Поляризационные интерференционные

ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ФИЛЬТРЫ [c.143]

Поляризационное состояние 64, 71, 74 Поляризационные интерференционные фильтры 143 Поляризация 63 Поляризованный свет 63 Постоянная связи 199, 201 [c.612]

Поляризационно-интерференционные явления. В предыдущем параграфе были отмечены различные случаи плоско поляризованных волн одной и той же длины волны с постоянной разностью фаз, но с плоскостями колебаний, которые ориентированы взаимно-перпендикулярно. Наличие такого рода когерентных волн приводит в общем случае, как мы видели выше, к появлению эллиптически поляризованного света. В обычном смысле интерференции волн при этом не происходит, так как здесь не имеет места наиболее характерная особенность интерференции полное погасание волн. Однако если плоскости колебаний обыкновенной и необыкновенной волн, появившихся вследствие двойного преломления в кристаллах, привести в одну плоскость, то и здесь будет иметь место явление обычной интерференции этих. волн. [c.506]

Явления поляризационно-интерференционные 506—509 Яркости сравнительные различных источников 225 Яркость интегральная липни 428 Ячейка катодная для наблюдения люминесценции 564 [c.820]

ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР [c.132]

Однако эту скрытую интерференцию можно проявить если смотреть на экран через поляризационную призму, ориентированную параллельно А А, то она погасит все компоненты, направленные по ВВ, и позволит видеть интерференционную картину с максимумом в центре поля. Повернув поляризатор параллельно ВВ, мы задержим все колебания, направленные по АА, и увидим вторую, дополнительную интерференционную картину с минимумом в центре поля. Очевидно, при поляризаторе, расположенном под углом в 45° к АА и к ВВ, интерференция по-прежнему не будет заметна. [c.395]

Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), то наблюдение интерференционных картин позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можно наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (поляризационный микроскоп). С помощью такого микроскопа можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанный способ пригоден для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже для очень небольщих кристалликов, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.63]

В технической литературе и некоторых РТМ упоминаются следующие оптические методы, пригодные для контроля толщины покрытий 1) поляризационный метод 2) метод определения толщины по цвету окраски покрытия 3) интерференционный метод 4) метод светового сечения 5) метод теневого сечения. [c.86]

Оптические методы. Эти методы рекомендуется применять для измерения тонкослойных пленок (до 40 мкм), обладающих хорошими оптическими свойствами и нанесенных на тщательно подготовленную поверхность изделия. При этом определение толщины пленок во многом зависит от точности установления показателя преломления света прозрачными средами. К этим методам относятся поляризационный, определение толщины по цвету окраски и интерференционный. [c.116]

Температурное расширение определяется на основе измерения смещения интерференционных полос в картине, создаваемой двухлучевым поляризационным интерферометром во время нагрева образца. Измерение осуществляется по схеме, изображенной на рис. 7.44. [c.430]

Таким образом, в моноимпульсных лазерах с неустойчивыми резонаторами следует использовать преимущественно электрооптические или пассивные (с насыщающимся поглотителем) затворы для спектральной селекции годятся главным образом эталоны Фабри — Перо и интерференционно-поляризационные фильтры, по прохождении которых свет не меняет своего направления. Однако и здесь приходится считаться еще с тем, что в любом линейном неустойчивом резонаторе по крайней мере в одном из двух противоположных направлений распространяется не плоская, а сферическая волна. В этих условиях введение того или иного фильтра не будет приводить к модуляции интенсивности по сечению резонатора, только если угловая ширина максимума пропускания фильтра превышает угол раствора сферической волны. В результате на параметры фильтра, а с ними и на достигаемую с его помощью минимальную ширину спектра накладываются ограничения (соответствующие данные для случая эталона [c.228]

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ И ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ [c.173]

Использование электрооптических интерференционно-поляризационных фильтров позволило также реализовать бистабильную перестройку излучения лазеров па красителях, что дополнительно облегчает осуществление в оптическом диапазоне ряда операций, используемых в традиционной электронике. [c.247]

Интерференционно-поляризационные фильтры [98 ] основаны на принципе интерференции конечного числа световых пучков с большими разностями хода и равными амплитудами. Они представляют собой по существу два последовательно установленных поляризационных интерферометра. Несмотря на узкую полосу пропускания (0,1—0,2 нм), фильтры интерференционно-поляризованного типа не нашли широкого применения из за сложности конструкции и трудностей эксплуатации. [c.67]

Б — светофильтры для наблюдательных телескопических приборов, а также интерференционно-поляризационные светофильтры [c.89]

