Юстировка

Обычно с помощью интерферометров решают вполне определенные физические и технические задачи (например, измерение длин или углов, определение показателя преломления и т.д.). Наблюдение интерференционной картины становится не целью исследования, а средством проведения того или иного измерения. Поэтому оптическая схема интерферометра должна удовлетворять ряду дополнительных требований. Для повышения точности часто вводят значительную разность хода между интерферирующими пучками и работают в высоких порядках интерференции. В таких случаях используют относительно высокую степень монохроматичности излучения резко повышаются и требования к юстировке оптической системы. В дальнейшем рассказано также об исследованиях, в которых интерферометры применяют для изучения основных характеристик излучения (степени монохроматичности, длины волнового цуга и др.). [c.221]

ДИМ, что все поле зрения окрашено в один цвет — ширина интерференционной полосы больше тех угловых размеров, при которых ведется наблюдение интерференционной картины. Тонкой юстировкой относительного положения пластин можно добиться появления интерференционных полос и сосчитать их число в поле зрения. [c.223]

В интерферометре Рождественского используются относительно невысокие порядки интерференции. Первоначальная юстировка проводится по нулевой полосе , соответствующей А = 0. Правда, в последующих измерениях дисперсии паров обычно вводят дополнительную разность хода и исследуют интерференционные кривые более высоких порядков. Этот прибор, предназначенный для точных измерений изменения показателя преломления газов или паров вблизи линии поглощения, рассчитан на исследование интерференционной картины в разных длинах волн. Поэтому обычно интерферометр освещают источником непрерывного спек- [c.224]

Вся предварительная юстировка интерферометра проводится при холодной кювете, т.е. без введения дополнительной разности хода, обусловленной наличием паров исследуемого металла. В процессе юстировки добиваются, чтобы интерференционные полосы, отображаемые объективом L2 на вертикальную щель спектрографа Sp, были строго горизонтальны. Особо проверяется наличие в поле зрения нулевой полосы , для которой порядок интерференции m = О (рис. 5.41,а). [c.226]

Интерферометр Майкельсона образован двумя отражателями Т] и Т2 и полупрозрачным зеркалом М (рис. 5.48). Металлическое зеркало М2 укреплено на подвижных винтах, что удобно для юстировки прибора. В качестве отражателей Tj и Т2 применяют призмы полного внутреннего отражения уголковые отражатели. Такая призма представляет собой тетраэдр из стекла с углами между боковыми гранями А, В, С, равными 90° (рис. [c.234]

Точная юстировка интерферометра не менее важна, чем высокое качество поверхности зеркал. Наиболее простой способ юстировки — визуальный просмотр колец, создаваемых различными участками поверхностей зеркал интерферометра. р]с. и поверхности строго параллельны, lo глаз видит кольца одного и того же диаметра. Видоизменение этого метода для более [c.245]

В-третьих, непрерывная запись оптических волн исключительно важна для изучения быстропротекающих событий. Голографические интерферограммы можно получать почти мгновенно при помощи импульсного лазера, а затем изучать их при восстановлении, используя источник света непрерывного действия. При. этом юстировка оптической измерительной схемы, а также фотографическая регистрация интерферограмм могут проводиться с. этим же источником непрерывного действия, что облегчает выполнение экспериментальной работы. [c.31]

Блок зеркал 2, 3, 14, 15, 16, на который падает луч непрерывного лазера К), может перемещаться по направляющему рельсу при восстановлении изображения уч направляется по пути опорного луча, при юстировке 76 [c.76]

Даны основные сведения о деталях и механизмах приборов, электромонтажных работах, механической обработке металлов, изготовлении оптических деталей. Рассмотрены средства контроля деталей приборов, контрольно-юстировочные приборы, особенности сборки узлов приборов и юстировки оптических приборов в целом. Описаны основные контрольные операции в механических и сборочных цехах. Даны сведения по стандартизации и контролю качества продукции. [c.127]

