Тубус

Диафрагмы, тубусы, коллиматоры, компенсаторы, средства стабилизации яркости, консоли или специальные устройства для крепления излучателей и радиационно-оптических преобразователей [c.356]

Прибор имеет стойку 1 с массивным основанием. По стойке при вращении нарезного кольца передвигается втулка 2 с кронштейном по направляющим кронштейна в свою очередь перемещается тубус 4 при помощи кремальеры и микрометрического винта. [c.235]

Рис. J6i, Прибор для определения микротвердости / — стоПка. 2 — втулка, 3 — окулярный микрометр, 4 — тубус, 5 — объектив микроскопа, 6 — штемпель, 7 — испытательный столик.

Скорость истечения раствора из образца периодически (примерно через 1 ч) замеряется измерительной бюреткой 4 путем переключения крана, расположенного в нижней ее части. Нормально же раствор проходит через нее транзитом в сборник 5 (склянка с тубусом ем- [c.124]

Перед фокусировкой перекрывают пучок лучей, идущих в, горизонтальной ветви прибора к объективу 10 (см. рис. 22, а), с помощью накатанной головки 22 (см. рис. 22, б), управляющей соответствующей шторкой. При этом кольцо 27 должно быть повернуто так, чтобы пучок лучей через окуляр направлялся в тубус 26 визуального наблюдения поверхности. [c.93]

Конструктивно прибор выполнен следующим образом (рис. 27, б). Корпус 12 несет на себе предметный столик 11, визуальный тубус 5, осветительное устройство 13 и спектральную насадку 2. Прибор питается от устройства 16. [c.102]

Измеряемый объект устанавливают на предметный столик испытуемой поверхностью к объективу. Обычным для микроинтерферометров способом настраивают освещение (при снятой спер -тральной насадке). Надевают на визуальный тубус спектральную насадку и фокусируют окуляр на резкое изображение щели перемещением глазных линз окуляра при отключении спектральной призмы. Винтами 14 и 15 центрируют осветитель. [c.102]

Цену деления круговой шкалы винтового окулярного микрометра MOB определяют с помощью объект-микрометра ОМП , представляющего собой металлическую пластинку со шкалой с делениями через = 0,01 мм. При определении /g окулярный микрометр на визуальном тубусе двойного микроскопа устанавливают так, чтобы перемещение перекрестия происходило вдоль шкалы объект-микрометра (см. рис. 29, г). Затем точку пересечения линий перекрестия совмещают сначала с изображением штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым и расположенным на расстоянии Va радиуса поля зрения от края с одной стороны поля зрения (штриховые линии на рис. 29, г), и делают первый отсчет Ni по шкалам MOB. Далее передвигают вращением барабана точку пересечения линий перекрестия на г делений до совмещения с изображением другого штриха шкалы объект-микрометра, четко видимым с другой стороны поля зрения и расположенным приблизительно на расстоянии Vj радиуса поля зрения с другого края (сплошные линии на рис. 29, г), и делают второй отсчет по шкалам MOB, причем сотни делений, т. е. целые обороты барабана, отсчитывают по делениям, имеющимся на неподвижной пластине MOB (8 делений) с интервалом между соседними штрихами, равным 1 мм. С увеличением г точность определения /g повышается. Если бы [c.107]

При измерении на двойном микроскопе МИС-11 высоты неровностей сначала выбирают по приведенной выше таблице подходящую пару объективов в соответствии с ожидаемыми результатами измерения. Осветителем 12 (рис. 29, е) служит электрическая лампочка 8 В, 9 Вт, которая получает питание от сети переменного тока напряжением 127/220 В через трансформатор, прилагаемый к прибору. Контролируемую деталь 3 кладут на координатный предметный стол 2, фиксируемый винтом 1. Микроскопы устанавливают предварительно на нужном расстоянии от детали 3, перемещая кронштейн 9 по стойке с помощью кольца 11. Фиксация кронштейна осуществляется винтом 10 клеммового зажима. Винтом 8 кремальеры и винтом 6 механизма тонкой наводки перемещают по салазкам 7 в вертикальном направлении микроскопы, добиваясь четкого изображения световой щели на поверхности детали. Это изображение искривляется соответственно неровностям, имеющимся на испытуемой поверхности. Винт 14 служит для установки изображения щели в середине поля зрения окуляра, а кольцо 13 — для регулировки его ширины. Поворотом винтового окулярного микрометра 4 вокруг оси визуального тубуса 5 устанавливают горизонтальную линию перекрестия по общему направлению изображения щели. Вращая барабан окулярного микрометра, подводят горизонтальную линию перекрестия до касания ее с вершиной выступа неровности изображения щели (сплошные линии на рис. 29, д). В этом положении делают первый отсчет по окулярному микрометру. Это будет координата линии выступа. Затем смещают ту же линию перекрестия до касания ее с дном впадины (штриховые линии на рис. 27, д). В этом положении делают второй отсчет по окулярному микрометру. Выступ и впадину измеряют, естественно, по одну сторону изображения щели. Разность отсчетов, сделанных по выступу и впадине, дает величину 6 искривления изображения щели в делениях круговой шкалы барабана винтового окулярного микрометра. Для того чтобы высоту неровности поверхности выразить в микрометрах, нужно полученную величину искривления щели А умножить на цену деления /д барабана окулярного микрометра, т. е. определить произведение [c.110]