Светофильтры делятся на следуюпще группы а) из стекла, окрашенного в массе б) желатиновые в) из окрашенных пластмасс г) жидкие д) газовые е) поляризационные ж) интерференционные. [c.279]

Описанные выше способы отклонения лазерного луча нашли достаточно широкое применение в лазерных сканирующих системах. Но вместе с тем могут применяться и другие дефлекторы, в основе действия которых лежат иные физические явления, приводящие к отклонению луча. Так, существуют поляризационные, интерференционные, термические, дисперсионные, внутрирезона-торные дефлекторы, с принципами работы которых можно ознакомиться в [99, 128, 134]. [c.86]

Возможность получения световых волн, поляризованных в любой плоскости, позволяет поставить вопрос о взаимодействии волн, колебания которых взаимно перпендикулярны. Основные опыты в этом направлении были выполнены Aparo и Френелем (1816 г.). Они показали, что если в обычном интерференционном опыте на пути двух интерферирующих пучков поставить поляризационные устройства, обеспечивающие их взаимно перпендикулярную поляризацию, то интерференция наблюдаться не будет. Но если повернуть одно из этих поляризационных устройств на 90°, [c.388]

Однако эту скрытую интерференцию можно увидеть, если смотреть на экран через поляризационную призму—анализатор П, ориентированный параллельно АА НЛП ВВ. В первом случае он погасит все компоненты, паправлеппые по ВВ, и позволит увидеть интерференционную картину с максимумом в центре поля. Во втором случае анализатор задержит все колебания, направленные по АА, и мы увидим вторую дополнительную интерференционную картину с минимумом в центре [c.57]

Интерференционно-поляризационная микроскопия для контроля качества оптически прозрачных сред с фазовыми неоднородностями (метод акад. Лебедева А. А., приборы Интерфакс фирмы Цейс и др.). [c.111]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

Для решения дифференциального уравнения Лапласа (81) может быть также применен экспериментальный метод электрической аналогии. В электрической модели с напряжениями, создаваемыми на контуре, распределение потенциалов внутри поля удовлетворяет уравнению Лапласа. Чаще всего плоскую электрическую модель изготавливают из электропроводной бумаги и исследуют на установках типа ЭГДА [16]. Этот метод позволяет определять величины сумм главных напряжений + Ог внутри контура модели, что в сочетании с данными поляризационно-оптического метода Oj — 02 дает возможность получать раздельно главные напряжения и (Ja-Линии равных сумм главных напряжений Oj + (jg (изопахики) могут быть определены и при помощи оптического прибора — интерферометра как линии равных приращений толщины модели. Интерферометр ИТ [17] позволяет определять Oj + на материалах с малой оптической чувствительностью (типа органического стекла). В результате наложения интерференционных картин в модели до и после ее загружепия образуются муаровые полосы, являющиеся изопахиками. При работе с оптически чувствительными материалами типа эпоксидных смол этот интерферометр с введенным в его схему анализатором позволяет определять абсолютную разность хода лучей, поляризованных в плоскостях, соответствующих напряжениям и Ог. Главные напряжения определяют в этом случае по отдельности через абсолютные разности хода [c.69]

Частотные О. ф. (светофильтры) используются для выделения или подавления нек-рого заданного участка спектра широкополосного оптич. излучения. Осп. характеристики таких О. ф. отношение ср. длины волны Ло к ширине полосы пропускания (поглощения) 6к контрастность — отношение коэф. пропускания фильтра в максимуме прозрачности к коэф. пропускания вне полосы пропускания. В зависимости от используемого физ. механизма частотные О. ф. разделяются на абсорбционные, интерференционные, поляризационные, дисперсионные и др. [c.459]

Абсорбционные О. ф. (окрашенные стёкла, пластмассы, плёнки, поглощающие растворы и т. и.) изготовляются из компонент, полосы селективного поглощения к-рых, накладываясь, перекрывают достаточно широкий спектральный диапазон, оставляя свободным нек-рый заданный участок спектра, к-рый и образует полосу пропускания данного О. ф. Величина для таких фильтров обычно не превышает 10. В интерференционных фильтрах используется интерференция волн, отражённых от двух или более параллельных друг другу поверхностей, в результате чего коэф. пропускания такого О. ф. периодически зависит от длины волны падающего на него излучения. При использовании многослойных диэлектрич. покрытий в качестве отражающих поверхностей оказывается возможным получать О. ф. с шириной полосы менее 1 нм при прозрачности в максимуме до 80%. Действие поляризационных фильтров основано на интерференции поляризованных лучей. Простейший поляризац. фильтр Вуда состоит из двух параллельных поляризаторов и установленной между ними двулучепреломляющей кристаллич. пластинки. При использовапии комбинации таких фильтров (т. и. фильтр Лио) возможно получение весьма узких полос прозрачности (до 10 нм, к Ь к 10 ). В дисперсионных О. ф. используется зависимость показателя преломления от длины волны. Типичные величи- [c.459]

