Спектры распределение интенсивности

Пространственные Фурье-спектры распределения интенсивности и характерные пространственные частоты по горизонтали Тг и по вертикали [c.211]

Под спектром в оптике понимают совокупность частот (дискретную или сплошную) монохроматических колебаний, которыми можно представить свет какого-либо источника. Графически спектр изображают как распределение интенсивности излучения по частотам [c.37]

При характеристике активной зоны как источника излучения следует рассматривать не только энергетические спектры излучения, но и пространственное распределение интенсивности излучения в ней как объемном (протяженном) источнике. [c.35]

При количественных измерениях постановка вопроса о разрешении должна быть изменена (Г. С. Горелик). Пусть две линии расположены настолько близко, что в середине суммарного распределения располагается не минимум, а максимум освещенности (рис. 9.27), т. е. кривая С имеет качественно такой же вид, как и кривые Л и Д в отдельности. Тем не менее это суммарное распределение интенсивности количественно отличается от распределения при одиночной линии. В частности, суммарное распределение имеет большую ширину, чем одиночная линия. Это отличие можно измерить, и если точность измерений достаточно высока, мы получаем возможность установить, что в спектре излучения имеются две спектральные линии, а не одна. Таким образом, при количественных измерениях критерий разрешения можно сформулировать [c.216]

Световой пучок, соответствующий каждому максимуму, проходя через вторую решетку, распадается на новую совокупность световых пучков, дающих максимумы вдоль вертикальной линии. Полная картина спектра подобна изображенной на рис. 10.1. Цифры 0,0 0,1 1,1 1,2 и т. д. около пятнышек показывают порядок спектра в первой и второй решетках интенсивность их убывает по закону распределения интенсивности в дифракционных спектрах решетки. Нетрудно дать элементарную теорию дифракции на такой решетке. [c.225]

Спектр поглощения или испускания данной атомной системы задается совокупностью значений частот спектральных линий или полос, а также распределением интенсивностей. [c.226]

Аппаратурные искажения спектрометра учитываются с помощью аппаратной функции А (V), которая задает некоторое распределение интенсивности в спектре, если на вход спектрометра падает идеально монохроматическое излучение. Если же в спектрометр попадает излучение с некоторым распределением интенсивности по спектру ф(м), то наблюдаемая форма контура спектральной линии такого излучения будет определяться интегралом (сверткой) вида [c.122]

Табличные значения интенсивностей линий выражают распределение интенсивности в СКР индивидуального вещества, близкое к истинному. При составлении табличных данных было учтено искажающее влияние установки на распределение интенсивности по спектру и, в частности, спектральная чувствительность фотопластинок. При определении интенсивности линий смеси /1см, Ьсм, /зсм, находящихся в различных спектральных областях, также следует учитывать влияние установки и фотопластинок. Для этого необходимо иметь источник света с известным распределением энергии по спектру, например лампу накаливания или флуоресцирующее вещество. [c.141]

Метод с использованием интенсивности линий индивидуальных веществ, В этом методе необходимо знать истинное распределение интенсивности линий в СКР- Для этого следует исключить влияние спектральной чувствительности установки на соотношение интенсивностей линий, расположенных в разных участках спектра. Например, фотоэлектронный умножитель ФЭУ-17 с сурьмяно-цезиевым фотокатодом обладает большой чувствительностью в сине-зеленой области спектра, которая резко падает к красному краю спектра. [c.143]

Распределение интенсивности /фд (V) в спектре сернокислого хинина [c.315]

Наряду с изучением сверхтонкой структуры спектральных линий атомов, существенную роль в установлении свойств ядер сыграло исследование молекулярных спектров. Влияние ядерных моментов на спектры молекул прежде всего сказывается на распределении интенсивностей линий ротационной структуры в молекулярных полосах. [c.578]

В этом методе источником возбуждения спектра служит разряд между шлифом и установленным параллельно плоскости шлифа лезвием. Полученный таким путем линейный источник света резко фокусируется на щель спектрографа. В сфотографированном спектре изменение интенсивности по высоте спектральной линии соответствует изменению концентрации элемента вдоль исследуемого участка поверхности образца. Таким образом по данным спектрограммы можно построить график распределения элементов в диффузионной зоне. [c.187]

Корректировка числа циклов нагружения на каждом уровне нагрузки для обеспечения подобия распределений интенсивности повреждения исходного спектра и программы производится по формуле (11.47). [c.44]

На фиг. 4 приведены также кривые 2 я 3 распределения интенсивности излучения в спектре черного тела при температурах Гэф , и Гэф-Как видно из графиков,. распределение интенсивности спектрального эффективного излучения по длинам волн отличается от распределения интенсивности излучения черного тела при эффективной температу ре Т эфя. и Гэф как ло абсолютной величине, так и положением максимума интенсивности излучения. Кроме того, площадь графика, ограниченная [c.155]

