Интерференционные полосы равного ширина

Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина — ряд полос равной ширины. [c.155]

Ширину линии падающего света можно определить, измерив ширину интерференционных полос и сравнив эти значения с расстоянием между соседними полосами той же самой длины волны. Если ширина интерференционной полосы равна Дх, а расстояние между полосами Хо,.то соответствуюш,ая ширина линии падающего света дается выражением [c.388]

Получена общая формула для ширины полос равной толщины. Для малых углов 9 и угла сходимости <а можно вновь записать, что Ь = Х/ю. Это выражение совпадает с полученным ранее. Оно показывает, что линейная ширина интерференционной полосы равной толщины зависит только от угла схождения <0. Для получения достаточно широкой полосы надо иметь малый угол со. [c.125]

Угловая ширина интерференционных полос равна [c.163]

Из (4.4) видно, что ширина интерференционных полос равной толщины будет определяться геометрическими параметрами интерферометра, которые по (4.1) входят в выражение для разности хода А. [c.35]

Ранее было установлено, что будут наблюдаться контрастные интерференционные полосы равного наклона, если зрачок входа наблюдательного прибора (например, глаза) меньше или равен четверти ширины полосы равной толщины. Считая диаметр зрачка равным [c.92]

Приведем последовательно приемы юстировки этого прибора, начиная с геометрической юстировки. Сначала следует выставить ось осветительного коллиматора перпендикулярно к плоскости зеркала М . Это легко осуществляется с помощью автоколлимационной трубы и при регулировке механизма наклона зеркала М . Таким же образом выставляется ось фокусирующей линзы 0 и зеркало М2. Затем можно определить правильное положение пластины Р путем ее поворотов вокруг вертикальной оси и совмещения при этом двух изображений входной диафрагмы 5 в фокальной плоскости После этого этапа юстировки при аккомодации глаза на поверхность зеркала М2 должны появиться интерференционные полосы равной толщины, так как некоторая клиновидность и разность в расстояниях РМх и РМо неизбежны. Далее следует окончательная юстировка системы. Она заключается в получении контрастных интерференционных полос соответствующей ориентировки и ширины. [c.95]

Если зеркала 5 и 7 перпендикулярны к пучкам света, то оптическая разность хода лучей, отраженных от различных участков поверхности зеркал до пластины 8, постоянна и шкала освещена равномерно. При наклоне зеркала 7 с помощью специальных винтов создается переменная оптическая разность хода интерферирующих лучей вдоль пластины 8 (мнимый воздушный клин), и на фоне шкалы наблюдается интерференционная картина с полосами равной ширины (рис. 95, б). [c.132]

Если поставить плоский экран, то он пересечет плоскости равной интенсивности вдоль параллельных прямых на экране появятся светлые и темные интерференционные полосы . Расстояние между серединами соседних светлых или темных полос называется шириной интерференционной полосы. Если плоскость экрана параллельна плоскости к , йг). в которой лежат волновые векторы кх и к , то ширина интерференционной полосы равна Ах, т. е. определяется выражением (26.12). То же самое получится, если экран установлен в перпендикулярной плоскости перпендикулярно к биссектрисе угла между волновыми векторами ki и к . Если же, оставляя экран перпендикулярным к плоскости кх, к ), повернуть его на угол ф, то ширина интерференционной полосы сделается равной А л = Ax/ os ф. [c.193]

Очевидно, что необходимо как-то охарактеризовать форму контура интерференционной полосы. Для этого вводят критерий резкости F, равный отношению расстояния между двумя сосед ними максимумами интерференции к ширине полосы г.. Для нахождения F запишем формулу Эйри, исключив предварительно [c.241]

Из формулы (92) следует, что, изменяя угол клина а, можно изменять ширину наблюдаемых интерференционных полос, которые при рассмотренном способе возникновения называют полосами равной толщины. Другой способ получения интерференционных полос, называемых полосами равного наклона, заключается в том, что параллельные световые пучки, падающие на плоскость под разными углами р , разделяют линзой и собирают в разных местах фокальной плоскости, причем каждой отдельной полосе соответствует определенная, зависящая от наклона разность хода А, а именно для воздушного промежутка [c.89]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Технический метод интерференции основан на оптическом явлении — интерференции света. Если на хорошо обработанную металлическую плоскость детали I наложить плоскую стеклянную пластинку 2 (рис. 70, а) таким образом, чтобы между плоскостью пластинки и контролируемой поверхностью образовался небольшой воздушный клин, то на контролируемой поверхности появятся цветные радужные полосы, называемые интерференционными. Интерференционные полосы располагаются на равных друг от друга расстояниях. Расстояние между полосами одного и того же цвета принято называть шириной полосы. Интерференционные полосы располагаются только в тех местах, в которых толщина воздушного клина равна вполне определенной величине. Эта величина зависит от источника света, при котором наблюдают интерференционную картину. Если наблюдение интерференционных [c.161]

Сигналы, сдвинутые на 90°, получают несколькими способами. Один из них заключается в том, что используют два фотодатчика, размещенных в различных участках интерференционной полосы, расстояние между которыми равно одной четвертой ее ширины. Для удобства практической реализации указанного способа увеличивают ширину интерференционных полос путем наклона опорного зеркала или введения в одно из плеч интерферометра оптического клина, а перед фотодатчиками помещают отверстия диафрагм. Несмотря на простоту реализации этого способа получения фазового сдвига, он обладает рядом недостатков, основными из которых являются использование лишь незначительной части суммарного светового потока, проходящего через небольшие отверстия диафрагм, и сильная зависимость величины фазового сдвига от пространственных искажений интерференционной картины, возникающих в реальных условиях из-за разъюстировки интерферометра, конвекционных воздушных потоков и т. д. и приводящих к изменению пространственного положения полос и их ширины. [c.242]

При прохождении лучей около поверхности тела возникает дифракция и на экране на интерференционные полосы накладываются полосы от дифракции. Вследствие этого интерференционные методы применимы тогда, когда толщина пограничного слоя исследуемого потока во много раз больше ширины дифракционной зоны. По оценкам, приведенным в [49], координата первого максимума полосы дифракции равна 0,45 мм. [c.389]

При освещении зеркальных пластин 5 телецентрическим пучком монохроматического света от точечного источника I образуется полоса равной толщины, имеющая бесконечную ширину, т. е. поле интерференции будет представлять собой равномерно освещенную поверхность, причем уровень освещенности ее (отношение интенсивности в интерференционной полосе к максимальной интенсивности) в общем случае будет различным в зависимости от разности фаз интерферирующих лучей (при данных параметрах интерферометра). [c.22]

Если ширину щелей, вырезающих части интерференционного поля, выбрать таким образом, что радиус-вектор описывает окружность, то полярный угол этого вектора будет равняться б. Следовательно, замеряя полярный угол радиуса-вектора, можно проводить счет интерференционных полос с учетом направления их движения. Для измерения положения радиуса-вектора используется метод фазовой модуляции напряжения несущей частоты и определения угла сдвига его фазы относительно некоторого опорного напряжения той же частоты с помощью вращающегося трансформатора. [c.110]

Мы показали, что можно значительно улучшить качество изображений, выбирая времена экспозиции, пропорциональные биномиальным коэффициентам. Но мы не учитывали ширину щели, которая служит для фильтрации. Если она задана, то нужно найти такой профиль интерференционных полос, при котором в плоскости изображения было бы как можно меньше света от одинаковых участков. Для этого приходится исследовать зависимость площади заштрихованного участка на рис. 87 от положения отрезка АВ, равного ширине щели, на оси v. Ищут такой профиль интерференционных полос, при котором обеспечивается наименьший минимум, чем и определяются длительности экспозиций [163]. [c.91]

Чтобы показать, каким образом при помощи интерферометра Майкельсона можно измерять ширину линии, рассмотрим интерференцию двух квазимонохроматических пучков равной интенсивности и с оптической разностью хода Пусть f k) — спектральная интенсивность интерференционных полос, обусловлен-ных спектральными компонентами с волновыми числами в интервале (fe, k + dk) [c.420]

Величину искривления интерференционных полос определяют следующим образом. Мысленно проводят прямую, касающуюся полосы Б, в середине (рис. 45, г). Если края полосы смещены на 0,3- ширины ПОЛОСЫ, это значит, что отклонение от плоскостности поверхности 0,3X0,3=0,09 мкм. Если искривление полосы равно ши- [c.107]

Трудности наблюдения интерференции света в таком опыте связаны с тем, что длина волны видимого света очень мала. При Я. = 5-10 см и расстоянии d между отверстиями S, и Sg, равном всего 0,5 мм, ширина интерференционных полос составляет только 1 мм при удалении экрана С на 1 м от отверстий. Измеряя ширину интерференционных полос, Юнг в 1802 г. впервые определил длины световых волн для разных цветов, хотя эти измерения и не были точными. [c.207]

Для получения формулы для ширины полос воспользуемся исходными данными (3.2.5) для воздушной пластинки. Для упрощения вывода представим себе предельные случаи, когда 1 = 0 и ср = я/2. Первый случай соответствует тому, что интерференционные полосы равного наклона представляют собой кольца. Тогда условие для соседних максимумов в случае 1 — О будет Ао(1 — os 2) = Я или 2 sin2(t2/2) Ао = 2Ао(1г/2)2= == Я. Здесь 2 = Ai, т. е. [c.128]

Это выражение совпадает с (4.26). Соотношения показывают, что линейная ширина интерференционной полосы равной толщины зависит только от угла схождения со. Для получения достаточно широкой полосы (1—2 мм) угол со должен быть малым. Пусть необходимо работать в видимой области спектра и А. = 0,5 мкм для того чтрбы получить ширину полосы Ь = 1 мм, следует расположить когерентные источники на угловом расстоянии 5-10" рад это соответствует углу клина Г. [c.43]

При постановке этого опыта можно использовать неон-гелиевый лазер, генерирующий на длине волны 0,63 мкм (красная область спектра). На металлическом слое зеркала, нанесенном на прозрачную подложку, делают два почти параллельн - штриха (расстояние между ними равно примерно 0,3 мм). Вводя эти две щели в лазерный пучок и перемещая их на небольшие расстояния в плоскости, перпендикулярной лучу, легко добиться оптимальных условий наблюдения интерференционной картины. Никакая фокусирующая оптика в таком эксперименте не нужна. Лазер располагают в 5—6 м от экрана. Для увеличения масштаба интерференционной картины выбирают направление светового луча так, чтобы он составлял некоторый угол с поверхностью экрана (рис. 5.4). При таких условиях ширина инте1>ферен-ционной полосы равна примерно 1 см, а освещенность и контрастность интерференционной картины вполне достаточны для ее наблюдения на расстоянии 15—20 м. [c.183]

Рассмотрим картину в плоскости голограммы Я, возникающую в результате интерференции опорной волны и волны от какой-либо точки 5 объекта. Интерференционные картины такого рода, подробно обсужденные Б гл. IV, имеют вид последовательности периодических полос ширина (период) полос равна отношению длины волны к углу, под которым виден участок 05 из точки голограммы Я, для которой вычисляется период. Таким образом, в схеме рис. 11.10 каждой точке объекта соответствует гармоническое распределение интенсивности в плоскости Я ). Амплитуда ее изменения пропорциональна коэффициенту пропускания объекта в точ1се 5, а период тем меньше, чем дальше точка 5 от источника опорной волны О. [c.254]

Фокусировку объектива 6 осуществляют (при отсутствии интерференции) с помощью накатанной микрометрической головци 23, управляющей вертикальным перемещением всей оптической системы, включающей объектив 6. Цена деления шкалы барабан головки 23 равна 3 мкм. После этого поворотом головки 22 вклю чают горизонтальную ветвь прибора и получают изображениг измеряемой поверхности и систему интерференционных полос на ней в поле зрения винтового окулярного микрометра, надетсг.э на тубус 26. Изменение ширины интерференционных полос осуществляют поворотом головки 21 вокруг ее оси, а поворот интерференционных полос — поворотом головки 21 вокруг оси механизма 20. [c.93]

ШИРИНА дифракционного максимума на экране — расстояние между двумя ограничивающими его дифракционными минимумами естественная спектральной линии — ащрина спектральной линии, когда эта линия возникает при спонтанном переходе интерференционной полосы — расстояние между соседними интерференционными максимумами (или минимумами) спектральной линии — узкие, почти монохроматические участки в спектрах оптических испускания или поглощения вещества) ШКАЛА температурная термодинамическая (Кельвина— шкала, единицей измерения в которой служит Кельвин (Т = 0, К=—273,16" С) Ранкина — шкала, единицей измерения в которой служит градус Ранкина, равный 9/5 К> [c.297]

Зрапок в виде двух параллелышх щелей. Пусть две одинаковые параллельные щели с длиной 11 и шириной Iг, расстояние между центрами кото-рых равно L, ориентированы длинными сторонами вдоль оси Xi. Тогда дпя видности интерференционных полос по ортогональным осям получим соотношения [c.202]

Приемный тракт рассматриваемого лазерного локатора состоял из кассегреновского телескопа с относительным отверстием 1 2,5, интерференционного фильтра с шириной полосы пропускания 1 нм и диссектора. Телескоп имел металлическое главное зеркало диаметром 30 см, аберрации которого были исправлены стеклянным корректором. Пропускание оптической системы приемного тракта вместе с интерференционным фильтром составляло 40%- Отношение сигнал/шум на выходе фотоприемного устройства с учетом шума от фонового излучения равнялась 24,7 дБ. [c.216]

На рис. 4.5 приведена интерферо-грамма термодеформированного активного элемента из АИГ Nd, полученная при настройке интерферометра на полосы бесконечной ширины с подсветкой излучением гелиево-неонового лазера на длине волны 0,63 мкм. Активный элемент имел размеры 6,3 X X 80 мм, лампа накачки относительно приведенной интерферограммы располагалась снизу. По виду интерферограммы легко сделать следующие выводы о характере деформаций. Число наблюдаемых полос (восемь) соответствует образованию оптического клина величина клиновидной деформации на длине волны наблюдения равна 5 мкм. Деформация центральной части активного элемента (прогиб интерференционных полос примерно на одну полосу) соответствует образованию собирающей линзы, а деформация периферийных участков — рассеивающей линзы. [c.182]

Рассмотрим некоторые элементы геометрического построения зеркальных интерферометров, разработанного А. А. Забелиным [33, 341. Как известно, условием возникновения интерференционных полос в зеркальных интерферометрах является соединение когерентных световых пучков, прошедших различные пути, с помощью полупрозрачных отражательных слоев. В исходном или начальном положении интерферометра (разность хода равна Нулю, а разделенные лучи по выходе из интерферометра совпадают по направлению и образуют полосу бесконечной ширины) два луча, происшедшие от одного первичного луча вновь соединяются на одной из полупрозрачных пластин. Чтобы выполнить Это условие, в интерферометрах с двумя разделительными пластинами, например интерферометрах Маха-Цендера, необходимо рас-1голожить отражающие зеркала на касательных к эллипсу, а иен- [c.16]

В окрестностях максимумов интерференции при их совпадении для рассматриваемого интерферометра так же, как для интерферометра с равными расстояниями между зеркалами, относительная ширина интерференционной полосы определяется выражением (86), коэффициент пропускания интерферометра определяется произведением коэ4)фициснтов пропускания обоих интерферометров [см. выражение (68)1. Спект зальная величина области дисперсии определяется параметрами интерферометра с меньшей толщиной 1см. выражение (65)1, контрастность интерферометра различна в зависимости от характера наблюдаемой картины. В окрестностях совпадения максимумов обоих интерферометров контрастность интерференционной картины определяется параметрами второго интерферометра 1см. выражение (70)] вдали от мест совпадения максимумов, контрастность определяется произведением контрастностей интерферометров [см. выражение (71)]. [c.40]

Если увеличение Г оптической системы 3 и 6 не равно единице, то при соблюдении условия hi/hi -= Г схема, [юказанная на рис. 15, приобретает некоторые новые свойства. В таком интерферометре [85, 86] в отличие от лвухпластинчатото интерферометра можко выделить из области дисперсн(г гонкого интерферометра дискретный ряд из — 1) полос пропускания и сузить относительную ширину интерференционной полосы. [c.41]

Второй метод основан на наблюдении полос равной оптической толщины. Предварительно точечный источник света, установленный в фокальной плоскости объектива коллиматора, наблюдается в приемной части интерферометра. Регулировкой пластин интерферометра добиваются совпадения многократных изображений точечного источника. Интерференционная картина, наблюдаемая в фокальной плоскости объектива приемной части, будет в общем случае представлять собой поле, покрытое равноотстоящими друг от друга прямолинейными полосами. При приближении зеркал интерферометра к взаимно параллельному положению ширина полос будет увеличиваться, а при строго параллельном расположении зеркал интерферен[Шонное поле будет иметь вид равномерно освещенной поверхности. [c.95]

С помощью иптерференциоп-ного метода можно проводить исследования по распространению газовых примесей в замкнутых объемах 1100]. Интерференционные полосы на равномерно освещенном поле интерферометра настройка на полосу бесконечной ширины) объединяют точки с равными концентрациями Выражая показатель преломления смеси, через объемную концентрацию одного из компонентов, получим дифференциальное уравнение, связывающее смещение интерференционной полосы с концентрацией и показателем преломления каждого из компонентов двухкомцонентной газовой смеси [c.206]

Среди методов интерферометрии, используемых для изучения пленок, преобладающее место занимают многолучевые методы, что связано с их высокой чувствительностью измерений и высокой разрешающей способностью. Точность методов в льшой степени определяется точностью оценки смещения полосы. При малых расстояниях между зеркалами (при низких порядках интерференции), когда интер ренционные полосы имеют малую относительную ширину (отношение полуширины полосы к расстоянию между максимумами), точность методов достаточно высока. Однако при Сравнительно больших расстояниях ( 40—50 мм) для обеспечения высокой точности измерений необходимо применять объ-ективнь(е методы регистрации положения интерференционной полосы (например, с помощью фотоэлектрических компараторов). В этом случае весьма удо о применять фотометрическую обработку интерферограмм, позволяющую достаточно просто и с высокой степенью точности получать линии равных толщин прозрачных пленок. [c.231]

В общем случае р, и Рз зависят от положения точки наблюдения Р, поэтому видность полос может быть неодинаковой в разных местах интерференционного поля. Зависимость видности от ширины О источника показана на рис. 5.18. В опыте Юнга (см. рис. 5.4) )(со8р, — совР ) яа )J d/i=0.d и видность полос равна [c.247]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...