Поверхность интегральная

К количественным относятся 1) профилометр 2) профилограф 3) двойной микроскоп 4) интерференционный микроскоп, — эти приборы определяют неровности в сечении 5) пневматический прибор—для оценки микронеровностей участка поверхности интегральным методом. [c.715]

Почти у всех металлов как с полированной, так и с окисленной поверхностью, интегральная степень черноты е [c.70]

ЛУЧИСТЫЙ ТЕПЛООБМЕН МЕЖДУ ДВУМЯ БОЛЬШИМИ ПЛОСКИМИ ПОВЕРХНОСТЯМИ. ИНТЕГРАЛЬНЫЙ УГЛОВОЙ КОЭФФИЦИЕНТ [c.94]

В рассматриваемом случае осесимметричного турбулентного пограничного слоя продольно обтекаемого цилиндра (выпуклая поверхность) и канала с нулевым градиентом давления (вогнутая поверхность) интегральное соотношение количества движения может быть представлено в виде [c.213]

Тепломассообмен на выгорающей пористой поверхности. Интегральное соотношение диффузии L -го химического элемента для эффективной бинарной смеси в случае осесимметричного течения можно записать в виде Г I] [c.66]

Наряду с тепловым сопротивлением загрязнений / зл важным фактором, оказывающим большое влияние на условия теплообмена в топках, как уже отмечалось выше, является степень черноты (поглощательная способность) поверхности загрязнений ёзл. Она зависит от химического состава веществ, образующих слой, структуры слоя и микрошероховатости поверхности. Интегральная степень черноты слоя изменяется также в зависимости от его температуры. [c.174]

Условия стационарности функционалов Лагранжа Эл1 — Эле, содержат, кроме равенств, приведенных в табл. 3.1, уравнения равновесия подкрепленных участков поверхности интегрального вида, по шесть на каждый участок (в соответствии с числом варьируемых параметров по три компонента векторов и,- и со,) [c.165]

Группа МП, изготовляемых по одному модулю технологического процесса, получила название модуль поверхностей интегральный (МПИ). [c.419]

Для классов 1 — 4 чистота поверхности определяется средней высотой микронеровностей, для классов 5—12 — средним квадратическим отклонением и для классов 13 и 14 опять средней высотой микронеровностей. Такое разграничение вызвано тем, что для грубых и особо чистых поверхностей интегральные приборы для оценки шероховатости непригодны. [c.38]

Количественными методами осуществляются контроль микроне-ровностей в сечении и оценка микронеровностей на участке поверхности (интегральный метод). [c.515]

Одной из таких проблем является дифракция на закругленном крае толстого слоя с радиусам кривизны, большим длины волны, В этом случае неизвестной функцией является распределение тока на поверхности. Интегральное уравнение удалось решить численно, и, таким образом, пет необходимости применять вариационный принцип, поскольку поле на большом расстоянии можно получить путем непосредственного интегрирования (разд. 17.23). [c.387]

Тепловой поток, излучаемый на всех длинах волн с единицы поверхности тела по всем направлениям, называется поверхностной плотностью потока интегрального излучения , Вт/м . Она определяется природой данного тела и его температурой. Это собственное излучение тела. [c.90]

Интегральный лучистый поток, излучаемый единицей поверхности по всем направлениям, называется излучательной способностью тела и обозначается [c.459]

Так как электроны обладают более высокой скоростью, чем положительные ионы, благодаря своей малой массе, частица стремится принять отрицательный заряд. Видно, что случай ф > 0 в (10.14) представляет интегральное распределение для электронов, тогда как случай ф <0 относится к положительным ионам. Для слабо ионизованного газа столкновения типа ион — атом газа и электрон — атом газа будут происходить примерно во столько раз чаще электронно-ионных столкновений, во сколько раз концентрация атомов нейтрального газа больше концентрации положительных ионов. В первом приближении взаимодействием ударяющихся ионов и электронов можно пренебречь. Делается дополнительное предположение о присоединении абсолютно всех электронов и ионов, падающих на поверхность частицы, так как [c.441]

