам 5 и попадают соответственно в правом крыле на призму 7 и в левом — на призму с крышей 15 [36]. [c.185]

Усложнение конструкции зеркальных однообъективных аппаратов вызвано, в первую очередь, введением механизма поворотного зеркала, который должен обеспечивать так называемое постоянное визирование (т. е. поле зрения видоискателя затемняется лишь на время срабатывания затвора). Кроме того, к оптической схеме объективов зеркальных аппаратов предъявляются особые требования расстояние от последней линзы объектива до фотопленки должно быть достаточным для размещения и поворота зеркала (см. п. 1.4). И, наконец, приходится применять особый механизм ирисовой диафрагмы объектива, а именно прыгающую диафрагму, т. е. после наблюдения и фокусировки, выполняемых перед каждым снимком при полном отверстии диафрагмы, она быстро закрывается до нужного значения (выбранного фотографом или установленного автоматически) непосредственно в момент нажатия на спусковую кнопку. [c.31]

Для наблюдения поля зрения видоискателя таких размеров как 24X36 мм требуется лупа 4 (рис. 23). Наиболее удобно использовать четырех- или пятикратную лупу, так как ее фокусное расстояние близко к фокусному расстоянию основного объектива зеркального малоформатного фотоаппарата (50—60 мм), и размеры объектов в видоискателе кажутся примерно такими же, как при наблюдении невооруженным глазом. [c.53]

Оптические системы собирают и фокусируют поток лучистой энергии на чувствительном элементе приемника излучения. Они могут быть выполнены в виде зеркального или линзового объектива. Зеркальные объективы используются при предъявлении высоких требований к чувствительности, а линзовые - при необходимости высокого геометрического разрешения. Чаще используются зеркальные объективы. В зависимости от размеров, конструкции контролируемых объектов могут применяться телеоптические, микроскопические и нормальные объективы. Основными параметрами объективов являются фокусное расстояние, диаметр, угловое поле, разрешающая способность. Для до< гупа к труднодоступным объектам контроля используют зеркальные или волокнистые световоды. [c.542]

В оптиметрах используется принцип автоколлимации и оптического рычага (рис, 5.7). Если в фокальной плоскости объектива ОБ (рис. 5.7, а) расположить светящийся объект, например, шкалу, изображение каждого штриха А этой шкалы, расположенного на расстоянии п от оптической оси О, пройдя объектив и отразившись от зеркальной плоскости 377, расположенной под углом 90° к оптической оси, и снова пройдя объектив ОБ, спроецируется также на фокальную плоскость симметрично точке О на расстоянии п = п. Если зеркальную плоскость ЗП повернуть на угол ср к оптической оси, каждое изображе 1ие штриха, например точка О, сместится на расстояние t, определяемое двойным углом отражения 2<р t = F-2 tg rp, где F — фокусное расстояние объектива, В оптиметрах (рис. 5.7, б) перемещение h измерительного наконечника ИН приводит к повороту зеркала ЗП на плече а, поэтому передаточное отношенне оптического рычага (при малых угла ср) [c.120]

НОМ (1672 г.), обратившимся к зеркалам в предположении, что линзовые объективы неизбежно страдают хроматической аберрацией. Известно, что заключение Ньютона было ошибочно (см. 86), и построение ахроматических объективов возможно. В настоящее время имеются первоклассные рефракторы, однако технически легче изготовить зеркало большого диаметра, чем однородный стеклянный диск, пригодный для изготовления большого линзового объектива. Поэтому, хотя требования к точности изготовления отражающей поверхности примерно в четыре раза выше, чем для преломляющей, изготовление очень больших зеркальных объективов оказалось более легкой задачей. Так, в настоящее время существует рефлектор с диаметром зеркала около 5 м (обсерватория Маунт-Паломар) и вступает в строй рефлектор диаметром 6 м (СССР), тогда как диаметр объектива наибольшего из существующих рефракторов достигает всего 1 м. [c.334]

Она состоит из источника света / для освещения объекта, сменной призменной или зеркальной насадки 3, изменяющей направление и размеры поля зрения прибора, объектива 4, основной передающей оптической системы 5 и окулярэ 6. [c.84]

Создание перспективных оптических систем с повышенной разрешающей способностью для тепловой микроскопии и, в частности, разработка объективов с большим рабочим расстоянием непосредственно связаны с развитием зеркальной и зеркально-линзовой оптики. Как известно [23], преимущество зеркально-линзовых объективов перед обычными линзовыми объективами заключается в том, что у них так называемый передний отрезок может более чем в четыре раза превышать фокусное расстояние, что позволяет по-новому решать ряд конструктивных задач проектирования оптических систем для средств высокотемпературной металлографии, для приборов локального микроспектрального анализа и других устройств. [c.95]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран. [c.95]

