Интерференция максимумы

Линии равного наклона. Если на пластинку падает пучок непараллельных лучей, то в отраженном пучке будут присутствовать лучи различных направлений распространения с соответствующими различными углами преломления. Те из них, для которых удовлетворяется условие (29.5), дают при интерференции максимум интенсивности. Следовательно, если с помощью линзы в ее фокальной плоскости образовать интерференционную картину, то интерференционная линия определенной интенсивности соответствует определенному углу 0пр в (29.4) или, что то же самое, определенному углу падения или отражения. Другими словами, эта линия соответствует определенному углу наклона образующих ее лучей к поверхности пластины. Поэтому такие интерференционные линии называются линиями равного наклона. Они локализованы на бесконечности. [c.181]

Этот недостаток в какой-то мере компенсируется переходом к многолучевой интерференции, приводяш,ей к сужению интерференционных максимумов и резкому увеличению их интенсивности. Для перехода к многолучевой интерференции пользуются системой многих слоев, нанесенной на отражающую поверхность. [c.108]

Эти условия в общем случае должны выполняться, так как колебания Е х и Ех, (или соответственно Еу и Еу ) когерентны. Однако для того, чтобы на экране наблюдалась стационарная суммарная картина (V О), необходимо также, чтобы максимумы одной системы полос не совпадали с минимумами другой. Из равенств (5.33) и ( 5.34) следует, что, кроме неравенства нулю каждого из интерференционных членов для возникновения интерференции нужно еще потребовать, чтобы и их сумма была отлична от нуля [c.204]

При анализе условий возникновения полос следует иметь в виду, что u i e t zo множества параллельных пучков лучей, падающих на пластинку под близким к нормальному углом, обычно найдется такой, который удовлетворяет условию появления максимума интерференции. Вся система полос будет локализована в бесконечности. [c.208]

Интерференция не может наблюдаться, если максимум т-го порядка для /. + Л/.) совпадает с максимумом т + 1)-го порядка для излучения с длиной волны л, т.е. если (рис. 5.2 7) [c.212]

Ho известно, что порядок интерференционного максимума прямо связан с разностью хода выражением Д = тк. Следовательно, чем больше разность хода (выше порядок интерференции), тем меньше должен быть разрешенный интервал длин волн АД, т.е. больше необходимая степень монохроматизации. [c.213]

Но добиться высоких коэффициентов отражения 1 > 30%) таким образом практически невозможно. Эффект можно значительно усилить, если перейти от интерференции двух лучей к многолучевой интерференции. В этом случае интерференционные максимумы окажутся более острыми и их интенсивность ( макс) резко возрастет (см. 5.7). [c.219]

Очевидно, что необходимо как-то охарактеризовать форму контура интерференционной полосы. Для этого вводят критерий резкости F, равный отношению расстояния между двумя сосед ними максимумами интерференции к ширине полосы г.. Для нахождения F запишем формулу Эйри, исключив предварительно [c.241]

Однако это не всегда возможно. Дело в том, что ширина исследуемой структуры не должна превышать расстояния между двумя соседними максимумами интерференционной картины, иначе произойдет наложение структур из двух соседних порядков интерференции. В 5.5 указывалось, что при ширине исследуемой структуры А/., равной //т, т-й и (/гг + 1)-й максимумы интерференционной картины совпадут. Таким образом, получается условие [c.247]

Вспоминая рис. 5.5, на котором сопоставлены результаты интерференции двух монохроматических и двух квазимонохроматических волн, можно оценить, как видоизменится при использовании частично когерентного света картина дифракции на двух щелях V = 1), представленная на рис. 6.4(3. Очевидно, что если V < 1, то максимумы будут по величине меньше, а минимумы отличны от нуля (рис. 6.47). Приводимые ниже расчеты должны подтвердить справедливость этого качественного рассмотрения. [c.306]

При анализе полученного результата выявляется зависимость разрешающей силы дифракционной решетки от общего числа штрихов, т.е. от числа интерферирующих пучков. В 5.7 было показано, что переход от интерференции двух волн к многолучевой интерференции приводит к концентрации излучения вблизи определенных направлений и к увеличению темных промежутков между максимумами, т. е. к увеличению разрешающей силы. Соотношение (6.86) выражает эту зависимость в явном виде. [c.320]

Описанное распределение интенсивностей представляет собой интерференционную картину, соответствующую интерференции двух когерентных волн с начальной разностью фаз, равной нулю. Если бы начальная разность фаз отличалась от нуля, то мы имели бы такую же картину, в которой, однако, темные и светлые полосы принимают некое промежуточное положение, зависящее от ср. Действительно, в этом общем случае условие, например, максимума интенсивности в интерференционной картине имеет вид [c.67]