В большинстве технических расчетов широко используются полусферические интегральные радиационные характеристики поверхностей. Такой грубый подход к задаче, связанный с большими трудностями, при определении спектральных и, особенно, направленных лучи- [c.26]

Анализируя табличные данные, можно отметить общие закономерности изменения е. Чистые, полированные металлические поверхности характеризуются очень низкими значениями интегральной степени черноты. Шероховатость, окисление и загрязнение увеличивают ее значение, причем наличие толстой окисной пленки может [c.38]

Уравнение (6-13) справедливо при близкой к единице интегральной степени черноты камеры и для поверхности образца, много меньшей поверхности камеры. [c.131]

В ряде работ [83] определение излучательной способности проводилось на установках, в которых термоприемник помещался внутри цилиндра (рис. 6-29). Это позволило определять интегральное значение е(Т) исследуемого образца без применения ограничивающих оптических элементов. Приемник излучения представляет собой дифференциальную термопару, к спаям которой для увеличения приемной поверхности приварены тонкие пластинки, покрытые сажей. [c.166]

Для определения интегральной степени черноты могут быть применены нестационарные методы, в частности метод регулярного теплового режима [83]. В относительном и абсолютном вариантах метода регулярного режима отпадает необходимость в измерении температуры поверхности и лучистого теплового потока. Опыт [c.169]

Поверхность, имеющая высокое значение степени черноты в условиях преимущественного теплообмена излучением, служит для сброса тепла. На рис. 8-4 [158] приведены спектральные характеристики поверхности фотоэлемента с покрытием и без него. На рис. 8-5 показана зависимость интегральной степени черноты от температуры поверхности этих же элементов. [c.190]

После полной конструктивной детализации общего вида требуется определить условия агрегирования (сборки) элементов и узлов в интегральную конструкцию ЭМП. Это достигается путем установления технологических параметров элементов и узлов. К технологическим параметрам относятся технологические допуски, классы точности и чистоты обработки поверхностей деталей, способы взаимного сопряжения и т. п. Выбор технологических параметров осуществляется с учетом прогрессивных технологических процессов, имеющихся производственных возможностей и преследует две основные цели 1) сохранение технологического разброса параметров и характеристик ЭМП в пределах, обеспечивающих требуемое качество функционирования в различных режимах работы 2) улучшение технико-экономических интегральных показателей производства и эксплуатации ЭМП. [c.162]

Корни действительные и разных знаков. Это — случай седлового периодического движения (рис. 1.11). Через замкнутую траекторию, соответствующую седловому периодическому движению, проходят две интегральные поверхности S-2 и состоящие из фазовых кривых, асимптотически приближающихся к кривой у при +00 и соответственно при t- —00. [c.19]

Например, степень черноты пористой поверхности бронзы увеличивается по сравнению со степенью черноты полированной поверхности примерно в 14 раз [Л. 2]. Большое влияние на степень черноты оказывает наличие оксидной пленки на поверхности. Так, по данным Бурра и Хейга, наличие пленки AI2O3 на поверхности алюминия повышает степень черноты этой поверхности с 0,05 до 0,8. Почти у всех металлов как с полированной, так и с окисленной поверхностью интегральная степень черноты повышается с ростом температуры. [c.60]

Если рассматривать элементарное изображение, создаваемое одной линзой растра как наименьший элемент интегральной фотографии, то можно утверждать, что в каждом элементе интегральной тографии записано все изображение сцены и, наоборот, каждая точка предмета зарегистрирована на всей поверхности интегральной фотографии. Это является отличительной особенностью пространственной записи. [c.14]

