Приборы электрооптические

Выделение интерференционной картины определенного прохода можно осуществить с помощью электрооптического затвора, расположенного перед входной щелью спектрального прибора. [c.243]

Отметим, что в автоматизированных поляризационных приборах функции пластинки Я/4 обычно выполняет электрооптический или акустико-оптический модуляторы, принцип работы которых будет рассмотрен далее. [c.271]

Метод катодного распыления находит широкое применение в технике. Его используют при нанесении специальных покрытий для оптических и электрооптических приборов. Основные области применения метода катодного распыления наиболее полно представлены в статье [194]. В области электроники для контактов и электродов применяют пленки золота, серебра, платины пленки тантала отличаются высокой стабильностью электросопротивления нитрид тантала и некоторые пленки сплавов используют для конденсаторов. Пленки 5102, полученные методом радиочастотного распыления, имеют лучшую стабильность и адгезию, чем полученные любым другим методом. Новым направлением в применении катодного распыления является нанесение твердых смазок (например, МоЗ-з) и износостойких покрытий из хрома, вольфрама, нержавеющей стали и т. п. Например, освоен метод нанесения хромовых и платино-хромовых покрытий на лезвия бритв из нержавеющей стали для увеличения срока их службы. В полностью автоматизированной установке одновременно покрывается 70 ООО лезвий. Катодное распыление применяют для декоративных целей (получения различных орнаментов, рисунков) и для получения тонкого подслоя (хрома, меди и т. п.) на пластмассе с хорошей адгезией к основе. Особенно перспективен этот метод для нанесения покрытий из тугоплавких материалов, которые трудно нанести термическим испарением в вакууме. [c.8]

После некоторого затишья в развитии теории структуры изображения, даваемого оптическими системами, ПОД давлением нужд практики внимание многих ученых ВНОВЬ обратилось к этому вопросу. Исследования в этом направлении дают возможность глубже понять процесс формирования дифракционного изображения и в результате оценить предельные возможности оптики и указать пути дальнейшего усовершенствования оптических приборов. Но оптические приборы работают всегда в сочетании с теми или другими приемниками (глаз, светочувствительный слой фотопластинки, фотоэлемента, катода электрооптического преобразователя и т. д.). В связи с этим представляет большой интерес вопрос о взаимодействии света с приемником и выбор критерия качества изображения, пригодного для характеристики как оптической системы, так и приемника. Желательно, чтобы качество изображения на приемнике всегда можно было оценить, зная в отдельности качество изображения, создаваемого оптической системой, и характеристику приемника. Таким критерием долгое время служило понятие разрешающей способности, но практика показала, что этот критерий не удовлетворяет нуждам практики. Его пришлось значительно усовершенствовать, что оказалось возможным благодаря, с одной стороны, некоторым успехам прикладной математики, а с другой, выбору определенного типа тест-объектов (в виде мир с периодической структурой). [c.5]

Полуширина линии или полосы Разрешающая сила спектрального прибора Угловая дисперсия спектрального прибора Линейная дисперсия спектрального прибора Энергетический выход люминесценции Квантовый выход люминесценции Угол поворота плоскости поляризации Постоянная вращения Удельная постоянная вращения Показатель преломления обыкновенного луча Главный показатель преломления необыкновенного луча Электрооптическая постоянная Степень поляризации Степень деполяризации [c.215]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

Совр. С. п. подразделяют на механические или оптико-механические, электронные, электрооптические, лазерные и осциллографические. К механическим С. п. относятся приборы с механич. обтюраторами (прерывателями) света в виде дисков или полых барабанов со щелями, через к-рые наблюдают объект. Измеряя скорость вращения диска, при к-рой наблюдаемый объект кажется остановившимся, можно определить/1. Такие приборы наз. стро-боскопич. тахометрами. 1л. достоинство строботахо-метра — возможность измерения угл. скоростей вращения тел без контакта с объектом измерения, что, с одной стороны, позволяет измерять скорость видимых, но труднодоступных объектов, а с др. стороны — измерять скорость маломощных объектов без всякого тормозящего воздействия на них со стороны прибора. Диапазон измерения такими тахометрами 30—3000 рад/с. [c.5]