Как уже упоминалось в 15, интерференция немонохроматического света приводит к сложной картине, состоящей из совокупности максимумов и минимумов, соответствующих разным К. Если Я имеет все возможные значения, то согласно формуле к = тВХ/21 любой точке экрана К) соответствует большая или меньшая интенсивность света данной длины волны. Следовательно, в любой части экрана имеется значительная освещенность. Если бы в нашем источнике различные длины волн были представлены с одинаковой интенсивностью и приемное устройство было одинаково чувствительно ко всем длинам волн (например, идеально панхроматическая фотопластинка), то мы не могли бы обнаружить никаких следов интерференционной картины. [c.91]

Для того чтобы такое обнаружение было возможно, необходимо, чтобы разнообразие длин волн было ограничено и не превышало некоторого спектрального интервала, заключенного между Я и Я -Ь АЯ. Пользуясь формулой к = тОХ/21, легко найти ДЯ. Действительно, интерференция не будет наблюдаться, если максимум т-го порядка для (Я АЯ) совпадет с максимумом (т -Е 1)-го порядка для Я. В этих условиях весь провал между соседними максимумами будет заполнен максимумами неразличимых длин воли нашего интервала (рис. 4.16). Условие неразличимости интерференционной картины (т- -1) Я = /п (Я-ф АЯ), т. е. АЯ = Я//п, [c.91]

Отсюда следует, что расстояние между полосами возрастает при увеличении длины волны и при уменьшении угла между пластинками ). Разность расстояний между полосами для различных длин волн очень мала для первых порядков интерференции, т. е. для интерференции, соответствующей разности хода в 1, 2, 3,. .. полуволны с увеличением же порядка интерференции эта разница становится уже значительной. Поэтому центральная полоса, соответствующая разности хода О, кажется нам белой, а соседние. места минимумов — черными, т. е. места первых минимумов для всех длин волн (цветов) практически совпадают полосы же, соответствующие большим разностям хода, представляются цветными, ибо для них минимум для одних длин волн совпадает с максимумом для других. Белую полосу можно наблюдать, когда ребро двугранного угла между пластинками горизонтально. [c.132]

Рис. 7.3 показывает графически распределение интенсивности для разных порядков интерференции. Из формулы (30.1) ирис. 7.3 видно, что чем больше R, тем интенсивность в минимумах ближе к нулю и тем резче падение интенсивности вблизи максимумов. [c.137]

С точки зрения энергетич. соотношений образование интерференц. максимумов и минимумов означает иере-раснроделеиио потока энергии в пространстве — если, напр., отд. источники изотропны (равномерно излучают во все стороны), то неск. таких источников дают уже более сложную изрезанную диаграмму паиравлен- [c.163]

В случае Э. это возможно, т. к. положение максимумов ф-ции при заданных ( / и d) не зависит от формы штриха (угла Q) и, изменяя величину й, можно совместить направление на центр ф-ции с любым максимумом ф-ции /у порядка mfiO. В этом и состоит осн. преимущество Э. перед амплитудной решёткой, у к-рой максимум ф-ции Jд совпадает с максимумом ф-ции У,у нулевого порядка ( = 0), к-рый является ахроматическим, т. е. не образует спектра. На рис. 1 схематически изображены ф-ции Jjv и /д и их произведение (штриховка). Здесь дифракц. максимум Уд точно совпадает с интерференц. максимумом [c.649]

В схеме Лейта и Упатниекса когерентный наклонный опорный пучок формируется отдельно (д в у х л у ч е-вая голограмма). Для двухлучевых голограмм V выше, чем для однолучевых (требуются фотоматериалы с более высоким пространств, разрешением). Если опорный и предметный пучок падают на светочувст-вит. слой с разных сторон (а 180°к то V максимальна и близка к 2/А, (голограммы во встречных пучках). Интерференц. максимумы располагаются вдоль поверхности материала в его толще. Эта схема была впервые предложена Денисю-ком. Поскольку при освещении такой голограммы опорным пучком восстановленная предметная волна распространяется навстречу освещающему пучку, такие голограммы иногда наз. отражательными. Если толщина светочувствит. слоя б много больше расстояния между соседними поверхностями интерференц. максимумов, то голограмму следует рассматривать как объёмную. Если же запись интерференц. структуры происходит на поверхности слоя или если толщина слоя сравнима с расстоянием d между соседними элементами структуры, то голограммы наз. плоски-м и. Критерий перехода от двухмерных голограмм к трёхмерным б 1,бй2/Я. [c.131]

Разным точкам экрана соотоетствуют разные значения разности хода слагаемых волн. Поэтому на экране регулярно чередуются точки максимальной и минимальной (равной в данном случае нулю) интенсивности. Такая устойчивая во времени картина чередования максимумов и лншимумов освещенности названа картиной интерференции. [c.73]

