Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Приборы интерференционные

В гл. 3 рассматриваются особые спектральные приборы интерференционного типа, составляющие класс так называемых прибо- ров высокой разрешающей способности.  [c.68]

Обычно после предварительного грубого совмещения диффузоров, при нормальном расположении прибора, интерференционная картина еще не наблюдается. Но, если поиграть прибором, наклоняя его в разные стороны и смещая прибор поперек светового пучка, то в лучах проходящих прибор в каком-то его месте при соответствующем наклоне прибора удается уловить хотя бы низкокачественную интерференционную структуру. При параллельном смещении луча зрения картина эта может исчезнуть, что свидетельствует о наличии заметного относительного поворота структур. В ходе юстировки осторожно надавливают на края одной из пластинок вблизи диагонально противоположных вершин так, чтобы имел место небольшой поворот этой пластинки в соответствующем направлении, или так, чтобы возникал небольшой параллельный перенос пластинки в нужном направлении. Многократно применяя эту процедуру, добиваются появления высококачественной  [c.80]


При помещении объекта между пластинами (при равенстве или кратности ветвей прибора) интерференционная картина исчезнет, так как монохроматичность источника света окажется недостаточной (рис. 13.6). Для наблюдения картины следует переместить среднюю пластину В на А/2 = в положение В как показано на рисунке. Исследуемый объект должен иметь оптические поверхности, что ограничивает возможности применения интерферометра.  [c.100]

К бесконтактным относятся методы измерения, осуществляемые с помощью проекционных и пневматических приборов, интерференционных компараторов и тому подобных измерительных средств.  [c.227]

Измерение шероховатости микроинтерферометром МИИ-4 В. П. Линника основано на использовании явлений интерференции. В этом приборе интерференционные картины образуются в результате наложения световых лучей, отраженных от поверхности контролируемой детали, и световых лучей, отраженных от образцового зеркала, поверхность которого можно считать практически абсолютно гладкой. Изображение поверхности вместе с интерференционными полосами (схема участка интерферограммы поверхности показана на рис. 7.27) рассматривается через окуляр. С помощью  [c.147]

Формула (7.30) сохраняет силу также для интерференционных спектральных приборов с той лишь разницей, что N будет обозначать число интерферирующих лучей.  [c.195]

Через интерферометр, состоящий из двух полупрозрачных (П и П ) и двух непрозрачных зеркал П и Я4) пропускается свет от источника сплошного спектра. Интерференционная картина, полученная в виде горизонтальных полос, с помощью линзы Лз проектируется на щель спектрографа. Спектрограф располагается так, чтобы щель его была направлена перпендикулярно к горизонтально расположенным полосам интерференции. В обе ветви интерферометров вводятся две одинаковые кюветы и Т . В одну из кювет (расположенную внутри вакуумной печи) вводится исследуемый материал, в данном случае пары натрия. Путем нагрева до нужной температуры можно получить пары натрия при необходимом давлении. Вторая кювета откачивается. Если кювета с металлом не нагрета, то из-за отсутствия паров натрия нулевая полоса (полоса, для которой разность хода двух интерферирующих лучей равна нулю) будет прямолинейной и пройдет через середину перпендикулярно расположенной щели спектрографа. Выше и ниже этой легко отличимой от других ахроматической полосы располагаются полосы первого, второго порядков и т. д. Так как расстояние между полосами тем больше, чем больше длина волны, а линии дисперсии интерферометра (линия дисперсии направлена вдоль оси у) и спектрографа (линия дисперсии направлена вдоль оси х) взаимно перпендикулярны, то в результате действия обоих приборов в пло-  [c.266]


Интерферометр Майкельсона располагался таким образом, чтобы одно плечо (луч /) совпадало с направлением движения Земли, а второе было ему перпендикулярно. Если вычисления произвести в системе, связанной с предполагаемым неподвижным эфиром, то при повороте прибора на 90 возникает добавочная разность хода и поэтому должно наблюдаться смещение интерференционной картины, зависящее от величины плеча. С помощью величины этого смещения можно вычислить абсолютную скорость движения Земли в эфире . Ни опыт  [c.420]

Прибор, в котором наблюдается такая интерференционная картина, называется интерферометром Майкельсона.  [c.282]