Распределение температуры поверхности интегральной схемы определяли по интенсивности ФЛ люминофора (хелата редкоземельного элемента), введенного в полимерную пленку, которую наносили на поверхность микроструктуры [7.32]. При возбуждении ультрафиолетовым светом ксеноновой лампы интенсивность ФЛ на длине волны Л = 610 нм уменьшалась в 6 раз при увеличении температуры от 25 °С до 60 °С. Температурная зависимость интенсивности имеет вид I ехр(—0/ о), где во 25 К. Достигнуты пространственное разрешение 0,5 мкм и температурное разрешение 6 мК. [c.189]

Н. Г. Четаев (1945) эти результаты получил на основании второго метода. В сомнительных случаях (когда правые части дифференциальных уравнений не зависят от ) Ляпунов либо доказывал вторым методом асимптотическую устойчивость нулевого решения либй неустойчивость (при этом решения в окрестности нулевого решения построить мы не умеем и по сей день), либо в сочетании первого метода (построение интегральной поверхности — интегрального множества) и второго доказывал неасимптотическую устойчивость нулевого решения. Но в этом случае он мог бьг построить и общее решение в окрестности нулевого решения, откуда следует и неасимптотическая устойчивость нулевого решения рассматриваемой системы. Мы видим, таким образом, что в случае асимптотической устойчивости нулевого решения удается построить функцию Ляпунова [c.73]

Ниже приведены значения ( акс — с) = макс и для следующего случая мощность источников Р = 20 вт, мощность стоков Рт = О (система охлаждения выключена). При этом рассмотрены различные теплостоки 1) проложенная между рамками фольга — медная толщиной 0,05 мм 2) фольга — медная толщиной 0,1 мм 3) дюралюминиевые листы толщиной 1 мм 4) медная фольга толщиной 0,05 мм, наклеенная с помощью клея Ф-2 на поверхность интегральных схем 5) медные шины 2x4 мм, проложенные между рядами интегральных схем и скрепленные винтами с рамкой (по две шины на каждой плате, всего 10 шин) 6) теп-лосток отсутствует [c.175]

Построение интегральной поверхности. Интегральная поверхность, если она существует, является вблизи начала координат графиком одной функции от N — 1 переменных. Чтобы ее построить, мы можем рассмотреть на горизонтальной плоскости какой-либо гладкий путь. Тогда вертикальные прямые над этим путем образуют двутиерную поверхность (пилиндр), а наше поле плоскостей высекает на ней поле касательных прямых. Искомая интегральная поверхность, если она есть, пересекает цилиндр по интегральной кривой поля прямых, выходящей из начала координат. Такая интегральная кривая есть всегда, независимо от того, сутцествует ли интегральная поверхность. Таким образом, мы можем строить интегральную поверхность над горизонтальной плоскостью, двигаясь по гладким кривым в последней. [c.316]

Радиационные исследования микротвэлов показали, что вег роятность разрушения защитного покрытия увеличивается с повышением температуры, увеличением интегрального потока быстрых нейтронов и глубины выгорания ядерного топлива. Разрушение плотного пироуглеродного двухслойного покрытия происходит в результате образования трещин, либо из-за увеличения давления газообразных продуктов деления и распухания сердечника, причем в этом случае трещина начинает образовываться на внутренней поверхности защитного слоя, либо из-за упадки наружного слоя плотного пироуглерода в результате воздействия значительного интегрального потока быстрых нейтронов, и тогда трещина образуется на наружной поверхности микротвэла. Анализ более 100 радиационных исследований микротвэлов в США и ФРГ подтвердил справедливость предложенной расчетной модели [16]. [c.16]

Как видно из формулы (4.48), зависимость гэ(Тст. Тел, бел) является интегральной характеристикой температурного профиля вблизи поверхности теплообмена. В связи с этим можно предположить, что распределение температуры в неизотермичной зоне псевдоожиженного слоя соответствует профилю, получаемому в результате решения системы уравнений (4.38). Поэтому была предпринята попытка оценить распределение [c.181]

