Приборы спектрографические

Основная проблема при измерении длины волны та же самая, что и при измерении любой длины точность отметки. Чтобы определить длину волны, пользуются эталоном (обычно нелинейным)— стабильным и воспроизводимым источником излучения. По шкале, калиброванной при помощи эталона, измеряют длину волны неизвестного излучения. Точность такого метода определяется погрешностью, с которой можно зафиксировать центры масштабных меток эталона и следов неизвестного излучения. Чем уже эти следы, тем выше точность измерения. Ширина же следа представляет собой свертку аппаратных функций источника, измерительного прибора и приемника. В отличие от рентгеновской или дальней инфракрасной области возможности измерения длины волны в оптическом диапазоне обычно не ограничиваются разрешающей способностью фотоприемника. Можно сконструировать оптическую систему с достаточно высокой дисперсией, чтобы полностью использовать разрешающую способность оптики. Обычные спектрографические фотопластинки и фотоумножители не вносят заметного уширения в линию. [c.321]

В некоторых приборах (фурье-спектрометры, спектрометры с преобразованием Адамара) регистрируется одновременно весь исследуемый спектральный диапазон подобно спектрографическому методу регистрации. Это дает значительное увеличение информационной емкости прибора, что равносильно увеличению отношения сигнал/шум. Выигрыш в отношении сигнал/шум проявляется только в тех областях спектра, в которых преобладают собственные шумы приемника. В видимой области, где превалирует фотонный шум излучения, этот выигрыш отсутствует [4]. [c.422]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

Кадмий хорошо определяется спектрографическими методами как в твердой пробе, так и в растворе 14, стр. 5541. Чаще испапьзуются спектральные линии 2288,02 и 3261,06 А. При соблюдении достаточной аккуратности и подходящих стандартах можно производить количественное определение кадмия. Точность определения зависит от прецизионности применяемого спектрографа и при работе на хорошем приборе составляет 5%. [c.271]

Из основных методов современной техники для экспресс-анализа состава чугуна (химический спектрографический и термографический анализы, метод определения электросопротивления твердого образца) были выбраны спектрографический и стило-скопический методы. Диапазон определения концентраций элементов (от тысячных долей до десятков процен-чов) позволяет на одном приборе осуществлять контроль почти всех компонентов чугуна. Контроль химического состава чугунов проводится по ходу плавки и после его выпуска аналитическим и спектральным методами анализа (табл. 12). [c.50]

В свое время масс-спектрометрические измерения сыграли неоценимую роль в физических исследованиях, связанных с установлением точных значений атомных весов (масс). Фундаментальное подтверждение гипотезы о существовании изотопов обязано появлению способа пространственного разделения моноэнергетических заряженных частиц в магнитном поле по отнощению их массы к заряду. С 1919 по 1923 г. Астоном [3] было неопровержимо доказано существование изотопов у неона, лития, гелия, водорода, азота, криптона и других элементов. Позднее масс-спектрографическим методом были определены значения дефектов массы для дублетов на легких элементах. Затем, после появления приборов с высокой разрешающей способностью, Нир, Р. А. Де-мирханов и др. [4—7] провели точные измерения в области от стронция до рутения и от европия до золота, [c.5]

К недостаткам прибора следует отнести его исключительно большой вес (1,1 пт). В количественном анализе он найдет нримене-нне только при фотоэлектрическом методе регистрации спектров. Для спектрографических целей он малопригоден из-за большого астиг.матизма, что устраняет возможность применения простой методики фотометрирования с помощью ступенчатого ослабителя. [c.592]

Кадми1 хорошо 0 ределяется спектрографическими методами как в твердой пробе так и в растворе 14, стр. 5541. Чаще используются спект-ральн с ли ИИ 2288 02 и 3261,06 А. При соблюдении до та очной аккурат ПОСТ и подходящих стандартах можно производить кол чествен ое опре-деле ие кадмия. Точность определения зависит от прецизио ости приме няемого спектрографа и прм рабо е на хорошем приборе составляет [c.271]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...