В интерферометре Рождественского используются относительно невысокие порядки интерференции. Первоначальная юстировка проводится по нулевой полосе , соответствующей А = 0. Правда, в последующих измерениях дисперсии паров обычно вводят дополнительную разность хода и исследуют интерференционные кривые более высоких порядков. Этот прибор, предназначенный для точных измерений изменения показателя преломления газов или паров вблизи линии поглощения, рассчитан на исследование интерференционной картины в разных длинах волн. Поэтому обычно интерферометр освещают источником непрерывного спек-  [c.224]

Тогда для зависимости интенсивности света, дифрагировавшего под углом ф, от расстояния d между отверстиями в экране, на которые падает квазимонохроматическая волна, получим соотношение, примерно соответствующее результату для дифракции на двух круглых отверстиях, освещаемых некогерентным круглым источником, приведенному в книге Борна и Вольфа Основы оптики , откуда мы заимствовали интересные фотографии интерференционных картин (рис. (>,51,а), полученные на приборе подобного рода (дифрактометре). Фотографии А, Б, В  [c.312]

Рис. 10.30. Если бы прибор (и Земля) обладали скоростью по отношению к гипотетическому эфиру, то мы бы наблюдали, как в трубе d изменяется интерференционная картина, потому что времена, за которые проходятся пути аЬа и аса, соответственно изменялись бы на неодинаковые величины. Рис. 10.30. Если бы прибор (и Земля) обладали скоростью по отношению к гипотетическому эфиру, то мы бы наблюдали, как в трубе d изменяется <a href="/info/19426">интерференционная картина</a>, потому что времена, за которые проходятся пути аЬа и аса, соответственно изменялись бы на неодинаковые величины.
Если теперь повернуть весь прибор на 90°, то эта разность будет иметь противоположный знак следовательно, смещение интерференционных полос должно быть равно IDV f . Принимая во внимание, что V —это скорость движения Земли по ее орбите, следует считать величину этого смещения равной 2D -10 . Если, как это было в первом опыте, D = 2-10 длин волны желтого света, то ожидаемое смещение должно было бы равняться 0,04 расстояния между интерференционными полосами.  [c.333]

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ПРИБОРЫ И ПРИМЕНЕНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ  [c.131]

Существуют весьма многочисленные устройства, осуществляющие расположения, необходимые для получения интерференционных картин. Одним из приборов такого рода является интерферометр Майкельсона, сыгравший громадную роль в истории науки.  [c.134]

Интерференционные приборы с многократно разделенными световыми пучками  [c.136]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000.  [c.139]

Интерференционные методы широко применяются также для контроля чистоты обработки металлических поверхностей. К приборам такого рода принадлежит микроинтерферометр В. П. Лин-ника, упомянутый в 29.  [c.148]


Майкельсон применил интерферометрическое наблюдение для оценки малых угловых расстояний между двойными звездами, а также для оценки углового диаметра звезд. Метод Майкельсона, равно как и применение его к определению размеров субмикроскопических частичек, будет изложен ниже (см. 45). Наконец, понятно, что интерференционные методы, позволяющие с огромной точностью определять длину волны, могут служить для самых тонких спектроскопических исследований (тонкая структура спектральных линий, исследование формы и ширины спектральных линий, ничтожные изменения в строении спектральных линий). Интерференционные спектроскопы, их достоинства и недостатки будут обсуждены вместе с другими спектральными приборами (дифракционная решетка, призма) в 50.  [c.149]

Нетрудно также определить угловую дисперсию интерференционных приборов, которая, как показывает вычисление, обычно очень велика (см. упражнение 81).  [c.212]

Протяженный источник / расположен в фокальной плоскости объектива О1. Плоскости зеркал и Р2, Рз и Я4 строго параллельны друг другу. Каждая пара зеркал Р , Р2 и Рз, Р4 закреплены на отдельном юстировочном столике, который обеспечивает наклон нары зеркал как единого целого вокруг горизонтальной и вертикальной осей. Зеркало Я5, обеспечивающее двойное ирохождение лучей в интерферометре, устанавливается перпендикулярно к оси прибора. Интерференционная картина полос равного наклона наблюдается  [c.114]