Учитывая изложенное, можно заключить, что экспериментальные методы измерения ОСН не могут дать полного представления о распределении напряжений по всему объему конструкции. Применение их ограничено случаями определения напряжений по какому-либо сечению узла (при этом известны только компоненты тензора напряжений, действующие в плоскости, перпендикулярной этому сечению), по поверхности изделия, а также оценкой средних по толщине соединения напряжений. Оценка локальных напряжений в высокоградиентных полях возможна как интегральная. Для детального исследования областей с высокоградиентньши полями напряжений целесообразно применять расчетные методы, а экспериментальные использовать для оценки корректности и применимости принятых в расчетах допущений. [c.271]

Большое сходство с только что рассмотренными имеют линии связи, которые характеризуют целостную объемнопространственную структуру. Такие линии представляют наибольшую сложность в усвоении, так как отражают системные связи элементов формы. Грамотное выявление этих связей определяет целостность построения модели и конеч- ный результат воздействия ее на зрителя (рис. 1.4.9). В простейших вариантах объемной формы в качестве таких линий выступают линии излома, сопряжения поверхностей. В сложных случаях — это линии, интегрально отображающие организацию частей композиции в целое (рис. 1.4.10). На первостепенное выявление этих линий в художественном рисунке обращал внимание великий педагог, учитель известных художников XIX в. П. П. Чистяков [15]. [c.51]

Опыты Мелони показали, что в лучеиспускании твердого тела участвуют не только поверхностные частицы, но и весьма тонкий слой определенной толщины. Суммарное излучение с поверхности тела по всем направлениям полусферического пространства и по всем длинам волн спектра называется интегральным, или полным, лучистым потоком (Q). [c.459]

Поверхности разрыва. При течении гетерогенной смеси могут возникать зоны (ударные волны, пристенные слои, контактные поверхности), в которых параметры среды изменяются существенно на расстояниях порядка размеров самих включений или меньших (нулевых с точкп зрения сплошной среды). В этих зонах представления сплошной гетерогенной среды и следующие из них дифференциальные уравнения (1.2.5) или (1.3.25) не имеют смысла. Поэтому, как это обычно делается, необходимо ввести в рассмотрение поверхность разрыва параметров течения, по обе стороны от которой выполняются уравнения непрерывного движения. Получим основные условия на поверхности разрыва исходя из интегральных уравнений 1, которые применим к малому цилиндрическому объему, покоящемуся относптельно Sj,, с основаниями, параллельными 5 , и расположенными по разные стороны от нее. Пропуская обычные в таких ситуациях выкладки [23] и предполагая, что процессы фазовых превращений в этих тонких слоях (поверхностях) не успевают произойти, из (1.1.4), (1.1.9), (1.1.19) для случая двухфазной смеси т = 2) получим [c.42]

Полупроводниковые интегральные микросхемы (ПИМС) формируются из элементов (резисторов, конденсаторов, диодов, транзисторов и др.) внутри подложки. Подложка изготавливается из полупроводниковых материалов, обычно кремния или германия, и межэлементных соединений (проводников) на поверхности подложки. Размеры ПИМС порядка 1-5 мм . [c.538]

Так как в металлургических печах и топках паровых котлов в теплообмене излучением участвуют поверхности нагрева (поверхности кладки), то эффективность работы подобных тепловых агрегатов в значительной степени зависит от величины излучательной способности материалов, из которых они изготовлены. Исследования, проведенные рядом авторов [180, 181] по определению интегрального значения степени черноты в зависимости от температуры огнеупорных материалов, свидетельствуют, что все они обладают низкой излучательной способностью в рабочем диапазоне температур. В табл. 8-3 приведены результаты исследований [181] некоторых огнеупорных материалов. А. Баритель [180] провел исследования излучательной способности алюмосиликатных огнеупоров, в результате которых было установлено, что степень черноты этого типа огнеупоров при темпера- [c.212]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...