Интерферометр контрастность

В местах, удаленных от погашенных максимумов, максимумы второго интерферометра не совпадают с максимумами первого интерферометра контрастность интерференционной картины равна произведению контрастностей составляющих интерферометров [c.38]

Чем определяются контрастность и резкость интерференционной картины в идеальном интерферометре Фабри—Перо Что ограничивает возможности повышения этих пара метров в реальном интерферометре [c.458]

В интерференционном опыте Юнга (см. 16) источниками света служат две щели, освещаемые некоторым источником света, т. е. схема опыта в существенных своих чертах совпадает со схемой рис. 4.20. Если разность хода сравнительно невелика, так что наблюдаются полосы низкого порядка, то контрастность интерференционных полос будет определяться главным образом степенью пространственной когерентности освещения щелей. Аналогично положение и в случае звездного интерферометра Майкельсона (см. 45), где частичная пространственная когерентность освещения щелей интерферометра служит средством для измерения угловых размеров звезд. [c.105]

Контрастность. Контрастность интерферометра у определяется как отношение интенсивностей в максимуме и минимуме аппаратной функции. Из (2.47) легко получить [c.80]

Рассчитайте теоретические значения предела разрешения, угловой и линейной дисперсии, области дисперсии и контрастности используемого интерферометра. [c.85]

Из приведенных выше формул можно сделать вывод, что ИФП является спектральным прибором, обладающим очень высокими разрешающей силой, пропусканием, контрастностью. Действительно, в области длин волн Я = 500 нм, при толщине интерферометра f = 1 см и коэффициентах отражения зеркал 0,75 0,95, область свободной дисперсии составит АЯ = = Я 2 = 0,0125 нм, а контрастность АК будет равна Ко = 41 при R = 0,75 и достигает Ко = 1,5-10 при R = 0,95. При этом пропускание Го идеального ИФП в максимуме интерференции [c.8]

Рассмотренные выше формулы, рисунки и численный пример позволяют сделать вывод, что малые случайные дефекты поверхности зеркал реального ИФП приводят к значительному изменению формы его АК, уменьшению пропускания интерферометра, понижению его контрастности и к существенному увеличению полуширины АК. [c.37]

Обычно в голографической интерферометрии прозрачных объектов изучают плавно изменяющиеся фазовые неоднородности такие, как процессы тепломассопереноса в газах и жидкостях, роста и растворения кристаллов в плазме, ударные волны, напряженные состояния прозрачных моделей, в которых происходят локальные изменения, температуры, плотности, концентрации и других параметров, приводящих к изменению показателя преломления. Этому методу, наряду с достоинствами, присущи некоторые существенные недостатки размытие и ухудшение контрастности интерференционных полос из-за изменения плоскости локализации изображения в процессе записи интерферо-граммы восстановление интерференционной картины на фоне яркого светящегося точечного источника или экрана [24—26]. [c.127]

Т. е. для относительной ширины интерференционной полосы клинообразного многолучевого интерферометра справедливо выражение (24) для плоскопараллельного интерферометра. Другие параметры — эффективное число интерферирующих лучей Ne, коэффициент пропускания 0 и контрастность К — выражаются так же, как и для случая плоскопараллельного интерферометра соответственно формулами (25), (30) и (32) Таким образом, для клинообразного многолучевого интерферометра можно использовать основные расчетные зависимости многолучевой интерференции в плоскопараллельных пластинках. [c.33]

Контрастность интерференционной картины может быть различной в зависимости от настройки интерферометра, т. е. от положения рассматриваемой точки интерференционной картины относительно максимумов интерферометра 156]. [c.37]

Если при данном N увеличим расстояние между отражающими поверхностями эталона, то мы повысим разрешающую способность. Но ввиду того что разрешающая способность и светосила интерферометра обратно пропорциональны друг другу, нецелесообразно увеличивать L сверх того значения, которое определяется шириной исследуемой линии и областью дисперсии эталона. Как только ширина линии становится сравнимой с областью дисперсии, контрастность колец уменьшается. [c.348]

Реальные источники спектральных линий не дают ни бесконечно малой ширины спектра, ни спектра постоянной интенсивности. Поэтому анализ, проведенный выше, может служить только иллюстрацией. Для некогерентного источника с одной спектральной линией в зависимости от времени задержки контрастность уменьшается почти как функция Гаусса, так что точного значения нуля для V %) не существует. Вообще говоря, о форме спектральной линии можно судить по точке, в которой функция видности уменьшается в е раз, в предположении гауссова профиля спектральной линии. Такой метод определения формы линии (и, следовательно, измерения времени когерентности), очевидно, неточен, если контрастность медленно меняется при изменении разности хода (как, например, в газовых лазерах, где контрастность полос не меняется заметным образом при разности хода в несколько сотен метров). Таким образом, хотя принципиально мы можем пользоваться интерферометром Майкельсона для определения времени когерентности лазеров, применение классических методов к газовым лазерам практически [c.368]

При настроенном интерферометре необходимо выделить при помощи маски одну полосу и при помощи фотоумножителя измерить интенсивность в максимуме и в соседнем минимуме. Зафиксировав результаты, повторяют измерения, перемещая подвижное зеркало всякий раз приблизительно на 5 см. По формуле (7.13) рассчитывают контрастность и строят график зависимости У от разности хода лучей для двух зеркал. По этим данным вычисляют ширину спектральной линии, предполагая, что спектральная линия имеет гауссову форму. [c.377]

Ни тот, ни другой методы не позволяют измерять исключительно узкие линии газовых лазеров. Установлено, что для линии 1,15 мк гелий-неонового лазера контрастность полос интерферометра Майкельсона Национального бюро стандартов [17] остается практически постоянной при разности хода от О до 200 м. Единственное, что можно сказать на основании таких измерений о ширине линии, — это то, что она значительно меньше предельной разрешаюш,ей способности интерферометра 5 10 нм. [c.421]

В интерферометрах источник света (например, апертурная диафрагма) имеет конечные размеры. Поэтому разность хода можно представить суммой двух величин А= Дц+бА (Дд — разность хода лучей, исходящих из центра апертурной диафрагмы 6Д — приращение разности хода между осевым лучом и лучом, выходящим из некоторой произвольной точки апертурной диафрагмы). По ней выбирается источник света для освещения интерферометра. Небольшое отклонение До от нуля не вызывает заметного изменения контрастности. Однако при значительном Д вследствие недостаточной монохроматичности применяемого света контрастность интерференционных полос понижается. Величина бД зависит от размеров апертурной диафрагмы. Суммарная освещенность в данной точке Р найдется интегрированием формулы (8) [c.28]

При вычислении освещенности в некоторой точке поля интерферометра задача сводится к нахождению 6Д и вычислению интеграла по площади действующей апертурной диафрагмы (прямоугольной, щелевой, круглой и т. д.). Контрастность интерференционных полос в данной точке [c.28]

Очень высокая чувствительность измерений получается при использовании полутеневого устройства. Способ измерения с полутеневым устройством основан на принципе уравнения яркостей двух соприкасающихся частей поля зрения с помощью компенсатора. В момент уравнения яркостей граница между половинами поля пропадает. Этот способ использует высокую чувствительность глаза к контрасту, т. е. способность глаза улавливать минимальную разность AL яркостей половин поля. Контрастная чувствительность АЬ/Ь является индивидуальной характеристикой глаза и зависит от внешних факторов. При оптимальных условиях наблюдения AL/L = 0,02- 0,05. В двухлучевых интерферометрах с полутеневым устройством [c.226]

Принципиальную схему образования полос равной толщины можно представить себе следующим образом. Пусть на интерферометр, схему которого не будем конкретизировать, падает параллельный пучок света. Пройдя через интерферометр, соответственные лучи в разных его ветвях будут иметь разные оптические длины путей и окажутся непараллельными. Они пересекаются в пространстве изображений, как это показано на рис. 4.4. В местах пересечения пучков наблюдается наиболее контрастная интерференционная картина. На рисунке пучки, прошедшие первую ветвь интерферометра, обозначены через а , а , й2, Оз, а и т. л., а пучки, прошедшие вторую ветвь интерферометра, обозначены через ао, а[, 2, аз, а1 и т. д. [c.41]

Далее с помощью тонких юстировочных поворотов добиваются максимального уменьшения числа полос в поле зрения. Затем следует добиться контрастной картины в белом свете. После окончательной юстировки, когда угловые отклонения, линейные смещения и разность хода близки к нулю, пользуясь юстировочными подвижками, проводят установку элементов интерферометра с тем, чтобы получить нужное число полос в поле зрения. [c.93]

Для получения контрастной интерференционной картины максимальной яркости прибор должен быть хорошо отъюстирован. Для этого приходится осуществлять весьма малые перемещения основных деталей интерферометра (в ряде приборов таких деталей оказывается достаточно много). Кроме того, при измерениях необходимо настраивать интерферометр на различную ширину полос, изменять их наклон, добиваться локализации полос в определенной плоскости. Многие приборы рассчитываются на работу и с полосами равной толщины и с полосами равного наклона. [c.161]

Следует учитывать, что для получения контрастной интерференционной картины при широком источнике света нужно, чтобы обе ветви прибора были возможно больше подобны друг другу. Во многих схемах интерферометров это условие осуществляется. [c.162]

Наклон зеркал интерферометра меняет щирину и наклон полос равной толщины без изменения их контрастности и уменьшает контрастность полос равного наклона без изменения их ширины. [c.164]

Полосы равной толщины при широком источнике света достаточно контрастны, если обе ветви интерферометра подобны друг другу и одинаковы по своим оптическим характеристикам. Ухудшение этих условий снижает контрастность полос. Полосы равного наклона контрастны при любой ширине источника света, если нет диафрагм, перекрывающих соответствующие пучки лучей в обеих ветвях интерферометра. Причины, снижающие контрастность полос равной толщины при широком источнике света, приводят к искривлению полос равного наклона. [c.164]

Таким образом, можно наблюдать контрастные интерференционные полосы лишь на участке 0,02 мм в центральной части поля зрения. Следовательно, схема интерферометра с наклоном одного из зеркал является неудачной. [c.186]

Малое изменение разности хода oA в интерферометре нарушает яркостный баланс. Способность глаза улавливать разность АВ яркостей полей сравнения называют контрастной чувствительностью глаза АВ/В. В оптимальных условиях наблюдения величина АВ/В составляет 0,02—0,05. [c.133]

В окрестностях максимумов интерференции при их совпадении для рассматриваемого интерферометра так же, как для интерферометра с равными расстояниями между зеркалами, относительная ширина интерференционной полосы определяется выражением (86), коэффициент пропускания интерферометра определяется произведением коэ4)фициснтов пропускания обоих интерферометров [см. выражение (68)1. Спект зальная величина области дисперсии определяется параметрами интерферометра с меньшей толщиной 1см. выражение (65)1, контрастность интерферометра различна в зависимости от характера наблюдаемой картины. В окрестностях совпадения максимумов обоих интерферометров контрастность интерференционной картины определяется параметрами второго интерферометра 1см. выражение (70)] вдали от мест совпадения максимумов, контрастность определяется произведением контрастностей интерферометров [см. выражение (71)]. [c.40]

Контрастность интерференционной картины. Контрастность интерференционной картины является одной из весьма важных карактеристик интерферометра. По существу, контрастность интерференционной картины определяет характеристику сигнала [c.29]

Для сферического интерферометра Фабри-Перо справедливы основные характеристики плоского параллельного интерферометра (относительная ширина полосы, область дисперсии, контрастность и т. д.). Интерфенционная к тина в С( рическом интерферометре возникает в результате аберрационных искажений, вызванных отступлением реальных поверхностей о идеальных 11421. [c.76]

При А = 1 Ж/С ДО бЯ 5 10 ям. Поскольку в этом приборе контрастность полос оставалась практически постоянной в пределах всего пути, длину интерферометра можно еш,е увеличить. Разрешающая способность прибора была равна 2-10 . Характери-стики данного прибора можно считать предельными для реальных двухлучеьых интерферометров. Но и при помощи такого интерферометра не удалось разрешить ширину линии газового лазера. Рассмотрим подробнее характеристики интерферометра Майкельсона с точки зрения измерений кратковременной стабильности твердотельных и диодных лазеров. [c.420]

Для изготовления идентичных диффузоров использовались фотопластинки высокого разрешения Микрат ЛОИ-2 (разрешающая способность не менее 5000л/мм). Качество интерференционной картины, формируемой интерферометром ИД, ее яркость и контрастность в немалой степени зависит от правильно подобранного времени экспозиции фотопластинок и от режима их фотографической обработки. [c.72]

Описанная ниже юстировка четырехзеркального интерферометра обеспечивает начальное положение зеркал, которое затем стремятся приблизить к основному геометрическому положению зеркал в идеальном интерферометре, чтобы получить высокую контрастность или цветовую насыщенность интерференционных полос при использовании монохроматического или белого света соответственно. Поскольку в процессе юстировки экспериментатор наблюдает интерференционные картины различного вида, то целесообразно предварительно пояснить механизм их возникновения при различном расположении зеркал. [c.169]

Если внутренняя поверхность одной из пластин будет иметь отклонения от плоскости или вообще какие-нибудь неровности, то лрямые интерференционные полосы станут изогнутыми соответственно изгибам профиля поверхности в вертикальном сечении. В белом свете, имеющем сложный спектр, можно наблюдать центральную ахроматическую (черную или белую) полосу, по сторонам которой расположены по две белых или черных полосы и за инми по четыре—пять цветных полос, что соответствует расстоя- Н 1ю между пластинами d,s i0,3-5= 1,5 мкм или разности хода А кЗ мкм. При значительных разностях хода светлые полосы одних систем накладываются на темные других, в результате чего контрастность интерферениионной картины падает практически до нуля. С 1 0М0щью цветного фильтра из белого света можно выделить область спектра с интервалами 0,1 мкм, что позволяет наблюдать картину при Ass 10 мкм, а применение ртутных, кадмиевых и других газоразрядных источников света, дающих линейчатый спектр, состоящий из небольшого числа узких спектральных линии, позволяет с использованием фильтров наблюдать интерференционную картину даже при разности хода порядка нескольких десятков миллиметров. Еще лучшие результаты дает лазерная интерферометрия. [c.117]

В непосеребренной пластине вся энергия падающего луча приходится на два отраженных луча 1 и 2 и два пропущенных луча / и 2. Яркость обоих отраженных лучей практически одинакова и поэтому в двухлучевых интерферометрах полосы, образованные при интерференции лучей, отраженных от первой и второй поверхностей (лучи 1, 2), получаются достаточно контрастными. [c.165]

Следовательно, Dex. don значительно меньше диаметра выходного зрачка микрообъектива. Поэтому, если диаметр входного зрачка интерферометра равен диаметру выходного зрачка микрообъектива Dex = De,ix), то интерференционная картина наблюдается только в центральной части поля зрения. Определим линейную величину поля зрения, в котором будут наблюдаться контрастные полосы при Dex. don = Debix = 6,16 мм [c.186]

Для получения интерфереппионной картины и окончательной настройки интерферометра используют приспособление, состоящее из листа папиросной бумаги 22 и лампы 23 (СМР-1), располагаемой на расстоянии 150—200 мм от бумаги. Невооруженным глазом со стороны дополнительной приемной части на фоне бумаги наблюдают полосы равного наклона, по которым судят об отклонении зеркал от их исходного положения. Поворотами зеркал 21, 25, 26 и смещением зеркала 28 добиваются получения в поле зрения лишь одного кольца равного наклона. В этом случае в монохроматическом свете полосы равного наклона и равной толщины становятся резкими и контрастными. [c.201]

Полосы равной толщины при широком источнике света достаточно контрастны, если обе ветвн интерферометра подобны. Отступление от подобия приводит к понижению контраста полос. Полосы равного наклона контрастны при любой ширине источника света, если нет диафрагм, перекрывающих соответствующие пучки в обеих ветвях. Отступление от подобия ветвей вызывает искривление полос равного наклона. [c.177]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...