Тепловое излучение пламени на указанных пяти участках спектра длин волн связано лишь с излучением твердых частиц сажистого углерода (/хс). Для сравнения на каждом из графиков приведена кривая спектрального распределения интенсивности излучения абсолютно черного тела при температуре пламени I o- [c.122]

Светящееся сажистое пламя обладает весьма сложным спектром излучения, в котором относительное спектральное распределение интенсивности существенно изменяется также в зависимости от температуры пламени и состава продуктов сгорания. По мере удаления от горелки, т. е. на разных стадиях выгорания факела, изменяется соотношение между спектральными интенсивностями излучения газов и твердых сажистых частиц. Относительная роль газового излучения заметно возрастает по ходу выгорания факела как за счет увеличения собственной степени черноты трехатомных га- [c.124]

Распределение интенсивности по длинам волн в спектре излучения абсолютно черного тела в зависимости от температуры тела и длины волны излучения показано на рис. 1-2. Как и у всех твердых тел, спектр излучения абсолютно черного тела является непрерывным и неравномерным. [c.12]

Излучение всех твердых, жидких и газообразных тел, находящихся в природе, характеризуется неравномерным распределением интенсивности по спектру излучения, а их монохроматическая и интегральная поглощательные способности всегда меньше, чем у абсолютно черного тела. [c.48]

Степень селективности излучения определяется тем, насколько спектральное распределение интенсивности излучения данного тела отличается от такового у абсолютно черного тела, имеющего равную с ним температуру. Строго говоря, излучение всех находящихся в природе тел в той или иной степени всегда является селективным. Но степень селективности излучения у различных тел разная. Наибольшей селективностью излучения обладают, например, газы, так как они излучают лишь в определенных сравнительно узких полосах спектра абсолютно черного тела. [c.48]

Если тело обладает непрерывным спектром излучения, а кривая распределения интенсивности в зависимости от длины волны подобна кривой 7 , о абсолютно черного тела, то излучение такого тела, в отличие от излучения абсолютно черного тела, называют серым. [c.50]

На основании закона Кирхгофа и формулы Планка распределение интенсивности в спектре собственного излучения серых тел описывается формулой [c.51]

Тогда для частной задачи прохождения пульсаций с одной стороны в [35] приведены простые выражения для распределения интенсивности и спектральной плотности пульсаций, которые использовались для исследования некоторых конкретных систем. На рис. 2.6 приведены зависимости отношения интенсивности пульсаций в середине стенки и в жидкости для ртути и воды, из которых следует, что с уменьшением числа Био и с увеличением в спектре доли высоких частот затухание пульсаций происходит интенсивнее. При этом расчетные кривые и экспериментальные точки хорошо согласуются. При наличии статистических характеристик пульсаций жидкости кривые рис. 2.6 могут использоваться для оценки долговечности. На рис. 2.7 представлены кривые спектров [c.19]

Спектральная интенсивность излучения абсолютно черного тела зависит от длины волны X и температуры Т. Распределение интенсивности излучения в спектре абсолютно черного тела описывается законом излучения Планка [Л. 14-4] [c.196]

Анализ химического состава смес . При молекулярном масс-спектральном анализе анализируют газообразную смесь, поступающую в ионный источник масс-спектрометра, так, чтобы найм, доля вещества попадала на раскалённый катод (и там разлагалась). Качественный анализ основан на измерении либо массы не-распавшегося молекулярного иона, либо распределения интенсивности линий в масс-спектре каждого вещества. Осн. способом ионизации является ионизация электронным ударом с энергией электронов в иеск. десятков эВ. Количественный анализ основан на пропорциональности интенсивности всех линий масс-спектра каждого из веществ его парциальному давлению в области ионизации. Суммарный масс-спектр смеси аддитивное наложение масс-спектров каждого из компонентов смеси. Для того чтобы состав смеси в области ионизации не отличался от исходного, стремятся обеспечить молекулярное (кнудсеновское) натекание газа в ионный источник. Для градуировки используют масс-спектры компонентов смеси и определяют относит, или абс. коэф. чувствительности масс-спектрометра к данному веществу. Абс. коэф. чувствительности — отношение интенсивности линии, принятой за эталонную, к кол-ву этого вещества в напускном объёме относит, чувствительность — отношение абс. чувствительности для 2 веществ. Относит, чувствительность прибора меняется со временем не более чем на неск. % (абс, чувствительность колеблется больше). [c.58]

Рис. 2, Спектральное распределение интенсивности I, тормозного излучения рентгеновской трубки по длинам волн X Хо — квантовая граница спектра, Хт — длина волны излучения при максимальной интенсивности, Хк — квантовая граница возбуждения Д-серии атома анода.