Ддя определения толщины тонких окисных пленок, образующихся на металлах, известны примеры применения ряда оптических методов, например, интерференционного, фотометрического, поляризационного. Определение толщины пленок возможно при условии, если известны оптические константы металла иокисной пленки. При образовании гетерогенной окалины задача существенно усложняется. [c.19]

Исследования КЛТН в поляризационном микроскопе показали, что интерференционные картины при х 0,5 [c.289]

Основными факторами влияния неоднородных температурных полей в активных элементах твердотельных лазеров на формирование полей излучения в резонаторе и на выходные характеристики лазера являются термоиндуцированные неоднородности показателя преломления и оптической анизотропии среды. Для исследования этих искажений применяются классические интерференционные и поляризационные методы и приборы, в которых используются параллельные пучки лучей. Пропускание измерительных пучков через активные элементы в направлении оси резонатора дает возможность измерять именно те искажения (интегральные вдоль геометрических путей лучей в активном элементе), которые непосредственно характеризуют влияние активного элемента на свойства резонатора. [c.173]

Поляризационно-динамическая установка и способ инициирования роста трещин для камер типа СФР были разработаны в лаборатории исследования напряжений МИСИ им. В.В. Куйбышева [43]. Рассмотрим методику определения динамического коэффициента интенсивности напряжений по картинам интерференционных полос. На рис. 4.1 представлены отдельные фрагменты покадровой съемки процесса динамического распространения трещины в предварительно растянутой пластине из отвержденной эпоксидной смолы, скорость съемки -650 ООО кадров в секунду. Многие исследователи считают картину интерференционных полос иодобной статической, игнорируя фактор распространения трещины. Делается допущение об идентичности распределения напряжений в статике и динамике. Однако квазистатическая методика определения динамического коэффициента интенсивности напряжений может привести к существенным погрешностям при больших скоростях распространения трещины. В самом деле, в вершине стационарной трещины на линии ее роста Оуу. В случае же распространяющейся трещины отношение главных напряжений Oyyj а у. на этой [c.86]

Для регистрации интерференционных картин абсолютных разностей хода в прозрачных моделях с бегущей трещиной использовался метод двух зкспозиций с регистрацией голограмм сфокусированных изображений. Исследования проводились на динамической поляризационно-голографической установке, в которой источником света служил моноимпульсный оптический квантовый генератор с электро-оптическим затвором. [c.88]

Получается картина, аналогичная образованию полос муара, но меняется здесь не амплитуда прошедшей волны, а состояние ее поляризации. Дешифровка образовавшейся в выходной фокальной плоскости интерференционной картины осуществляется путем вращения выходного поляризатора. При бх = 0 модулируется весь световой поток. Увеличение бх приводит к тому, что в пределах растра появляются зоны с эллиптической поляризацией излучения, а также противофазной поляризацией. В итоге средняя глубина модуляции уменьшается. Поскольку соотношение (31) вполне аналогично формуле (23), становится очевидным, что при прямоугольной форме кодирующих поляризационных пластин мы получим аппаратную функцию, аналогичную растровому спектрометру. Для круглых пластин аппаратная функция будет несколько шире, но побочные максимумы будут спадать быстрее, т. е. контур будет аподизи-рован. [c.54]

Оптический Прошедшего излучения Отраженного излучения Рассеянного излучения Индуцированного излучения Амплитудный Фазовый Временной Частотный Поляризационный Геометрический Спектральный Интерференцион- ный Нефелометр ический Г олографический Рефрактометрический Рефлексометриче- ский Визуально-оптиче- ский [c.24]

Электрооптические кристаллы находят широкое практическое применение. Из них изготовляются оптические затворы и модуляторы для передачи информации с использованием лазерного пучка, генерации гигантских импульсов излучения. Модуляторы света применяются в световой связи, в светодальномерах, в устройствах звукозаписи звукового кино, в цветном телевидении, в автоматических поляриметрах, в устройствах скоростной фото- и киносъемки и пр. Электрооптические преобразователи используются в управляемых узкополосных интерференционно-поляризационных светофильтрах, в устройствах для измерения высоких напряжений, в оптических элементах счетно-решаюших систем. Создавая неоднородное электрическое ноле в электрооптическом кристалле, можно эффективно изменять направление распространяюш,егося в нем светового пучка. Остановимся кратко на некоторых из перечисленных применений. [c.206]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...