В 1962 г. в США Олсону, Брикснеру и Смиту [24] удалось на основе использования зеркального объектива создать оригинальную установку. [c.96]

Рис. 46. Принципиальная схема системы для наблюдения с помощью зеркального объектива Олсона за структурой образцов при температуре до 2500° С в вакууме и защитных газовых средах

На рис. 47 показана конструкция зеркально-линзового объектива с апертурой 0,4 расстояние от плоскости предмета до первой поверхности объектива составляет около 40 мм. Фронтальный компонент объектива выполнен из простой линзы с тремя преломляющими сферическими поверхностями центральная часть первой преломляющей поверхности металлизирована и служит малым зеркалом (выпуклым), т. е. радиус кривизны преломляющей поверхности и ее отражающей части один и тот же. При такой конструкции фронтального мениска передний отрезок объектива в четыре раза превышает его фокусное расстояние. Здесь уместно отметить, что в высокоапертурных линзовых объективах практически весьма сложно получить передний отрезок, превышающий фокусное расстояние [23]. [c.99]

Для наблюдения и фотографирования микроструктуры образца служит вертикальный металлографический микроскоп типа МВТ с объективами ОХ-33 (или ОС-39), ОСФ-16 и ОСФ-22 (допускается также использование зеркально-линзового объектива МИМ-13-С0), фотоокулярами Х7, ХЮи X 17, а также микрофотонасадками МФН-8 и МФН-12. При исследовании микроструктуры получают максимальное полезное увеличение в 420 раз. [c.115]

Измерительная головка 7 представляет собой подвижный интерферометр. Параллельный пучок монохроматического света от осветителя 5 падает на плоскопараллельную светоделительную пластину Р и разделяется на два когерентных луча. Первый луч проходит на зеркало 10, а второй, отражаясь от пластиныР,— на зеркальную поверхность 6. После отражения от зеркал лучи снова соединяются у пластины 9 и выходят в направлении фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) 11. При приближении измерительной головки к поверхности 6 в плоскости диафрагмы 12 ФЭУ возникает интерференционная картина и будут перемещаться интерференционные полосы. В момент, когда фокальная плоскость объектива головки совпадает с зеркальной поверхностью 6, черная полоса интерференционной картины перекроет диафрагму 12 и на выходе ФЭУ будет импульс максимальной амплитуды. [c.90]

Зеркальн о-л инзовые объективы (табл. 17), состоящие из кварцевых и флюоритовых линз и зеркал, хорошо исправлены на хроматизм и могут быть рассчитаны для работы в широкой области видимых и ультрафиолетовых лучей это весьма удобно для микрофотографирования в ультрафиолетовых лучах вследствие простоты установки светочувствительного слоя после фокусировки изображения в видимых лучах. [c.333]

Оптические линейки (рис. 10.8) производят измерение отклонений измеряемого профиля от исходной прямой, заданной лучом, проходящим через центры зеркальнолинзовых объективов, образующих афокальную автоколлимационную систему. Лучи света от лампочки 6, пройдя через призму 5, линзу 4, призму 17 и левую половину кубика 12, освещают визирную марку 2 и через зеркально-линзовые объективы 1 к 13 создают изображение визирной марки на полевой диафрагме 3. Микрообъек-тиа 11 переносит увеличенное изображение визирной марки 2 в плоскость биссектор-ной сетки 7, которое окуляром 9 проецируется на экран 8. [c.288]

Вогнутая Д. р. У вогнутых Д. р. штрихи нанесены на вогнутую (обычно сферическую) зеркальную поверхность. Такие решётки выполняют роль как дисиер гирующей, так и фокусирующей системы, т. с. не требуют применения в спектральных приборах входного и выходного коллнматорных объективов или зеркал, в отличие от плоских Д. р. При этом источник света (входная щель 5j) и сиектр оказываются расположенными на окружности, ]1асательной к решётке в её вершине, диаметр окружности равен радиусу кривизны R сферич. поверхности Д. р. (рис.. 5). Этот круг наз. [c.659]

Объективы М. (коллиматорный и фокусирующий) могут быть линзовыми или зеркальными. Зеркальные объективы пригодны в более широком спектральном диапазоне, чем линзовые, и, в отличие от последних, не требуют перефокусировки при переходе от одного выделяемого участка спектра к другому, что особенно удобно для ИК- и УФ-областей спектра. [c.211]

Рвс. 6. Схема растрового оже-элекгронного микроскопа (РОЭМ) I—ионный насос 2—катод 3—трёхэлектродиая электростатическая линза 4 — многоканальный детектор 5 — апертурная диафрагма объектива 6—двухъярусная отклоняющая система для развёртки электронного зонда 7 — объектив 8 — наружный электрод цилиндрического зеркального анализатора 9—объект. [c.577]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...