В гл. 7 мы рассмотрели электрооптические эффекты в кристаллах, т. е. вопрос о том, как внешнее электрическое поле влияет на распространение электромагнитного излучения. Эти эффекты можно использовать для создания модуляторов света, перестраиваемых спектральных фильтров, электрооптических фильтров, сканирующих устройств и т. п. Электрооптическая модуляция позволяет управлять лазерным пучком или контролировать сигнал излучения с высокой скоростью (вплоть до частоты в несколько гигагерц), поскольку при этом не используется механическое перемещение элементов. В данной главе мы рассмотрим различные такие устройства, их характеристики и принципы действия. Рассмотрим также некоторые важные особенности их конструирования. В гл. 11 мы обсудим электрооптические приборы на основе направляемых волн, такие, как модуляторы и согласующие устройства. [c.297]

Для света с Я, = 0,547 мкм в кристалле KDP это значение составляет 7,5 кВ, а для кристалла оно равно 3,9 кВ. При его приложении имеет место максимальная модуляция поляризации и амплитуды, поэтому полуволновое напряжение является одной из основных характеристик электрооптических кристаллов. При выключении напряжения пропускание света кристаллом быстро восстанавливается по тому же закону. Частоты модуляции зависят от конкретной реализации прибора п обычно лежат в мегагерцевом диапазоне, [c.18]

Миироканальные ПВМС имеют широкие функциональные возможности, Что обусловлено рассмотренными физическими процессами. Учитывая линейный характер электрооптического эффекта и возможность создания управляемого положительного и отрицательного потенциала на пластине кристалла, в этом приборе легко реализуется сложение и вычитание изображений (ср. с титусом , 2.1), инвертирование контраста, отсечка (путем компенсации зарядов) подпорогового уровня. Кр оме того, в ПВМС можно выполнять логические операции И, ИЛИ, НЕ и др. [c.200]

Адресация с применением матрицы ПЗС позволяет создать функционально богатый, компактный и простой в управлении прибор [115, 116. 128] (см. также подпараграф 4.5.3). В таком Приборе (рис. 4.1) входной электрический сигнал 7 последовательно заполняет ячейки входного последовательного регистра 10 структуры ПЗС. Регистр управляется тактовыми импульсами последовагольного сдвига 8. После того как строка сфорМ Гро-вана, она параллельно одвигаегся на одщ1 ряд в ПЗС-структуру е поверхностными каналами II. Сдвиг выполняется с помощью тактовых импульсов параллельного сдвига 9, затем вводится новая Строка данных. Такая система обеспечивает высокие скорости ввода информации тактовая частота последовательного ввода может достигать 100 МГц. После того как двумерное распределение заряда в ПЗС-структуре 1 полностью сформировано, по--дается управляющее напряжение от источника на электрод структуры считывания 5 и сформированный заряд переносится на границу электрооптического слоя (в нашем случае — жидкокристаллического). Считывание информации п таком приборе производится в Отраженном свете. [c.212]

За последние несколько лет были синтезированы и достаточно подробно исследованы сегнетоэлектрические монокристаллы ниобатов и танталатов щелочноземельных металлов, обладающие высокими электрооптическими, пьезоэлектрическими, пироэлектрическими и нелинейными свойствами. Физические свойства этих кристаллов обусловливают возможности их широкого применения в приборах для модуляции, отклонения и преобразования частоты лазерного излучения, а также в параметрических генераторах света. Кристаллы этого класса соединений имеют нелинейные и эпектроонтические коэффициенты, намного превышающие коэффициенты других кристаллов. Достаточно сказать, что на кристаллах ниобата бария-натрия достигнуто 100%-ное преобразование излучения с длиной волны Я = 1,06 мкм в излучение с Я = 0,53 мкм, а кристаллы твердого раствора ниобата бария-стронция имеют величину полуволнового напряжения 80 В, что в 40 раз меньше, чем у ниобата лития и танталата лития, и в 100 раз меньше, чем у широко применяемых кристаллов гидрофосфата калия. [c.8]