Пусть имеем прозрачное тело ABD , поверхности АВ и D которого (рис. 5.12) образуют малый угол а. Для определения этого угла используем схему, изображенную на приводившемся ранее рис. 5.10, где вместо пластин А В и АВ помещена теперь клинообразная пластинка ABD . При освещении этой пластинки будем наблюдать интерференцию полос равной толщины. Пусть соседние максимумы, расположенные на расстоянш / друг от друга, наблюдаются при толщинах di и do, т. е. [c.105]

В самом общем случае суперпозиции двух произвольных электромагнитных полей Ej и Е2 (см. 5.1) было установлено, что равенство нулю среднего значения интерференционного члена исключает возможность возникновения интерференции и в этом случае интенсивности (освещенности) просто складываются. Лишь в тех областях пространства, где О, происходит интерференция. Но в 5.3 рассчитывалось наложение независимых интерференционных картин, осуществляемое с помощью простого оптического устройства. Видимость суммарной картины в некоторых случаях приближалась к единице. Это получалось тогда, когда при почти одинаковой ширине интерференционных полос максимумы одной их системы совпадали с максимумами другой. Очевидно, что этот метод пригоден и для случая Е хЕз, к изучению которого мы сейчас и перейдем. [c.203]

II приемник, одинаково реагирующий на излучение любой длины ыолны, то наблюдать интерференцию световых волн невозможно, гак как в любой точке экрана, удаленной от оси симметрии на расстояние h = mDX(2l), окажется максимум освещенности в какой-то длине волны Возможность наблюдения интерференционной картины в видимой области невооруженным глазом объясняется тем, что глаз уже явJtяeт я своеобразным монохро-.датором. В среднем человек способен различить две спектральные линии с разностью длин волн Ал = ЮОА. [c.212]

Анализ формулы Эйри приводит к следующим выводам график зависимости изменения /.р//пад (рис. 5.53) имеет вид системы максимумов, форма которых при достаточно больших ji существенно отличается от хорошо известной кривой вида os 8 [см. (5.12)], описывающей освещенность экрана, обусловленную интерференцией двух элеи тромагнитнь1Х волн. [c.240]

Здесь мы вновь, как и в 5.7, наблюдаем интерференцию многих пучков света многолучевую интерферометрию). В данном случае распределение интенсивности в интерференционной картине оказывается совершенно другим, чем при интерференции двух волн, при которой для освеще1Шости характерна зависимость вида соз й. На рис. 6.35 приведен 1 рафик функции (siniV6/sin6) в пределах трех главных максимумов т —1,0, I 1) для == 2 и для N 8. Конечно, вертикальные масштабы [c.294]

Итак, вспомним, что происходит при дифракции света на двух отверстиях в непрозрачном экране. Интерференция дифрагировавших пучков приведет к появлению дополните.аьных максимумов. При выполнении условия з1пф = тл, где т = О, 1, 2,. . . , возникают главные максимумы. При с 81Пф = л/2, ЗХ/2, 57-/2,. . . образуются минимумы, расположенные между главными максимумами. Если на структуру падает плоская монохроматическая волна, то интенсивность света в этих минимумах равна нулю, а видимость дифракционной картины окажется равной единице [c.304]

В заключение попытаемся качественно объяснить явление рассеяния света различными средами. Мы видели, что дифракция электромагнитной волны на неправильной плоской (двумерной ) структуре приводит к отклонению части потока энергии от его первоначального направления, т.е. к рассеянию света. Аналогичный процесс должен происходить и при дифракции на неправильной пространственной (трехмерной) структуре — дифракция света на каждой частице приведет к отклонению части пучка. Интерференция отклонившихся от первоначального направления волн (обусловливающая возникновение острых дифракционных максимумов) в данном случае не происходит. Весь эффект пропорционален когщентрации рассеивающих центров. [c.352]

Однако высокая монохроматичность лазерного излучения допускает наблюдение интерференции световых пучков, излучаемых двумя разными лазерами. На рис. 4.2 приведена микрофотограмма интерференционной картины, созданной лазерными пучками от двух разных лазеров отчетливо видно периодическое распределение максимумов и минимумов интенсивности света. [c.69]

Если смещение одной системы полос (от 5) относительно другой (от А) достигает половины ширины полосы (5оЛо = V2s5Э), то интерференционная картина от одной половины источника полностью смазывает картину от второй половины, и интерференция не наблюдается. При большем значении смещения (5оЛо > максимумы [c.82]

Смотреть страницы где упоминается термин Интерференция максимумы : [c.659] [c.173] [c.465] [c.28] [c.491] [c.649] [c.166] [c.617] [c.84] [c.99] [c.102] [c.116] [c.146] [c.147] [c.243] [c.229] [c.246] [c.343] [c.83] [c.90] [c.92] [c.192]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...