Механизм подъема 13 при помощи маховика 14 перемещает корпус тубуса в вертикальном направлении. Рукоятка 15 фиксирует нужное положение тубуса. Для точной фокусировки микроскопа на поверхность испытуемого объекта служит микрометрический механизм с барабаном 1 с ценой деления шкалы 0,003 мм. В основании вмонтирован механизм, с помощью которого можно изменять наклон плоскости предметного столика вокруг горизонтальной оси. Для этой цели с левой стороны основания имеется диск. Столик имеет также механизмы 18 перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, которые позволяют перемещать исследуемый образец вместе со столиком в пределах й 25 мм в каждом направлении. Столик может быть повернут вокруг вертикальной оси на угол 55°. Фиксация столика в определенном положении осуществляется рукояткой 17. [c.118]

Для наблюдения картины муаровых полос на экране нужно снять крышку 5, вдвинуть рукоятку 6, в прибор, выключить рукояткой, находящейся на корпусе тубуса слева, светофильтр, повернуть рукоятку для включения апертурной диафрагмы по часовой стрелке до упора и установить рукояткой, находящейся под амперметром (блок питания), максимальную силу тока, проходящего через лампу. [c.119]

Для наблюдения за рабочей зоной образца в процессе испытания машина УМ-9 снабжена бинокулярной лупой БМ-51-2 и металлографическим микроскопом МВТ, которые жестко смонтированы на крышке рабочей камеры (рис. 3). Бинокулярная лупа установлена в вертикальной плоскости и позволяет видеть горизонтальную поверхность образца, для освещения которой в камере установлена лампочка подсветки с отражателем. Микроскоп МВТ со стробоскопическим освещением и удлиненным тубусом предназначен для исследования боковой поверхности образца. Наблюдение ведется через специальные иллюминаторы с двойными кварцевыми стеклами, пространство между которыми вакуумировано с целью предотвращения оседания влаги или инея на наружном стекле. Размеры иллюминатора обеспечивают обзор всей зоны образца. Кроме визуального контроля с помощью бинокулярной лупы и микроскопа, зарождение и развитие усталостных трещин можно исследовать путем измерения электрического сопротивления рабочей зоны образца. Для этого активный захват машины электрически изолирован от образца, а рабочая камера снабжена необходимыми электрическими вводами. [c.42]

Если необходимо вращение исследуемых объектов в вакууме со скоростью 3000 об/мин, можно использовать устройство, схема которого приведена на рис. 26. Цифрой 1 обозначен вал, соединяемый с приводимым во вращение объектом. Медный стакан 2 со стенками толщиной около 5 мм представляет собой короткозамкнутый ротор (типа беличьего колеса ), который жестко укреплен на валу 1 гайкой 3, снабженной стопором. Вал вращается на двух шариковых подшипниках 4 я 5, запрессованных в стальной корпус 6. К корпусу припаяно кольцо 7 из сплава ковар, обладающего таким же коэффициентом расширения, как и стекло, из которого выполнен тубус 8. Края тубуса 8 сварены с кольцами 7 я 9 из ковара. Кольцо 9 припаяно к металлическому (стальному или медному) фланцу 10, прикрепленному с помощью вакуумного уплотнения (не показанного на рассматриваемой схеме) к корпусу рабочей камеры. [c.66]

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета. [c.93]

На установке ИМАШ-5С-65 внесен ряд изменений в конструкцию некоторых узлов микроскопа МВТ. В частности, объективы крепятся к опак-иллюминатору удлиненной переходной втулкой (увеличивающей примерно на 60 мм оптическую длину тубуса микроскопа). Изменены также рукоятки координатного перемещения столика микроскопа. Оптические характеристики применяемых объективов приведены в табл. 14, а действительные увеличения микроскопа МВТ при наблюдении, фотографировании и киносъемке структуры образцов (для различных сочетаний объективов и окуляров) — в табл. 15. [c.121]