На рис. 8.19 показаны конструкции двух электронно-лучевых трубок с электрооптическим кристаллом в качестве мишени — ПВМС типа титус. В приборе, конструкция которого показана на рис. 8.19, а, управляющий электрический сигнал подается на электрод, с помощью которого модулируется ток электронного луча, производящего запись изображения. Энергия электронов в записывающем луче равна 6 кВ. При этом коэффициент вторичной эмиссии кристалла ДКДР меньше единицы, и, следовательно, поверхность кристалла заряжается отрицательно. Стирание записанной информации производится с помощью специального источника электронов, которым вся поверхность кристалла облучается одновременно и равномерно. Ускоряющее напряжение в этом источнике составляет 500- 1000 В при таких энергиях электронов коэффициент вторичной эмиссии больше единицы, и поверхность кристалла, теряя электроны, заряжается положительно. Происходит выравнивание потенциала поверхности, т. е. стирание информации, после чего модулятор готов к записи нового изображения. [c.188]

ПВМС, конструкция которого показана на рис. 8.19, а, работает со считыванием на пропускание. Последнее определяет относительно большие габариты прибора и то, что кристалл невозможно разместить перпендикулярно к оси записывающей электроннооптической системы, так как это увеличивает расфокусировку изображения на краях кристалла. Подобные недостатки преодолены в ПВМС титус, работающем на отражение (рис. 8.18, б). Кроме того, при считывании на отражение свет проходит через электрооптический кристалл дважды, что в два раза увеличивает величину модуляции считывающего света и, следовательно, уменьшает плотность заряда, которую необходимо нанести на поверхность кристалла. [c.188]

Из числа материалов, практически используемых в промышленном производстве электрооптических приборов управления лазерными пучками (см. 7.4, 7.5), исторически наиболее широкое применение нашли кристаллы KDP и DKDP. Освоенность технологии и высокое оптическое совершенство в сочетании с размерами, обеспечивающ,ими изготовление элементов любой требуемой апертуры, обусловили сохранение этими кристаллами своего положения, несмотря на необходимость герметизации электрооптических элементов. Выращиваемые из расплава нерастворимые кристаллы ниобата и танталата лития также успешно используются в электрооптической технике. В этом случае ограничивающ,им обстоятельством является индуцируемое светом изменение рефракции. Для остальных кристаллов, приведенных в табл. 7.1, не преодолены до конца трудности технологического характера. Более подробно характеристики конкретных электрооптических материалов будут рассмотрены при описании соответствующих объемных и интегральных приборов. [c.201]

Электроонтические модуляторы света были первыми приборами, созданными еще до развития лазерной техники (в 1950 г.) для управления световыми пучками при звукозаписи для кинофильмов и т. п. Назначением этих модуляторов, как и любых других модуляторов света, является управление каким-либо из параметров электромагнитной световой волны в соответствии с изменением управляющего информационного сигнала. В качестве таких параметров световой волны могут использоваться ее амплитуда, частота, фаза и поляризация. Одни из наиболее широко применяемых видов электрооптических модуляторов — амплитудные модуляторы представляют собой, как и затворы (являющиеся их частным случаем), устройство из двух скрещенных поляризаторов и располагающегося между ними электрооптического элемента (элементов). Нетрудно видеть, что в случае про- [c.203]

Этот результат получается как следствие выражения (4.15.7), теорем Парсеваля и свойств свертки. Знаменатель здесь равен площади апертуры. Для систем без аберравд1й интеграл в числителе связан с площадью перекрытия двух функций зрачка Р, сдвинутых относительно друг друга на а и /3 вдоль осей хну соответственно. Можно показать, что наличие аберраций уменьшает ОПФ, хотя при = /3 = 0 ОПФ всегда равна единице. Поскольку Т является фурье-образом вещественной функции, ее вещественная часть Т является четной, а мнимая — нечетной функцией величин а и 0, Модуль функции Т называют модуляционной передаточной функцией (МПФ). Следует заметить, что ОПФ можно определить также для фотоэмульсий, телевизионных камер и других электрооптических приборов. Это особенно важно при конструировании сложных электрооптических систем формирования изображения. Если любую из компонент оптической системы можно описать соответствующей ей ОПФ, то создание сложной электрооптической системы возможно по принципу построения каскада электронных усилителей. [c.327]

В табл. 2 представлены основные группы анализаторов, получивших наибольшее распространение при лабораторном анализе жидких сред и дифференцированных по принципу действия. Каждая из приведенных в таблице групп анализаторов может быть подразделена на подгруппы и виды. Вместе с тем, эти группы условно можно объединить по характеру основного эффекта, используемого в анализаторе, в классы приборов. Так, приборы пп. 1—17 логично отнести к классу механических анализаторов, пп. 18—22 — к тепловым анализаторам, пп. 23— 42 — к оптическим анализаторам, пп. 43—45 — к радиоспектрометрическим анализаторам, пп. 47—54 — к электрохимическим анализаторам, пп. 56—59 — к ра-диоизотопным анализаторам. Можно выделить более крупные классы лабораторных приборов и соответствующие аналитические методы физико-механические (пп. 1-—17 табл. 2) физико-химические (пп. 18—42, 47—54, 63—65) атомно-физические (пп. 43—45, 56—62). Класс оптических анализаторов делится на подклассы магнитооптических (пп. 32, а, 33—36) и электрооптических (пп. 32, б, 41, 43) анализаторов. Среди оптических приборов можно выделять спектральные анализаторы (например, пп. 24 и 31), в которых значение выходного сигнала зависит от взаимодействия излучения с исследуемой жидкостью или от свойств излучения анализируемой среды, а также монохроматические и немонохроматические анализаторы в зависимости от ширины используемой области излучения (близкой к нулю или имеющей существенную ширину). Аналогично можно рассмотреть любой из классов лабораторных приборов. [c.35]

Необходимо помнить, что углы установки передних колес и давление воздуха в шинах оказывают существенное влияние на износ шин (ркс. 6.12), поэтому проверку этих диагностических параметров (см. табл. 5.3) следует производить регулярно. Диагностирование углов установки передних колес предпочтительнее осуществлять на специальных проходных стендах (рис. 6.13) или электрооптических,. например, К-111 и 1119М отечественного производства, ПКО-1 (ПНР) и др. Последние типы стендов позволяют одновременно производить регулировку углов установки передних колес непосредственно на стендах, а также проверку угловых и линейных смещений заднего моста. Кроме этих стендов, являющихся стационарными, применяют переносные приборы для проверки схождения и развала колес, однако точность измерений у них ниже, чем у электрооптических. [c.155]

В настоящее время представляет большой интерес приложение оптических методов к обработке сигналов и вычислительным задачам. Скорость и параллельность обработки массивов данных, характерные для оптических методов, могли бы обеспечить значительное продвижение во многих задачах, требующих интенсивных вычислений. Поскольку системы, выполняющие оптическую обработку сигналов или оптические вычисления , часто являются частью больших и в принципе электронных систем, то для обозначения этой конкретной области было бы более уместно использовать термин электрооптическая обработка сигналов (ЭООС). Стремительный рост быстродействия электронных устройств, особенно основанных на ОаАз-полевых транзисторах, обеспечивает возможность объединения электронных и оптических процессоров для выполнения специальных сложных операций с недостижимыми ранее скоростями. Основными элементами, необходимыми для объединения электронной и оптической частей гибридного процессора, являются интерфейсные компоненты, соединяющие электронную и оптическую части. Именно в этой части технология создания ПЗС-приборов наиболее приспособлена для создания таких процессоров. [c.76]

Рис. 3.17. Общий вид и характеристики электрооптического процессора, вы-прлнеияого по схеме, показанной иа рис. 3.16, и использующего ПЗС-струк-туру с затеняющей маской, изготовленной ннтегральио с прибором.

Самый крупный недостаток пассивной оптической локации — невозможность измерения дальности и доплеровского сдвига сигналов локаторами, построенными по одноканальной схеме. Это ограничивает возможности пассивной оптической локации, поэтому, естественно, что ученые и инженеры стремились к использованию активного метода локации, т. е. к локации путем облучения объекта и приема отраженной от нее энергии. Этот метод предполагает наличие мощных источников излучений, которые до последнего времени отсутствовали. Наибольшее развитие в последние годы получили электрооптические дальномеры, предназначенные для измерения дальности на небольших расстояниях. В качестве источника излучения в этих дальномерах использовали лампы накаливания. Отличительная особенность этих приборов — высокая точность измерения, поэтому они нашли широкое распространение в геодезической практике. Однако вследствие ограниченной да1ьи. сти действия они не получили широкого распространения. [c.144]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...