В работе могут использоваться спектрографы различных типов (например, ИСП-22, ИСП-30, СТЭ-1 и др.) с устройством которых нужно знакомиться по их заводскому описанию. Спектрограф ИСП-22 проще в обращении и дает возможность овладеть элементами юстировки. [c.31]

Упражнение 1. Юстировка установки. В соответствии с рекомендациями, приведенными в задачах 1 и 2, осуществите юстировку осветительной части установки и самого спектрографа. [c.39]

Производят юстировку осветительной системы спектрографа (см. задачу 2). [c.64]

Реальная разрешающая способность интерферометра может быть существенно меньше теоретической вследствие дефектов-поверхностей зеркал, погрешностей юстировки и других факторов. [c.80]

Производят юстировку интерферометра на параллельность по ртутной лампе. [c.84]

Обычно в качестве возбуждающей используют линию Н 435,8 нм расположенную в видимой (синей) части спектра, что позволяет работать со стеклянной оптикой и облегчает юстировку прибора. Эта линия интенсивна и вблизи нее, в широкой спектральной области, нет мешающих ртутных линий, что очень удобно для получения СКР и проведения анализа. Линии Hg 434,8 434,4 и 433,9 нм из-за относительно малой интенсивности обычно не мещают исследованию СКР. Для возбуждения можно также использовать фиолетовую линию Hg 404,7 нм. Интенсивные ультрафиолетовые линии Hg 253,7 нм и Н 365,0 нм используются реже. [c.117]

В этом случае подготовка образца к исследованию и юстировка установки производится так же, как и при фотографическом методе. Однако камера с фотопластинкой заменяется выходным коллиматором с записывающим устройством (рис. 46). [c.131]

При измерениях интенсивностей и ширин ИК-полос поглощения необходимо учитывать искажающее влияние спектрального прибора, связанное с конечной шириной щели. Дифракцией на диафрагмах оптических деталей, неточностями юстировки, аберрациями и др. Влияние прибора на форму полосы поглощения описывается интегральным уравнением [c.163]

Выбирают условия освещения щели, проверяют юстировку оптической системы. Проверяют качество фокусировки спектрографа. Для этого фотографируют спектр железа, имеющий боль-щое количество тонких линий, с шириной щели, примерно равной нормальной (см. задачу 1). [c.240]

Включают ленточную лампу для юстировки оптической системы. Во избежание возможной порчи лампы при неосторожном включении предварительно все реостаты лучше ввести в цепи лампы. Юстировку легче производить при слабом накале лампы, когда ее свечение имеет оранжевый цвет, что значительно увеличивает срок службы лампы. [c.260]

В настоящее время в экспериментальной практике используются разнообразные методы определения турбулентных характеристик потока. Однако все они могут быть разделены на две большие группы. К первой группе относят методы, основанные на введении в поток индикатора (пыль, мелкие частицы), по поведению которого можно сделать вывод о параметрах турбулентности. Это методы, основанные на эффекте Доплера (лазерный, акустический анемометры), методы мгновенной фоторегистрации, разнообразные оптические методы, методы электронных пучков и т. д. Указанные методы имеют небольшую разрешающую способность приборов, для них характерны трудности юстировки оптической системы, большой объем экспериментальной информации, а также определенные трудности расшифровки показаний аппаратуры. В то же время эти методы не искажают структуры потока и находят применение в тех случаях, когда другие методы неприменимы (например, при исследовании структуры вязкого подслоя). [c.257]

Кроме того, в сканирующую систему входят узлы крепления и подачи контролируемого изделия, оптическое маркерное устройство, позволяющее уточнить пространственное положение контролируемого сечения, элементы юстировки, жесткая несущая конструкция, средства обеспечения радиационной, электрической и механической безопасности, разнообразные [c.460]

Для увеличения точности прицельного нанесения отпечатка в прибор введен механизм юстировки. Он позволяет совмещать вершину индентора с оптической осью оптикомеханической системы измерения микротвердости. Лля этого держатель 25, в котором укреплен механизм внедрения, перемещают относительно стакана 27 с помощью микрометрических винтов 28 и подпружиненных упоров 29. Юстировка считается оконченной, если отпечаток, нанесенный вершиной индентора, находится в поле зрения, а его центр совмещается с пересечением визирных линий окуляра. [c.105]

Помехи при контроле теневым методом возникают таклсе от несоосности преобразователей. При настройке излучателя и приемника выполняют их юстировку на соосность, добиваясь максимальной амплитуды сквозного сигнала, затем их жестко закрепляют. Однако непараллельность поверхностей изделия, случайный его поворот при перемещении вызывают появление несоосности в процессе контроля. [c.117]

Специальные методы поддержания точных температурных условий и большие усилия, затрачиваемые на разработку специальных методов получения точных срезов кристаллов и их юстировки, могут оказаться бесполезными, если решающие свойства пьезоэлектрических кристаллов будут нарушены в процессе облучения. [c.409]

Схема установки для электронно-лучевой обработки (электронная пушка) показана на рис. 7.14. В вакуумной камере 1 установки вольфрамовый катод И, питаемый от исючкика тока, обеспечивает эмиссию свободных электронов. Электроны формируются в пучок специальным электродом и под действием электрического поля, создаваемого высокой разностью потенциалов между катодом И анодом 10, ускоряются в осевом направлении. Луч электронов проходит систему юстировки 9, диафрагму 8, корректор изображения 7 и систему магнитных линз 6, которые окончательно [c.413]

При разработке норм точности, по которым выполняют окончательную приемку изделий, целесообразно устанавливать допускаемую погрешность нормируемого параметра для нового изделия и для изделия в конце срока его эксплуатации (до ремонта машины или HOBoi i юстировки прибора). Запас точности следует создавать не только по геометрическим параметрам, но и по электрическим, упругим и другим функциональным параметрам, изменяющимся в процессе работы изделия. Например, нужно предусматривать запас точности упругой характеристики чувствительных элементов приборов, длины волны резонансных электромагнитных колебаний в резонаторных системах, определяющих качество электровакуумных приборов, II т. д. [c.28]

В из-чучении лазера сушествуют поперечные моды, существенно зависящие от условий юстировки резонатора. В этом легко убедиться, проецируя линзой излучение j[a3epa на удаленный экран и меняя юстировку зеркал. Поперечные моды могут быть уиич 1()Ж,( иы (или ослаблены) введением диафрагмы D, отсекающей дополнительные пути прохождения волны в резонаторе (рис 1.11). [c.36]

После завершения предварительной юстировки начинают постепенно нагревать печь, увеличивая давление nEipoe металла внутри кюветы и добиваясь линий поглощения на фоне сплошного спектра. В фокальной плоскости спектрографа при этом можно наблюдать своеобразную интерференционную картину. Вблизи линий поглощения наблюдается изгиб интерференционных полос, отражающий изменение показателя преломления, так как дополнительная разность хода, вносимая парами металла, в данном опыте (п — 1)/ (рис. 5.42). [c.226]

В последующих экспериментах был использован резонатор со сферическими зеркалами, так как й. этом случае необходимая точность юстировки и требовани.я к точности обработки [c.252]

Увеличение коэффициента отражения зеркал служ ит мощным средством повышения разрешающей силы, но возможности ее увеличения ограничены в реальном интерферометре несовершенством его поверхностей. Непараллельность отражающих поверхностей, а также их дефекты изменяют распределение интенсивности, создаваемое идеальным интерферометром. Форма максимума в несовершенном и1ггерферометре определяется суммой максимумов, создаваемых отдельными участками его поверхности, которые можно считать параллельными. Так как общее количество света, приходящегося на одно кольцо, одинаково н для идеального, и для реального интерферометра, то в последнем случае ширина контура окажется больше, а высота максимума меньше. Поэтому неточность изготовления поверхностей и плохая юстировка снижают реальную разрешающую силу и интенсивность света в максимуме. [c.324]

В Харьковском ИСИ сконструирован Т.А.Наливайко прибор для контроля планово-высотного положения подкрановых путей [26]. Прибор базируется на использовании нивелира НЗ и лазерной приставки ПЛ-1 (рис.29). В трубке из легкого сплава 1 помещена лазерная приставка и труба-кошгаматор, юстировка которой про- [c.60]

Юстировку пластин интерферометра производят тремя юсти-ровочными винтами 5, которые через пластинчатые пружины осуществляют нажим на переднюю пластину. При этом выступы промежуточных колец слегка деформируются, что дает возможность установить зеркала параллельно друг другу с высокой степенью точнбсти. Контроль юстировки производят путем наблюдения интерференционных колец при освещении интерферометра ртутной лампой с зеленым светофильтром, выделяющим линик> ртути 546,1 нм. Для увеличения поля зрения между лампой и интерферометром устанавливают конденсорную линзу с фокусным расстоянием 90 мм. Если при перемещении глаза по направлению к какому-нибудь из юстировочных винтов диаметры колец увеличиваются, следует слегка усилить нажим этого винта, если уменьшаются — ослабить винт. Интерферометр можно считать отъюстированным, если по всему полю пластин диаметры колец одинаковы. [c.83]

В отсутствие интерферометра производят юстировку кон-денсорной линзы и проектирующего объектива. При этом учитывают, что источник света — полый катод — находится на оптической оси. Конденсор 2 (рис. 31) помещают в положение, при котором он дает приблизительно параллельный пучок света. [c.84]

Поставив вещество на перегонку, следует приступить к юстировке оптической системы. Оптическая ось конденоорной линзы Ll (рис. 46) и ось рабочей части кюветы I должны находиться строго на оптической оси коллиматора спектрографа (рельс параллелен этой оси). [c.127]

Выбирают условия освещения щели, проводят юстировку оптической системы. Фотографируют спектры дуги с угольными электродами с нормальной щириной щели и с более щирокой щелью. Вплотную к угольному спектру, нспользуя косую диафрагму (см. задачу 2), фотографируют спектр железа. [c.250]

В практических схемах интерферометров основным способом получения двух пространственно разделенных когерентных пучков света является способ амплитудного деления волны от одного источника света при помощи плоскопараллельных стеклянных пластин. В практике газодинамических исследований наибольщее распространение получила схема интерферометра Цендера — Маха. В качестве источника света в этом интерферометре используются лампы накаливания или газоразрядные лампы. Ввиду ограниченной когерентности таких источников света возникают трудности при юстировке и наладке интерферометров. К качеству смотровых окон в таких приборах предъявляются особо жесткие требования. Кроме того, они имеют сложную конструкцию и малую разность хода лучей. [c.223]

Приборы данного класса предназначены для контроля качества интегральных схем СВЧ, резонансных систем электроники СВЧ, юстировки антенн, исследований ближневолно-вых распределений, получения изображения в системах с квазиоптическим формированием радиоизображения, т. е. в основном в тех случаях, когда исследуется поле СВЧ. [c.244]

Погрешности коллимации включают в себя погрешности юстировки, по-греншости, вызванные конечной толщиной и шириной пучка, погрешности непараллельности геометрии пучка и плоскости сканирования, расходимости или сходимости пучка, погрешности, вызванные рассеянным излучением, так называемые коллимационные шумы, вызванные механическими и тепловыми нагрузками на элементы рентгенооптики в процессе сканирования и недостаточной жесткостью связи между узлами излучателя, коллиматоров и детекторов, погрешности дополнительных элементов рентгенооп-тнки (выравнивающих клиньев, регулировочных образцов, управляемых диафрагм и т. п.). [c.450]

Узел подвески индентора выполнен из нагружающего рычага 21 с регулируемой опорой 22, груза 23 и индентора 24. В механизм юстировки входят держатель 25 с сильфо-ном 26, стакан 27 со встроенными микрометрическими винтами 28, подпружиненными упорами 29 и направляющим прижимным кольцом 30. [c.104]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...