Оптич. передаточной ф-ции можно придать следующий физ. смысл. Известно, что любая ф-ция, описывающая картину интенсивности [действительная, положительно определённая ф-ция 1 х,у)], может быть представлена в виде амплитудных синусоидальных решёток—синусоидальных распределений интенсивности. Из (3) следует, что ОПФ определяет контраст, с к-рым оптич, система передаёт изображение синусоидальных решёток разл. пространств, частот. В частности, оптич. система, ОПФ к-рой имеет вид, как на рис. 2, передаёт с макс. контрастом НЧ-компоненты спектра (низкочастотные синусоидальные решётки, составляющие картину интенсивности объекта, изображаются с тем же контрастом, какой они имеют во входной плоскости). По мере роста пространственной частоты решётки её контраст в плоскости изображения по отношению к контрасту в плоскости предмета становится всё меньше и, наконец, решётки, частоты к-рых превышают граничную частоту не передаются в плоскость изображения, т. е. имеют в плоскости изображения нулевой контраст. [c.448]

Рис. 5.1. Функция рассеяния и передаточная функция. Схема функциональных связей при некогерентном освещении. (Т-преобразование Фурье ФРИ-функция распределения интенсивности ЧСРИ-частотный спектр распределения интенсивности ФРТ-функция рассеяния точки ОПФ-оптическая передаточная функция -свертка х -умножение.)

Как показано на рис. 5.1, хотя и чисто символически в одном измерении, приложение теоремы свертки создает частотный спектр распределения интенсивности изображения в виде произведения спектра частот распределения интенсивности (ЧСРИ) по объекту и преобразования Фурье от ФРТ. Преобразование от ФРТ является оптической передаточной функцией (ОПФ) системы. [c.89]

Спекание металлических порошков 514 Спектры, распределение интенсивности 177, 185 Сплавы, изготовление 513 Спондилоз деформирующий 560 Стабилизаторы эмульсий 465 Стабильность колебаний кварца 89 Старение вин 525 [c.721]

В 70-х гг. разработана новая технология изготовления решеток, основанная на создании периодического распределения интенсивности на специальных фоточувствительных материалах в результате интерференции лазерного излучения. Такого рода решетки, называемые голографическими, имеют высокое качество и изготавливаются для видимой и ультрафиолетовой областей спектра с числом штрихов от 600 до 6000 на 1 мм и с размерами вплоть до 600 X 400мм . [c.209]

Спектром испускания (флуоресценции) называется распределение интенсивности испускаемой веществом энергии по частотам (или длинам волн). Вид спектра флуоресценции определяется составом и строением флуоресцентного центра, а также влиянием растворителя. Как и длинноволновая полоса поглощения, спектр флуоресценции сложных молекул не имеет колебательной структуры и представляет собой одну довольно широкую бесструктурную полосу (рис. 34.4). Такое строение полос поглощения и флуоресценции свидетельствует о том, что колебательные уровни 1[ижнего и верхнего электронных состояний не дискретны, а образуют непрерывную последовательность. [c.251]

Эффекты акустооптич, взаимодействия используются как при физ. исследованиях, так и в технике. Дифракция света на УЗ даёт возможность измерять локальные характеристики У 3-полей. По угловым зависимостям дифрагированного света определяются ди-аграмма направленности и спектральный состав акустич. излучения. Анализ эффективности дифракции в разл. точках образца позволяет восстановить картину пространственного распределения интенсивности звука, В частности, на основе акустооптич. эффектов осуществляется визуализация звуковых полей. С помощью брэгговской дифракции удаётся получить информацию о спектральном, угловом и пространственном распределении акустич, фояонов в ДВ-области фононного спектра. Этот метод представляет ценность для изучения неравновесных акустич. фононов, иапр. в условиях фононной (акустоэлектрической) неустойчивости в полупроводниках, обусловленной усилением [c.46]

Д. п. по сплошному спектру ( континууму ) основана на определении либо абсолютной локальной интенсивности I (v) в к.-л. точке спектра, либо её относит, распределения в протяжённом участке (обычно в коротковолновой области). Осн. трудность этих методов связана с интерпретацией измеренных интенсивностей, т. к. в плазме могут одновременно действовать неск. механизмов генерации континуума (см. Излучение плазмы). С наибольшей надё/кностью Д. п. (оптически тонкой) проводится в тех условиях, в к-рых излучаемый ею континуум /д (v) представляет собой совокупность тормозного (на ионах) и рекомбинационного (одноэлектронного) континуумов, а сама плазма химически однокомпонентна. В атом случае для спектральных распределений интенсивности в тормозном /т (v) и рекомбинационном /р (v) континуумах имеют аналитические выражения, позволяющие определять Tg (при максвелловском распределении электронов) по наклону зависимости = (/т + р) от v. В случае немаксвелловской формы ф-ции распределения электронов из.мерения (v) позволяют исследовать вид fg (v). По абс. интенсивности континуума может быть найдена затем концентрация п , если известен ионный состав плазмы или эфф. заряд ионов плазмы, [c.607]

Вторая ф-ция Jg, влияюп1 ая на результирующее распределение интенсивности в спектре, обусловлена дифракцией света на отд. штрихе она зависит от величин d, -ф и ф, а также и от формы штриха — его профиля. Расчёт, учитывающий Гюйгенса — Френеля принцип, даст для ф-ции Jg выражение [c.658]

С. в. к. колебаний в двух точках поля может быть вычислена аналитически, если известны спектр излучения, распределение интенсивностей и относит, фазы элементарных излучателей источника света. Это эквивалентно знанню ф-цип корреляции Gi2(t) = < i( ) 2 + с)> полей Vi(i) в точках 1 ш 2, взятых в соответствуюпще моменты времени. Угл. скобки означают усреднение по времени, звёздочка отмечает сопряжение амплитуды V поля, представленной в комплексной форме. При этом [c.395]

КОНТУР СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛЙПИИ (профиль спектральной линии) — спектральное распределение интенсивности излучения или поглощения в спектральной линии. Спектральные линии в дискретных спектрах испускапия пли поглощения не являются строго моно-хроматичными. Действие разл. механизмов уширения спектральных линий приводит к образованию нек-рого спектрального распределения интенсивности /(о1)йш вблизи частоты квантового перехода в атоме или молекуле. Величина бсо=Ша— oi, где частоты и Шг определяются условием / (wi)=/(Ш2)=72 макс ( ) [/ акс(со) — максимальное значение интенсивности], наз. шириной спектральной линии. Выделяют центр. [c.449]

Колебательная структура электронных спектров. Поверхности потенц, энергии и соответствующие им системы колебат. уровней разл. электронных состояний иогут существенно отличаться друг от друга, поэтому колебат. структура электронных переходов подчиняется довольно сложным правилам отбора и электронно-колебат. спектр сильно отличается от чисто колебательного. Тем не менее оси. особенности колебат. структуры поддаются не только качеств., но и количеств, анализу. Теоретич. основой этого анализа является Франка — Кондона принцип, позволяюпщй предсказывать распределение интенсивностей полос колебат. структуры, [c.203]

Др. отличие молекулярного Р. с. от атомного связано с анизотропией поляризуемости молекул. Из-за этого п вследствие произвольной ориентации свободных молекул в пространстве свет при рассеянии деполяризуется, а вращение молекул вызывает модуляцию угл. распределения интенсивности рассеяния, что, как и молекулярные колебания, формирует спектр неупругого Р. е. вблизи рэлеевской линии, т. н. её крыло шириной Д(о/2яс = 1004-150 см 1 при комнатных темп-рах. [c.279]

Лазерная техника дала возможность довести спектральное разрешение излучения до 10 см". Это позволило пзучать Р. с. от медленно движущихся частиц с целью установления их распределения по скоростям (доплеровская лазерная анемометрия) и разрешить тонкие особенности спектров рассеяния с помощью спец, разработанных методов оптич. гомодинирования и гетеродинирования (с.м. Детектирование света). Отличие этих методов от траднциоявых состоит в анализе ве частотных спектров рассеянного поля, а спектров его интенсивности. Этот вариант нелинейной спектроскопии Р. с. даёт возможность исследовать высшие корреляторы поля (см. Квантовая оптика), что представляет большой интерес, т, к, статистика рассеянного излучения несёт информацию о строении веществ и процессах, происходящих в них. [c.282]

СПЕКТРОСКОПИЯ (от спектр и греч. skopeo — смотрю) — область физики, посвящённая исследованию распределения интенсивности эл.-магн. излучения по длинам волн или частотам (в более широком смысле С.— исследование разл. спектров). Методами С. исследуют уровни энергии и струитуру атомов, молекул и образованных из них макроскопич. систем, изучают квантовые переходы между уровнями энергии, взаимодействия атомов и молекул, а также макроскопич. характеристики объектов — темп-ру, плотность, скорость макроскопич. движения и т. д. Важнейшие области применения С.— спектральный анализ, астрофизика, исследование свойств газов, плазмы, жидкостей и твёрдых тел. [c.625]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...