В крышке камеры имеется смотровое плоскопараллельное стекло 29 диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования микроструктуры используется микрофотонасадка типа МФН-8 для съемки на фотопластинки размером 9 X 12 см или МФН-12 для съемки на кинопленку шириной 35 мм. Оптическая система микроскопа разделена на две части. Вне рабочей камеры установки находятся тубус, осветительная система и окуляр, жестко соединенные с вертикальным валом 30, проходящим через систему подвижного [c.164]

Сильфон расположен внутри стакана 33, установленного на координатном столе 34 с одной стороны сильфон припаян к гайке 35, а с другой — к фланцу рабочей камеры. Наводка микроскопа на резкость выполняется с помощью червячной кремальеры, вертикально перемещающей гайку 35 вместе с уплотненным в ней валом 30, с которым жестко связаны тубус и объектив. При этом сильфон работает на растяжение или сжатие. Микроскоп передвигается в горизонтальной плоскости вдоль и поперек оси образца в пределах 6 мм с помощью координатного стола при этом сильфон подвергается изгибу. [c.165]

С помощью рукоятки 46 вал 30 микроскопа МВТ поворачивается в пределах угла около 50°, ограничиваемого юстировочными упорными винтами. Таким образом, над рабочей частью образца располагается либо оптическая система микроскопа (объектив, тубус с осветителем и окуляр), либо при повороте рукоятки и вала 30 в другое крайнее положение над точкой пересечения поверхности образца оптической осью микроскопа оказывается вершина смонтированного на секторе 31 индентора. Соответствие двух указанных точек достигается при юстировании прибора поворотом объектива микроскопа в эксцентриковой втулке, снабженной специальной контргайкой. [c.166]

За микроструктурой образца в процессе опыта наблюдают с помощью объектива 22, установленного в тубусе металлографического микроскопа, через смотровые стекла 23 и 24, герметизированные в крышке камеры 3. [c.195]

С)бъектмв 3 с тубусом 5 установлен на кронштейне 9, который перемещается в вертикальном направлении по стойке //. Стойка // при помощи маховика И может наклоняться вокруг оси 13 на 12,5° в обе стороны для установки микроскопа под углом подъема измеряемой резьбы. Маховик /0, перемещающий кронштейн 9, служит для фокусировки винтом /2. Для точного фокусирования микроскопа вращают рпфлеппое кольцо 4, при этом тубус смен ается по цилиндрическим [c.130]

В инструментальном микроскопе (рис. 5.15) с бинокулярным тубусом 3 измеряемую деталь устанавливают на стеклянном столе 2, положение которого определяют с помощью продольной (150 мм) и поперечной (75 мм) Н1кал. Изображения этнх шкал вместе с нониусом проецируется на экраны II и 15. Деталь в нужное положение (в поле зрения тубуса) устанавливают грубым (свободным), а затем точным (с помощью меха1П змов микронодач 1 и 10) перемещениями стола. Тубус 3 устанавливают в вертикальное положение с помощью соосных маховичков 7 (грубое и точное перемещения), измеряя перемещения но шкале 5 с нониусом, цена деления которого 0,1 мм. Поворачивая маховик 12, стойку 9 можно наклонить на угол ( 15°), измеряемый через окпо 13. При вертикальном положении стойки загорается лампочка 14. Поворотом рукоятки 6 изображение детали можно спроецировать на экран 4. С помощью сменных рамок 8 на изображение детали можно наложить изображения сеток с контролируемыми профилями резьбы, радиусами закруглений, углами и т. п. [c.128]

Приборы для контроля и измерения поверхностных дефектов и микрогео-метрнн. Благодаря малой глубине резкости микрообъективов обычные микроскопы можно использовать в качестве эффективного и достаточно простого средства измерения глубины поверхностных дефектов. Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микро- [c.74]

Сверху на тубус насажен наклонный окулярный микрометр 3 для измерения отпечатков, а снизу прикреплен кронштейн, на котором смонтирован штемпель 6 с нагрузочным устройством и центрирующий объектив микроскопа 5 со специальным осветителем. Штемпель 6 заканчивается алмазной пирамидой с квадратным основанием и с углом в 136° между противоположными гранями. Под тубусом на станине размещен испытательный столик 7, который при помощи микрометрических в1штов можно перемещать вместе с образцом в двух направлениях горизонтальной плоскости, что необходимо для точной установки образца. [c.235]

Принципиальная схема автоматизированной установки для хими ческого никелирования деталей в проточном регенерируемом кислом растворе показана на рис 37 Раствор, нагретый до 88 С,поступает из ванны / в теплообменник 2, где охлаждается водой до 55 °С и затем перекачивается насосом 3 в смесительный бак 8 через фильтр 7 С помощью датчика 4 автоматического электронного рН-метра 5 и Исполнительного механизма открывается кран корректировочного бачка 6 с раствором гидроксида натрия для доведения до заданного значения pH раствора В бак 8 из бачков 9, Юн // при помощи автомата программного корректирования 12 поступают определенные порции концентрированных растворов солей никеля, гипофосфита и буферной добавки. Температура раствора поддерживается автоматическим терморегулятором 13 с электронагревателями, которые подогревают масляную рубашку реактора. Датчиком является контактный ртутный термометр / Включение электронагревателей осуществляется магнитным пускателем через промежуточное реле Отфильтрованный и откорректированный раствор проходит через теплообменник /5, где подогревается до 88—90 °С, после чего поступает в ванну — фарфоровый котел с тубусами. Теплообменник 2 состоит из двух кон[ ентрически расположенных сосудов Наружный сосуд соединен с ванной и насосом, по внутреннему сосуду протекает водопроводная вода [c.98]

Коловратный насос 3 из коррозионно-стойкой стали или пластмассы имеет производительность 2—6 л/мин Фильтрующий элемент — бязь, корректировочные бачки представляют собой фарфоровые котлы с тубусами Трубопроводы изготовлены из фторопласта или кислотостойкой резины Автоматический электронный рН-метр позволяет замерять pH от 1 до 8 Автомат программного корректп рования состава раствора основан на использовании электронного универсального реле времени Дозировка количества добавляемых компонентов задается изменением соответствующих сопротивлений, которые подключаются в цепь при срабатывании реле Через заданные промежутки времени шаговый искатель включает исполнительное реле, а его контакты (магниты исполнительных механизмов) открывают краны корректировочных бачков [c.99]

Кроме того, в процессе эксперимента может возникнуть необходимость измерения отпечатков непосредственно при температуре опыта. Для выполнения перечисленных задач оптическая система в приборе выполнена следующим образом. Станина оптической системы 30 посажена на выведенную из камеры ось наружной рамки и поворачивается вместе с ней вокруг оси /—I. Тубус с оптикой размещается над смотровым окном в крышке камеры. Для наблюдения за объектом исследования применяется микроскоп МВТ с длинофокусным объективом типа МИМ-13-С0 с рабочим расстоянием 59,5 мм. [c.69]

Фотографирование структуры производится с помощью микрофотонасадки МФН-1 Максимальное увеличение оптической системы 350-кратное. Для освещения поверхности образца при высоких температурах применяются ртутные лампы типа ДРШ-100. Перемещением тубуса с помощью зубчатого устройства объектив устанавливается над образцом на требуемом рабочем расстоянии. Оптическая ось объектива и ось индентора смещены на определенный угол, что позволяет попеременно подводить объектив и индентор к исследуемому участку на поверхности образца. Путем перемещения оптической системы микровинтовым устройством 31 с нониусной шкалой в горизонтальных направляющих троектории движения осей индентора и объектива при повороте вокруг оси I—/ совмещаются. Угол поворота системы фиксируется вилкообразным регулируемым упором 32, установленным на крышке камеры. Таким образом достигается прицельное внедрение индентора в выбранную зону на поверхности образца. [c.69]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах. [c.86]

Для удобства в работе и повышения достоверности контроля дефекто-скопистам следует пользоваться складным стульчиком, тубусом и простым индивидуального изготовления штативом к дефектоскопу, позволяющим устанавливать его в необходимое положение. [c.99]

Фокусировку объектива 6 осуществляют (при отсутствии интерференции) с помощью накатанной микрометрической головци 23, управляющей вертикальным перемещением всей оптической системы, включающей объектив 6. Цена деления шкалы барабан головки 23 равна 3 мкм. После этого поворотом головки 22 вклю чают горизонтальную ветвь прибора и получают изображениг измеряемой поверхности и систему интерференционных полос на ней в поле зрения винтового окулярного микрометра, надетсг.э на тубус 26. Изменение ширины интерференционных полос осуществляют поворотом головки 21 вокруг ее оси, а поворот интерференционных полос — поворотом головки 21 вокруг оси механизма 20. [c.93]

Наблюдаемое смещение Ь измеряют с помощью винтового окулярного микрометра—такого же, как при измерениях неровностей на микроинтерферометре. С2ущественное отличие измерений на двойных микроскопах МИС-11 и ПСС-2 по сравнению с измерениями на микроинтерферометрах МИИ-4 и др. заключается в необходимости предварительного определения цены деления круговой шкалы MOB при каждой паре сменных объективов в отдельности. Такая необходимость возникает в связи с тем, что увеличение у любого микроскопа зависит от оптической длины А его тубуса, что следует из формулы [c.107]

Оптическая схема прибора представлена на рис. 33, а. Микроскоп ОРИМ-1 выполнен по схеме однообъективного прибора, в котором роль объективов проекционного и наблюдательного тубусов выполняет один объектив. Нить лампы накаливания 23 расположена в фокусе коллектора 22. Параллельный пучок света, отразившись от зеркала 2], поступает через светофильтр /7 [c.116]

Прибор устроен следующим образом (рис. 33, б). На массивном основании крепятся предметный столик 2, корпус 4 тубуса и. механизм подъема 13 корпуса тубуса. В корпусе тубуса помещена оптическая система прибора, укреплены объектив 16, элек- [c.117]

Для фотографирования следует установить на прибор фотокамеру, вдвинуть рукоятку 7 до упора и рукояткой, находящейся на корпусе тубуса слева, включить светофильтр. К микроскопам ОРИМ-1 приложен винтовой окулярный микрометр, имеющий увеличение Хб. Устройство его отличается от описанного выше окулярного микрометра МОВ-1-15Х тем, что барабан микрометрического винта не имеет шкалы.В поле зрения окуляра одновременно видны перекрестие с би-штрихом, миллиметровая шкала (0—8 мм), деления шкалы лимба с ценой 0,01 мм (100 делений) и две окружности, соответствующие базовым длинам 0,25 и 0,8 мм. Таким образом, отсчет показаний окулярного микрометра можно производить сразу же, не отрывая глаз от окуляра, что, конечно, представляет большое удобство для наблюдателя. [c.119]

Устройство для наблюдения за микроструктурой образца. Для наблюдения и фотографирования микростроения образца во время проводимых в установке ИМАШ-22-71 испытаний используется металлографический микроскоп МВТ-1. Для фотографирования поверхности образца используются микрофотонасадки МФН-8 или МФН-12 (для съемки на пластинки или пленку соответственно). Вместо микрофотонасадки на тубус микроскопа может устанавливаться киносъемочная камера типа Конвас , снабженная цейтра-ферным устройством для замедленной покадровой съемки микроструктуры образца в процессе опыта. [c.24]

На крышке 6 рабочей камеры (см. рис. 1) смонтированы оптическая система 8 от микротвердомера ПМТ-3, вторично-электронный умножитель 11 и катодный повторитель 12. Печь 10 служит для прогрева умножителя перед началом измерений. В тубусе микроскопа установлено уплотнение 9 из нейтрального стекла. Наличие зеркала 7 светлопольного и темнопольного изображения в микроскопе позволяет работать без специальной кварцевой оптики. Источником света служат газоразрядные лампы ПРК-7 и ДКСШ-1000, площадь освещаемого участка составляет 0,3 мм . Светофильтры вставляются в корпус лампы. При спектральных исследованиях между микроскопом и лампой устанавливается двойной монохроматор ДМР-4. [c.33]

Микрофотонасадка используется для наблюдения, а также (с помощью камеры) позволяет фотографировать структуру образца. Вместо микрофотонасадки на тубусе микроскопа может быть укреплена киносъемочная камера, например Конвас марки КСР-1, снабженная цейтраферным устройством для замедленной съемки. [c.143]

Устройство для наблюдения за микроструктурой образца. Для наблюдения и фотографирования микростроения образца во время проводимых в установке ИМАШ-22-71 испытаний используется металлографический микроскоп МВТ. В крышке рабочей камеры имеется смотровое плоскопараллельное термостойкое стекло диаметром 50 и толщиной 1,5 мм. Для фотографирования поверхности образца служат микрофотонасадки МФН-8 или МФН-12 (для съемки на пластинки или пленку соответственно). Так же, как и в установках типов ИМАШ-5С-65 и ИМАШ-5С-69 Киргизстан , вместо микрофотонасадки на тубус микроскопа может быть установлена киносъемочная камера типа Конвас , снабженная цейтраферным устройством для замедленной покадровой съемки микроструктуры образца в процессе опыта. [c.158]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...