Бесконтактные, оценивающие мнкронеровности исследуемой поверхности без соприкосновения с ней. К этой группе относится большинство оптических приборов (интерференционный и двойной микроскопы академика В. П. Линника, микроскопы сравнения и др.). Большинство из указанных приборов применяют в лабораторных условиях и при проведении экспериментальных работ. В производственных условиях, где необходимо быстро определить класс чистоты обработанной поверхности, применяют микроскопы сравнения и наборы эталонов чистоты. С помощью микроскопов сравнения партии деталей контролируют сравнением каждой из них с образцом-эталоном. В поле зрения микроскопа наблюдатель видит увеличенное изображение контролируемой поверхности рядом с увеличенным изображением поверхности эталона (в микроскопе МС-49 увеличение х50).  [c.193]

Пятый и последний метод шумовой термометрии может применяться только при низких температурах. Его принцип основан на включении в цепь с очень низкой индуктивностью и сопротивлением контакта Джозефсона для получения так называемого резистивного СКИПа (сверхпроводящего квантового интерференционного прибора). Существуют и другие способы применения контакта Джозефсона в щумовой термометрии, например использование магнетометра [34]. Однако резистивный СКИП в отличие от других подобных приборов позволяет  [c.119]

На пластинке Люммера— Герке наблюдаются интерференционные полосы очень высокого (десятка тысяч) порядка. Это позволяет использовать ее в сочеташш с другим спектральным прибором в основном для исследования тонкой структуры спектральных линий.  [c.117]

Таким образом, интерферометр Жамена можно использовать для определения ничтожного изменения показателя преломления, например при изменении температуры газа или прибавлении посторонних примесей. В соответствии с этим его нередко называют интерференционным рефрактометром. Как показано выше, он крайне чувствителен к незначительным изменениям показателя преломления. Однако определение абсолютного значения самого показателя преломления при помощи этого прибора довольно затруднительно. Обычно его применяют таким образом, что сравнивают интересующий нас газ с каким-либо хорошо изученным газом, например, воздухом.  [c.134]

В приборе, подобном интерферометру Майкельсона или эталону Фабри—Перо, мы имеем дело с интерференцией лучей, обладающих огромной разностью хода (около миллиона длин волн). Поэтому для наблюдения интерференции требуется очень большая монохроматичность света. Физическая причина, в силу которой немонохроматический свет не может давать интерференционных картин при большой разности хода, лежит в следующем. Как мы видели в 4, степень монохроматичности определяется длительностью правильного синусоидального колебания, имеющего место при излучении света. Другими словами, чем больше правильных синусоидальных колебаний с неизменной амплитудой и фазой свершится в атоме раньше, чем прекратится его излучение, тем более моно-хроматичен испускаемый им свет. Всякий обрыв правильного сину-  [c.142]

Важной чертой метода Брауна н Твнсса является значительно меньшая чувствительность измерений к небольшим неточностям в перемещении приемников света, равно как и к нестабильности атмосферы, чем в интерференционном методе Майкельсона. Это обстоятельство позволило создать прибор, в котором расстояние О может доходить до 180 м и который позволяет измерять угловые диаметры звезд вплоть до 0,0005.  [c.198]


Смотреть страницы где упоминается термин Приборы интерференционные : [c.190]    [c.1008]    [c.317]    [c.818]    [c.162]    [c.196]    [c.197]    [c.197]    [c.266]    [c.267]    [c.131]    [c.133]    [c.133]    [c.135]    [c.137]    [c.139]    [c.141]    [c.143]    [c.145]    [c.147]    [c.149]    [c.197]   
Метрология, специальные общетехнические вопросы Кн 1 (1962) -- [ c.341 ]

Справочник контроллера машиностроительного завода Издание 3 (1980) -- [ c.319 , c.321 ]



ПОИСК



ИНТЕРФЕРЕНЦИОННО-ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ УСТРОЙСТВА И ПРИБОРЫ

Интерференционные и теневые приборы Основы теории интерферометров

Интерференционные приборы Линника

Интерференционные приборы и применения интерференции

Интерференционные приборы с многократно разделенными световыми пучками

Приборы — Шкалы интерференционные

Приборы — Шкалы интерференционные Линника

Теория и конструкция приборов интерференционных

Эшелон Майкельсона и интерференционные спектральные приборы



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте